「system test time」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a flash memory test system shortening a test time and an electric test method using that.例文帳に追加

検査時間を短縮するフラッシュメモリテスタ及びこれを利用した電気的検査方法を提供する。 - 特許庁

REAL TIME AUTOMATIC MONITORING CONTROL SYSTEM FOR SPACE FLYING BODY TEST例文帳に追加

宇宙飛翔体試験リアルタイム自動監視制御システム - 特許庁

To provide an LSI test system capable of shortening the measurement time.例文帳に追加

測定時間を短縮できるＬＳＩテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a sensor which shorten time required for a test in a test unit even if time is required for the test of a sensor in a test system.例文帳に追加

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供する。 - 特許庁

SOUND OUTPUT CONFIRMATION TEST SYSTEM IN TIME SIGNAL GUIDE SERVICE例文帳に追加

時報案内サービスシステムにおける音声出力確認試験方式 - 特許庁

To provide a data transmission system test device that can accurately conduct testing by using time information.例文帳に追加

時刻情報を用いた試験を正確に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a test device, a test system, and a test method which are capable of shortening a test time by solving at least a part of the various problems in a conventional multi-site test or concurrent test.例文帳に追加

従来のマルチサイト・テストやコンカレント・テストにおける各種の問題点の少なくとも一部を解決し、テスト時間の短縮を図ること等ができる、テスト装置、テストシステム、及びテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test device capable of shortening a processing time of a whole system.例文帳に追加

システム全体の処理時間を短縮できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test system, a test method and a sensor, allowing reduction of a time required for a test of a tester even when requiring a time for a test of the sensor, especially allowing confirmation of whether or not the sensor normally operates even without performing the sensitivity test of the sensor.例文帳に追加

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a vehicle evaluation test system, and a vehicle evaluation test method for accurately and inexpensively attaining vehicle evaluation test, in a short time.例文帳に追加

高精度、短時間、低コストで車両評価試験を実現する車両評価試験システム、車両評価試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an air-tight test system capable of efficiently performing air-tight test by shortening the time required to air-tight test of gas-holders.例文帳に追加

ガスタンクの気密試験に要する時間を短縮して、気密試験を効率的に行うことができる気密試験システムを提供する。 - 特許庁

In a test-burn-in system, 24 test boards are sequentially processed having time difference, and the test boards circulate.例文帳に追加

テストバーンイン装置において、２４枚のテストボードは順次時間差を持って処理されることになり、各々のテストボードは１枚単位で循環する。 - 特許庁

To provide an indoor communication test system which allows a user to perform a communication test in a short time in a building.例文帳に追加

屋内にて短時間で通信試験を実施することが可能な屋内通信試験システムを提供する。 - 特許庁

The disk access system, the length of test data and the data pattern are set as parameters at the time of performing the operation test.例文帳に追加

動作テストを行う際のパラメータとして、ディスクアクセス方式、テストデータ長及びデータパターンを設定させる。 - 特許庁

To require neither a long time nor much trouble to test a multiplex computer system.例文帳に追加

多重化計算機システム試験に多くの時間と人手が係らないようにする。 - 特許庁

To provide a test information processing system, test information processing method, and test information processing program capable of accessing test information stored in a data base in a short time and of easy altering test specifications.例文帳に追加

データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a sound output confirmation test system in a time signal guide system that can quickly confirm and test a sound output of a time signal guide service in spite of an inexpensive configuration.例文帳に追加

時報案内サービスの音声出力を安価な構成で迅速に確認試験できる時報案内サービスシステムにおける音声出力確認試験方式を提供する。 - 特許庁

In devices E, F, a test time T1 of a time series 361 is set in a test mode, while in devices A, B, C, D, a system time T0 of a time series 360 is set.例文帳に追加

装置Ｅ，Ｆは試験モードで、時刻系列３６１の試験時刻Ｔ１が設定されており、装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは時刻系列３６０のシステム時刻Ｔ０が設定されている。 - 特許庁

To provide a transmission characteristic test device for an analog subscriber circuit that can reduce the cost of a test system by decreasing number of test devices and conduct a test in the device of subscriber circuits so as to reduce the test time and to provide a transmission characteristic test method.例文帳に追加

計測器を削減することで試験システムを低価格化でき、かつ、複数の加入者回路単位で試験を行ない、試験時間を短縮できるアナログ加入者回路の伝送特性試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To improve the efficiency of debug by expanding a test function for a system test and accelerate the simulation execution time.例文帳に追加

システムテストのためのテスト機能を拡大しデバッグの効率を向上すると共に、シミュレーション実行時間を高速化する。 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor memory whose test cost can be reduced by shortening a test time after manufacturing and using an inexpensive test system.例文帳に追加

製造後のテスト時間を短縮し、また、安価なテストシステムを用いることにより、コストを低減できる不揮発性半導体メモリを提供すること。 - 特許庁

To provide a technique capable of shortening test time by shortening frequency switching duration of test signal in a test system for semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストシステムにおいて、テスト信号の周波数切り替え時間を短縮してテスト時間を短縮することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method or the like capable of shortening the execution time and starting time of a test more when a multi-processor system performs a test of a main memory more than when one processor performs the test.例文帳に追加

マルチ・プロセッサ・システムでメイン・メモリのテストを行う場合に、１つのプロセッサが行う場合に比べてテストの実行時間や起動時間を短縮可能な方法等を提供する。 - 特許庁

Consequently, as a test time can be shortened and a test can be performed by an inexpensive test system having no fail memory, a test cost of a non- volatile semiconductor memory can be reduced.例文帳に追加

この結果、テスト時間が短縮でき、また、フェイルメモリを持たない安価なテストシステムでテストを行うことが可能となるため、不揮発性半導体メモリのテストコストを削減できる。 - 特許庁

MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST SYSTEM, BASE STATION SIMULATOR, AND DELAY TIME MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

移動体通信端末試験システム、基地局模擬装置、及び遅延時間測定方法 - 特許庁

To realize stable operation by lightening a load for a measuring system at the time of a burn-in test or at the time of a stress test, and reducing a peak current, in a DRAM.例文帳に追加

ＤＲＡＭにおいて、バーンイン試験時又はストレス試験時での測定系の負荷を軽減し、ピーク電流を低減して、安定した動作を実現する。 - 特許庁

To shorten time of development and time of execution of a test in a static electric source current measuring test in a system LSI with a built-in processor.例文帳に追加

プロセッサーを内蔵するシステムＬＳＩにおいて、静止電源電流測定試験時の試験の開発時間と実施時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inter-station test performance method and system applied to ring network system, capable of reducing the test time of an inter-station test and continuing the present operating state of all the stations at the execution of the inter-station test.例文帳に追加

局間テストのテスト時間の短縮を可能とし、また局間テスト実行時に全局の現状運転状態を継続可能とするリング状ネットワークシステムにおける局間テスト実施方法及びシステムを得ること。 - 特許庁

To provide test data compression method applicable to System-on Chip (SoC) which can attain maximum compression, while shortening the test run time.例文帳に追加

試験実行時間を短縮するとともに最大圧縮を達成可能な、システムオンチップ（ＳｏＣ；System-on Chip）チップに適用可能なデータ圧縮方法を提供する。 - 特許庁

To minimize a memory test time of a file server and reduce a system boot time by performing a memory test during a system boot only on a memory capacity required for providing a file service.例文帳に追加

ファイルサービス提供に必要なメモリ容量のみをシステムブート時のメモリテスト対象とすることによって、メモリテスト時間を最少化し、ファイルサーバのシステムブート時間を短縮する。 - 特許庁

Accordingly, it is possible to shorten the design verification time, evaluation time and test time of a semiconductor integrated circuit in designing the system.例文帳に追加

したがって、システムを設計する際に、半導体集積回路の設計検証時間、評価時間および試験時間を短縮できる。 - 特許庁

To provide a processor, a memory test method, and a memory test system capable of an operation test of a built-in data memory by a passage similar to a case of making access to the built-in data memory at ordinary operation time (command executing time).例文帳に追加

通常の動作時（命令実行時）に内蔵データメモリにアクセスする場合と同様の経路により内蔵データメモリの動作テストが可能なプロセッサ、メモリテスト方法、メモリテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a deterioration test method and a deterioration test system capable of conducting a deterioration test in a shorter time and with high accuracy by performing position management of a laser focal point.例文帳に追加

レーザー合焦点の位置管理を行い、より短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験方法及び劣化試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a reproduction test service instrument for medical systems which specifies the causes of failures of medical systems in a short time and shortens an inconvenience period or system down time.例文帳に追加

医用システムの故障原因を短時間に特定し、不具合期間又はシステムダウンタイムを短縮すること。 - 特許庁

To provide a system and a method for testing which reduce a production test time for semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の生産試験時間を低減する試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

TEST FACILITY SYSTEM, TIME SYNCHRONIZING METHOD FOR APPLICATION SOFTWARE TO BE USED THEREFOR AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

試験設備システム及びそれに用いるアプリケーションソフトウェアの時刻同期方法並びにそのプログラム - 特許庁

To provide an acceleration sensor testing system and a testing method capable of shortening test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することができる加速度センサの試験装置および試験方法を実現する。 - 特許庁

To shorten largely a test time by improving an activation rate of a word line only at the time of a test of a row system without changing constitution of DRAM cores, in a DRAM-mixed logic LSI.例文帳に追加

ＤＲＡＭ混載ロジックＬＳＩにおいて、ＤＲＡＭコアの構成を変えることなく、ロウ系のテスト時のみワード線の活性化率を上げてテスト時間を大幅に短縮化する。 - 特許庁

A delay time measurement part 12 compares the time when a test signal is sent from a point A with the time when the test signal is received at a point B to measure the transmission delay time of a system 2 to be evaluated.例文帳に追加

遅延時間測定部１２によって，地点Ａから試験信号を送信した時刻と地点Ｂで試験信号を受信した時刻とを比較することにより評価対象系２の伝送遅延時間を測定する。 - 特許庁

To produce a mission data test pattern according to a satellite operation schedule of an actual satellite in order to perform a system test for simulating comprehensive real time treatment of a ground system.例文帳に追加

地上システムの総合的なリアルタイム処理を模擬したシステム試験を実施するため、実衛星の衛星運用計画に則したミッションデータ試験パターンを生成する。 - 特許庁

Following on execution of the test, this system stores as the test result the output time of each of the second images corresponding to each of the first images, or ranking of the order of output time of each second image which is sought for from the output time.例文帳に追加

テストの実行に伴い、各第１画像に対応した各第２画像の出力時間、又はそれから求められた各第２画像の出力時間順の順位、をテスト結果として記憶する。 - 特許庁

To reduce the size of a burn-in system used for performing a burn-in test on a semiconductor wafer, and to shorten the time required for the test.例文帳に追加

半導体のウエハにバーンインを実施するための半導体装置において、バーンイン装置の小型化、実施時間の短縮を目的とする。 - 特許庁

To make it possible in a test to analyze the image quality of a video signal outputted from a system in rear time while operating.例文帳に追加

被試験システムの稼動中に、このシステムからのビデオ信号の画像品質を実時間で分析する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING ACCEPTABILITY OF SIGNAL DATA COLLECTED FROM PROTHROMBIN TIME TEST STRIP例文帳に追加

プロトロンビン時間検査ストリップから収集した信号データのアクセプタビリティを決定するための方法及びシステム - 特許庁

To make fast a system which uses an LSI by providing a test circuit which adds no delay time.例文帳に追加

遅延時間を付加させることのないテスト回路を提供し、ＬＳＩを使用するシステムの高速化を図る。 - 特許庁