「atomic force microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR CORRECTING PHOTOMASK SURPLUS DEFECT USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROFABRICATING APPARATUS例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたフォトマスク余剰欠陥修正方法 - 特許庁

PATTERN EXCESS DEFECT REPAIRING METHOD OF PHOTOMASK USING PROBE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡の探針を用いたフォトマスクのパターン余剰欠陥修正方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND MACHINING METHOD OF DIAMOND PROBE FOR MACHINING OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡の加工用ダイヤモンド探針の観察方法及び加工方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正方法及びそれに用いる原子間力顕微鏡微細加工装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT IN CHROME MASK BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたクロムマスクの黒欠陥修正方法 - 特許庁

ATOMIC FORCE/HORIZONTAL FORCE MICROSCOPE WITH CALIBRATION FUNCTION AND METHOD FOR CALIBRATING SENSITIVITY THEREOF例文帳に追加

校正機能付き原子間力／水平力顕微鏡と原子間力／水平力顕微鏡の感度校正方法 - 特許庁

To provide a cantilever used for an atomic force microscope formed by integrating a highly sensitive force displacement sensors.例文帳に追加

高感度な力変位センサを集積した、原子間力顕微鏡等に用いられるカンチレバーを提供する。 - 特許庁

To remove a process waste produced in micromachining with an atomic force microscope or foreign matters that is moved or scraped off by an atomic force microscope, without the use of wet cleaning.例文帳に追加

原子間力顕微鏡による微細機械加工で発生した加工屑や移動により原子間力顕微鏡により移動または削り取った異物を、ウェット洗浄を用いないで除去する。 - 特許庁

To enhance the measuring precision of an atomic force microscope by destaticizing a sample efficiently without applying load to a sample measuring system when the sample is measured using the atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて試料を測定する際に、装置に負担をかけることなく効率よく試料を除電して、原子間力顕微鏡による測定の精度を高める。 - 特許庁

The low contact resistance is realized by controlling a position of the probe by an atomic force microscope method.例文帳に追加

また、原子間力顕微鏡法により探針位置を制御して、低接触抵抗を実現する。 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND METHOD FOR FORMING ENERGY DISSIPATION IMAGE USING THE SAME例文帳に追加

原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡を用いたエネルギー散逸像の形成方法 - 特許庁

To provide an atomic force microscope for exciting a cantilever without vibrating a cantilever holder.例文帳に追加

カンチレバーホルダーを振動させることなくカンチレバーを励振する原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for readily acquiring the resonance characteristics of a cantilever of an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡のカンチレバーの共振特性を容易に得るための方法を提案する。 - 特許庁

PARTICLE REMOVAL METHOD, MINUTE TWEEZER APPARATUS, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

パーティクル除去方法、微小ピンセット装置、原子間力顕微鏡および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

SIGNAL DETECTION DEVICE, AND NONCONTACT TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SIGNAL DETECTION DEVICE例文帳に追加

信号検出装置、及び信号検出装置を用いた非接触型原子間力顕微鏡 - 特許庁

These particles were assembled on a straight line using an atomic force microscope (AFM) in the contact mode. 例文帳に追加

これらの粒子は、原子間力顕微鏡(AFM)を使ったコンタクトモードで、一直線上に集められた。 - 科学技術論文動詞集

The scanning probe microscope 100 has an atomic force microscope mechanism and a caged compound releasing light introduction mechanism utilizing an inverted microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、原子間力顕微鏡機構と、倒立型顕微鏡を利用したケージド解除光導入機構とを有している。 - 特許庁

The front case 800A and the rear case 800B do not come into contact with the atomic force microscope 10, the optical microscope 20, and the microscope coupling member 40.例文帳に追加

フロントケース８００Ａおよびリアケース８００Ｂは、原子間力顕微鏡１０、光学顕微鏡２０および顕微鏡連結部材４０に接触していない。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope which can measure a shape of a measuring object having no rigidity, with high accuracy.例文帳に追加

剛性のない被測定物の形状を高精度に測定できる原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enhance a processing quality and a processing accuracy of a fine processing device utilizing an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を応用した微細加工装置の加工品質や加工精度を向上させる。 - 特許庁

In the defect repairing device using an ion beam, a blank defect hard to repair is observed with AFM(atomic force microscope) or the like.例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難い白欠陥に対してAFM等で観察する。 - 特許庁

In lithographic mode, an atomic force microscope is adapted to write information to a sample surface.例文帳に追加

リソグラフィ・モードでは、原子間力顕微鏡が、試料の表面に情報を書き込むように適合される。 - 特許庁

SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法 - 特許庁

METHOD OF OBTAINING INTERFACE INFORMATION AND METROLOGICAL INFORMATION OF SAMPLE, USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて試料の界面情報及び度量衡学的情報を得る方法 - 特許庁

METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

To obtain high-accuracy analysis results when analyzing and processing a polymer using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いたポリマーの解析処理を行うとき、精度の高い解析結果を得る。 - 特許庁

The sample hybridized with the probe on a chip is traced by the probe of an atomic force microscope to be detected.例文帳に追加

チップ上のプローブにハイブリダイズした試料を原子間力顕微鏡のプローブでトレースして検出する。 - 特許庁

To accurately measure a high-aspect structure in a digital probing system AFM (atomic force microscope).例文帳に追加

ディジタルプロービング方式のＡＦＭ（原子間力顕微鏡）において、高アスペクト構造を高精度で測定する。 - 特許庁

In the microscope system, a user mounts a sample on a sample mounting stand of an atomic force microscope (step S1), and observes the sample with an optical microscope (step S2).例文帳に追加

顕微鏡システムにおいて、使用者は、原子間力顕微鏡の試料載置台上に試料を載置し（ステップＳ１）、光学顕微鏡による試料の観察を行う（ステップＳ２）。 - 特許庁

To provide a cantilever driven by a dynamic mode; to provide an atomic force microscope; and to improve measuring precision of an interatomic force in a method of measuring the interatomic force.例文帳に追加

ダイナミックモードで駆動されるカンチレバー、原子間力顕微鏡、および原子間力の測定方法において、原子間力の測定精度を高める。 - 特許庁

As the measurement of the average surface potential distribution, a measuring method of an atomic force microscope image can be enumerated.例文帳に追加

前記平均表面電位分布の測定としては原子間力顕微鏡像による測定法が挙げられる。 - 特許庁

To realize working, without overetching or insufficient shaping in defect correction on a mask using atomic force microscope techniques.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いたマスクの欠陥修正でオーバーエッチや削り残しのない加工を実現する。 - 特許庁

The user also retrieves an observed region of the sample with the atomic force microscope during observing the sample with the optical microscope (step S2b).例文帳に追加

また、使用者は、光学顕微鏡による試料の観察時に原子間力顕微鏡による試料の観察対象領域の探索も行う（ステップＳ２ｂ）。 - 特許庁

The Geissler tube is set in an atomic force microscope to make the X-ray from the Geissler tube irradiate the sample having the chargeability observed by the microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡にガイスラー管を設置して該顕微鏡で観察する帯電性のある試料に該ガイスラー管からＸ線を照射する。 - 特許庁

When analyzing the composite material by using the atomic force microscope, data of the phase delay of the composite material acquired by using a noncontact mode of the atomic force microscope are acquired under the condition of at least two set temperatures.例文帳に追加

複合材料を原子間力顕微鏡を用いて解析するとき、少なくとも２つの設定温度の条件下、原子間力顕微鏡の非接触モードを用いて得られる複合材料の位相遅れのデータを取得する。 - 特許庁

By using an atomic force microscope provided with a probe 22 of the same composition as the protective layer 13, a force curve in a lubricating layer 14 is measured.例文帳に追加

保護層１３と同一組成の探針２２を備えた原子間力顕微鏡を用いて、潤滑層１４におけるフォースカーブを測定する。 - 特許庁

The aerial wiring of the metal deposited film, which becomes unnecessary after correction, is removed by ion beam etching or AFM (atomic force microscope) scratch processing.例文帳に追加

修正後不要となった金属デポジション膜空中配線をイオンビームエッチングまたはAFMスクラッチ加工で除去する。 - 特許庁

The resin molding surface 3 has <0.2 [nm] surface roughness Ra measured by an atomic force microscope (AFM).例文帳に追加

樹脂成形面３の表面粗さＲａは、原子間顕微鏡（ＡＦＭ）で測定した場合に、０．２［ｎｍ］未満となっている。 - 特許庁

To introduce four-probe type probe having a new constitution capable of measuring an electric conductivity into an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡に、電気伝導率を計測できる新しい構成の４探針のプローブを導入すること。 - 特許庁

To remove a black defect with less over etching by detecting a finish point by an AFM (Atomic Force Microscope) photomask defect correcting apparatus.例文帳に追加

ＡＦＭフォトマスク欠陥修正装置で終点検出によりオーバーエッチングの少ない黒欠陥除去を行う。 - 特許庁

The period of the ruggedness of the surface is determined by a power spectral function of a rugged image which is obtained by an atomic force microscope.例文帳に追加

表面の凹凸の周期は、原子間力顕微鏡で得られた凹凸像のパワースペクトル関数を求め、決定する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION APPARATUS, SCANNING ATOMIC FORCE MICROSCOPE CONSTRUCTED OF IT, AND SIGNAL DETECTION METHOD例文帳に追加

信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法 - 特許庁

When analyzing and processing the polymer, polymer phase-data is obtained by using a non-contact mode of an atomic force microscope.例文帳に追加

ポリマーの解析処理を行うとき、原子間力顕微鏡の非接触モードを用いてポリマーの位相データを取得する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope having high usability and high measuring precision, and a method therefor.例文帳に追加

一層高い有用性及び測定精度を有する原子間力顕微鏡及びその測定方法を提供すること。 - 特許庁

As a result, the inspection time (tact time) with the atomic force microscope is greatly shortened by using a small region corresponding to a half or less of a scanning measurement region with a magnetic probe of a cantilever unit of the magnetic force microscope as a scanning measurement region of a recording section surface of the magnetic head using the atomic force microscope.例文帳に追加

すなわち、磁気力顕微鏡のカンチレバー手段の磁性探針によるスキャン測定領域の半分以下の小さな領域を原子間力顕微鏡を用いた磁気ヘッドの記録部表面のスキャン測定領域として、原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化できるようにした。 - 特許庁