「surface defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ROAD SURFACE DEFECT DETECTION SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

路面欠陥検出システム及び方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

DETECTION METHOD AND DEVICE OF SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥の検出方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTION OF SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SURFACE DEFECT DETECTION例文帳に追加

表面欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTION SYSTEM AND DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加

表面欠陥検出システム及びデータ処理方法 - 特許庁

FLAW TYPE CLASSIFICATION BOUNDARY SETTING METHOD IN SURFACE DEFECT DETECTION, AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検出における疵種分類境界設定方法、及び欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD OF OBJECT SURFACE, AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

物体表面の欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTOR, GRINDING DEVICE, SURFACE DEFECT DETECTION METHOD AND SURFACE DEFECT DETECTION PROGRAM FOR REDUCTION ROLL, AND REDUCTION ROLL GRINDING METHOD例文帳に追加

圧延用ロールの表面欠陥検出装置、研削装置、表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出用プログラム並びに圧延用ロール研削方法 - 特許庁

To provide a surface defect detector and a surface defect detection method which improve detection accuracy of a surface defect by setting a threshold value adapted to a frequency distribution of brightness of a surface image according to a variation of formation.例文帳に追加

地合の変動による表面画像における輝度の度数分布に適合した閾値を設定することにより、表面欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTOR AND ITS DETECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検出装置及び表面欠陥検出方法 - 特許庁

The position specified by the defect detection process corresponds to the site where the surface defect occurs.例文帳に追加

欠陥検出処理で特定された位置が表面欠陥の発生している箇所に相当する。 - 特許庁

To prevent erroneous detection of a defect portion regardless of the state of a detection object surface, and to prevent decline of detection accuracy to the defect portion.例文帳に追加

検査対象物表面の状態にかかわらず、欠陥部位の誤検出を防止し、欠陥部位に対する検出精度の低下を防ぐ。 - 特許庁

In this defect detection method of the elongate member, the external defect, the surface defect and the internal defect of the elongate member 1 having the fixed sectional shape are detected.例文帳に追加

断面形状が一定の細長部材１の外形欠陥、表面欠陥及び内部欠陥を検出する細長部材の欠陥検出方法。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device capable of detecting a defect of the surface state of an inspection object with extremely high accuracy.例文帳に追加

検査対象物の表面状態の欠陥を極めて高精度に検出することが可能な欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF SUBSTRATE SURFACE, AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

基板面の不良検出装置、不良検出方法、及び不良検出のためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

The differential interface image of the surface of the substrate is supplied to a defect detection means (34), and a defect is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

The differential interference image on the surface of the substrate is supplied to defect detection means (34) so that a defect therein is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

To provide a surface defect detection method capable of detecting a defect present on the surface of an object to be tested with high precision.例文帳に追加

被検査体の表面に存在する欠陥を高い精度で検出することができる表面欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection apparatus and a surface defect inspection method capable of performing a detection of LPDs on a wafer surface and a detection of a dark field image in parallel with each other and having an improved detection sensitivity of the LPDs.例文帳に追加

ウェーハ表面のＬＰＤの検出と暗視野像の検出とを並行して行うことができ、且つ、ＬＰＤの検出感度を高めた表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method which enables accurate detection of surface defects in information recording media which can cause errors, and to provide a surface defect inspection apparatus.例文帳に追加

エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A defect detecting means 2 detects a defect on the surface of a sample at a predetermined inspection sensitivity, a false defect specifying means 4 specifies a false defect from defect information acquired by the defect detection, and a non-inspected region setting means 5 sets the detection part of the specified false defect in a non-inspected region.例文帳に追加

欠陥検出手段２は、所定の検査感度で試料表面の欠陥検出を行い、擬似欠陥特定手段４は、欠陥検出により得られた欠陥情報から擬似欠陥を特定し、非検査領域設定手段５は、特定した擬似欠陥の検出箇所を非検査領域に設定する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a metal defect and a defect detection device, which allow clear detection of a defect portion by improving the uniformity, and increasing the brightness, of a non-defect portion of an imaged image of an inspecting surface when etching the inspecting surface of a metal sample to cause the defect to appear and imaging an image of the inspecting surface using an imaging device to detect the defect.例文帳に追加

金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

A detection rate is calculated in every of the defects based on whether the same defect is detected in a plurality of differential images or not, based on a result in a process for detecting the defect on a surface of the silicon wafer, and the shape of the defect is identified in the every defect on the surface of the silicon wafer, according to the detection rate.例文帳に追加

シリコンウエハ表面上の欠陥を検出する工程の結果から、同一の欠陥が複数の差分画像から検出されたかにより欠陥毎に検出率を算出し、前記検出率に従って前記シリコンウエハ表面上の欠陥毎に該欠陥の形状を識別する。 - 特許庁

To provide a metal defect detection method capable of highlighting defect through etching treatment of the inspection surface of a metal sample, while when detection of the defect is carried out by imaging the inspection surface with an imaging device, brightness of non-defect parts on the imagery of inspection surface is made to be homogenized and brightened, leading clear defection of defect part.例文帳に追加

金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for detecting a surface defect and a defect under the surface skin, and a method for detecting the same wherein an ultrasonic surface wave can carry out flaw detection of a whole surface by going around a width direction of an inspection object, and reflected waves from other than a defect are reduced.例文帳に追加

超音波の表面波が被検査体の幅方向を一周して全面探傷することができ、欠陥以外からの反射波を低減する表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

In the small surface irregularity defect detection method detecting the small surface irregularity defect of a magnetic metal object to be inspected, physical quantity resulting from a distortion of the defect part in the object to be inspected is measured, then using the measured value, the surface defect is detected.例文帳に追加

磁性金属被検体の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出方法において、前記被検体の欠陥部の歪に起因する物理量を測定し、その測定値を利用して前記表面欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a surface defect detection device capable of detecting an irregular defect on the cylindrical work surface in a short time with excellent sensitivity, and requiring only a small installation space.例文帳に追加

円筒状ワーク表面の凹凸欠陥を短時間で感度良く検出できるとともに、設置スペースが少なくて済む表面欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and a surface inspection method, capable of detecting highly precisely an appearance defect, even relative to the appearance defect having low detection precision in a circular slit.例文帳に追加

円形スリットでは検出精度が悪い外観不良に対しても、高精度に外観不良を検出できる表面検査装置および表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for road surface defect detection based on infrared imaging technology.例文帳に追加

本発明は、赤外線撮影技術に基づく路面欠陥検出システム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface layer defect detector which accurately discriminates between formation noises of a metal analyte and detection signals due to scab defects.例文帳に追加

金属被検体の地合ノイズとヘゲ欠陥に起因する検出信号とを精度良く弁別する。 - 特許庁

To provide a surface inspection apparatus capable of easily changing the detection sensitivity of the defect or the like on the surface of a substrate.例文帳に追加

基板の表面の欠陥などを検出する感度を容易に変えることができる表面検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a leakage flux flaw detecting method for stably discriminating a surface defect from an internal defect and performing detection regardless of measuring conditions.例文帳に追加

測定条件の変化によらず安定して、表面欠陥と内部欠陥を区別して検出することが可能な漏洩磁束探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of discriminating and detecting simultaneously an internal defect and a surface flaw of a material to be measured.例文帳に追加

被測定材の内部欠陥と表面疵を同時に識別して検出することが可能な欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To achieve high efficient defect inspection with a high defect capture rate in a surface defect inspection device for a wafer and the like by enabling detection of forward scattered light with high sensitivity and at the same time enabling detection of specularly reflected light with high sensitivity.例文帳に追加

ウエーハ等の表面欠陥検査装置において、前方散乱光を高感度で検出し、正反射光をも同時に高感度検出可能とすることで、欠陥捕捉率の高い高効率の欠陥検査を実現。 - 特許庁

To inspect a surface defect of a metal band at the same detection angle, using a two-dimensional imaging means.例文帳に追加

２次元撮像手段を使用して、同一の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of easy and accurate defect detection when a plurality kinds of surface states of an inspection object to be determined to be a nondefective article exist.例文帳に追加

良品と判定されるべき被検査物の表面状態が複数種類存在する場合に容易でかつ正確な欠陥検出を行うことができる欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a wafer surface defect inspection device capable of reducing instrument errors of detection sensitivity and foreign matter coordinate detection error, and capable of obtaining high position coordinate precision for a defect such as a foreign matter, and a method therefor.例文帳に追加

検出感度や異物座標検出誤差の機差が小さく、異物等の欠陥の高い位置座標精度が得られるウェハ表面欠陥検査装置およびその方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a defect inspection method which enables detection of defects on an edge line of a surface to be inspected, only on the basis of the binarized images of the surface to be inspected.例文帳に追加

被検査面の二値化画像のみに基づいて被検査面のエッジライン上の欠陥を検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To inspect a surface defect of a metal band at the same detection angle by use of a two-dimensional imaging means.例文帳に追加

２次元撮像手段を使用して、同一の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a device improving detection sensitivity by restraining temperature rise on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の温度上昇を抑えて検出感度を向上させる欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface flaw detection method capable of detecting adverse defect on a metal strip by discriminating it from an over-detection, and a surface flaw detection device used for the method.例文帳に追加

本発明は、金属帯上の有害疵と、過検出とを弁別して検出することができる表面欠陥検出方法、および、該方法に使用される表面欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A defect detection processing part 110 detects the defect of the working surface by signals outputted from the sensor 80 after positioning is performed by the controller 100.例文帳に追加

欠陥検出処理部１１０が、制御装置１００により位置決めした後にセンサ８０から出力される信号により加工表面の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a method for retreating a flaw detection head and a flaw detection apparatus with which a surface flaw can be detected even if shape defect exits in a steel plate which is an object to be detected without breakage of the flaw detection head through contact of the shape defect portions with the surface flaw detection apparatus.例文帳に追加

探傷対象の鋼板に形状不良があっても、この形状不良部分と表面欠陥探傷装置とが接触して欠陥探傷ヘッドを破損することがなく表面欠陥の検出を行うことができる、欠陥探傷ヘッドの退避方法および欠陥探傷装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

At defect detection through the use of a defect review SEM, an XY coordinate system is set in the overall surface (except curved faces) of a product wafer 20 to generally inspect the surface of the product wafer 20.例文帳に追加

欠陥レビューＳＥＭを用いた欠陥検出に際し、製品ウェーハ２０の全面（Ｒ端面を除く。）にＸＹ座標系を設定し、製品ウェーハ２０表面を全体的に検査できるようにする。 - 特許庁