「surface chart」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The chart for calibration comprises: a main part 2, 12 of a flat plate; and different temperature parts 3, 13 existing a lot on one face such that the relative positions are known but different in temperature in comparison with the surface of the main body.例文帳に追加

キャリブレーション用チャートは、平板状の本体部２，１２と、前記本体部の一方の面に相対的な位置関係が既知となるように多数点在しかつ前記本体部の表面と比較して温度が異なる異温部３，１３を備える。 - 特許庁

The polycarbonate resin composition molded product is a product at least one side surface of which is treated to have a hard coat, wherein the product comprises a polycarbonate resin composition (component A) having a low molecular compound's content of 0.6% or less determined from the area ratio in a GPC chart.例文帳に追加

低分子化合物の含有量がＧＰＣチャートにおける面積比で０．６％以下であるポリカーボネート樹脂組成物（Ａ成分）からなる成形品の少なくとも１面にハードコート処理してなるポリカーボネート樹脂組成物成形体。 - 特許庁

A chart image formed by an imaging lens 6 is photographed by an imaging element 12 while the element unit 16 is moved in a Z-axis direction by a second slide stage 76, to acquire focussed coordinate values of at least 5 image positions set on an imaging surface 12a.例文帳に追加

第２スライドステージ７６で素子ユニット１６をＺ軸方向に移動させながら、撮影レンズ６が結像したチャート像を撮像素子１２で撮像し、撮像面１２ａ上に設定された少なくとも５つの撮像位置の合焦座標値を取得する。 - 特許庁

A person's name recalling tool 1 is configured by printing a chart 3 where a plurality of Chinese characters used for the last part of a family name are vertically and horizontally arrayed on the surface of a card 2 made of a cardboard in an inawkward and portable size (for example, A5 type size, a postal card size, name card size or the like).例文帳に追加

人名想起具１は、邪魔にならずに携帯できる程度のサイズ（例えばＡ５版サイズ、ハガキサイズ、名刺サイズ等）の厚紙でできたカード２の表面に、名字の最後に使用される漢字を縦横に多数配列してなる表３を印刷したものである。 - 特許庁

The center line surface roughness Ra is measured by using a high precision surface roughness meter OO produced by XX manufacturing Co. Ltd. and a chart is drawn under the condition of cut-off value 0.08mm and OX, according to JIS B0601. A portion of measured length L is cut out from a film surface roughness curve to the direction of the center line. When the center line of the portion is expressed as an X axis, the vertical direction is expressed as a Y axis, and a roughness curve is expressed as Y = f (X), the value obtained from the following expression is Ra (μm). 例文帳に追加

中心線表面粗さRaはJIS B0601に準じ、(株)××製作所の高精度表面粗さ計○○を用いて測定し、カットオフ0.08mm、及び○×の条件下にチャートを書かせ、フィルム表面粗さ曲線からその中心線の方向に測定長さＬの部分を抜き取り、その抜き取り部分の中心線をＸ軸、縦方向をＹ軸として粗さ曲線をＹ＝ｆ(Ｘ)で表したとき、次の式で得られた値をμm単位で表す。 - 特許庁

To provide a small and simple fish-eye lens inspection device for inspecting the performance of a fish-eye lens, by lighting a projection chart for performance inspection to project its picture on the inner surface of a hemispherical translucent screen via the fish-eye lens and by inspecting the performance of the fish-eye lens by observing the picture from the outer surface side of the translucent screen.例文帳に追加

魚眼レンズの性能を検査する魚眼レンズ検査装置において、性能検査用の投影チャートを照明してその絵柄を魚眼レンズを介して半球状の半透明スクリーンの内面に投影させ、その絵柄を半透明スクリーンの外面側から観測することによって魚眼レンズの性能を検査できるようにしたため、小型で簡易な装置を実現できる。 - 特許庁

A measuring beam of a wavelength #1 emitted from a laser beam source 23 passes through an irradiation optical system 22 and an objective lens 21 to be incident onto a model eye lens 1, and it is made through a parallel flat plate 6 to irradiate a point P eccentric by r0 in the perpendicular direction from a rotation center O on the surface of a chart disk 12 which is rotating.例文帳に追加

レーザー光源２３から発した波長λの測定光は、照射光学系２２を通過し、対物レンズ２１を経て模眼レンズ１に入射し、平行平面板６を経て回転中のチャート円盤１２の表面の回転中心Ｏから垂直方向にｒ０だけ偏心したＰ点に照射される。 - 特許庁

Then, an amount of defocus on an image formation surface is measured by an imaging signal of a resolution chart by a solid-state imaging device 3'; inclination of the lens is calculated; an amount of adjustment is obtained in the XY direction; and the pressing pins 39, 49 are driven by Xy axis driving motors 31, 41 to eliminate the inclination of the lens.例文帳に追加

そして、固体撮像素子３’による解像度チャートの撮像信号により結像面のデフォーカス量を測定し、レンズの傾きを算出するとともにＸＹ方向の調整量を得て、Ｘｙ軸駆動モータ３１，４１でＸＹ押圧ピン３９，４９を駆動しレンズの傾きを解消するようにする。 - 特許庁

Before a shutter button 21 is operated after the power source of a digital camera 10 is turned on, an AF control part 33 detects a focusing position where the contrast (AF evaluated value) of an image obtained by imaging a chart 28 formed on the objective surface of an objective 19 becomes maximum while moving the focus lens 27d.例文帳に追加

デジタルカメラ１０の電源がＯＮにされた後、シャッタボタン２１が操作される前に、ＡＦ制御部３３は、フォーカスレンズ２７ｄを移動させながら、対物レンズ１９の対物面に形成されたチャート２８を撮像して得られる画像のコントラスト（ＡＦ評価値）が最大となる合焦位置を検出する。 - 特許庁

The ceramic substrate for the wafer prober with a chuck top conductor layer formed on the surface thereof is provided, wherein an X-ray diffraction chart of the ceramic substrate, in addition to a peak of the ceramic constituting a main crystal phase thereof, a peak of carbon is detected to an angle of X-ray diffraction of 2θ=44 to 45°.例文帳に追加

その表面にチャックトップ導体層が形成されてなるセラミック基板において、前記セラミック基板のＸ線回折チャートにおいて、主結晶相を構成するセラミックのピークの他に、Ｘ線回折角度２θ＝４４〜４５°にカーボンのピークが検出されることを特徴とするウエハプローバに使用されるセラミック基板。 - 特許庁

The imaging device 12 captures the image of a measurement chart 52 image-formed by the photographing lens 6 and the focusing positions of at least five measurement points set onto an imaging surface 12a are measured, while a lens positioning plate 43 in a state, where the lens unit 15 is positioned, and the lens holding mechanism 44 are moved in the direction of an optical axis S on a second slide stage 71.例文帳に追加

レンズユニット１５を位置決めした状態のレンズ位置決めプレート４３とレンズ保持機構４４とを第２スライドステージ７１で光軸Ｓ方向に移動させながら、撮影レンズ６が結像した測定チャート５２を撮像素子１２で撮像し、撮像面１２ａ上に設定された少なくとも５つの測定点の合焦位置を測定する。 - 特許庁

In a refrigerating device 1 having the control box 45 housing a control portion 43 controlling an operation, and a temperature recorder 91 recording a detected temperature on a disc chart 93 by a recording pen 95, the recording pen 95 is disposed on a surface of a door 83 of the control box 45, and covered by an openable and closable cover body 107.例文帳に追加

運転を制御する制御部４３を収納したコントロールボックス４５と、検出した温度を記録ペン９５によって円形チャート９３に記録する温度記録器９１と、を有する冷凍装置１であって、記録ペン９５がコントロールボックス４５の扉８３の表面に設置されるとともに開閉可能な蓋体１０７で覆われていることを特徴とする。 - 特許庁

The interferometer includes: an interferometer body having a CCD 31 for capturing interference fringes formed by a surface shape of a work W; a display section 70 for displaying images of interference fringes captured by the CCD 31; and a personal computer 60 for displaying a chart including a reference line that serves as an evaluation basis of interference fringes displayed at the display section 70.例文帳に追加

本発明の干渉計は、ワークＷの表面形状によって形成される干渉縞を撮像するＣＣＤ３１を有する干渉計本体と、ＣＣＤ３１により撮像された干渉縞の画像を表示する表示部７０と、表示部７０に表示された干渉縞の評価基準となる基準線を含むチャートを表示させるパソコン６０とを備えることを特徴とする。 - 特許庁