| 例文 |
slit sourceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 211件
LASER SLIT LAMP WITH LASER LIGHT SOURCE例文帳に追加
レーザ光源付のレーザスリットランプ - 特許庁
MICROSCOPE HAVING SURGICAL SLIT LAMP HAVING LASER LIGHT SOURCE例文帳に追加
レーザ光源を有する手術用スリットランプを有する顕微鏡 - 特許庁
A slit-shaped image of a light source 1 is imaged on an imaging face of the specimen 3 by using a slit-shaped light source 1 and an illumination optical system 2.例文帳に追加
スリット状光源1、照明光学系2により、試料3上の結像面にスリット状光源1の像を結像する。 - 特許庁
The light source is a laser light source for generating action beam, illumination beam and/or aiming beam which is provided within the slit lamp head, the slit lamp base, or the slit lamp microscope.例文帳に追加
光源は、スリットランプヘッド、スリットランプベースまたはスリットランプ顕微鏡の内部に配置された、作用光線、照明光線および/または照準光線生成のためのレーザ光源である。 - 特許庁
Light from a light source is radiated to the photographic film from the slit 71.例文帳に追加
スリット71から写真フイルムに向けて光源の光を照射する。 - 特許庁
The measurement condition is, X-ray source: CuKα line (CuKα=1.5418 Å), divergence slit: 1°, scattering slit: 1°, light receiving slit: 0.2 mm and step width: 0.05°.例文帳に追加
[測定条件] X線源:CuKα線(CuKα=1.5418Å) 発散スリット:1° 散乱スリット:1° 受光スリット:0.2mm ステップ幅:0.05° - 特許庁
The light from the light source 1, therefore, is condensed on the entrance side slit 5.例文帳に追加
よって、光源1からの光は、入側スリット5上に集光される。 - 特許庁
The slit-like light is emitted from a light source unit 22 of the light source board 14 toward a capillary of the experiment chip 30.例文帳に追加
光源ボード14の光源ユニット22から実験チップ30のキャピラリにスリット状の光を照射する。 - 特許庁
The X-ray diffraction apparatus has a X-ray source F, an X-ray detector 10, a divergence slit 2 and a scattering slit 8.例文帳に追加
X線源Fと、X線検出器10と、発散スリット2と、散乱スリット8とを有するX線回折装置である。 - 特許庁
In a profile measuring device 1, a slit light source unit 12 irradiates a slit light to a test substance 20 of a measuring object.例文帳に追加
形状測定装置1において、スリット光源ユニット12は、測定対象の被検物20に対しスリット光を照射する。 - 特許庁
An illumination unit 30 irradiates a substrate 1 in such a way as to alternately switch lateral light by a lateral illumination source and slit light by a slit illumination source for every line.例文帳に追加
照明ユニット30は、基板1に対して、ライン毎に側方照明源による側方光とスリット照明源によるスリット光を交互に切り替えて照射する。 - 特許庁
The light source slit 150 has a slit pattern 154 and is mounted on a surface of the photodetector 130 where the photodetector array 132 is formed so that the slit pattern 154 overhangs in an eaves shape over the light source 110.例文帳に追加
光源スリット150はスリットパターン154を有し、スリットパターン154が光源110の上にひさし状に張り出すように、フォトディテクターアレイ132が形成された光検出器130の面に取り付けられている。 - 特許庁
A light source slit 150 has a slit pattern 154 and is mounted on the surface of the photodetector 130 where a photodetector array 132 is formed so that the slit pattern 154 overhangs, in an overhung shape at the light source 110.例文帳に追加
光源スリット150はスリットパターン154を有し、スリットパターン154が光源110の上にひさし状に張り出すように、フォトディテクターアレイ132が形成された光検出器130の面に取り付けられている。 - 特許庁
The slit light source unit includes a cylindrical lens converting the slit light projected by the slit light source into parallel light beams parallel to the optical axis of the projected slit light.例文帳に追加
スリット光源ユニットは、スリット光源から出たスリット光をその光軸に平行な平行光とするシリンドリカルレンズを有し、撮像ユニットは、テレセントリックレンズと、合焦範囲を拡大するためにあおり傾斜角でその撮像面が撮像光軸に対して傾けられている撮像部とをする。 - 特許庁
Slit-shaped reflected light 14 from the article surface 4 of slit-shaped projected light 13 from a light-emitting line La of the light-emitting source 11, actually only reflected light 14s in the slit crossing direction in the center part of slit-shaped reflected light 14 is received by a light-receiving line Lb of the light-receiving source 21.例文帳に追加
発光源11の発光ラインLaからのスリット状投射光13の物品表面4からのスリット状反射光14を、このスリット状反射光14の中央部のスリット横断方向の反射光14sだけを、受光源21の受光ラインLbで受光させる。 - 特許庁
A slit plate having a plurality of slits is provided so that the normal of the slit plate is inclined to an optical axis from a light source to the object to be measured, and the light emitted from the light source is cast onto the slit by an illumination lens.例文帳に追加
複数のスリットを有するスリット板を、スリット板の垂線が光源から測定対象物に至るまでの光軸に対して傾くように設け、光源から発せられた光が、照明レンズによってスリットに照射される。 - 特許庁
The three-dimensional shape measuring device is composed of a slit light source 6, a slit light reflecting mirror 11 arranged in the direction of radiation of the slit light of this slit light source, and a camera 7 arranged so as to pick up an image of the object 2 irradiated with slit light reflected by this slit light reflecting mirror.例文帳に追加
本発明では、このような課題を解決するために、スリット光源6と、このスリット光源のスリット光の照射方向に配置したスリット光反射用ミラー11と、このスリット光反射用ミラーによって反射したスリット光が照射される対象物2を撮像するように配置したカメラ7とから構成した三次元形状計測装置を提案している。 - 特許庁
A plate-like member 201 formed with a slit 202 is arranged between the light source and the sensor, and one part of the light from the light source is passed through the slit 202 so as to be directed to the sheet S.例文帳に追加
また、光源とセンサとの間にスリット202が形成された板状部材201を配置し、このスリット202により光源からの光の一部を通過させてシートSに向かわせる。 - 特許庁
Irradiation position of a slit light 31 from each laser slit light source 41-45 is imaged from the oblique upside by a corresponding CCD camera 81-85.例文帳に追加
各レーザスリット光源41〜45からのスリット光31の照射位置を、対応したCCDカメラ81〜85で斜め上方から撮像する。 - 特許庁
The front slit is located between the radiation source and the target region, and the rear slit is located between the target region and the detector assembly.例文帳に追加
前部スリットは、放射線源と目標領域の間に位置し、後部スリットは、目標領域と検出器アセンブリの間に位置している。 - 特許庁
The incident side slit working as a light source emits auxiliary light to a spectroscopic object sample by emission of the light source lens unit.例文帳に追加
その光源レンズユニットの発光により入射側スリットが光源となって分光対象試料に対し補助光を発する。 - 特許庁
The lighting apparatus 4 is provided with a flash light source 20, a slit member 21, and a parabolic mirror 22.例文帳に追加
照明装置4は、閃光光源20と、スリット部材21と、放物面鏡22とを備える。 - 特許庁
In the method for manufacturing the tube welded in the longitudinal direction, a metallic strip which is continuously drawn out of a supply source is gradually formed into a slit tube and the slit in the longitudinal direction of the slit tube is welded.例文帳に追加
縦方向に溶接された管を製造するための方法において、供給源から連続的に引き出される金属帯を次第にスリット管に形成し、該スリット管の縦方向スリットを溶接する。 - 特許庁
Hereby, a light source image becomes substantially linear in the longitudinal direction of the slit opening on the surface of the entrance slit 3, to thereby reduce loss of light.例文帳に追加
これにより、入口スリット3の面上では光源像がスリット開口の長手方向にほぼ直線状となるため、光の損失が軽減される。 - 特許庁
The first slit transmission part is irradiated from a rear part with a first light source to brightly shine, and the second slit transmission part is irradiated from a rear part with a second light source to brightly shine.例文帳に追加
第一の線状透過部20は第一の光源29により後方から照明され光輝し、第二の線状透過部21は第二の光源30により後方から照明され光輝する。 - 特許庁
This causes new air to be taken into a cabinet 1 through a front slit 11 and the air arrives near the power source 2 to deprive heat radiated from the power source 2 and radiates from the back slit 12.例文帳に追加
すると、前面スリット11より新しい空気が筐体1の内部に送り込まれ、電源2近傍に達し、電源2から放出された熱を奪って、背面スリット12より放出される。 - 特許庁
A plurality of light source sections are disposed, and as a light source selection mechanism for selecting an analyzed light source from a first and second light source sections A1 and A2, a selector miller 10 is arranged in a front part of an inlet slit 1.例文帳に追加
複数の光源部を設け、分析対象光源を第1、第2光源部A1、A2から選択する光源選択機構として、切替ミラー10を入口スリット1の前部に配置する。 - 特許庁
A variable slit 4 whose slit width can be varied is provided on the laser beam source 1 side of a lens for converging a laser beam 2 emitted from the laser beam source in a subscanning direction by a rotary polygon mirror 6, and laser power on a slit photoreceptor 11 is controlled to be constant by a control part 10 as the slit width is varied.例文帳に追加
レーザ光源から発せられたレーザ光2を、回転多面鏡6で副走査方向に絞り込むレンズのレーザ光源1側に、スリット幅が可変し得る可変スリット4を設け、スリット幅が可変することに伴い、制御部10によりスリット感光体11上のレーザパワーを一定に制御する。 - 特許庁
A condenser lens 7 of the optical member 5 condenses light emitted by the light source part 1 to slit light.例文帳に追加
光学部材5の集光レンズ7は、光源部1が出射した光を帯状光に集光する。 - 特許庁
This X-ray optical system is equipped with the X-ray source 10, a paraboloidal multilayered film mirror 18 having an aperture slit plate 14 attached thereto, an optical path selection slit device 22, a polycapillary 36, and an outgoing width restriction slit 38.例文帳に追加
X線光学系は、X線源10と、アパーチャスリット板14が付属する放物面多層膜ミラー18と、光路選択スリット装置22と、ポリキャピラリー36と、出射幅制限スリット38を備えている。 - 特許庁
A diffusion lens part 24 to diffuse the light coming from the light source via the slit in the direction crossing the direction of extension of the slit in the side face part 12b is formed in the cover member 23 covering the slit in the side face part 12b.例文帳に追加
側面部12bでスリットを覆うカバー部材23には、発光源からスリットを経由した光を側面部12bにおけるスリットの延在方向と交差する方向へ拡散する拡散レンズ部24を形成した。 - 特許庁
The microscope 2 converts light from a light source 7 into slit light by a slit light generator 3 to irradiate it to the workpiece at a prescribed angle obliquely from above.例文帳に追加
顕微鏡2は、光源7からの光をスリット光生成装置3によりスリット光に変換し、それをワークに対して所定の角度で斜め上方から照射する。 - 特許庁
The slot antenna is a type of a magnetic current antenna, forms an electric field around the slit 30 with the slit 30 as a magnetic current source and emits a radio wave based on the electric field.例文帳に追加
スロットアンテナは磁流アンテナの一種であり、スリット30を磁流源として、同スリット30の周囲に電界を形成し、この電界に基づく電波を放射する。 - 特許庁
An incident side optical system 10 comprises an X-ray source 24, a paraboloid surface multi-layer film mirror 26, a solar slit 28 for vertical divergence limitation, and an outgoing width limiting slit 30.例文帳に追加
入射側の光学系10はX線源24と放物面多層膜ミラー26と縦発散制限用のソーラスリット28と出射幅制限スリット30とを備えている。 - 特許庁
An optical system 1 is provided with a light source 2, a pattern formation means 3 arranged on an optical axis of the light source, for forming slit light by the light from the optical source, and a floodlighting lens 4 for condensing the slit light toward a measuring object.例文帳に追加
光源2と、光源の光軸上に配置され、上記光源からの光によりスリット光を形成するためのパターン形成手段3と、スリット光を測定対象物に対して集光するための投光レンズ4とを備える光学系1を設ける。 - 特許庁
The reflection-type optical encoder 100 comprises a light source 110; a scale 120; the photodetector 130; a support substrate 140; and a light source slit 150.例文帳に追加
反射型光学式エンコーダー100は光源110とスケール120と光検出器130と支持基板140と光源スリット150とを備えている。 - 特許庁
A pattern formation means 3 which is arranged on the optical axis of the light source 2 and which is used to form slit light on the basis of the light from the light source 2 is installed.例文帳に追加
光源2の光軸上に配置され、上記光源2からの光からスリット光を形成するためのパターン形成手段3を設ける。 - 特許庁
A linear light source, a detection system and a condensing system condensing light from the light source on a sample and condensing returned light on the detection system are disposed in a slit confocal microscope.例文帳に追加
直線光源と、検知系と、光源からの光を試料上に集光させかつ戻り光を検知系に集光させる集光系とを配設する。 - 特許庁
A correction value storage part 49 holds digital correction values for shading correction each separately set for the lateral illumination source and the slit illumination source.例文帳に追加
補正値記憶部49は、側方照明源およびスリット照明源に対して、それぞれ別個に設定したシェーディング補正用のデジタル補正値を保持する。 - 特許庁
A reflection-type optical encoder 100 comprises: a light source 110; a scale 120; a photodetector 130; a support substrate 140; and a light source slit 150.例文帳に追加
反射型光学式エンコーダー100は光源110とスケール120と光検出器130と支持基板140と光源スリット150とを備えている。 - 特許庁
A point light source 1 outputs continuous spectrum light, and the light enters prisms 21, 22 via a slit 11.例文帳に追加
点光源1は、連続スペクトル光を出力し、この光はスリット11を介してプリズム21、22に入射する。 - 特許庁
The optical position detector 40 arrives a light emitted from a light emitting diode 2 of a light source at a slit group 5a of a fixed slit plate 21 through a diffraction grating formed of a slit group 4a of a moving slit plate 4 and a condenser lens 41, and focuses on a photodetecting surface 3a of a semiconductor position detector 3 through the slit group 5a.例文帳に追加
光学式位置検出装置40では、光源である発光ダイオード2から発せられた光は、移動スリット板4のスリット群4aと集光レンズ41によって形成される回析格子を介して固定スリット板21のスリット群5aに至り、このスリット群5aを介して、半導体位置検出器3の受光面3aに結像する。 - 特許庁
A sample base 2, an X-ray source 4, a slit 11 which passes fluorescent X-rays 5 generated from a sample 1 and the like are provided at this X-ray fluorescence analyzer.例文帳に追加
試料台2 、X線源4 、試料1 から発生した蛍光X線5 を通過させるスリット11等を備えている。 - 特許庁
A shielding board 4 equipped with a long slit in the axial direction of the cylindrical tube 1 is arranged between the cylindrical tube 1 and a light source 2.例文帳に追加
筒管1と光源2との間に筒管1の軸方向に長いスリットを備えた遮蔽板4を配置する。 - 特許庁
The X-ray supply equipment supplies X rays R generated from an X-ray source to the rear of the solar slit 18.例文帳に追加
X線源から発生したX線Rをソーラスリット18の後方へ供給するX線供給装置である。 - 特許庁
An X-ray emitted from an X-ray source 10 passes through an opening 22 of a first slit 20 and hits a first crystal 12.例文帳に追加
X線源10を出たX線は第1スリット20の開口部22を通過してから第1結晶12に当たる。 - 特許庁
When executing optical axis alignment of an incident optical path before spectrometry, a light source lens unit composed of an auxiliary light source and an auxiliary lens is set behind an incident side slit.例文帳に追加
分光測定前の入射光路の光軸合わせの際に、補助光源と補助レンズとから構成される光源レンズユニットが、入射側スリットの背後に設定される。 - 特許庁
The lighting device is equipped with a light source 10 and a light shielding means 20 (rotary slit plates 21A and 21B) intermittently intercepting light from the light source 10 at a light condensing position between the light source 10 and an illumination object 80.例文帳に追加
照明装置は、光源10と、光源10と照明対象80との間の集光位置において光源10からの光を間欠的に遮光する遮光手段20(回転スリット板21A,21B)と、を備える。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|