「atomic force microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning probe microscope such as an atomic force microscope or the like enhanced in throughput as an in-line device by shortening a probe approach time.例文帳に追加

探針アプローチ時間を短縮してインライン装置としてのスループットを向上させた原子間力顕微鏡等の走査型プローブ顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

This atomic force microscope 100 has the cantilever 130 and a stage 110 for holding liquid L and the cantilever 130.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１００は、カンチレバー１３０と、液体Ｌとカンチレバー１３０を保持するステージ１１０とを有している。 - 特許庁

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SAME OPTICAL WAVEGUIDE PROBE例文帳に追加

光導波路プローブおよびその製造方法、並びにその光導波路プローブを用いた走査型近接場原子間力顕微鏡 - 特許庁

To reduce time required for correcting a defect due to mechanical processing using an atomic force microscope (AFM) technique.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工による欠陥修正に要する時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

To provide a quantum line-supported atomic force microscopic method and a quantum line-supported atomic force microscope capable of performing simultaneously shape observation and elemental analysis in the atomic level by using the atomic force microscope, analyzing the chemical state on the sample surface, and performing the elemental analysis or chemical state analysis with respect to a biosample with a resolution in the atomic level because of being operable even in liquid.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を使って原子レベルでの形状観察と元素分析とを同時に行うことができ、さらには試料表面の化学状態を分析することが可能となり、また、液体中でも動作可能であるため生体試料に対する元素分析や化学状態分析を原子レベルの分解能で行うことが可能な量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To improve the throughput of a removing process without overetching or leaving an unetched part of a fine working device using atomic force microscope techniques.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いた微細加工装置のオーバーエッチや削り残しのない除去加工のスループットを向上させる。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope probe structure which is cost-effectively manufactured to achieve ultrahigh resolution and high yield.例文帳に追加

優れた費用効果で製造可能であり、超高分解能で高い歩留まりが可能な原子間力顕微鏡プローブ構成を提供する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND SIGNAL DETECTION DEVICE AND/OR ATOMIC FORCE MICROSCOPE WITH SIGNAL DETECTION DEVICE例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出方法および信号検出装置、並びに該信号検出装置を備えた原子間力顕微鏡 - 特許庁

A cantilever 2 for an atomic force microscope 1 includes: a vibration part formed of a vertical spring 2A and a rotary spring 2B; and a probe 2C.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１用のカンチレバー２は縦バネ２Ａおよび回転バネ２Ｂからなる振動部と探針２Ｃとを備える。 - 特許庁

To achieve a miniaturization and an improvement of resolving power in a probe microscope, having a cantilever activated by the inter-atomic force with the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面との原子間力で動作するカンチレバーを有するプローブ顕微鏡にあって、小型化、解像度の改善を図る。 - 特許庁

The measuring method is used for a nanostructure substrate, and also a nanostructure such as an atomic force microscope-use probe, a near-field optical microscope-use probe or the like which uses the enhancing effect.例文帳に追加

本発明は、ナノ構造体基板に限らず、原子間力顕微鏡用プローブ，近接場顕微鏡用プローブなど、増強度を利用するナノ構造体に対しても用いることができる。 - 特許庁

The sample body 30 is set as a sample for an atomic force microscope, and the sample body 30 is moved in the Z-axis direction very slowly.例文帳に追加

この様な試料体３０を原子間力顕微鏡の試料としてセットし、試料体３０をＺ軸方向に極めてゆっくり移動させる。 - 特許庁

To easily manufacture a colloid probe excellent in measuring precision constituted by bonding a spherical sample particle onto a probe of an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡探針に球状試料粒子を接着させてなる測定精度の良いコロイドプローブを容易に製造できるようにする。 - 特許庁

To provide a method of assembling an array of particulates or molecules using an atomic force microscope for partitioning a ferro-dielectric magnetic domain.例文帳に追加

強誘電体磁区を画定するために原子間力顕微鏡を用いて、微小粒子または分子のアレイをアセンブルする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope for stabilizing the measurement of a force gradient and a displacement current, for example, in an atomic force microscope for improving accuracy, and at the same time to provide a high-density information-reproducing apparatus using the configuration of the scanning-type probe microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などにおける力勾配の測定と変位電流の測定を安定させ、精度を高めることを可能にする走査型プローブ顕微鏡を提供するとともに、この走査型プローブ顕微鏡の構成を用いた高密度の情報再生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface shape measuring device capable of performing proper measurement to a measuring object having a large aspect ratio (height/width or height), especially a probe microscope such as an atomic force microscope or a magnetic force microscope which is a high-resolution surface shape measuring device.例文帳に追加

アスペクト比（高さ／幅又は高さ）が大きい測定対象に対し、適切な測定ができる表面形状測定装置を提供するもので、特に、高分解能な表面形状測定装置である原子間力顕微鏡や磁気力顕微鏡などのプローブ顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To acquire a method for characterizing a probe of an atomic force microscope by a characterization structure having two inclined sidewalls opposed to each other.例文帳に追加

互いに対向する二つの傾斜側壁を持つ特徴づけ構造によって原子間力顕微鏡の探針を特徴づけるための方法を得る。 - 特許庁

This enables specifying the surface of the thin film after the retort treatment by the shape of wrinkles to be observed under an atomic force microscope.例文帳に追加

該ガスバリア性フィルムは、レトルト処理を行った際の薄膜表面の表面を、原子間力顕微鏡で観察される皺の形状で特定することができる。 - 特許庁

To provide a new discrimination method and a device therefor capable of discriminating surely a nano-air bubble from other foreign matters by using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いてナノ気泡を確実にその他の異物から判別することのできる、新たな判別方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To attain high accuracy of processing of an atomic force microscope microprocessing device and to make it possible to remove process waste produced in a cutting step by a process probe.例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置の加工の高精度化と加工探針による切削で発生した加工屑をインラインで除去可能にする。 - 特許庁

AGGLUTINATION SIMULATOR FOR CONTACT MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AGGLUTINATION SIMULATION PROGRAM, RECORDING MEDIUM RECORDED WITH AGGLUTINATION SIMULATION PROGRAM, AND AGGLUTINATION SIMULATION METHOD例文帳に追加

接触モード原子間力顕微鏡の凝着シミュレータ、凝着シミュレーションプログラム、凝着シミュレーションプログラムを記憶した記録媒体及び凝着シミュレーション方法 - 特許庁

To achieve a process without overetching or insufficient etching and a process with high accuracy in surplus defect correction of a photomask by using atomic force microscope techniques.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いたフォトマスクの余剰欠陥修正でオーバーエッチや削り残しのない加工や高精度な加工を実現する。 - 特許庁

Then, the user observes the sample with the atomic force microscope in the observed region specified in the step S3 (step S4).例文帳に追加

その後、使用者は、ステップＳ３において指定した観察対象領域について原子間力顕微鏡による試料の観察を行う（ステップＳ４）。 - 特許庁

An observation of a region including the defect is performed by an atomic force microscope(AFM), and a shape of the defect and a pattern for alignment is extracted from an AFM image.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)で欠陥を含む領域の観察を行い、AFM像から欠陥の形状と位置あわせのためのパターンを抽出する。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) probe structure includes a cantilever (8) and a planar type tip (19) mounted on the cantilever (8) extending along its longitudinal direction (x).例文帳に追加

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）プローブ構成は、カンチレバー（８）と、カンチレバー（８）に装着され、その長手方向（ｘ）に沿って延びるプレーナ型チップ（１９）とを備える。 - 特許庁

To provide a vertical section machining method for forming a vertically machined surface by mechanical machining using an atomic force microscope (AFM) technique, in a more positive and easier manner than ever.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工で垂直な加工面を従来よりも確実かつ簡便な方法で得られるようにする。 - 特許庁

To extend a lifetime of a working probe used for a mechanical removal process with an atomic force microscope and to reduce a drift in a probe position during working.例文帳に追加

原子間力顕微鏡による機械的な除去加工で加工用の探針の寿命を延ばし、加工中の探針位置のドリフトの低減を実現する。 - 特許庁

In a measuring method of elastic modulus of an extreme surface in a solid material sample such as resin film by using an atomic force microscope, a probe of an atomic force microscope is contacted at an elastic displacement as a displacement of a solid material sample within the range providing elastic deformation without providing plastic deformation to the solid material sample.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた樹脂フィルム等の固体物質試料の極表面の弾性率の測定方法であって、原子間力顕微鏡の探針を、固体物質試料に塑性変形を与えることなく弾性変形を与える範囲内の固体物質試料の変位量である弾性変位量で接触させる。 - 特許庁

Alternatively, inclination of the process surface is corrected to the opposite direction by a biaxial tilt stage provided in the atomic force microscope scanner system so as to flatten the processed figure.例文帳に追加

もしくは加工面の傾きを原子間力顕微鏡スキャナー側に設けた2軸チルトステージで反対方向に補正することで加工形状が平らになるようにする。 - 特許庁

The magnetite powder is obtained by reducing hematite and is characterized in that a layered uneven pattern having an interval of 5-80 μm is observed on the surface of each particle in an AFM (atomic force microscope) image.例文帳に追加

ＡＦＭ（原子間力顕微鏡）像において粒子表面に５〜８０ｎｍ間隔の層状凹凸模様が観察されるヘマタイトを還元してなるマグネタイトの粉末。 - 特許庁

The surface to be measured is scanned by an atomic force microscope to efficiently and accurately know the correlation of the fine structure of surface plasmon with the surface structure of the sample.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いて被測定面を走査し、能率よく正確に表面プラズモンの微細構造と試料の表面構造との相関を知る。 - 特許庁

The measuring cell 8 is fixed on the sample stage of an atomic force microscope 20, and a probe is allowed to fall on the surface of the Al layer 4 of the sample 7 to measure the surface shape of the Al layer.例文帳に追加

この測定セル８を、原子間顕微鏡２０の試料ステージに固定し、試料７のＡｌ層４の表面に探針を降ろし表面形状測定を行う。 - 特許庁

The user further specifies the observed region of the sample with the atomic force microscope from the observed region retrieved in the step S2b (step S3).例文帳に追加

続いて、使用者は、ステップＳ２ｂにおいて探索した観察対象領域の中から、さらに原子間力顕微鏡による試料の観察対象領域を指定する（ステップＳ３）。 - 特許庁

The phase difference of a phase shift mask is determined by measuring the depth of the step in the shifter part 6 by using a scanning atomic force microscope so as to manufacture the phase shift mask.例文帳に追加

走査型原子間力顕微鏡によりシフター部６の段差深さを測定することにより位相シフトマスクの位相差を測定し、位相シフトマスクを製造する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope for returning to a state, where a sample image can be observed again, as soon as possible even if a cantilever comes into contact with the sample.例文帳に追加

カンチレバが試料に接触しても出来るだけ短い時間で、再び試料像を観察できる状態に早く復帰させる原子間力顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The atomic force microscope 100 is also equipped with a vibrator 154 for generating vibration, and a vibration transfer block 152 for transferring generated vibration to the glass plate 116.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１００はさらに、振動を生成する振動子１５４と、生成された振動をガラス板１１６に伝達する振動伝達ブロック１５２とを備えている。 - 特許庁

Or, the black defect region 3 is physically removed as high as the height of the recess of the original plate with the probe 5 of an inter-atomic force microscope harder than the material of the work piece.例文帳に追加

あるいは被加工材質よりも硬い原子間力顕微鏡の探針５を用いて黒欠陥３をスクラッチングで原版の凹部の高さまで物理的に除去する。 - 特許庁

The cantilever 15 of a near-field Raman spectroscopic system 40 is the general cantilever of an atomic force microscope and includes the near-field probe 10 at the leading end of the free end.例文帳に追加

近接場ラマン分光システムのカンチレバー１５は、一般的な原子間力顕微鏡のカンチレバーであって、その自由端の先端に近接場プローブ１０を備えている。 - 特許庁

To enable the correction of black defect in which also the riverbed is not generated in the practical throughput by combining a defect correcting device using an ion beam and an atomic force microscope(AFM).例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置と原子間力顕微鏡(AFM)を組み合わせることで、実用的なスル−プットでリバーベッドも無い黒欠陥修正を可能にする。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) 102 for inspecting a sample 124 includes a probe assembly 106 including a first tip 302 and a second tip 304 directed respectively to a surface 131 of the sample 124.例文帳に追加

サンプル(124)の表面(131)にそれぞれ向けられる第１の先端部(302)及び第２の先端部(304)を含むプローブアセンブリ(106)を含む、該サンプル(124)を検査するための原子間力顕微鏡(AFM)(102)。 - 特許庁

The reference dimensions of the plurality of patterns may be obtained by measuring the plurality of patterns by an Atomic Force Microscope: AFM, or alternatively, may be obtained on the basis of sectional shapes or the like of the patterns obtained by applying simulation to semiconductor pattern design data.例文帳に追加

複数パターンの基準寸法は、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope：ＡＦＭ）によって、上記複数のパターンを測定することによって得るようにしても良いし、半導体パターンの設計データにシミュレーションを施すことによって得られるパターンの断面形状等に基づいて求めるようにしても良い。 - 特許庁

The deflection generating on a cantilever 41 is detected by an inter-atomic force between a probe 44 of the cantilever 41 and the air bearing surface 13 of the thin-film magnetic head Q in the manner of using an atomic force microscope(AFM) 4 provided with the cantilever 41 mounting a magnetic field generating element 45 thereon.例文帳に追加

磁界発生素子４５を取り付けたカンチレバー４１を有する原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）４を用い、カンチレバー４１の探針４４と薄膜磁気ヘッドＱの空気ベアリング面１３の間の原子間力によって、カンチレバー４１に生じる撓みを検知する。 - 特許庁

To obtain a magnetic-resonance-type exchange interaction force microscope that incorporates magnetization inversion/modulation technique due to magnetic resonance being utilized by electronic spin resonance and nuclear magnetic resonance into an atomic force microscope, and accurately measures exchange interaction force operating between a probe and a sample, and the measuring method of the exchange interaction force using it.例文帳に追加

電子スピン共鳴や核磁気共鳴で利用されている磁気共鳴による磁化反転・変調技術を原子間力顕微鏡に取り入れ、探針・試料間に働く交換相互作用力を的確に計測する磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a probe suitable for measuring a biopolymer by a scanning probe microscope such as an atomic force microscope, etc., and a base material for immobilizing a polymer capable of immobilizing a biopolymer such as a substrate as a specimen.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの走査型プローブ顕微鏡による生体高分子の測定に適したプローブならびに被検体としての基板などの生体高分子固定可能な重合体を固定する基材を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample table driving device for an atomic force microscope capable of measuring surface force of a sample to be measured with high accuracy and high resolution by controlling the movement of the sample table with high reliability and repeatability.例文帳に追加

高い信頼性及び再現性にて試料台を移動制御して試料の表面力を高精度及び高分解能で測定することができる原子間力顕微鏡の試料台駆動装置の提供。 - 特許庁