「microscopic method」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an organic EL device and manufacturing method of the same by which respective organic EL elements with their own luminous color can be formed with microscopic pattern and high luminance, suitable for color display, can be obtained.例文帳に追加

各発光色の有機ＥＬ素子を微細なパターンで形成することができ、かつ各発光色の有機ＥＬ素子においてカラー表示に好適な高輝度を得ることができる有機ＥＬデバイス及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic photographing device which is capable of photographing each of specimens without restrictions of a photographic interval time in the case of multipoint time lapse photography for a plurality of photographic ranges, and to provide a control method thereof.例文帳に追加

複数の撮影範囲に対して多点タイムラプス撮影を行なう際、撮影間隔時間等に制限される事なく、各々の被検物の撮影を行なえる顕微鏡写真装置および制御方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a cutting tool insert coated with a TiC_xN_y layer having low tensile stress of 10-300 MPa and an αAl_2O_3 layer having a high surface smoothness of 0.1 μm or less when measured by an interatomic power microscopic technical method, in accordance with a chemical deposition method.例文帳に追加

本発明は、１０〜３００ＭＰａの低引張応力を備えたＴｉＣ_ｘＮ_ｙ層と、原子間力顕微鏡技法によって測定したときに０．１μｍ以下の高表面平滑度を備えたαＡｌ_２Ｏ_３層と、を有する化学蒸着法で被覆した切削工具インサートに関する。 - 特許庁

To provide a reembedding method of a slice for microscopic observation capable of improving efficiency and allowing an organism cell to be observed quickly in a method for embedding a thick slice in resin again and then slicing it again to obtain a thin slice and observing it by an electron microscope.例文帳に追加

厚切り切片を再び樹脂に包埋してから再びスライスして薄切切片とし、これを電子顕微鏡によって観察する方法で、効率の向上を図り、短時間で生物の細胞の観察ができる顕微鏡観察用切片の再包埋方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for forming a PZT thin film which enhances a film composition distribution in a substrate plane, suppresses microscopic variations in generation of crystal grains in the substrate plane, and enhances a surface roughness, and also to provide a method for manufacturing a semiconductor device including this thin film.例文帳に追加

基板面内の膜組成分布を向上せしめると共に、基板面内の結晶粒の発生の微視的なバラツキを抑制し、さらに表面ラフネスの向上を達成することができるＰＺＴ薄膜の形成方法及びこの薄膜を含んでなる半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁

To provide the forming method of a resist pattern, which can form a comparatively larger pattern which does not reach the limit of a resolution using a KrF exposure technique, and an extremely microscopic pattern which is under the limit of the resolution using the KrF exposure technique, simultaneously and favorably, and to provide an aligner which is used for this forming method.例文帳に追加

ＫｒＦ露光技術の解像限界に達しない比較的大きなパターンとＫｒＦ露光技術の解像限界以下の極く微細なパターンを同時に良好に形成できるレジストパターンの形成方法及びこの方法に用いる露光装置を提供する。 - 特許庁

This method evaluates the particle size by microscopic observation; and further accurately evaluates the particle size of the included organic filler by manufacturing the sample for the microscopic observation for restraining the agglutination of the organic filler by using a solvent having a dissolution parameter value of 8 to 10, and a specific gravity of 1.4 or more for providing the organic filler from the film-like or pasty adhesive.例文帳に追加

顕微鏡観察によって粒径を評価する方法において、フィルム状又はペースト状の接着剤中から、有機充填剤を得るのに，溶解パラメータの値が８以上１０以下であり、かつ，比重が１．４以上である溶媒を用いることによって、有機充填剤の凝集を抑制した顕微鏡観察用試料を作製し、含有されていた有機充填剤の粒径を、より正確に評価する。 - 特許庁

A fine grain density to be measured when the substrate film is observed by a dark field microscopic method, is 200 to 20000 grain/mm^2 in 1 μm to 10 μm of grain size and ≤10 grain/mm^2 in >10 μm of grain size.例文帳に追加

暗視野顕微鏡法で基材フィルムを観察した際に測定される微細粒子密度は、粒径１μｍから１０μｍの微細粒子が２００から２００００個／ｍｍ^2であり、粒径１０μｍを越える微細粒子が１０個／ｍｍ^2以下。 - 特許庁

To provide a method for specifying an enlarged observation region by a confocal endoscope, by which a position at which a minute observation image obtained by microscopic enlarged observation exists is easily and exactly specified by wide-field ordinary observation.例文帳に追加

顕微鏡的拡大観察により得られた微細な観察像がどの位置のものなのかを広視野の通常観察で容易かつ正確に特定することができる共焦点内視鏡による拡大観察部位特定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a discharge irregularity observation method for obtaining a member making use of discharge or an charge phenomenon by the discharge which is developed on the basis of knowledge obtained by measuring microscopic electrical property and in which no irregularity in density or no void occurs.例文帳に追加

微視的電気特性の測定で得られた知見に基づき開発される、濃度ムラや白抜けを発生しない、放電あるいは放電による帯電現象を利用する部材を得ることができるための放電ムラ観察方法を提供する。 - 特許庁

By this method, the main coating is formed by the interaction between a main aqueous solution and an aqueous solution for deposition for gel cross-linking in the microscopic sphere and the additional lipophilic coating is formed by the interaction between the obtained microcapsule and an organic solvent component.例文帳に追加

この方法では、微小球内の主水溶液とゲル架橋用の沈殿用水溶液との相互作用により主被膜が形成され、得られたマイクロカプセルと有機溶媒成分との相互作用により追加の親油性被膜が形成される。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of moving only the focused position of an observation laser beam while keeping a state where an operation laser beam is focused on the same position on a sample, and a microscopic observation method.例文帳に追加

標本内の同じ位置に操作用レーザ光を合焦させた状態を維持しながら観察用レーザ光の合焦位置のみを移動させることのできるレーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for forming a thin liquid sample, especially a thin sample of blood, for microscopic analysis which does not require any auxiliary device, and in case of blood, provides a monolayer of red blood cells and prevents any change in cell shape.例文帳に追加

補助装置を必要とせず、血液の例では赤血球の単層を提供し、かつ細胞の形態の変化を防止する、顕微鏡分析用の薄い液体試料、とりわけ薄い血液試料を生成する方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a high purity palladium product, in which the purity of palladium is 90 wt.% or more, which has no macroscopic and microscopic gas defects on the surface and in the inner part thereof, and whose color and hardness are equivalent to platinum products, and to provide casting method thereof.例文帳に追加

パラジウムの純度が９０重量％以上で、その表面及び内部にマクロ、ミクロのガス欠陥が無く、製品の色合い及び硬さが白金製品と同等である高純度パラジウム製品、及びその鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of forming the anti-corrosion/waterproofing film of a concrete structure in which not only macroscopic pinholes visually confirmable even at the projected corner/recessed corner portions of a concrete structure but also floating, bulge, and microscopic pinholes are not present.例文帳に追加

コンクリート構造物の出隅・入隅部分においても目視によって確認できる巨視的なピンホールのみならず、浮き、フクレ、及び微視的なピンホールも存在しないコンクリート構造物の防食・防水被膜を形成する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for controlling a motor which prevents a movable unit of the motor or an element to be driven, driven by the motor from passing a target stop position from a reverse direction again irrespective of the microscopic return of the motor, and to provide a motor control device.例文帳に追加

モータの戻りが微小であるにも関わらず、モータの可動部、もしくは、モータにより駆動される被駆動物が、目標停止位置を逆方向から再度通過してしまうことを防止したモータ制御方法、及びモータ制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscopic light scattering measurement/analysis device for selecting suitable relaxation data from relaxation data of a sample obtained at multipoint by scanning measurement and accurately measuring an ensemble average, and to provide a light scattering analysis method.例文帳に追加

走査型の測定により多点で得られた試料の緩和データから適切な緩和データを選別してアンサンブル平均を正確に測定することができる走査型顕微光散乱測定解析装置および光散乱解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluating method capable of easily detecting, even in multiple phases, the microscopic area of a bismuth layered structural ferroelectric material which is difficult to detect by normal XRD(x-ray diffraction), and also capable of quantitatively determining its multiple phases.例文帳に追加

通常のＸＲＤでは困難なビスマス層状構造強誘電体材料の、簡便に、短時間に、微小領域を，多相でも検出することができ、しかもその多相の定量化も可能である評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for a working microscopic recessed portion with which even when working with low loading, the working revolved at high speed can be performed and in this result, the improvement of the working efficiency and the reduction of the working cost can be obtained.例文帳に追加

低荷重で加工する場合であったとしても、高速回転させて加工することができ、その結果、加工効率の向上及び加工コストの低減を実現することが可能である微細凹部加工装置及び微細凹部加工方法を提供する。 - 特許庁

The manufacturing method for a liquid crystal display device comprises irradiating the surface of a photosensitive resin layer 20 having a predetermined film thickness with light having exposure energy in order to form a distribution of a thermal deformation characteristic in the direction of the thickness of the layer 20 (or in the planar direction) and then forming random bumpy microscopic grooves, or microscopic wrinkles on the layer 20 by heat treatment.例文帳に追加

本発明は，液晶表示装置の製造方法において，所定の膜厚を有する感光性樹脂層２０の表面に露光エネルギーを有する光を照射して，感光性樹脂層の厚さ方向（または平面方向）に熱的変形特性の分布を形成した後，熱処理を行って感光性樹脂層２０の表面にランダムな凹凸ＭＧ（マイクログルーブ，微細な溝，或いは微細な皺）を形成することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a pattern forming method capable of accurately forming a microscopic pattern which is finer than the exposure limit without requiring the second exposure process, thereby simplifying the process in comparison to the conventional process and reducing the manufacturing cost of the semiconductor device, and to provide a semiconductor device manufacturing method, and a semiconductor device manufacturing apparatus.例文帳に追加

２回目の露光工程を必要とせずに、露光限界よりも細い微細なパターンを高精度で形成することができ、従来に比べて工程の簡略化と半導体装置の製造コストの低減を図ることのできるパターン形成方法、半導体装置の製造方法及び製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a through-hole inspection apparatus and a through-hole inspection method improving illuminance of visible light without changing an irradiation apparatus, improving microscopic foreign matter inspection accuracy, improving foreign object detection accuracy by simultaneously using a conventional inspection method, and capable of carrying out further improvement of inspection accuracy.例文帳に追加

照射器具を変更することなく可視光の照度を向上させ、微小異物検査精度の向上を図ると共に、従来の検査方法を併用し異物検出精度を向上させ、更なる検査精度向上を図ることが可能な貫通穴検査装置及び貫通穴検査方法を提供する。 - 特許庁

In this analysis method for the biological specimen, after supplying and sticking the reagent solution to the specific area on the biological specimen including the cell or the tissue by the inkjet method to dispense the reagent to the biological specimen, a target substance in the cell or the tissue is analyzed by microscopic observation or mass spectrometry.例文帳に追加

細胞又は組織を含む生体標本上の特定の領域に対して、試薬溶液をインクジェット法により供給し付着させて生体標本への試薬の分注を行った後、前記細胞又は組織中の標的物質を、顕微鏡観察又は質量分析によって解析する、生体標本の解析方法。 - 特許庁

The method and device for scanning the sample (i) by using the light beam (2) of the light source (3) preferably in a conforcal scanning type microscopic method, in which the light beam (2) is deflected by using a beam deflector (4) and the scanning operation is controlled by a controller (5).例文帳に追加

本発明は、好ましくは共焦点走査型顕微鏡法において、光源（３）の光ビーム（２）を用いて、試料（１）を走査するための方法および装置に関し、光ビーム（２）がビーム偏向装置（４）を用いて偏向され、走査動作が制御装置（５）によって制御される方法および装置に関する。 - 特許庁

Once a two-dimensional finite-element model is created based on the microscopic image, a material constant for the composite material is set (step S102), and an analysis is performed using a finite-element method of analysis which has prior experimental results of the composite material to be analyzed (step S103).例文帳に追加

微視的画像に基づいて２次元有限要素モデルを作成したら、複合材料の材料定数を設定し（ステップＳ１０２）、解析対象である複合材料の実験結果がある解析の有限要素法による解析を実行する（ステップＳ１０３）。 - 特許庁

This method for making a sample comprises thinning a sample piece 2 that becomes the transmission electron microscopic sample, forming a pattern by a photo resist 3 followed by etching, and polishing a formed etched part 4 by an ion milling device to form an observation part 5.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用の試料となる試料片２を薄片化した後、フォトレジスト３でパターンを形成して、エッチングを行い、形成されたエッチング部４にイオンミリング装置による研磨を行って観察部５を形成する試料作製方法である。 - 特許庁

To provide a novel and improved image display device, an additional information management server, an image display system, an image display method, and a program, capable of providing additional information by using a portion which does not include a sample in a display area of a microscopic image.例文帳に追加

顕微鏡画像の表示領域においてサンプルを含まない部分を利用して付加情報を提供することが可能な、新規かつ改良された画像表示装置、付加情報管理サーバ、画像表示システム、画像表示方法、及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for performing microscopic observation of a biosample which can obtain a vascular image having high contrast in a mode wherein a state of an extravascular tissue of a sample (tissue of an experimental small animal) under observation can be easily obtained without using fluorescent imaging.例文帳に追加

蛍光イメージングを用いずに、また、観察中の試料（実験用小動物の組織）の血管外組織の状況を容易に把握できる態様にて、コントラストの高い血管像の取得を可能にする生体試料の顕微観察を行う方法を提供すること - 特許庁

This provides a method for manufacturing the semiconductor device having the logic and the flash memory more microscopic than a level of 0.18 μm capable of easily and accurately manufacturing the groove element separation, and this provides the semiconductor device.例文帳に追加

従って、０．１８μｍレベルよりも微細なロジックとＦｌａｓｈメモリを混載した半導体装置において、溝型素子分離の製造を容易な方法で高精度に行うことのできる半導体装置の製造方法および半導体装置を提供することができる。 - 特許庁

To provide a microscope with an imaging apparatus capable of rapidly determining an optimum exposure condition as a whole with simple constitution even when dividing a sample to many partial areas and performing microscopic imaging, and a method for calculating its exposure time.例文帳に追加

試料を多数の部分領域に分割して顕微鏡撮像を行う場合においても、簡単な構成で迅速に全体最適な露出条件を決定できる撮像装置付顕微鏡、及びその露出時間を算出する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscopic image photographing apparatus, wherin an appropriate control range including a specimen is set through automatic focus adjustment, by automatically detecting the thickness of a slide glass specimen before the automatic focus adjustment is made, and to provide a photographing method and a program.例文帳に追加

本発明は、自動フォーカス調整を行う前にスライドガラス標本の厚さを自動検出し、自動フォーカス調整で標本のある適切な制御範囲を設定できる顕微鏡画像撮影装置、撮影方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for producing a biological specimen that allows microscopic observation by transmitted illumination of the biological specimen, facilitates handling of the specimen, allows frozen storage, and can introduce the biological specimen into all mass spectrometers.例文帳に追加

生体標本の透過照明による顕微鏡観察が可能であり、標本の取り扱いが容易であり、冷凍保存が可能であり、且つ生体標本を全ての質量分析装置に導入することができる、生体標本の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a dynamic behavior analysis system capable of simply analyzing dynamic behavior of a microscopic region of a sample to be analyzed such as a material or a structure even if the dynamic behavior is accompanied with a macroscopic motion of the sample to be analyzed, and to provide a dynamic behavior analysis method.例文帳に追加

被解析試料の巨視的な動きを伴った場合であっても材料や構造物などの被解析試料の微視的な領域の力学挙動を簡便に解析可能な新規な力学挙動解析システム、及び力学挙動解析方法を提供する。 - 特許庁

To reduce dust adhered to the surface of an object to be polished, to reduce scratches while ensuring a high flattening property and further to eliminate microscopic irregularity of a semiconductor wafer itself before finishing, that is, to correct defects expressed as waviness, nanotopology or the like by a simple polishing method.例文帳に追加

被研磨物表面へのダスト付着性を少なくし、スクラッチ傷の低減を果たし、更に平坦化特性をも両立させること、さらに、凹凸加工する前の半導体ウェハー自身の微細な凹凸、即ちwavinessや、nanotopologyなどと表現される欠陥を簡単な研磨方法で取り除くことをその課題とする。 - 特許庁

To decrease dust adherence to surface of a polishing object, to reduce scratches, to simultaneously realize a flatting property, and to eliminate microscopic irregularity of a semiconductor wafer itself before uneven part machining, namely defects expressed as waviness or nanotopology, by a simple polishing method.例文帳に追加

被研磨物表面へのダスト付着性を少なくし、スクラッチ傷の低減を果たし、更に平坦化特性をも両立させること、さらに、凹凸加工する前の半導体ウェハー自身の微細な凹凸、即ちwavinessや、nanotopologyなどと表現される欠陥を簡単な研磨方法で取り除くことをその課題とする。 - 特許庁

To decrease dust adherence to a surface of a polishing object, to reduce scratches, to simultaneously realize a flatting property, and to eliminate microscopic irregurality of a semiconductor wafer itself before uneven part machining, namely defects expressed as waviness or nanotopology, by a simple polishing method.例文帳に追加

被研磨物表面へのダスト付着性を少なくし、スクラッチ傷の低減を果たし、更に平坦化特性をも両立させること、さらに、凹凸加工する前の半導体ウェハー自身の微細な凹凸、即ちwavinessや、nanotopologyなどと表現される欠陥を簡単な研磨方法で取り除くことをその課題とする。 - 特許庁

In this incineration method, organic waste is burnt interposing particles of iron-based microscopic metallic material coated with a metal oxide layer, where an average particle diameter is 0.01-5.0 μm and an average valence n+ of iron in the particles satisfies 0<n<2.5.例文帳に追加

平均粒径０．０１〜５．０μｍの、鉄を主体とした微細金属材料が金属酸化物層で被覆されている粒子であり、粒子の鉄の平均価数ｎ＋が０＜ｎ＜２．５である粒子を介在させ、有機系廃棄物を焼却することを特徴とする焼却方法。 - 特許庁

To provide a method for treating the surface of a substrate, useful in the case of manufacturing a semiconductor element for imparting a clean substrate surface, by selectively removing a spontaneous oxidation film, without impairing a needing thermal oxide film by exceeding an allowing range and without bringing about a microscopic roughness on the surface of the substrate after treatment.例文帳に追加

必要とする熱酸化膜を許容範囲を超えて損なうことなく、処理後の基板表面にマイクロラフネスを生じることなく自然酸化膜を選択的に除去し、清浄な基板面を与える半導体素子の製造の際に有用な基板表面の処理方法の提供。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for manufacturing a microscopic transfer sheet which can transfer and form the minute shape on a sheet-like substrate without causing transfer irregularity, and can restore the reduced thickness of a buffer material nearly to its original state each time even when press is repeatedly implemented.例文帳に追加

プレスを繰り返し実施しても緩衝材の厚み減少分が元の状態近くまでその都度復元し、シート状基材に転写ムラを発生することなく転写成形することのできる微細形状転写シートの製造装置と微細形状転写シートの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device having both a logic more microscopic than a level of 0.18 μm and a flash memory, capable of easily and accurately manufacturing a groove type element separation, and to provide a semiconductor device.例文帳に追加

０．１８μｍレベルよりも微細なロジックとＦｌａｓｈメモリを混載した半導体装置において、溝型素子分離の製造を容易な方法で高精度に行うことのできる半導体装置の製造方法および半導体装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a microscopic apparatus which can construct developments of images projected in horizontal and perpendicular directions with respect to the stereogram built from a slice image and can print and output the same, an observation sample development output method, and an observation sample development output program.例文帳に追加

スライス像から構築した立体像に対し、水平、垂直方向に射影した像の展開図を構築し、これを印刷出力することが可能な顕微鏡装置、観察試料展開図出力方法および観察試料展開図出力プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a silicon probe card in which the position of respective inspection terminals arranged and installed at microscopic pitches and composed of a needlelike crystal is calculated surely in a photographing operation with a camera, and in which the alignment of an electrode pad with the respective inspection terminals can be performed automatically, and to provide a method of manufacturing the silicon probe card.例文帳に追加

極小ピッチで配設される針状結晶からなる各検査用端子の位置を、カメラによる撮影で確実に割り出すことが出来、電極パッドと各検査用端子との位置合せを自動的に行うことが可能なシリコンプローブカードとその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for processing and observing a microscopic sample and a method for processing and observing the same, whereby the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross-section can be performed with high resolution, high precision and high throughput from various directions from horizontality to verticality without breaking a wafer used as a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a milling device and a milling method capable of highly reliable machining, and capable of attaining high reliability of a thin film magnetic head, particularly becoming problematic even with sediment having the microscopic height of several nm, by reducing generation of the sediment by milling machining using a beam of an ion and a neutral particle.例文帳に追加

イオンや中性粒子のビームを用いたミリング加工による堆積物の発生を低減し、高信頼な加工を可能とし、特に数ｎｍの微小な高さの堆積物でも問題となるような薄膜磁気ヘッドの高信頼化を達成とするミリング装置及びミリング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cutting tool insert coated by the chemical vapor deposition method and equipped with a TiC_xN_y layer having a low tensile stress of 10 to 300 MPa and an αAl_2O_3 layer having a high surface smoothness of 0.1 μm or less when measured in the inter-atomic force microscopic process.例文帳に追加

本発明は、１０〜３００ＭＰａの低引張応力を備えたＴｉＣ_ｘＮ_ｙ層と、原子間力顕微鏡技法によって測定したときに０．１μｍ以下の高表面平滑度を備えたαＡｌ_２Ｏ_３層と、を有する化学蒸着法で被覆した切削工具インサートに関する。 - 特許庁