「surface defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To simplify the configuration of a surface defect-inspecting apparatus for inspecting by an interference phase measuring system and a scattered light detection system.例文帳に追加

干渉位相測定系及び散乱光検出系による検査を行う表面欠陥検査装置の構成を簡略化する。 - 特許庁

To provide a defect detection optical system and a defect inspection device that can detect a defect at a high accuracy and have a simple structure without being affected by scratch in a substrate surface or directivity of scattered light on a chip defect.例文帳に追加

基板表面のスクラッチやカケ欠陥の散乱光の指向性に影響されることなく、欠陥検出が高い精度で検出でき、かつ構造が簡単な欠陥検出光学系欠陥検出光学系および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a defect detection method of a plate-like body capable of detecting a defect of the transparent or translucent plate-like body highly accurately without reflecting a rear surface state of the plate-like body.例文帳に追加

透明又は半透明の板状体の欠陥を、板状体の裏面の状況を反映することなく高精度で検出できる板状体の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

The defect detecting system 10 detects the existence of a defect by detecting light emission of a light emitting film 1 formed on the surface of the structure 2, i.e., a detection target.例文帳に追加

本発明に係る欠陥検知システム１０は、検知対象である構造体２の表面に形成した発光膜１の発光を検出することによって、欠陥の有無を検知する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a method for manufacturing a semiconductor device for suppressing false detection due to color irregularity even when a wafer subjected to defect inspection has color irregularity on a surface thereof.例文帳に追加

欠陥検査を行うウエハ表面に色むらがある場合でも色むらによる虚報の検出を抑制できる欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method of a roller bearing by torque monitoring, which detects accurately a fine defect existing on the rolling contact surface or on a roller of the roller bearing of a finished product, also detects stably a large defect by which rotation is locked, and shortens a time required for detection.例文帳に追加

完成品でのころ軸受の転走面やころに存在する微少な欠陥を精度良く検出でき、また回転がロックしてしまう大欠陥も安定して検出でき、検出の所要時間も短縮できるトルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

The light reflected on the steel sheet 1 surface is received by a light receiver 5, defect detection is done by a data processing unit 6.例文帳に追加

薄鋼板１表面で反射された光は、受光器５で受光され、データ処理装置６によって欠陥の検出が行われる。 - 特許庁

To provide a wire surface defect detector for detecting a micro flaw occurring in a wire surface without missing without requiring application of a penetrant and flaw detection agent.例文帳に追加

浸透液や探傷剤を塗布することなく、線材表面に付いた微小な傷を抜け無く検出することのできる線材表面探傷装置を提供する。 - 特許庁

The defect detection parameters determine what degree the difference between the surface image of a normal semiconductor wafer and the surface image of a semiconductor wafer having defects is allowed.例文帳に追加

欠陥検出パラメータは、正常な半導体ウェハの表面画像と、欠陥が生じている半導体ウェハの表面画像との差をどの程度許容するか定めている。 - 特許庁

Detection time is shortened and the cost is reduced by scanning the surface of a substrate, while irradiating with a focused zone laser beam 11, thereby detecting a defect on the surface of the substrate regardless of the directivity of the defect 6.例文帳に追加

集光輪帯レーザビーム１１を基板表面上に照射して走査させることにより、欠陥６の方向性に依存しない基板表面の欠陥検出を実現し、検出時間の短縮とコストの低減を図る。 - 特許庁

To provide a defect detector which attains improvement in defect detection output and reliability by highly accurately detecting various defects to occur on the surface of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物の表面上に発生する様々な欠陥を高精度に検出可能とすることで、欠陥検検出力及び信頼性の向上を図った欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the surface of a portion which is slightly eccentric from the center of the nut 5, where the defect tends to presented as a shade on the nut can be fetched as the image information, and sure defect detection can be attained.例文帳に追加

そのため、ナット５に傷が陰影として出やすい部分であるナット５の中心よりわずかに偏心した位置の表面を画像情報として取り込むことができ、確実な傷検出が可能となる。 - 特許庁

AUTOMATIC DETECTION DEVICE FOR PRINT DEFECT ON METALIZED STRIP OR OTHER OPTIONAL PRINT BASE MAINLY COMPOSED OF SURFACE IN MIRROR REFLECTING COLOR例文帳に追加

金属化ストリップ又は大部分が鏡面反射色の表面からなるその他の任意の印刷支持体上の印刷欠陥の自動検出装置 - 特許庁

To speed up an inspection speed by equipping the defect detection capacity of a surface to be inspected that is at least equivalent to a conventional capacity, at low cost.例文帳に追加

低コストでこれまでと同等以上の被検査物表面の欠陥検出能力を備え検査速度を高速化できるようにする。 - 特許庁

Therefore, composite processing device 4 compositely processes the binarization data, and can detect a defect on the surface of the inspecting object by light-dark detection.例文帳に追加

このため、複合処理装置４は、前記２値化データを複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出できる。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method, an ultrasonic flaw detection device, and a pipe material manufacturing method capable of detecting even a recessed defect generated on the inner surface of a pipe material of metal such as a steel pipe, and a wrap-shaped shallow defect.例文帳に追加

鋼管などの金属の管材の内側表面上に生じた凹み欠陥や、ラップ状の浅い欠陥であっても検出することができる超音波探傷方法、超音波探傷装置、および管材製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a new method for surface defect detection and its device which can quantitatively measure a defect in atom size generated on the surface and interface of a sample in a manufacturing process for semiconductor devices or the like in real time with high precision.例文帳に追加

半導体デバイスの製造プロセス等において試料の表面および界面に発生する原子サイズの欠陥を実時間で、且つ高精度で定量測定することのできる、新しい表面欠陥検出方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To make precisely detectable a surface lug defect on a resin pipe with a simple device at a low detection cost and maintenance cost.例文帳に追加

樹脂管等の表面突起欠陥の検出を、簡単な装置により、精度よく、かつ安価な検出コストおよびメンテナンスコストで行うことを可能にする。 - 特許庁

The coordinates conversion in the detection system with respect to the rotationally symmetric object 11 is dispensed with and the surface defect of the object can be detected at a high speed.例文帳に追加

回転対称な対象物１１に対して検出系での座標変換を不要とし、高速に表面欠陥を検出することが可能となる。 - 特許庁

The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect.例文帳に追加

検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。 - 特許庁

In this constitution, the unit 107 and the defect detection means 108 are moved to different positions in the generatrix direction of the photoreceptor 101 to be able to simultaneously operate the surface potential measuring means 106 and the defect detection means 108.例文帳に追加

この構成により、ユニット１０７及び欠陥検出手段１０８を感光体１０１の母線方向において互いに異なる位置に移動させ、表面電位測定手段１０６及び欠陥検出手段１０８を同時に動作させることが可能になる。 - 特許庁

To provide an evaluating method of a minute defect in a silicon wafer that can detect the minute defect that is smaller than the detection lower limit of a light scattering type surface inspection apparatus on a silicon wafer surface that is smoothed by mirror machining, and can further detect the minute defect that exists not only on the wafer surface but also inside a wafer surface layer that influences the performance of a device formed on the wafer surface.例文帳に追加

鏡面加工により平滑化されたシリコンウエハ表面において、光散乱式表面検査装置の検出下限界よりも小さいサイズの微小欠陥を検出することができ、しかも、ウエハ表面だけでなく、その上に形成されるデバイスの性能に影響を及ぼすウエハ表層内部に存在する微小欠陥をも検出することができるシリコンウエハの微小欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁

A known standard defect 9 is provided in a sample 2, the defect appearing on a surface of the sample 2 is detected, and prescribed processing recipe evaluation information that varies in response to difference in a processing recipe used in the prescribed production process is acquired, based on a detection result of the standard defect 9.例文帳に追加

試料２に既知の標準欠陥９を設けて、試料２の表面に現れる欠陥を検出し、所定の製造プロセスで使用された処理レシピの相違に応じて変化する所定の処理レシピ評価情報を、標準欠陥９の検出結果に基づいて取得する。 - 特許庁

A defect inspection method for inspecting the defect of the surface of a sample, includes the step of detecting the defect by addition processing of a detecting signal in which the amount of the misalignment of a pixel of detection signals calculated by comparing the distribution of Haze signal and predetermined light quantity distribution is corrected.例文帳に追加

試料の表面の欠陥を検査する欠陥検査方法であって、Ｈａｚｅ信号の分布と予め定めた光量分布とを比較して算出した検出信号の画素ずれ量を補正した検出信号を加算処理して欠陥を検出する工程を有する欠陥検査方法。 - 特許庁

To provide a method for detecting a defect and a defect detection device in a continuously cast slab for a thin steel sheet which can estimate and detect a cracking defect generated on the surface of a slab to be formed into the stock of a continuously cast thin steel sheet with high accuracy in a stage directly after casting.例文帳に追加

連続鋳造した薄鋼板の素材となる鋳片（スラブ）表面に発生した割れ性の欠陥を、鋳造特後の段階で、精度よく予測し、検出することが可能な薄鋼板用の連続鋳造鋳片の欠陥検出方法と欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting a defect of a steel plate surface, capable of detecting a defective part (abnormal part), while suppressing over-detection/un-detection, when inspecting a steel plate as a subject having large variations in a surface property, including a color tone.例文帳に追加

色調まで含め、表面性状変動が大きい鋼板を検査対象にして、過検出・未検出を抑えた、欠陥部（異常部）の検出を行うことができる、鋼板表面欠陥検査方法および装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To accurately and efficiently detect only a surface defect such as small irregularities and projections without erroneous detection even if there are contamination, stain, and dust on a surface to be inspected of a body.例文帳に追加

被検査体の被検査面に、汚れ、しみ、埃等があったとしても誤検出することなく、微小な凹凸や突起などの表面欠陥のみを精度よく、高能率に検出することができる。 - 特許庁

To adjust automatically a threshold of defect determination corresponding to characteristic fluctuation of a pattern image detection part 110 or individual dispersion of a surface characteristic of a wafer 6 to be inspected.例文帳に追加

パターン画像検出部１１０の特性変動や被検査ウェーハ６の表面特性の個体ばらつきに応じて、欠陥判定のしきい値を自動的に調整する。 - 特許庁

To provide a technology for detecting defects with high accuracy, or a technology for supporting defect detection, regardless of a surface shape of an inspection object to be subjected to visual inspection.例文帳に追加

外観検査を行う検査対象の表面形状によらず、高い精度で欠陥を検出する技術または欠陥の検出を支援する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method capable of detecting defects with high accuracy, without having to require time or effort in setting filters, even when an object to be inspected is a complex structural surface.例文帳に追加

複雑な構造面を検査対象とする場合であっても、フィルタ設定に手間が掛からず、欠陥を高精度に検出可能な欠陥検出方法の提供。 - 特許庁

To provide a surface defect inspecting apparatus dispensing with the coordinates convertion in a detection system with respect to a rotationally symmetric object and capable of easily performing inspection.例文帳に追加

回転対称な対称物に対して検出系での座標変換を不要とし、検査を容易に行うことを可能とした表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In the induction current detection type defect detection process, the surface of the electrophotographic photoreceptor and at least one detection electrode are relatively moved, an induction current is generated at least on one detection electrode by a potential change on the surface of the electrophotographic photoreceptor, and by detecting the induction current, the defective part of the electrophotographic photoreceptor is detected.例文帳に追加

誘導電流検出式欠陥検出工程は、電子写真感光体の表面と少なくとも１つの検知電極とを相対的に移動させ、電子写真感光体の表面の電位変化により少なくとも１つの検知電極に誘導電流を発生させ、誘導電流を検出することによって電子写真感光体の欠陥部を検出する。 - 特許庁

This defect detection method of the roller bearing by torque monitoring is a method for detecting a defect on either or both of the rolling contact surface of an outer ring and the roller in the roller bearing equipped with the outer ring and a plurality of rollers rolling along the rolling contact surface of the outer ring.例文帳に追加

この発明のトルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法は、外輪およびこの外輪の転走面を転動する複数のころを備えたころ軸受において、前記外輪の転走面およびころのいずれか一方または両方の欠陥を検出する方法である。 - 特許庁

To provide a practical method and device for detecting a small surface irregularity defect, capable of detecting surely a small concave and convex defect having a contour of the irregularity of several micrometers which is difficult to an automatic detection like the detection by a grinding stone, in an object to be inspected with a coarse surface roughness and a visual inspection which is usually difficult.例文帳に追加

表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認困難で、砥石がけ検査により検出しているような自動検出が困難な凹凸が数μm程度でなだらかな輪郭を持つ微小凹凸性疵を確実に検出できる実用的な微小凹凸表面欠陥の検出方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Preferably, a depth di from the surface 2 to the internal defect 5 or the buried body in the diagnosed portion 4 is calculated based on a concrete elastic characteristic v of the diagnosed portion 4 and a time ti from the detection of the surface wave 9 to the detection of the each elastic wave 10i.例文帳に追加

好ましくは、被診断部位４のコンクリート弾性特性ｖと表面波９の検出から各弾性波10iの検出までの時間tiとから被診断部位４における表面２から内部欠陥５又は埋設物までの深さdiを算出する。 - 特許庁

A focus deviation detection device according to the present invention detects the focus deviation of an imaging device in a surface defect inspection device inspecting surface defects based on image data that is produced by imaging the surface of a test subject being transported with the imaging device.例文帳に追加

本発明の焦点ズレ検出装置は、搬送される被検査体の表面を撮像装置により撮像した画像データに基づいて、表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、撮像装置の焦点ズレを検出する。 - 特許庁

To provide a polarizer plate lamination protection film facilitating detection of bright point defect caused by a polarizer plate and having no bright point defect even when flaws or the like adhere on a surface, and to provide a protection film lamination polarizer plate laminated with the protection film.例文帳に追加

偏光板起因の輝点欠陥検出を容易とし、また、表面に疵等が付着しても輝点欠陥となることがない偏光板積層用保護フィルム、およびその保護フィルムを積層してなる保護フィルム積層偏光板を提供する。 - 特許庁

In a defect inspection according to the magnetic powder flaw detection method for applying ultraviolet rays to a test piece 1 and emitting fluorescence by a crack defect 2a, the image of the surface of the test piece 1 is picked up by a color television camera 3 via an ultraviolet ray cut filter 5.例文帳に追加

ここでは、試験体１に紫外線を照明し、割れ欠陥２ａで蛍光を発光させる磁粉探傷法による欠陥検査であるが、かかる試験体１の表面を、紫外線カットフィルタ５を介して、カラーテレビカメラ３で撮像する。 - 特許庁

In the constitution, an AE sensor body 21 for detecting acoustic energy generated when pressurized gas sealed by contacting a detection surface 21a to a vessel surface 1a leaks from a small defect, and a holding means 22 to 25 for holding the AE sensor body 21 and uniformly contacting the detection surface 21a to the vessel surface 1a are provided.例文帳に追加

検出面２１ａを容器表面１ａに接触させて封入した加圧気体が微細欠陥から漏洩するときに発生する音響エネルギを検出するＡＥセンサ本体２１と、ＡＥセンサ本体２１を保持し、検出面２１ａを容器表面１ａに均一に接触させる保持手段２２〜２５とを備えた構成としたものである。 - 特許庁

In the reflection light detection type defect detection process, the surface of the electrophotographic photoreceptor is irradiated with light, reflection light reflected by the electrophotographic photoreceptor is received by a light receiving means and the defective part of the electrophotographic photoreceptor is detected.例文帳に追加

反射光検出式欠陥検出工程は、電子写真感光体の表面に光を照射し、電子写真感光体で反射される反射光を受光手段で受光して電子写真感光体の欠陥部を検出する。 - 特許庁

When an optical disk 1 which serves as the information recording medium is inserted, a control unit having a CPU controller 11 as the main component judges whether the optical disk 1 needs defect detection depending on whether defect detection (verification) of the optical disk 1 has been finished and, if the verification has not been finished, the whole surface of the optical disk 1 is formatted and verified.例文帳に追加

情報記録媒体である光ディスク１が挿着されたとき、ＣＰＵコントローラ１１を中心とする制御部によって、その光ディスク１が欠陥検出（ベリファイ）済みか否かによって欠陥検出の要否を判定し、ベリファイ済みでなければ光ディスク１の全面をフォーマットした後ベリファイする。 - 特許庁

To provide an eddy current examination method and an eddy current examination sensor capable of improving detection accuracy relative to a defect having a possibility of existing on the inspection surface of a work.例文帳に追加

ワークの被検査面に存在し得る欠陥に対する検出精度を向上させることができる渦流探傷方法、渦流探傷センサを提供することを課題とするにある。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a reflection type mask blank that can eliminate a decrease in yield due to discrepancy between the detection limit of a defect on a substrate surface and a demand for the number of defects of an EUV mask blank.例文帳に追加

基板表面の欠点の検出限界と、ＥＵＶマスクブランクの欠点数に関する要求とのずれによる歩留りの低下を解消することができるマスクブランクの製造方法。 - 特許庁

The apparatus 100 detects a defect on the surface of the semiconductor chip 1 from the input image signal, and determines based on a result of detection whether or not the semiconductor chip is defective.例文帳に追加

画像処理／制御装置１００は、入力した画像信号から半導体チップ１の表面の欠陥を検出し、検出結果に基づいて半導体チップの合否を判断する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting an external form of a lumber product, capable of automating a sensor-based detection of a defect of a surface-machined lumber product and improving production efficiency.例文帳に追加

表面が加工された製材品の欠陥部をセンサによって検出して自動化を図り、生産効率を高めるようにした製材品の外形検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁