「reduction test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

NOISE REDUCTION DEVICE USED DURING ENGINE TEST OF AUTOMOBILE例文帳に追加

自動車のエンジンテスト時に用いる騒音低減装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF PERFORMING DATA REDUCTION TEST例文帳に追加

半導体記憶装置、およびデータ縮約テスト方法 - 特許庁

To achieve reduction in the load of a test verifier and the shortening of a test verification time.例文帳に追加

テスト検証者の負荷の低減や、テスト検証時間の短縮を実現する。 - 特許庁

In the test state, the test fuse is cut so as to realize two test delay time reduction modes.例文帳に追加

前記テスト状態において、テスト用ヒューズの切る状況によって、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。 - 特許庁

REDUCTION GEAR WITH BUILT-IN ONE WAY CLUTCH FOR AUTOMOBILE BRAKE SPEED TEST例文帳に追加

自動車ブレーキスピードテスト用一方向クラッチ内蔵型減速機 - 特許庁

To provide a test pattern selection apparatus which has a reduction in costs for testing and provides a constant test quality by a small number of test patterns.例文帳に追加

少ないテストパターンで一定のテスト品質を得ることができ、テストコストを削減できるテストパターン選択装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of contributing to reduction in test cost.例文帳に追加

テストコストの低減に資することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals.例文帳に追加

多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To realize reduction in the increase of the circuit scale normally caused by adding a test section and to fulfill a test function by selecting a self-test section.例文帳に追加

セルフテスト部を採用することによるテスト機能の充実とテスト部追加による回路規模の増大を軽減することの双方を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which obtaining a redundant relieving address and interference test between adjacent memory cells can be performed in one kind of an IO reduction test, and which can contribute to reduction of the chip size, shortening of the test time, and reduction of the unit cost.例文帳に追加

１種のＩＯ縮約テストで、冗長救済アドレス取得と隣接するメモリセル間の干渉試験を可能とし、チップサイズの縮小、テスト時間および原価低減に寄与することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a physical layer device with a test circuit constituted, so as to be capable of performing tests by the physical layer device alone and capable of realizing shortening of the test time and the reduction of test cost.例文帳に追加

物理層デバイス単体でテストできるようにし、テスト時間の短縮化、テスト費用の低減化が実現できるテスト回路付き物理層デバイスの提供。 - 特許庁

To achieve reduction of time for calibration of an output and improvement of precision of a test device itself in a characteristics test method and the test device of a panel type display.例文帳に追加

パネル型表示器の特性検査方法および検査装置において、検査装置自身の出力校正の時間短縮と精度の向上を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device achieving cost reduction by shortening the total test time to achieve the improvement of the efficiency of the whole test.例文帳に追加

トータルの試験時間を短縮して試験全体の効率の向上を図るとともに、コストの低減を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and a semiconductor test method capable of preventing a reduction in the test efficiency and facilitating creation and administration of a test program.例文帳に追加

試験効率の低下を防止することができるとともに、試験プログラムの作成及び管理を容易にすることができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test system, a test method and a sensor, allowing reduction of a time required for a test of a tester even when requiring a time for a test of the sensor, especially allowing confirmation of whether or not the sensor normally operates even without performing the sensitivity test of the sensor.例文帳に追加

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供することを目的としている。 - 特許庁

To suppress reduction of charge and discharge efficiency in a cycle test of a battery, and maintain a battery capacity high after the cycle test.例文帳に追加

電池のサイクル試験における充放電効率の低下を抑制し、サイクル試験後の電池容量の高く維持する。 - 特許庁

To easily generate a test pattern by suppressing reduction of integration degree in a test circuit for a dual port memory.例文帳に追加

デュアルポートメモリのテスト回路において、集積度の低下を抑え、テストパターンの生成を容易にすることを目的とする。 - 特許庁

To realize reduction of chip area, shortening of a test time, and reduction of a cost by a method for an embeded self-test of a memory by which a defective bit can be detected, analyzed, and restored.例文帳に追加

欠陥ビットの検知、分析、修復可能な埋込型メモリーセルフテスト方法により、チップ面積の縮小化、テスト時間の短縮化、コスト削減を実現する。 - 特許庁

To provide a substrate test method with which a vivid image can be obtained and the reduction in test time is expected.例文帳に追加

鮮明な画像を得ることができ、検査時間の短縮を期待できる基板検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

SPECIMEN SIMULATING REDUCTION IN THICKNESS OF PIPE INTERIOR, MANUFACTURING METHOD OF TEST SPECIMEN AND TESTING METHOD例文帳に追加

減肉の発生した配管を模した試験体、試験体の作成方法、試験方法 - 特許庁

To provide a pad unit having a test logic circuit for a chain test having a noise reduction function, and a method of driving a system with the usage of the pad unit having the test logic circuit.例文帳に追加

ノイズ除去機能を有する鎖テストのためのテストロジック回路が付加されたパッドおよびテストロジック回路が付加されたパッドを用いるシステムの駆動方法を提供する。 - 特許庁

This reduction gear for the automobile safety test rapidly reduces the speed of a carriage 15 capable of traveling with an automobile 10 under test loaded on it for the automobile safety test.例文帳に追加

試験対象の自動車１０を載せて走行することができる台車１５を急減速させて自動車の安全性を試験する自動車安全試験用減速装置。 - 特許庁

A reduction data obtaining section 40 reads out reduction logical data to which detail logical data being a test result from a CFM 120 in a semiconductor test device 100 is reduced and obtains it.例文帳に追加

縮小データ取得部４０は、半導体試験装置１００内のＣＦＭ１２０から試験結果としての詳細ロジカルデータを縮小した縮小ロジカルデータを読み出して取得する。 - 特許庁

The work which depends on a hand with much test mistakes becomes speedy without any test mistakes, and can contribute to a cost reduction.例文帳に追加

これにより検査ミスの多い人手に頼った作業が、高速でしかもチェックミスのない検査が可能となり、コストダウンに貢献できる。 - 特許庁

To improve the throughput of test, enable tests to be carried out at an accurate temperature, and realize a miniaturization, simplification and cost reduction of a test device.例文帳に追加

試験のスループットを向上させ、正確な温度での試験を可能とし、試験装置の小型化、単純化および低コスト化を図る。 - 特許庁

Thus, reduction of quality of the test region due to overwriting can be prevented by erasing data of the test region before recording.例文帳に追加

このように、テスト記録前にテスト領域のデータを消去することによって、上書きによるテスト領域の品質の低下を防ぐことができる。 - 特許庁

To provide a test print that enables a cost reduction due to a reduced size and consumption, and a test print colorimeter.例文帳に追加

テストプリントのサイズを小さくして消費量を少なくしコストを削減することが可能なテストプリント及びテストプリント測色装置を提供する。 - 特許庁

To achieve reduction in complexity of hardware, reduction of test operation and reduction of system operation even when using a gain factor correspondence table generated by a "computed gain factor" method.例文帳に追加

「コンピューテッド・ゲインファクタ」法によって生成されたゲインファクタ対応表を用いる場合であっても、ハードウエアの複雑性の低減や試験稼働の低減やシステム運用の低減を達成する。 - 特許庁

To provide a reducing valve having a bypass mechanism capable of suppressing a pressure reduction function at the time of a pressure proof test, and of guaranteeing to operate a normal pressure reduction function after the pressure proof test.例文帳に追加

耐圧試験時に減圧機能を抑制することができるバイパス機構を有し、耐圧試験後において、正常な減圧機能動作を保証することができる減圧弁を提供すること。 - 特許庁

To provide an interface circuit for suppressing cost increase and reduction of test accuracy due to external influence in a sensitivity test of a receiver.例文帳に追加

受信用レシーバの感度テストにおける外部影響によるテスト精度の低下及びコスト上昇を抑制することができるインターフェース回路を提供すること。 - 特許庁

To provide a shorter test time and a reduction of a circuit area in a comparator test circuit and a semiconductor integrated circuit for testing a plurality of comparators.例文帳に追加

複数のコンパレータをテスト対象とするコンパレータテスト回路及び半導体集積回路において、テスト時間の短縮と回路面積の縮小を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device contributing to an improvement in yield in addition to a reduction in test time.例文帳に追加

テスト時間の短縮に加えて歩留まりの向上に寄与する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

For a functional test on the core part 10, a switching signal TST selects the reduction part 31 side.例文帳に追加

コア部１０の機能を試験する場合、切替信号ＴＳＴによって縮退部３１側を選択する。 - 特許庁

To provide a multiple torsional fatigue tester enabling the torsional test of a plurality of test pieces by one test to enhance the efficiency of a torsional fatigue test and capable of achieving the reduction of an arranging space and cost reduction as compared with a conventional case arranging a plurality of torsional fatigue testers.例文帳に追加

１度の試験により複数個の供試体のねじり疲労試験が可能で、ねじり疲労試験の能率を向上させ、かつ、従来のねじり疲労試験機を複数台設置する場合に比して設置スペースの削減およびコストの低減を達成することのできる多連ねじり疲労試験機を提供する。 - 特許庁

(2) The reduction of amount after heating and aging test at 100°C for 120 hr according to JISK6723 is 1.0% or less.例文帳に追加

（２）ＪＩＳＫ６７２３における１００℃１２０ｈｒ加熱老化試験後の減量が１．０％以下である。 - 特許庁

PREPARATION USEFUL FOR NORMAL RECOVERY OF FUNCTIONAL REDUCTION IN BOTH OR EITHER IN LIVER FUNCTION AND RENAL FUNCTION TEST例文帳に追加

肝機能および腎機能検査で両方或いは片方の機能低下の正常回復に役立つ調製物 - 特許庁

To effectively utilize a TEG chip after a wafer completion test, and to achieve simplification and cost reduction of a manufacturing process.例文帳に追加

ウェハ完成試験後のＴＥＧチップを有効に活用し、且つ、製造工程の簡易化と低コスト化を図る。 - 特許庁

A scan test and scan compression are important for achieving cost reduction and high quantity of shipping products.例文帳に追加

スキャンテスト及びスキャン圧縮は、コストの低減及び高い出荷品品質を実現するうえで重要である。 - 特許庁

To suppress a coverage reduction even when model complexity increases in a technique for generating a test case from a model.例文帳に追加

モデルからテストケースを生成する技術において、モデルの複雑度が大きくなってもカバレッジ率の低下を抑える。 - 特許庁

To provide a memory which realizes a reduction of a test period and an improvement in test accuracy in high operating frequency by switching an operating mode according to DMA test entries, and to provide a system LSI which incorporates the memory.例文帳に追加

ＤＭＡテスト項目に応じ動作モードを切り換えることで検査時間の短縮と高い動作周波数での検査精度の向上とを実現するメモリ、及びそれを内蔵するシステムＬＳＩを提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display polarizing plate exhibiting improvement in reduction of polarizing characteristics and color change in a wet heat durability test and a dry heat durability test.例文帳に追加

湿熱耐久性試験および乾熱耐久性試験において、偏光特性の低下および色変化が大いに改良した液晶ディスプレイ用偏光板を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of performing a tRCD test adapted to the reduction in time between command inputs even when the test employs a memory testing apparatus inoperable for a high speed clock.例文帳に追加

高速なクロックで動作できないメモリ試験装置を用いる場合でも、短縮化に対応したｔＲＣＤ試験を可能にする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pile driver equipped with a dynamic load test device capable of performing a load test within a short time and improving efficiency as well as the reduction of a cost by using a function of a pile driver body.例文帳に追加

杭打ち機本体の機能の利用により、載荷試験を短時間に行い、能率向上とコストダウンを図った動的載荷試験装置を備えた杭打ち機の提供。 - 特許庁

To provide a reduction gear for an automobile safety test generating no pulse in a deceleration waveform when a brake is applied, which has flat characteristics allowing the highly accurate test.例文帳に追加

制動をかけたときの減速度波形に脈動がなく、特性がフラットで、精度の高い試験を行なうことができる自動車安全試験用減速装置を得る。 - 特許庁

To attain suppression of expansion of circuit scale, reduction of a test time, and reduction of the number of pin terminals when testing the propriety of a connection between semiconductor chips including through-electrodes.例文帳に追加

貫通電極を備える半導体チップ間の接続の良否をテストするにあたり、回路規模の拡大の抑制、テスト時間の短縮、および、ピン端子数の削減を図る。 - 特許庁