「potential probe」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

CONCENTRATED INDUCTION TYPE AC POTENTIAL DIFFERENCE PROBE例文帳に追加

集中誘導型交流電位差プローブ - 特許庁

DEMARCATION ARRAY TYPE EXTRACELLULAR POTENTIAL MEASURING PROBE例文帳に追加

区画アレイ型細胞外電位測定プローブ - 特許庁

CHARGING POTENTIAL MEASURING PROBE, AND CHARGING POTENTIAL DISTRIBUTION MEASURING SYSTEM AND CHARGING POTENTIAL DISTRIBUTION MEASURING DEVICE USING PROBE例文帳に追加

帯電電位測定プローブ及びこのプローブを用いた帯電電位分布測定システムと帯電電位分布測定装置 - 特許庁

PROBE FIXING JIG FOR SURFACE POTENTIAL MEASURING APPARATUS例文帳に追加

表面電位測定装置のプローブ固定治具 - 特許庁

PLASMA POTENTIAL MEASURING METHOD AND PROBE FOR MEASUREMENT例文帳に追加

プラズマ電位測定方法と測定用プローブ - 特許庁

ELECTROMAGNETIC INDUCTION PROBE FOR POTENTIAL DIFFERENCE METHOD AND INSPECTION METHOD USING THE PROBE例文帳に追加

電位差法用電磁誘導プローブ及びそれを用いる検査方法 - 特許庁

POTENTIAL DIFFERENCE DETECTION METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

電位差検出方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

The reference potential controller 10 controls a reference potential to the potential measuring probe 3 based on an input signal.例文帳に追加

基準電位制御器10は、入力信号に基づき、電位測定プローブ3への基準電位を制御する。 - 特許庁

The potential sensor 12 obtains the waveform signal of the potential change from a signal sensed by the probe 11.例文帳に追加

電位センサ１２は、プローブ１１が感知した信号から電位変化の波形信号を得る。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MANUFACTURING EQUIPMENT, PROCESSING METHOD AND WAFER POTENTIAL PROBE例文帳に追加

半導体製造装置および処理方法、およびウエハ電位プローブ - 特許庁

CERAMIC ELECTROCHEMICAL CORROSION POTENTIAL SENSOR PROBE WITH EXTENDED LIFETIME例文帳に追加

寿命を延長させたセラミック電気化学腐食電位センサプローブ - 特許庁

The potential measuring apparatus has a potential measuring probe 3, an induced charge detector 5, a reference potential controller 10, a target potential difference detector 13, a switch 14, and a potential measurement signal generator 11.例文帳に追加

電位測定装置は、電位測定プローブ3と誘導電荷検出器5と基準電位制御器10と目標電位差分検出器13と切替器14と電位測定信号発生器11を有する。 - 特許庁

The potential measuring probe 3 includes a sensing electrode 4 for inducing a charge in response to a potential in a measurement region 2.例文帳に追加

電位測定プローブ3は、測定領域2の電位に応じて電荷が誘起される検知電極4を含む。 - 特許庁

The probe signals are converted by a signal conditioner 30 into a VL potential, a VH potential, and U-V potentials on the basis of the N potential.例文帳に追加

これらのプローブの信号は、シグナルコンディショナ３０にてＮ電位を基準としてＶＬ電圧、ＶＨ電圧、Ｕ〜Ｖ電圧に変換される。 - 特許庁

The surface potential measuring device includes the potential sensor 101 including the probe 110 and the control part 120 controlling the probe 110 and measuring the surface potential of a measurement object; and the controller 103 controlling the potential sensor 101.例文帳に追加

プローブ１１０とプローブ１１０を制御する制御部１２０とで構成され、測定対象の表面電位を測定する電位センサ１０１と、電位センサ１０１をコントロールするコントローラ１０３を備える。 - 特許庁

CRACK FLAW-DETECTION METHOD BY LUMPED INDUCTION AC POTENTIAL TECHNIQUE AND PROBE BODY例文帳に追加

集中誘導型交流電位差法による亀裂探傷方法、及びプローブ体 - 特許庁

To provide a probe fixing jig for a surface potential measuring apparatus which can surely position a distance between a probe and a sample within a specified measurement range, concerning the probe fixing jig of surface potential measuring apparatus for measuring a surface potential of the sample arranged so as to face the probe.例文帳に追加

プローブに対向して配置された試料の表面電位を測定する表面電位測定装置のプローブ固定治具に関し、プローブと試料との距離を指定の測定範囲内で確実に位置決めできる表面電位測定装置のプローブ固定治具を提供することを目的とする。 - 特許庁

The probe 20 is controlled to have the same potential as the photoreceptor 12, and voltage is applied to the probe 20 so that the potential of the probe 20 may have the same polarity as the potential by electrification of toner regardless of the value of the potential of the photoreceptor 12 when a developer carrier in the developing unit 40 is driven.例文帳に追加

プローブ２０は、感光体１２と同電位となるように制御されるが、現像ユニット４０の現像剤担持体が駆動しているときには、感光体１２の電位の値に関わらず、トナーの帯電電位と同極性となるように、プローブ２０に電圧が印加される。 - 特許庁

As the measuring probe of the potential measuring part 28, a NESA electrode 28a is used.例文帳に追加

電位測定部２８の測定プローブとして、ネサガラス電極２８ａが用いられる。 - 特許庁

This one-leg walking detection system is provided with a walking passage 14, a probe 11 and a potential sensor 12.例文帳に追加

片足歩行検出システムは、歩行路１４、プローブ１１、及び電位センサ１２を備える。 - 特許庁

To provide a probe and a surface potential detection device easy for manufacturing or maintenance.例文帳に追加

製造又はメンテナンスが容易なプローブ及び表面電位検出装置を提供する。 - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE USING POTENTIAL DIFFERENCE, AND OPTICAL RECORDING AND REGENERATING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電位差を利用した光ファイバ探針及びこれを利用した光記録再生装置 - 特許庁

To provide an SPM probe constituted of an SPM probe provided with a piezo resistor and capable of measuring the surface potential of a sample.例文帳に追加

ピエゾ抵抗体を設けたSPMプローブから構成され且つ試料の表面電位を測定することのできるＳＰＭプローブを提供する。 - 特許庁

The surface potential of the photoreceptor 12 is detected by a detection electrode in the probe 20, and then potential by electrification of the photoreceptor 12 is controlled.例文帳に追加

プローブ２０内の検知電極で感光体１２の表面電位が検出され、感光体１２の帯電電位が制御される。 - 特許庁

To provide an electrochemical corrosion potential probe assembly for monitoring water chemistry within a nuclear reactor system.例文帳に追加

原子炉システム内の水化学を監視する電気化学的腐食電位プローブアセンブリを提供する。 - 特許庁

Upon loading the probe card 30; a potential of the connection terminals 31w, 31x becomes at H level, and a potential of the connection terminal 31y becomes at L level.例文帳に追加

プローブカード３０の装着時には、接続端子３１ｗ，３１ｘの電位がＨレベルに、接続端子３１ｙの電位がＬレベルになる。 - 特許庁

To provide a probe for accurately measuring a potential in a minute region on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の微小領域の電位測定を正確に行うことができる探針を提供する。 - 特許庁

To provide an optical fiber probe capable of enhancing a light transmittance, using a potential difference generated between metal layers coated on the optical fiber probe.例文帳に追加

光ファイバ探針上にコーティングされた金属層間に発生する電位差を利用して光の透過率を高めることのできる光ファイバ探針を提供する。 - 特許庁

The surface potential measuring apparatus 10 irradiates a probe 14 by a laser light from a laser light source 32, while vibrating the probe 14 sideways.例文帳に追加

表面電位測定装置１０は、プローブ１４を横方向に振動させると共にレーザー光源３２によりレーザ光をプローブ１４に照射させる。 - 特許庁

To provide a surface potential evaluating system capable of controlling a distance between a photoconductor and the head of a probe even while measuring a surface potential.例文帳に追加

表面電位の測定中でも感光体とプローブ先端との距離制御を行うことのできる表面電位評価装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a probe for measuring a cardiac action potential and a method of measuring the cardiac action potential, for suppressing the generation of noise due to the motion of the heart.例文帳に追加

心臓の運動に起因するノイズの発生を抑制する、心筋活動電位測定用プローブ及び心筋活動電位の測定方法を提供すること。 - 特許庁

ELEMENT FOR LASER VOLTAGE PROBE MEASUREMENT, AND METHOD FOR MEASURING POTENTIAL WAVEFORM IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING IT例文帳に追加

レーザ電圧プローブ測定用素子及びそれを用いた半導体集積回路内部の電位波形測定方法 - 特許庁

ELECTRODE POTENTIAL MEASURING PROBE AND CONTINUOUS ELECTROLYZATION APPARATUS OF METAL FOIL WITH THE SAME例文帳に追加

電極電位測定用プローブ及びその電極電位測定用プローブを備えた金属箔の連続電解装置 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of rapidly performing measurement of high precision by causing no fine change of potential in the surface fine region of a sample by properly holding the potential difference between the surface of the sample and a probe when the sample due to the probe is measured in an inspection process.例文帳に追加

検査工程での探針による試料測定時に試料の表面と探針との間の電位差を適切に保ち、試料表面の微細領域での微細な電位変化を生じさせず、迅速にかつ高い精度の測定を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When the potential sensor 101 fails, the controller 103 detects which of the probe 110 and the control part 120 has failed, on the basis of an output signal of the probe 110.例文帳に追加

電位センサ１０１が故障した際に、コントローラ１０３は、プローブ１１０の出力信号に基づき、プローブ１１０と制御部１２０のどちらが故障したかを検出する。 - 特許庁

In this case, negative potential is applied to the probe 5 from the sample 7, so the electron pairs produced within the probe 5 are continually injected into the sample 7.例文帳に追加

この際、探針５には試料７より負の電位がかけられるので、上述した探針５内で生成された電子対は試料７に連続的に注入される。 - 特許庁

To provide a water potential measurement method and water potential measurement instrument using a fluorescent reagent as a probe, which is different from the method of a cyclometer or a pressure chamber.例文帳に追加

サイクロメータやプレッシャーチャンバーの方法とは異なり、蛍光試薬をプローブとして用いた水ポテンシャル測定方法及び水ポテンシャル測定装置を提供すること。 - 特許庁

The probe 11 senses the potential change of the human body caused by separation charge occurring when the patient P walks on the walking passage 14.例文帳に追加

プローブ１１は、歩行路１４を被検者Ｐが歩行するときの剥離帯電に因る人体の電位変化を感知する。 - 特許庁

The extraction probe 11 to which, the plurality of minute objects are stuck, is moved to another place in a state of being impressed with the positive electric potential, and the plurality of minute objects are dropped in a lump by switching to a negative electric potential after moving the extraction probe 11 to another place.例文帳に追加

複数の微小物体が付着した摘出用探針１１は、正電位が印加された状態で別の場所に移動され、移動後に負電位が切り替わって印加されることにより、当該複数の微小物体がまとめて落下する。 - 特許庁

In a position calculation process, on the basis of potential measured in the potential measuring process, an amount of misregistration of the probe needle to a checking pad is computed (a position calculation process).例文帳に追加

次に、位置算出工程においては、電位測定工程において測定された電位に基づいて、検査用パッドに対するプローブ針の位置ずれ量を算出する（位置算出工程）。 - 特許庁

Induced potential is generated in the non-contact probe 6 by electrical noise occurring in a motor 1, and is read by an oscilloscope 4.例文帳に追加

モータ１に発生した電気的ノイズによって、非接触プローブ６に誘導電位が発生し、オシロスコープ４で読み取られる。 - 特許庁

Subsequently, as a result of measurement of DC bias, the discharge current of the bias capacitor 2 is measured, and the probe potential in a single probe is measured during the discharge so that the presence and/or thickness of a dielectric film on the probe surface is detected.例文帳に追加

続いて、ＤＣバイアスが測定される結果として、バイアスコンデンサ２の放電電流が測定され、放電の間に単一のプローブでのプローブ電位が測定され、プローブ表面上の誘電体膜の存在及び／又は厚さを検出する。 - 特許庁

To provide a plasma potential measuring method and device for measuring plasma potential along with an analysis of ion species applying a mass spectrometer without depending on a probe measuring instrument at a low cost considering that both mass spectrometry and plasma potential measurement can be performed.例文帳に追加

プラズマ電位を、プローブ計測器に頼ることなく、質量分析器を応用して、イオン種の分析と併せて計測でき、質量分析とプラズマ電位計測の双方を行える割りには安価に済むプラズマ電位計測方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface potential measuring device, capable of reducing the cost by determining which of a probe and a control part constituting a potential sensor has failed to replace only the faulty component.例文帳に追加

電位センサを構成する、プローブと制御部のいずれが故障したかを判別し、故障部品のみを交換することで、コスト低減を図ることができる表面電位測定装置を提供する。 - 特許庁

Detection of the failure part is facilitated by applying a potential to an arbitrary part on the surface of the sample 2 using a probe 6 movable in three axial directions thereby enhancing the potential contrast of the image of secondary electrons.例文帳に追加

その際、３軸方向に移動できるプローブ６を用いて、試料２表面上の任意部分に電位を与えて二次電子像の電位コントラストを高め、不良部の検出を容易とする。 - 特許庁