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gate sourceの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5325



例文

A gate electrode 102a, and a source electrode 103a and a drain electrode 103b are formed with a semiconductor layer 101 interposed therebetween, and a region where the gate electrode 102a and the drain electrode 103b are not overlapped with each other is provided for the semiconductor layer between the gate electrode 102a and the drain electrode 103b.例文帳に追加

半導体層101を挟んでゲート電極102aとソース電極103a、ドレイン電極103bを形成し、半導体層のうちゲート電極102aとドレイン電極103bとの間にこれらが重ならない領域を設ける。 - 特許庁

A thin-film transistor 10 has a gate insulating layer 4 prepared on a top surface of a substrate 2 such that it covers a gate electrode 3, and a source electrode 5 and a drain electrode 6 respectively prepared on a top surface of the gate insulating layer 4 with a predetermined channel length spacing width.例文帳に追加

薄膜トランジスタ10は、基板2の上面には、ゲート電極3を覆うようにしてゲート絶縁層4が設けられ、ゲート絶縁層4の上面には、ソース電極5及びドレイン電極6が所定のチャネル長の離間幅をもって各々設けられている。 - 特許庁

To increase the concentration of impurities in a gate electrode without increasing the concentration of impurities in source/drain and improve a gate capacity as well as a short channel effect without worrying about the fluctuation of a threshold voltage or the like due to the fluctuation of a gate electrode configuration.例文帳に追加

ソース/ドレインの不純物濃度を増加させることなくゲート電極中の不純物濃度を高め、ゲート電極形状の変動に起因するしきい値電圧の変動等を懸念することなく、ゲート容量とともに短チャネル効果をも向上させる。 - 特許庁

The area of a portion (Rf) where the floating electrode and gate electrode overlap each other is smaller than the sum of the area of a portion (Rs) where the source electrode and gate electrode overlap each other and the area of a portion (Rd) where the drain electrode and gate electrode overlap each other.例文帳に追加

浮遊電極及びゲート電極が互いに重なる部分(Rf)の面積は、ソース電極及びゲート電極が互いに重なる部分(Rs)の面積と、ドレイン電極及びゲート電極が互いに重なる部分(Rd)の面積との和よりも小さい。 - 特許庁

例文

The thin film transistor 1 is a bottom-gate-type TFT and has on a base 11 a gate electrode 12, a gate insulating film 13, an oxide semiconductor layer 14 forming a channel, a channel protection film 16, and source and drain electrodes 15A, 15B in that order.例文帳に追加

薄膜トランジスタ1は、ボトムゲート型のTFTであり、基板11上に、ゲート電極12、ゲート絶縁膜13、チャネルを形成する酸化物半導体層14、チャネル保護膜16およびソース・ドレイン電極15A,15Bをこの順に備えるものである。 - 特許庁


例文

A gate electrode 2 and a gate insulation film 3 are formed on a principal plane of a base substrate 1, a source electrode 4 and a drain electrode 5 are formed on the gate insulation film 3, and an organic semiconductor layer 6 is formed to continuously coat over the electrodes and between the electrodes.例文帳に追加

支持基板1の主面に、ゲート電極2とゲート絶縁膜3とを形成し、ゲート絶縁膜3の上にソース電極4およびドレイン電極5を形成し、これらの電極上および電極間を連続的に被覆する有機半導体層6を形成する。 - 特許庁

This minimizes the parasite capacitance between the gate and drain, and disposes the drain and source electrodes in the region covered by the gate electrode region, thus making it possible to minimize the coupling capacitance between the drain and gate, and to reduce the space where the transistor is disposed.例文帳に追加

これによって、ゲート−ドレインの間の寄生容量を最小化し、ゲート電極領域がカバーする領域内にドレイン及びソース電極を配置することで、ドレイン−ゲートの間のカップリング容量を最小化させかつトランジスタの配置空間を減らすことができる。 - 特許庁

To obtain a manufacture for a semiconductor device which will not be formed to slide to a drain electrode side or a source electrode side with a gate embedding part of a gate electrode to a projection part, when manufacturing a semiconductor device containing a semiconductor substrate having a gate embedding layer.例文帳に追加

ゲート埋込み層を有する半導体基板を含む半導体装置の製造に際し、ゲート電極のゲート埋込み部が張出し部に対して、ドレイン電極側又はソース電極側にずれて形成されることのない半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In a semiconductor element 30 which includes a gate electrode 33, a gate insulating film 35, a semiconductor layer 37, a source and drain electrode 39 and a transparent electrode (pixel electrode) 43 on a transparent substrate 31, the gate electrode 33 is formed with printing by an electrophotographic method.例文帳に追加

透明基板31上に、ゲート電極33、ゲート絶縁膜35、半導体層37、ソース・ドレイン電極39及び透明電極(画素電極)43を含む半導体素子30において、ゲート電極33を電子写真法による印刷で形成する。 - 特許庁

例文

To provide a liquid crystal display device having, in particular, structure not needing a substrate for gate driver connection, in which influence of noise from wiring to be noise sources such as wiring of negative power source of a gate driver and wiring of a common electrode is reduced and consequently malfunction of the gate driver is effectively prevented.例文帳に追加

ゲートドライバ接続基板レス構造において、ゲートドライバの負電源や共通電極の配線などのノイズ源となる配線からのノイズの影響を低減しゲートドライバの誤動作を効果的に防止することができる液晶表示装置の提供。 - 特許庁

例文

To provide a MOSFET with an asymmetrically recessed gate which can reduce abnormal leakage current caused by the overlap between gate electrodes and source/drain regions in the recessed gate structure of a semiconductor device such as a DRAM, and to provide a manufacturing method thereof.例文帳に追加

DRAMなどの半導体素子のリセスゲート構造においてゲートとソース/ドレーン領域との間のオーバーラップによる非正常的な漏洩電流を減らすことができる非対称リセスされたゲートを有するMOSFET及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

In a word driver 1 of a DRAM, a N channel MOS transistor QN3 to the gate of which a power source potential Vcc is applied is connected between a gate of a P channel MOS transistor QP1 for pull-up and a gate of a N channel transistor QN1 for pull-down.例文帳に追加

DRAMのワードドライバ1において、プルアップ用のPチャネルMOSトランジスタQP1のゲートとプルダウン用のNチャネルMOSトランジスタQN1のゲートとの間に、そのゲートに電源電位Vccが与えられたNチャネルMOSトランジスタQN3を接続する。 - 特許庁

In the manufacturing method of the TFT LCD pixel unit, in addition to formation of a first insulating layer (gate insulating layer) and a passivation layer, a second insulating layer is adopted to cover a gate island and an opening part is formed such that a channel region, a source region and a drain region of the TFT are exposed on the gate island.例文帳に追加

第一の絶縁層(ゲート絶縁層)及びパッシベーション層を形成する事に加えて、第二の絶縁層でゲート・アイランドが覆われ、ゲート・アイランド上にTFTのチャネル領域、ソース領域、ドレイン領域が露出されるように開口部を形成する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device by which a gate insulating film consisting of a high dielectric material and a gate electrode consisting of a metal can be formed on a semiconductor substrate without lengthening any distance from a source-drain diffused layer to the gate electrode.例文帳に追加

ソース・ドレイン拡散層からゲート電極までの距離を長くすることなく、半導体基板上に高誘電体材料から成るゲート絶縁膜および金属から成るゲート電極を形成することができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Thereby the potential difference Vsf between a source and a floating gate 15 is not reduced in the case that quantity of electrons accummulated in the floating gate 15 is reduced with the progress of erasing operation and floating gate potential Vf is increased, and erasing operation time is not increased.例文帳に追加

これにより、フローティングゲート15に蓄積されている電子量が消去動作の進行と共に減少してフローティングゲート電位Vfが大きくなっても、ソース−フローティングゲート間の電位差Vsfが小さくならず、消去動作時間が延びないようにできる。 - 特許庁

This thin film transistor has a gate electrode 2 formed on a transparent insulating substrate 1, a gate insulating film 3 covering the gate electrode 2, a semiconductor active layer 4 and an ohmic contact film 5 formed on the gate insulating film 3, a source electrode 6b, source wiring 6a, and drain electrode 7 formed on the ohmic contact film 5, and a pixel electrode 10 connected to the drain electrode 7.例文帳に追加

本発明に係る薄膜トランジスタは、透明絶縁基板1上に形成されたゲート電極2と、ゲート電極2を覆うゲート絶縁膜3と、ゲート絶縁膜3上に形成された半導体能動層4とオーミックコンタクト膜5と、オーミックコンタクト膜5上に形成されたソース電極6b、ソース配線6a及びドレイン電極7と、ドレイン電極7に接続された画素電極10とを備えたものである。 - 特許庁

The semiconductor device comprises an underlying insulation film on a glass substrate, a crystalline silicon film having a source region, a channel forming region and a drain region formed on the underlying insulation film, a gate insulation film on the crystalline silicon film, and a gate electrode on the gate insulation film wherein the gate insulation film is formed thicker on the channel forming region than on the source region and the drain region.例文帳に追加

ガラス基板上の下地絶縁膜と、前記下地絶縁膜上の、ソース領域、チャネル形成領域及びドレイン領域が形成された結晶性珪素膜と、前記結晶性珪素膜上のゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上のゲート電極と、を有し、前記チャネル形成領域上のゲート絶縁膜は前記ソース領域及びドレイン領域上のゲート絶縁膜よりも厚いことを特徴とする。 - 特許庁

The matrix type cold cathode electron source device comprises an electron source wherein an emitter array arranged by a plurality of emitters for emitting electrons is arranged in a matrix shape, a gate electrode array with an opening arranged to face the emitter array, a gate signal wire formed at a lower part of the electron gun via an insulating layer, and a plug for electrically connecting the gate electrode array and the gate signal wire.例文帳に追加

電子を放出するエミッタが複数配列したエミッタアレイをマトリクス状に配置した電子源と、前記エミッタアレイに対向するように配置された開口部を持つゲート電極アレイと、前記電子源の下部に絶縁層を介して形成されたゲート信号配線と、前記ゲート電極アレイと前記ゲート信号配線とを電気的に接続するためのプラグと、を有するマトリックス型冷陰極電子源装置。 - 特許庁

The liquid crystal display is provided with gate electrode wiring 2 formed on a transparent insulating substrate 1, a gate insulating film 3 covering the gate electrode wiring 2, a semiconductor layer 10 formed on the gate insulating film 3, a source electrode 6b, source wiring 6a and a drain electrode 7 which are formed on the semiconductor layer 10 and a pixel electrode 9 connected to the drain electrode 7.例文帳に追加

本発明に係る液晶表示装置は、透明絶縁基板1上に形成されたゲート電極・配線2と、ゲート電極・配線2を覆うゲート絶縁膜3と、ゲート絶縁膜3上に形成された半導体層10と、半導体層10上に形成されたソース電極6b、ソース配線6a及びドレイン電極7と、ドレイン電極7に接続された画素電極9とを備えたものである。 - 特許庁

Since the switching elements Q5, Q6 are the N-channel FETs, the application of the negative gate voltage is unnecessary even though the power source voltage is lowered.例文帳に追加

スイッチング素子Q5、Q6がNチャンネルFETであるため、電源電圧を下げても、負のゲート電圧を印加する必要がない。 - 特許庁

The P^+ source layer 9 is provided in the center part on the left side of the element formation region 20 so that its end part overlaps a gate insulating film.例文帳に追加

P^+ソース層9は、端部がゲート絶縁膜とオーバーラップするように、素子形成領域20の左側中央部に設けられる。 - 特許庁

Each of the unit transistors is provided with a gate insulation film to be evaluated and a source area and a drain area that are shortcircuited with each other.例文帳に追加

各単位トランジスタは、評価対象となるゲート絶縁膜と、互いに短絡されたソース領域およびドレイン領域とを有している。 - 特許庁

A branch end 141 extending on the P_- region 11 of the body arranged on the source side is disposed in the gate electrode 14.例文帳に追加

ゲート電極14において、ソース側に設けられたボディーのP^-領域11上に延在する分岐端部141が設けられている。 - 特許庁

Furthermore, a series connection of a resistor R and a capacitor Cc1 is provided between a source of the TR M1 and a gate of the TR M2.例文帳に追加

また、トランジスタM1のソースとトランジスタM2のゲートとの間には抵抗RとコンデンサCc_1の直列接続が設けられている。 - 特許庁

Thus, in order to form source/ drain regions 111, 112, only the gate insulation film 103 are made to pass so as to add impurities.例文帳に追加

これにより、ソース/ドレイン領域111、112を形成するために、ゲート絶縁膜103のみを通過させて不純物を添加する。 - 特許庁

When the pass transistor is enabled, an electric current can be made to flow from the drain to the source of the thin film transistor, because a voltage is impressed upon the gate electrode.例文帳に追加

パストランジスタがイネーブルされると、電圧がゲート電極へ印加されて薄膜トランジスタのドレインからソースへ電流を流させる。 - 特許庁

A first gate structure 132 is arranged on the first active region 105 between the first and second source/drain regions 150, 152.例文帳に追加

第1及び第2ソース/ドレイン領域150、152間の第1アクティブ領域105上には第1ゲート構造物132が配置される。 - 特許庁

As the On resistance of the write transistor becomes large, the gate voltage Vg and source voltage Vs of a driving transistor become slow in transient response.例文帳に追加

書込みトランジスタのオン抵抗が大きくなると、駆動トランジスタのゲート電圧Vgおよびソース電圧Vsのトランジェントが遅くなる。 - 特許庁

A semiconductor device includes: source and drain regions; a gate electrode formed above the source and drain regions; a sidewall formed on a side face of the gate electrode; a first silicide film formed on the upper surface of the source and drain regions at a predetermined distance away from the sidewall; and a second silicide film formed on the upper surface of the gate electrode at a predetermined distance away from the sidewall.例文帳に追加

本発明に係る半導体装置は、ソース・ドレイン領域と、ソース・ドレイン領域の上方に形成されたゲート電極と、ゲート電極の側面に形成されたサイドウォールと、ソース・ドレイン領域の上面に、サイドウォールから所定の距離だけ離間して形成された第1のシリサイド膜と、ゲート電極の上面に、サイドウォールから所定の距離だけ離間して形成された第2のシリサイド膜とを備える。 - 特許庁

While the read/program potential is outputted, for example, the power source potential is supplied as the VBT to the gate of a transistor N 3.例文帳に追加

リード/プログラム電位が出力されている間は、トランジスタN3のゲートには、VBTとして、例えば、電源電位が供給される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of improving the ESD resistance between a gate and a source without increasing on-state resistance.例文帳に追加

オン抵抗を増大させることなく、ゲート−ソース間のESD耐量を向上させることのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

In the transistor Q2, a drain and a gate are connected to the output voltage terminal 3, and a source and a substrate are connected to the GND potential 5.例文帳に追加

トランジスタQ2は、ドレインとゲートが出力電圧端子3に接続され、ソースと基板がGND電位5に接続されている。 - 特許庁

A driving method of the field emission backlight device includes grounding of a cathode electrode and applying (+) and (-) bipolar pulse power source to a gate.例文帳に追加

本発明の電界放出型バックライト装置の駆動方式は、陰極を接地しゲートに(+),(−)のバイポーラ型パルス電源を印加する。 - 特許庁

The other of the source and drain of the transistor 3 is connected to a signal line SL, and the gate of the transistor 3 is connected to a word line WL.例文帳に追加

トランジスタ3の他方のソース・ドレインは信号線SLに接続され、トランジスタ3のゲートはワード線WLに接続されている。 - 特許庁

A feedback circuit including a transistor 62 is connected between the source terminal and the gate terminal of the MOSFET 50 and a drain current is limited.例文帳に追加

MOSFET50のソース端子とゲート端子間にトランジスタ62を含むフォードバック回路を接続してドレイン電流を制限する。 - 特許庁

An LCD device includes a plurality of first data lines, a plurality of second data lines, a plurality of display units, a source driver and a gate driver.例文帳に追加

LCD装置は、複数の第1のデータ・ライン、複数の第2のデータ・ライン、複数のディスプレイ・ユニット、ソース・ドライバ及びゲート・ドライバを有する。 - 特許庁

A semiconductor element 2 is bent and formed so that an end of a drain terminal 6 is apart from an end of a gate terminal 5 and a source terminal 7.例文帳に追加

半導体素子2は、ドレイン端子6の端部がゲート端子5及びソース端子7の端部と離れるよう折り曲げ成形されている。 - 特許庁

A diode (Schottky diode) D1 is composed of the gate electrode 25 which is a Schottky electrode and a source electrode 26 which is an ohmic electrode.例文帳に追加

また、ショットキー電極であるゲート電極25とオーミック電極であるソース電極26とでダイオード(ショットキーダイオード)D1が構成される。 - 特許庁

This semiconductor device comprises: lower concentration source/drain regions 106 and higher concentration source/drain regions 108 formed in a semiconductor substrate 101; a gate insulating film 102 formed on a region of the semiconductor substrate 101 between the lower concentration source/drain regions 106; and the gate electrode 103 formed on the gate insulating film 102 as seen in the plan view, and composed of metal silicide.例文帳に追加

半導体装置は、半導体基板101内に形成された低濃度ソース・ドレイン領域106および高濃度ソース・ドレイン領域108と、半導体基板101のうち平面的に見て低濃度ソース・ドレイン領域106の間に位置する領域の上に形成されたゲート絶縁膜102と、ゲート絶縁膜102上に形成され、金属シリサイドからなるゲート電極103とを備えている。 - 特許庁

The die is coupled to the substrate such that the source and gate regions of the die, assuming a MOSFET-type device, are coupled to the substrate.例文帳に追加

MOSFETタイプのデバイスとした場合、ダイのソース領域とゲート領域が基板に結合されるように、ダイが基板に結合される。 - 特許庁

To provide a semiconductor element where the gate-source capacitance of a FET acting like a main switch element can be short-circuited with a low impedance.例文帳に追加

主スイッチ素子となるFETのゲート・ソース間容量を低いインピーダンスで短絡することが可能な半導体素子を提供する。 - 特許庁

The vertical alignment type liquid crystal display comprises a plurality of pixel areas, which are driven through source lines and gate lines.例文帳に追加

垂直配向方式の液晶ディスプレイは、複数の画素領域からなり、各画素領域はソースラインとゲートラインとにより駆動される。 - 特許庁

A sub stack body 6 is formed, in a position where gate electrode wiring 3 and source electrode wiring 8 overlap, between them.例文帳に追加

ゲート電極用配線3とソース電極用配線8とが重なる位置において、それらの間に副積層体6が形成されている。 - 特許庁

The n^+ type source region 36 and the p^+ type region 84 can be formed by a self-alignment of the gate electrode 35 and the LDD side spacer 91.例文帳に追加

ゲート電極35とLDDサイドスペーサ91のセルフアラインでn^+型のソース領域36とp^+型領域84を形成できる。 - 特許庁

The resistance element connects connecting nodes to which the source grounded transistor and the gate grounded transistor are connected.例文帳に追加

また、抵抗素子は、ソース接地トランジスタとゲート接地トランジスタとが接続されている接続ノード間を接続していることを特徴とする。 - 特許庁

SELF-ALIGNED METHOD OF FORMING SEMICONDUCTOR MEMORY ARRAY OF FLOATING GATE MEMORY CELLS WITH SOURCE SIDE ERASE, AND MEMORY ARRAY MADE THEREBY例文帳に追加

ソース側消去を伴うフローティングゲートメモリセルの半導体メモリアレイを形成する自己整合法及びこれによって形成されるメモリアレイ - 特許庁

The main MOS transistor contains a first gate wiring for receiving an external signal, a first source/drain region of a first conductivity type, and a body.例文帳に追加

メインMOSトランジスタは外部信号を受ける第1ゲート配線と、第1導電型の第1ソース/ドレイン領域と、ボディーとを含む。 - 特許庁

The source electrode of an n-type MOS high-voltage transistor 8 is connected to a GND, while a gate electrode is connected to the charge pump circuit 4.例文帳に追加

n型MOS高圧トランジスタ8のソース電極はGNDに接続され、ゲート電極はチャージポンプ回路4と接続されている。 - 特許庁

A gate electrode 20 is disposed on a channel region between the drain region 121 and the source region 16 to form an LDMOS (laterally diffused MOS).例文帳に追加

ドレイン領域121とソース領域16間のチャネル領域上にゲート電極20が配置され、LDMOSが形成される。 - 特許庁

例文

The testing terminals 80, 81, 82 are electrically connected to the source lines 6, or the gate lines 3 or the counter electrode, respectively.例文帳に追加

検査用端子80,81,82は、各ソース線6に、又は各ゲート線3に、又は対向電極に夫々電気的に接続されている。 - 特許庁




  
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