「electrical testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To prevent contact characteristic from deteriorating by the migration of solder from an IC lead to a contact pin coming into electrical contact with the IC lead in relation to a socket for testing an IC or the like.例文帳に追加

ＩＣ等のテスト用ソケットで、ＩＣリードと電気的接触をするコンタクトピンにＩＣリードからの半田が転移し、コンタクト特性が劣化するのを防止する。 - 特許庁

The testing facility terminal (13) automatically changes an interface (14) based on the transferred information to meet the electrical equipment (1) to be tested, carries out the electrical characteristics evaluation/test and transfers the test result via the network (10) to the host computer (11).例文帳に追加

転送された情報から試験設備端末（１３）は、対象となる電気機器（１）に合わせてインターフェイス（１４）を自動的に変更し、電気特性評価試験を行い、試験結果をホストコンピュータ（１１）にネットワーク（１０）を介して転送する。 - 特許庁

The contact pin 1 is mounted to an element-testing apparatus used for testing the electrical characteristics of electronic components, such as a semiconductor device, and a contact part 12a of the contact pin 1 to be brought into contact with electrodes of the electronic parts can be characteristically detached and attached.例文帳に追加

半導体素子等の電子部品の電気的特性試験に用いられる素子試験装置に搭載されたコンタクトピン１であって、前記電子部品の電極に接触させるコンタクトピン１の接触部１２ａが脱着可能であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an apparatus (100 and 210) and a method to provide electrical loading to RF coils (56 and 144) of an MRI system (10) during testing/calibration, or operator training.例文帳に追加

試験／較正あるいはオペレータ訓練の間においてＭＲＩシステム（１０）のＲＦコイル（５６、１４４）に電気的負荷を与えるため装置（１００、２１０）及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electric property testing device for a semiconductor device capable of effectively preventing unfavorable appearance due to particles and improper electrical property (shoot, etc.), in the next test process.例文帳に追加

半田屑による概観不良、及び次テスト工程での電気的特性不良（シュート等）を効果的に防止することができる半導体装置の電気的特性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a controller of a material testing machine constituted so as to dispense with an operator at the time of the electrical calibration of the amplifier of a strain gauge type detector and capable of automating calibration.例文帳に追加

歪みゲージ式検出器のアンプの電気的校正に際してオペレータが介在する必要がなく、校正を自動化することのできる材料試験機の制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for stress relaxation characteristics, which specifically shows the reliability of a terminal to be used in electrical or electronic equipment which is mounted on a mobile body represented by vehicles such as an automobile, an electric car and a locomotive, and to provide a rolled sheet material which satisfies stress relaxation characteristics according to the testing method.例文帳に追加

自動車、電車や機関車などの車両に代表される移動体に搭載される電気・電子機器に使用される端子の信頼性を具現する応力緩和特性試験方法と、その試験方法による応力緩和特性を満足する圧延板材を提供する。 - 特許庁

In the electrode 22, an upper surface is used as a terminal 24 for making electrical connection to an external circuit device, and a lower surface is used as a terminal 26 for testing the operation of the circuit device 10.例文帳に追加

この電極２２は、上面が外部の回路装置との電気的な接続用の接続用端子２４として用いられ、下面が回路装置１０の動作試験用の試験用端子２６として使用される。 - 特許庁

The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.例文帳に追加

検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁

To provide a wafer testing method in which accuracy and speed of sensing of the temperature of a wafer can be improved during the sensing of the wafer temperature when an electrical test of an IC chip is conducted, and to provide a probe card.例文帳に追加

ＩＣチップの電気的テストを行う際にウェハの温度を検知する場合に、ウェハ温度の検知精度及び検知速度を向上させることができるウェハテスト方法及びプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide means for improving the arrangement density of pads and preventing missing of a passivation film, using a probe which is used in electrical testing, in a method of manufacturing a pad and a semiconductor device.例文帳に追加

パッドと半導体装置の製造方法において、パッドの配置密度を向上させると共に、電気的試験で使用されるプローブによってパシベーション膜が欠損するのを防止する手段の提供。 - 特許庁

This microorganism testing device includes a first detector that detects the fluorescence emitted from microorganisms flowing through a detection flow path when a microorganism detection unit included in a microorganism testing chip is irradiated with an exciting light, and converts the fluorescence to an electrical signal; and a second detector that detects scattered light, emitted similarly from the microorganisms flowing through the detection flow path, and converts the scattered light to an electrical signal.例文帳に追加

微生物検査チップを構成する微生物検出部に励起光を照射した場合に、検出用流路に流れる微生物から発生される蛍光を検出して電気信号に変換する第１の検出器と、同じく検出用流路に流れる微生物から発生される散乱光を検出して電気信号に変換する第２の検出器とを微生物検査装置に搭載する。 - 特許庁

To provide a new contactor that can use for an existing measuring device and testing device, provided for using a contacting pin for electronic components and/or wiring and maintains advantageous electrical characteristics thereof.例文帳に追加

電子部品および（または）配線のための接点ピンを使用するために設けられた既存の測定装置および試験装置に使用でき、その有利な電気特性を維持しているの新規な接触器を提供する。 - 特許庁

To provide an IC package tray, an IC test apparatus and its test method, which can test electrical properties of an IC package without transferring ICs from an IC carrying package tray to an IC testing package tray.例文帳に追加

搬送用ＩＣパッケージトレイからテスト用ＩＣパッケージトレイにＩＣを移載することなく、ＩＣパッケージの電気的特性のテストを行うことができるＩＣパッケージトレイ、ＩＣテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting a printed board that are capable of easily and inexpensively performing electrical testing of a printed board the position of which should be determined in such a state that a plurality of inspection probes are made close to each other.例文帳に追加

複数の検査用プローブを接近させた状態で位置決めすることが必要なプリント基板の電気検査を簡単、かつ低コストで行えるプリント基板の検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a circuit pattern for inspecting blind via hole misregistration, which inspects within a short time the misregistration of the blind via hole by a wiring test for testing the electrical continuity between required points in a wiring.例文帳に追加

配線内の要所間の電気的導通を検査する布線検査によってブラインドビアホールの位置ずれを短時間内に検査することを可能とするブラインドビアホール位置ずれ検査用回路パターンを提供すること。 - 特許庁

To provide a guide for a probe allowing stable electrical connection and being kept from leaving a scrub trace on a projection apex of a projecting connection electrode, a cantilever-type probe card, and a method for testing a semiconductor device.例文帳に追加

安定した電気的接続を可能にし、かつ、突起状接続電極の突起頂点にスクラブ跡を付けることのないプローブ針のガイド部材、カンチレバー型プローブカード、並びに、半導体装置の試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To easily replace contacts for contact with IC terminals and eliminate the need for preparing IC sockets for every IC package in an IC testing apparatus for the electrical connection between ICs to be tested and IC terminals.例文帳に追加

被試験ＩＣのＩＣ端子と電気的接続をとるためのＩＣ試験装置において、ＩＣ端子に接触させるための接触子を容易に取り替えることができ、ＩＣパッケージごとにＩＣソケットを作成しなくてもよいようにする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a semiconductor device capable of realizing the cost reduction of an electrical characteristic test and that of a product by using existing test jigs and testing devices, and provide a carrier used for it.例文帳に追加

既存の試験治具や試験装置を流用することによって電気的特性試験のコストダウン、さらには製品のコストダウンを実現することができる半導体装置の製造方法、およびこれに用いられるキャリアを提供する。 - 特許庁

To provide a tester and a testing device for judging uniformity of an insulation film that do not damage a normal insulation film part, easily specify a failure position, sufficiently take measures against a residual charge effect and an absorbing phenomenon, and do not generate a malfunction to electrical noise, and are suitable as a tester and a testing device on a line.例文帳に追加

正常な絶縁皮膜部分を破壊することなく、不良個所の特定が容易であり、残留電荷効果・吸収現象に対する対策が十分に施され、また、電気的ノイズに対して誤動作が生ぜず、ライン上の試験器、試験装置として好適な絶縁皮膜均一性判定試験器および試験装置を安価に提供する。 - 特許庁

(2) With regard to an application for testing as set forth in Article 21, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act (including the case where it is applied mutatis mutandis pursuant to Article 23, paragraph (2) or Article 25-3, paragraph (2) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act; the same shall apply in the following paragraph) which was filed prior to the enforcement of Article 10 and for which a disposition of success or failure in passing said testing had not been made at the time of enforcement of the relevant provisions, the provisions then in force shall remain applicable to the disposition on such application. 例文帳に追加

２　第十条の規定の施行前にされた旧電気用品取締法第二十一条第一項（旧電気用品取締法第二十三条第二項又は第二十五条の三第二項において準用する場合を含む。次項において同じ。）の試験の申請であって、第十条の規定の施行の際、合格又は不合格の判定がされていないものについての合格又は不合格の判定については、なお従前の例による。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The testing apparatus (100) of a test transceiver (20) comprises a transmitter (130) for transmitting a signal in a first state, a receiver (140) for receiving a signal in a second state, and an electrical power coupler (120) for connecting the transmitter (130) to the receiver (140).例文帳に追加

第１の状態において信号を送信する働きをするトランスミッタ(130)と、第２の状態において信号を受信する働きをするレシーバ(140)と、前記トランスミッタ(130)を前記レシーバ(140)に接続する電力結合器(120)とを含む、試験トランシーバ(20)の試験装置(100)。 - 特許庁

To provide a probe card capable of testing the electrical property of an object under test correctly by contacting all the probe pins surely corresponding electrode pads when overdriven, without damage of probe pins and semiconductor elements, even when the object, such as an IC chip, is integrated highly and grown in size.例文帳に追加

ICチップ等の被検査体が高集積化、大型化しても、プローブピンや半導体素子が損傷を受けることなく、オーバードライブ時に全てのプローブピンを対応する電極パッドに確実に接触させて、被検査体の電気的特性の検査を正確に行うこと。 - 特許庁

The apparatus (100 and 210) includes a polymer interdispersed with an electrically conductive additive such that the apparatus provides the necessary electrical loading to the RF coils (56 and 144) for testing and calibration of the MRI system (10) but is free of liquid.例文帳に追加

装置（１００、２１０）は、導電性添加物を内部分散させたポリマーを含んでおり、これによって本装置はＭＲＩシステム（１０）の試験及び較正のためにＲＦコイル（５６、１４４）に対して必要な電気的負荷を提供する一方で液体を含んでいない。 - 特許庁

Thereby, since all the processes to be performed up to the bump formation can be implemented in a fab line, the problems of contamination etc. will not occur; and tests for electrical characteristics can be preformed, using inexpensive probe cards by using the bumps for testing as test objects.例文帳に追加

これにより、バンプ形成までの全ての過程がファブライン（ｆａｂ ｌｉｎｅ）で成されるため、汚染などの問題が発生せず、テスト用バンプをテスト対象にすることによって、低廉なテスト用プローブカードを用いて電気的な特性テストを遂行することができる。 - 特許庁

To provide a traveling state system capable of virtually verifying and testing the effects of variations in electrical load caused by the actuation of accessories such as air conditioners and car audios mounted to vehicles to the travel control of a vehicle while the vehicle is traveling without having to actually mount the accessories.例文帳に追加

車両に搭載されるエアコンやカーオーディオなどの付属装置を実装することなく、それらの付属装置を作動することで生じる車両走行中の電気負荷変動による車両走行制御への影響を仮想的に検証試験できる走行状態システムを提供する。 - 特許庁

The power portion and the control portion of the intelligent power module are stacked mutually in a lead frame configuration after a wire bonding and also stacked mutually in a semiconductor package configuration using a locking method after a molding, trimming/forming and an electrical characteristic testing.例文帳に追加

インテリジェントパワーモジュールパッケージの電力部とコントロール部とはワイヤボンディングが完了したリードフレーム形で互いにスタックしたり、モールディングを行ってトリミング／フォーミング及び電気的な特性検査を完了した状態の半導体パッケージ状にしてロックキング手段を利用して互いにスタックしたりする。 - 特許庁

(3) Where an application for approval for product types pursuant to the provisions of Article 18 or of Article 23, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act or an application for authorization for product types pursuant to the provisions of Article 25-3, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act was filed by a person who had passed the testing set forth in Article 21, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act prior to the enforcement of Article 10, or where such an application was filed by a person who had filed an application for testing for which the provisions then in force are to remain applicable pursuant to the provisions of the preceding paragraph and who had passed said testing, where either of said persons has filed such an application for approval or authorization for such product types by attaching a test certificate therefor within 10 days from the day of having passed said testing, the provisions then in force shall remain applicable to the disposition on such an application. 例文帳に追加

３　第十条の規定の施行前にされた旧電気用品取締法第二十一条第一項の試験について合格とされた者が第十条の規定の施行の日から十日以内にその試験に合格したことを証する書面を添付してする旧電気用品取締法第十八条若しくは第二十三条第一項の規定の例による型式の認可の申請若しくは旧電気用品取締法第二十五条の三第一項の規定の例による型式の承認の申請又は前項の規定によりなお従前の例によることとされた試験の申請をした者であって当該試験に合格とされたものがその合格とされた日から十日以内にその試験に合格したことを証する書面を添付してする旧電気用品取締法第十八条若しくは第二十三条第一項の規定の例による型式の認可の申請若しくは旧電気用品取締法第二十五条の三第一項の規定の例による型式の承認の申請についての処分については、なお従前の例による。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To improve precision in test inspection, and to contribute to the improvement of safety in electrical appliances by achieving a coil withstand voltage tester that prevents switching noise from affecting the detection of corona discharge even if a switching element is switched when starting tests when testing coil withstand voltages and can generate high withstand test voltages.例文帳に追加

コイル耐圧試験器に関し、コイル耐圧を試験する際、試験開始時にスイッチング素子のスイッチングを行っても、そのスイッチングノイズがコロナ放電の検出に影響せず、また、高い耐圧試験電圧を発生させることが可能なコイル耐圧試験器を実現し、試験検査の精度を向上し，電気製品の安全性向上に寄与する。 - 特許庁

The tester 100 comprises a power consumption measurement part 132 for measuring power consumption of the device 120 in testing the electrical characteristics, a surface temperature measurement element 106 for measuring surface temperature of the device 120, and a surface temperature controller 140 for controlling the temperature of the device 120 based on the surface temperature and the power consumption.例文帳に追加

試験装置１００は、電気的特性試験を行う際の被試験デバイス１２０の消費電力を測定する消費電力測定部１３２と、被試験デバイス１２０の表面温度を測定する表面温度測定素子１０６と、表面温度と消費電力とに基づき、被試験デバイス１２０の温度を制御する表面温度制御装置１４０と、を含む。 - 特許庁

To allow for elimination of a possibility of causing a design error resulting from multiple registration of information or lack of quantitative information, and also allow for elimination of a possibility of causing a bad effect on design by allowing for testing in consideration of connection information and layer information required in actual electrical design.例文帳に追加

情報の多重登録や定量的情報の欠如に起因する設計ミスを生じさせる恐れを排除することができるようにするとともに、実際の電気設計において必要な接続情報や層情報を考慮した検証を行うことを可能にして設計に弊害を生じさせる恐れを排除することができるようにする。 - 特許庁

In the method for testing a function of an electrical circuit which has a sensor module 2 having a switch circuit and a diagnostic device 3, where the sensor module 2 has one output terminal and power supply terminals 12a, 12b connected to the diagnostic device 3, drive voltage is applied to the power supply terminals 12a, 12b via lead wires 13a, 13b.例文帳に追加

切替え回路を有するセンサモジュール２と診断装置３とを有し、センサモジュール２が診断装置３と接続された１つの出力端子と電力供給端子１２ａ，１２ｂを有した電気回路の機能を検査する方法において、リード線１３ａ，１３ｂを介して駆動電圧が電力供給端子１２ａ，１２ｂへ印加される。 - 特許庁

This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture.例文帳に追加

この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ（PCシミュレータ）、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査（ECT）装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング（PWR系統の学習）、ループ試験装置（異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ）、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。 - 経済産業省

Conducting an electrical test as a job lot by arranging contact pins 102 of the contact-fixing board 103 of a semiconductor testing device 106 corresponding to the all electrodes of solder bumps 108 of a plurality of semiconductor devices 107 on a wafer level CSP body 101 makes possible the use of the same board 103 to the other smiconductor devices.例文帳に追加

半導体テスト装置１０６のコンタクト固定基板１０３におけるコンタクトピン１０２を、ウエハレベルＣＳＰ本体１０１上の複数の半導体デバイス１０７における半田バンプ１０８の全電極に対応して配置することにより、一括して電気的試験を行うことにより、同じコンタクト固定基板１０３を他の半導体デバイスに対しても使用可能にする。 - 特許庁

An element testing device 1 which evaluates the electrical characteristic of a semiconductor element 20 has a support 11 whereon the semiconductor element 20 is laid so that a collector electrode of the element 20 comes into contact with it, an electroconductive resin 30 which comes into contact with an emitter electrode of the element 20, and at least one contact 30g which comes into contact with a gate electrode 20g of the element 20.例文帳に追加

半導体素子２０の電気的特性を評価する素子試験装置１は、半導体素子２０のコレクタ電極が接するように、半導体素子２０を載置する支持台１１と、半導体素子２０のエミッタ電極に接触する導電性樹脂３０と、半導体素子２０のゲート電極２０ｇに接触する、少なくとも一つの接触子３０ｇと、を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a socket assembly for testing an IC chip, capable of improving reliability for electrical characteristics inspection by improving efficiency by selecting one of direct/indirect connection between a test board and the IC chip in accordance with its characteristics, and reducing the load capacity between probe pins through direct contact and terminals, the IC chip which uses the same, and a tester which uses the socket assembly.例文帳に追加

テストボードと集積素子との間の接続を集積素子の特性に従い直間接的方式のうちの一つを選ぶことにより効率性を高め、直接接続を通じたリードと端子との間の負荷容量を減らして電気的特性検査の信頼度を高めることができる集積素子テスタ用ソケット組立体とこれを用いる集積素子、及びこれを用いるテスタを提供するにある。 - 特許庁

The tray has a plurality of guide pins which are inserted into at least some of the guide holes respectively whereby the semiconductor device can be fixed to the tray and a support section for supporting a part of the tape which supports close a part of the lead with which a measurement terminal for testing the electrical characteristics is brought into contact.例文帳に追加

表面に導電性のリードパターンを有するとともに複数のガイド孔を有する絶縁性のテープと、前記テープに固定される半導体チップと、前記テープに設けた所定のリードと前記半導体チップの所定の電極を電気的に接続する手段と、前記半導体チップを含む部分を覆う絶縁性の樹脂体とを有するテープキャリアパッケージ型半導体装置を収容するトレーであるとともに電気特性試験用のトレーをも兼ねるトレーであって、前記ガイド孔の少なくとも幾つかにそれぞれ挿入され、挿入によって前記半導体装置をトレーに固定することができる複数のガイドピンと、前記電気特性試験用の測定端子が当接される箇所のリード部分を支持するテープ部分を密着状態で支持する支持部分を有する。 - 特許庁