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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > electrical testingに関連した英語例文

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electrical testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 92



例文

ELECTRICAL APPARATUS TESTING DEVICE例文帳に追加

電気機器の試験装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR ELECTRICAL EQUIPMENT, AND TESTING METHOD OF ELECTRICAL EQUIPMENT例文帳に追加

電気機器用試験装置および電気機器の試験方法 - 特許庁

ELECTRICAL TESTING DEVICE AND ELECTRICAL TESTING METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電気的試験用装置及び電子装置の電気的試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FUNCTION OF ELECTRICAL CIRCUIT例文帳に追加

電気回路の機能検査方法 - 特許庁

例文

TWISTED-PAIR ELECTRICAL CABLE TESTING例文帳に追加

撚った対の電気ケーブルの試験法 - 特許庁


例文

CIRCUIT BOARD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, ELECTRICAL TESTING TOOL, AND ELECTRICAL TESTING APPARATUS例文帳に追加

回路基板、その製造方法、電気検査ジグ、および電気検査装置 - 特許庁

ELECTRICAL TESTER FOR TESTING ELECTRICAL TEST PIECE例文帳に追加

電気試験片を試験するための電気試験装置 - 特許庁

ELECTRICAL TESTING METHOD FOR PRINTED-WIRING BOARD例文帳に追加

プリント配線板の電気検査方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING CONTACTLESS ELECTRICAL CONNECTION例文帳に追加

非接触電気的接続部テスト装置 - 特許庁

例文

Withstand voltage testing device, material testing machine, and electrical measuring instrument 例文帳に追加

耐電圧試験装置、材料試験機及び電気計測器 - 日本法令外国語訳データベースシステム

例文

ELECTRICAL PROPERTY TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気的特性試験装置 - 特許庁

ANISOTROPIC ELECTRICAL CONDUCTIVE SHEET AND TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置 - 特許庁

Withstand voltage testing device, electrical measuring instrument, thermostatic bath, temperature testing device, steel-ball drop testing device, water resistance testing device, impact testing machine, ingress protection rating device, explosion testing device, gas concentration measuring instrument, hydrostatic pressure testing device, constraint testing device, airtightness testing device, internal pressure testing device, spark-ignition testing device, combustion test device, and dust resistance testing device 例文帳に追加

耐電圧試験装置、電気計測器、恒温槽、温度試験装置、鋼球落下試験装置、耐水試験装置、衝撃試験機、保護等級試験装置、爆発試験装置、ガス濃度計測器、水圧試験装置、拘束試験装置、気密試験装置、内圧試験装置、火花点火試験装置、発火試験装置及び防じん試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a highly reliable apparatus for electrical test and an electrical testing method.例文帳に追加

信頼性の高い電気的試験用装置及び電気的試験方法を提供すること。 - 特許庁

To enhance the reliability of electrical testing of semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の電気的検査の信頼性を向上させる。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRICAL CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR MODULE例文帳に追加

半導体モジュールの電気的特性試験方法及びその装置 - 特許庁

This testing device employs anisotropic electrical conductive sheet.例文帳に追加

本発明の検査装置は、前記異方導電性シートを用いたものである。 - 特許庁

ANISOTROPIC ELECTRICAL CONDUCTIVE SHEET, TESTING DEVICE AND CONNECTOR USING THE SAME例文帳に追加

異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置並びにコネクター - 特許庁

METHOD FOR TESTING INSULATION IN MANUFACTURING PROCESS OF COIL FOR ROTARY ELECTRICAL MACHINE, AND METHOD OF MANUFACTURING COIL FOR ROTARY ELECTRICAL MACHINE例文帳に追加

回転電機巻線の製造工程内絶縁試験方法及び回転電機巻線の製造方法 - 特許庁

ELECTRICAL CONNECTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気的接続装置及び半導体装置用試験装置 - 特許庁

To provide a testing system and a testing method for onboard electrical components, allowing precise tests for the operation of various onboard electrical components by running a simulation which precisely simulates the entire vehicle.例文帳に追加

車両全体を正確に模擬したシミュレーションを行って、各種車載電装品の動作を正確に試験することが可能な車載電装品試験システム及び試験方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR OBTAINING ELECTRICAL CHARACTERISTIC CORRELATION OF SOCKET IN ELECTRONIC PART-TESTING APPARATUS, HANDLER, METHOD FOR CONTROLLING HANDLER AND ELECTRONIC PART-TESTING APPARATUS例文帳に追加

電子部品試験装置におけるソケットの電気特性相関取得方法、ハンドラ、ハンドラの制御方法および電子部品試験装置 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor device which is capable of testing the electrical properties of the semiconductor device with high accuracy before an assembly process is carried out.例文帳に追加

アセンブリ工程より前に行なう電気的特性のテストを精度良く行なうことができる半導体素子のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a display panel and a display panel testing method capable of simply evaluating electrical characteristics.例文帳に追加

簡易に電気的特性を評価できる表示パネルおよび表示パネル検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an auxiliary test device for an electrical installation capable of simply switching the connection structure of wiring when testing the electrical installation including a plurality of relay elements.例文帳に追加

複数のリレー要素を含む電気設備の試験において、配線の接続構成を簡単に切り換えられる電気設備の試験補助装置を得る。 - 特許庁

In the method of manufacturing the semiconductor device, the semiconductor package is conveyed to a testing socket while the periphery of the semiconductor package is being held, for electrical testing of a dual-face type package to perform the electrical testing; then, the semiconductor package is taken out.例文帳に追加

本願の一つの発明は、デュアルフェイス型パッケージの電気的なテストにおいて、半導体パッケージの周辺部を保持した状態で、半導体パッケージをテスト用ソケットに搬送し、電気的なテストの後、そこから搬出する半導体装置の製造方法である。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TREATING SURFACE OF MEDIUM, SUCH AS MAGNETIC HARD DISK, WHILE OPERATING, SUCH AS DURING DYNAMIC ELECTRICAL TESTING例文帳に追加

磁気ハードディスクなどの媒体の表面を動的電気テスト中などの動作中に処理する方法及び装置 - 特許庁

To provide process testers and testing methodology for thin-film PV devices, which can provide information directly relating to fabrication processes through electrical testing.例文帳に追加

電気的テスティングを通して製造プロセスに直接関連した情報を与えることのできるような、薄膜PV装置のためのプロセステスタ及びテスティング技法を提供する。 - 特許庁

The electrical tester (1) of the invention for testing the electrical test piece (2) preferably a wafer (3) has a contact region (12) in which the electrical test piece (2) directly contacts the contact apparatus (5), and is provided with an electrical connection mechanism (7) associated with a support mechanism (8).例文帳に追加

本発明は、電気試験片(2)と接触可能な接触装置(5)を直接接触させるための接触領域(12)を有しかつ支持機構(8)が関連付けられている電気接続機構(7)を備えた、電気試験片(2)、好ましくはウェハ(3)を試験するための電気試験装置(1)に関する。 - 特許庁

CONTACTOR, FRAME WITH THIS TYPE OF CONTACTOR, ELECTRICAL MEASUREMENT AND TESTING DEVICE AND CONTACTING METHOD USING THIS TYPE OF CONTACTOR例文帳に追加

接触器、この種の接触器を備えたフレーム、電気的測定および試験装置およびこの種の接触器による接触方法 - 特許庁

To provide a compliant electrical contact which has a low self-inductance in a high frequency for connecting an IC on an IC testing unit.例文帳に追加

IC試験装置にICを接続するための高周波で低い自己インダクタンスを有する柔軟電気接点の提供。 - 特許庁

This tester 100 controls the temperature of a device 120 under test in testing electrical characteristics of the device 120.例文帳に追加

試験装置100は、被試験デバイス120の電気的特性試験を行う際に、被試験デバイス120の温度を制御する。 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET AND ITS MANUFACTURING METHOD, ADAPTER DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD AS WELL AS ELECTRICAL TESTING DEVICE OF CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

異方導電性シートおよびその製造方法、アダプター装置およびその製造方法並びに回路装置の電気的検査装置 - 特許庁

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem wherein a chassis dynamometer, provided with an electrical inertia compensation function is incapable of high precision of performance evaluation of the load condition at testing.例文帳に追加

電気慣性補償機能を有するシャシダイナモメータにおいては、試験時における負荷状態の精度の高い性能評価ができない。 - 特許庁

This invention also refers to a method for providing electrical conductive vias passing through an electro-optical medium and a method for testing the front plane laminate.例文帳に追加

電気光学媒体を貫通する導電性バイアを設ける方法と、前面ラミネートを検査する方法とについても記載している。 - 特許庁

An electrical characteristics test using a BGA-type IC is made by making the outer leads 5a have continuity temporarily with electrodes for the test of a testing unit.例文帳に追加

このBGA型ICの電気的特性試験は、アウターリード5aと試験装置のテスト用電極を一時的に導通させて行う。 - 特許庁

A testing device 30 tests electrical characteristics of a solid-state imaging device as a semiconductor device formed in a semiconductor wafer 10.例文帳に追加

検査装置30は、半導体ウエハ10に形成された半導体デバイスとしての固体撮像素子の電気的特性を検査する。 - 特許庁

(ii) The Specified Electrical Appliances and Materials used for testing and the assessment facilities for said Specified Electrical Appliances and Materials which are in the Notifying Supplier's plant or workplace, and other matters as specified by Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry. 例文帳に追加

二 試験用の特定電気用品及び当該特定電気用品に係る届出事業者の工場又は事業場における検査設備その他経済産業省令で定めるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an electrical testing method for printed-wiring boards capable of providing an effect that resistance values which a 4-terminal inspection originally has are measured in an electrical testing process, ensuring high inspection efficiency, and performing a stable inspection at an inexpensive cost.例文帳に追加

電気検査工程において4端子検査が元々有する抵抗値を高精度で測定するという効果を発揮すると同時に、高い検査効率を確保し、安定した検査を安価で行うことができるプリント配線板の電気検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a press-fit pin connection testing method, capable of detecting all the press-fit pin press-fitting defective modes using only electrical test.例文帳に追加

電気検査のみにより全てのプレスフィットピン圧入不良モードを検出可能なプレスフィットピン接続検査方法を提供することである。 - 特許庁

The electronic component is measured by the second testing measuring implement, and the electrical characteristic measured by the reference measuring implement is calculated by using the relative correction coefficient.例文帳に追加

電子部品を第2の試験測定治具で測定し、相対補正係数を用いて、基準測定治具で測定した電気特性を算出する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing protection of a power receiving and distributing facility system which can safely and efficiently test various electrical device of a power receiving and distributing facility.例文帳に追加

受配電設備の各種電気機器を安全で効率的に行える受配電設備系統保護試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a testing socket used for measuring electrical characteristics of a semiconductor device and capable of further preventing a solder attachment from being attached thereto; and to provide a further simple manufacturing method of a contact terminal of a testing socket.例文帳に追加

半導体装置の電気的諸特性の測定を行うテスト用ソケットであって、ハンダ凝着物がより付着しにくいもの、および、より簡易なテスト用ソケットの接触端子の製造方法を提供する。 - 特許庁

A detection circuit 5 is provided for detecting the electrical load factors, affecting test results occurring at testing of a semiconductor device 4 from the electrical signal applied to input/output terminals of the semiconductor device 4.例文帳に追加

半導体装置4の試験時に発生する試験結果に影響を与える電気的負荷要因を、半導体装置4の入出力端子に印加する電気信号から検出する検出回路5を設ける。 - 特許庁

To provide a testing device, capable of easily and inexpensively supplying plural analog signals to an electrical component, or capable of supplying an analog signal an digital signal to the electrical component by highly accurately synchronizing these signals with each other.例文帳に追加

容易且つ安価に複数のアナログ信号を電気部品に供給する、または、アナログ信号とデジタル信号とを高精度に同期させて電気部品に供給することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an operation testing device which is capable of measuring electrical characteristics while cooling an object to be measured such as an electronic apparatus, without using a conventional cooling device.例文帳に追加

従来の冷却装置を用いずに電子装置等の被測定物を冷却しつつ電気的特性を測定可能な動作試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electrical system for testing a communication system having a function for checking whether the function boards are present, and whether these two function boards are identical.例文帳に追加

機能ボードの存在及び2つの機能ボードが同一であるかどうかを合わせてチェックする機能を有する通信システムテスト用電気システムを提供する。 - 特許庁

Also, by passing wiring from the metal bump 43 to an external electrical testing device between elastic layers, correspondence to a group of pads arranged on a plane can be attained.例文帳に追加

また、金属バンプから外部の電気的試験装置までの配線を弾性層の間を通すことにより、平面配列したパッド群に対応することができる。 - 特許庁

例文

To provide a testing method for the installation of an overcurrent alarm device, which enables simple testing without need for any electrical equipment specially prepared only for checking operation or any burdensome work, such as looking for an outlet.例文帳に追加

動作確認の試験のためだけにわざわざ電気機器を用意したり、コンセントを探す等の煩雑な作業を必要とすることがなく、簡単に試験をすることができる過電流警報装置の設置試験方法を提供する。 - 特許庁




  
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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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