「microscopic method」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

OPTICAL FIXATION METHOD AND CARRIER FOR MICROSCOPIC OBJECT, AND OPTICAL FIXATION MATERIAL例文帳に追加

微小物体の光固定化方法、微小物体の光固定化担体及び光固定化材料 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR REDUCING SYSTEMATIC MEASURING ERROR DURING MICROSCOPIC EXAMINATION OF OBJECT例文帳に追加

対象物の顕微鏡検査時の系統的測定誤差を低減するための方法及び装置 - 特許庁

METHOD OF MICROSCOPIC MACHINING IN NANO-ORDER FOR TRANSPARENT MATERIAL BY BACKWARD INDUCED SCATTER BEAM AND MACHINING DEVICE例文帳に追加

後方誘導散乱光を用いた透明材料のナノオーダ微細加工方法及び加工装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR HIGH-RESOLUTION MICROSCOPIC IMAGING OR CUTTING IN LASER ENDOSCOPY例文帳に追加

レーザー内視鏡検査における高解像度の顕微鏡画像又は切断のための方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING PHYSICAL STRENGTH OF FILM FROM ATOMIC FORCE MICROSCOPIC OBSERVATION OF AQUEOUS RESIN FILM例文帳に追加

水性樹脂被膜の原子間力顕微鏡観察から被膜の物理強度を予測する方法 - 特許庁

A personal computer 20 acquires the microscopic image generated by the electron microscope 10, and performs image processing using maximum entropy method to the microscopic image.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ２０は電子顕微鏡１０によって生成された顕微鏡画像を取得し、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す。 - 特許庁

To provide a microscopic image acquisition device and a method therefor by which an optimum photographing method is easily selected.例文帳に追加

最適な撮影方法を簡単に選択することができる顕微鏡画像取得装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluating method for the surface smoothness of a substrate at the micro-level of atomic arrangement by a method other than the probing method and the interatomic force microscopic method.例文帳に追加

探針法や原子間力顕微鏡法以外の方法による原子配列のミクロなレベルでの基板表面の平滑性の評価の方法の開発。 - 特許庁

To provide a simplified microscopic observation apparatus capable of efficiently observing a substrate by an immersion method.例文帳に追加

液浸法による基板の観察を効率よく行える簡素な顕微鏡観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a microscopic driving component, capable of prevent adhesion between a cantilever and a substrate.例文帳に追加

梁部と基板との接着を防止することができる微小駆動部品の製造方法を提供する。 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD, OPTICAL HEAD, RECORDING AND/OR REPRODUCING DEVICE AND OPTICAL MICROSCOPIC DEVICE例文帳に追加

光学素子及びその製造方法、光学ヘッド、記録及び／又は再生装置、光学顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DARK STATE IN SPECTROSCOPIC OR MICROSCOPIC INSPECTION FOR FLUORESCENT SAMPLE例文帳に追加

蛍光試料の分光学的又は顕微鏡的検査の際の暗状態の検出方法及び装置 - 特許庁

To provide a thermoplastic resin foam having microscopic and homogeneous foam cells, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

微細で均一な発泡セルを有する熱可塑性樹脂発泡体及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF ADJUSTING SAMPLE FOR OPTICAL MICROSCOPIC OBSERVATION, METHOD OF OBSERVING FLOCCULATED STATE/DISPERSED STATE OF PARTICLES USING THE SAME, AND PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

光学顕微鏡観察用試料の調整方法及びそれを用いた、粒子の凝集状態・分散状態の観察方法、撮影方法 - 特許庁

To provide what is called a virtual microscopic system which is a microscopic system capable of acquiring a high-quality image, wherein discoloration is prevented even in image pickup under a fluorescence observation method.例文帳に追加

いわゆるバーチャル顕微鏡システムにおいて、蛍光観察法の下での撮像においても退色を防止した高品質な画像の取得が可能な顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing flexible and microscopic multilayer circuit boards by which continuity among several single-layer circuit boards is ensured by means of interconnection parts using microscopic openings such as via holes and the like.例文帳に追加

ビアホ−ル等の微細な開口部を用いた相互接続部により複数の単層回路基板の相互間を導通させる可撓性微細多層回路基板の製造法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic system capable of easily and rapidly observing a target, an observation condition adjusting method using the microscopic system and an observation condition adjusting program.例文帳に追加

対象物を容易かつ迅速に観察することができる顕微鏡システム、顕微鏡システムを用いた観察条件調整方法および観察条件調整プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a patterning method using surface energy control in order to form a microscopic pattern utilizing an ink-jet method.例文帳に追加

インクジェット噴射方式を用いて微細パターンを形成するために表面エネルギー制御を用いたパターニング方法を提供する。 - 特許庁

MICROSCOPE CONTROL DEVICE, IMAGE DISPLAY DEVICE, IMAGE CONTROL SERVER, METHOD FOR GENERATING FOCUS POSITION INFORMATION, IMAGE DISPLAY METHOD, IMAGE CONTROL METHOD, AND MICROSCOPIC IMAGE CONTROL SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡制御装置、画像表示装置、画像管理サーバ、合焦位置情報生成方法、画像表示方法、画像管理方法及び顕微鏡画像管理システム - 特許庁

To provide a substrate inspection system and a substrate inspection method capable of using efficiently macroscopic inspection and microscopic inspection.例文帳に追加

マクロ検査とミクロ検査とを効率良く運用できる基板検査システムおよび基板検査方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a dot marking method for enabling accurate formation of a microscopic dot, which is superior in visibility and has a singular form.例文帳に追加

視認性に優れた特異な形態をもつ微小なドットを正確に形成し得るためのドットマーキング方法。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR QUICKLY DETECTING AND IDENTIFYING MICROSCOPIC FINE PARTICLE FOR QUANTITATIVE AND QUALITATIVE MEASUREMENT例文帳に追加

顕微鏡的微粒子を定量および定性測定用に素早く検出して同定する方法および装置 - 特許庁

To provide a method of selecting microscopic metal balls, which can discriminate the conforming metal balls in the simple constitution with high accuracy.例文帳に追加

簡単な構成で且つ精度良く良品を選別できる微小金属球の選別方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscopic observation method realizing observation in a wide range, and a microscope for using it.例文帳に追加

広い範囲の観察を可能とした顕微鏡の観察方法及びそれを用いるための顕微鏡を提供する。 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPIC SYSTEM HAVING IMAGE CONNECTING FUNCTION, LIGHT QUANTITY ECCENTRICITY CORRECTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

画像つなぎ合わせ機能を有する共焦点顕微鏡システム、光量偏心補正方法及びコンピュータプログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PHASE COMPENSATION OF POSITION SIGNAL AND DETECTION SIGNAL IN SCANNING MICROSCOPIC METHOD AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型顕微鏡法における位置信号および検出信号の位相補正のための方法ならびに装置および走査型顕微鏡 - 特許庁

To provide a stereomicroscope, specially a microscope for surgical operation by which the other picture is displayed within a microscopic observation visual field at a required time and by a required display method without losing the brightness of a microscopic image.例文帳に追加

顕微鏡像の明るさを失わず必要なとき必要な表示方法で他画像を顕微鏡観察視野内に表示することの出来る実体顕微鏡特に手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡装置、荷電粒子線応用装置、荷電粒子線顕微方法、荷電粒子線検査方法、及び電子顕微鏡装置 - 特許庁

To provide a method for laser microscopic cutting which has reliability and cuts off a sample visual field (segment) from samples with a convenient style.例文帳に追加

信頼性があり、便利な様式で、試料から試料視野（部分）を切り取るレーザ顕微切断の方法を提供する。 - 特許庁

To provide a strain sensor material by a simplified process and a strain measuring method by microscopic Raman spectroscopy.例文帳に追加

簡略化されたプロセスによるひずみセンサ材料、および顕微ラマン分光によるひずみ測定方法を提供する。 - 特許庁

ACTIVE AUTOFOCUS METHOD AND SYSTEM FOR INCREASING FOCUSING ACCURACY ON DESIRED OBSERVATION PART, AND MICROSCOPIC DEVICE USING THEM例文帳に追加

所望の観察部位への合焦精度を高めたアクティブオートフォーカス方法、システムおよびこれらを用いた顕微鏡装置 - 特許庁

To provide a method of easily and accurately determining a measurement part in a tablet specimen used for microscopic infrared measurement.例文帳に追加

、顕微赤外測定に供する錠剤試料中の測定部位を容易に且つ正確に特定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for easily making a transmission electron microscopic sample without requiring an exclusive device.例文帳に追加

簡便でかつ専用の装置を必要としない、透過型電子顕微鏡観察用の試料作製方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscopic image capturing apparatus and a microscopic image capturing method for obtaining a captured image, satisfactory for in appearance, by performing proper shading correction corresponding to a shading characteristic realized by an optical system.例文帳に追加

光学系によって発現するシェーディング特性に応じた適切なシェーディング補正を行って見た目に良好な撮像画像を取得する顕微鏡像撮像装置及び顕微像鏡撮像方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem that a machining method where a transparent material is directly irradiated by laser beam and other conventional machining method by laser give a low precision and are unsuitable to a microscopic machining in a nano-order.例文帳に追加

透明材料を直接レーザ照射する加工法その他の従来のレーザ加工法は、精度が低く、ナノオーダーの微細加工に適していない。 - 特許庁

To provide a semiconductor analyzer which can accurately specify a microscopic defective position, and to provide a method of analyzing a semi conductor and a method of manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

微小な不良箇所を精度良く特定できる半導体解析装置、半導体解析方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample for a microscope capable of adjusting the angle of inclination of a sample with high precision, in a short time, and to provide a sample preparing method and a microscopic observation method.例文帳に追加

試料の傾斜角度を短時間で高精度に調整できる顕微鏡用試料、その作製方法及び顕微鏡観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for detecting a defect by inspecting a microscopic circuit pattern with high resolution.例文帳に追加

本発明は，微細な回路パターンを高い分解能で検出し，欠陥を検出する方法及び装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a device for forming microscopic apertures with uniform diameters using a simple method.例文帳に追加

本発明の課題は、簡便な方法で均一な開口径を有する微小開口を形成する作製装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a microscopic observation method that allows each material forming an observation object to be visually checked.例文帳に追加

観察対象物を構成する各材料を視覚的に確認できる顕微観察方法を提供することを課題としている。 - 特許庁

To monitor hardness of a sample in a simple method while taking into consideration variations in hardness due to microscopic structures in the sample.例文帳に追加

試料中の微視的構造による硬さのばらつきを考慮しつつ、簡易な方法で試料の硬化をモニタリングすること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a wiring board including a microscopic wiring conductor provided firmly in close contact with an insulation layer.例文帳に追加

絶縁層に対して強固に密着した微細な配線導体を有する配線基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for making microscopic apertures with uniform aperture diameters using a simple method.例文帳に追加

本発明の課題は、簡便な方法で均一な開口径を有する微小開口を形成する作製装置を提供することである。 - 特許庁

The method and device, for measuring a microscopic thermoelectric matter sample and analyzing its characteristics through the use of a scanning microscope, are provided.例文帳に追加

走査顕微鏡を用いて、微視的な熱電物質サンプルを測定及び特性解析する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for detecting defects in a shadow mask which can surely detect microscopic defects by means of simple devices.例文帳に追加

シャドウマスクの欠陥検出で、簡易な装置で確実に微少な欠陥を検出する方法とその装置を提供すること。 - 特許庁