「system testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD CAPABLE OF EFFICIENTLY TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE WITH MANY PINS例文帳に追加

多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法 - 特許庁

It's just that everybody knows that if it weren't for you, the odin system would never have gone beyond the testing stage.例文帳に追加

みんなが知ってることよ あなた抜きでは・・・ odinシステムは実用化 されなかったって・・・ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

It's just that everybody knows that if it weren't for you, the odin system would never have gone beyond the testing stage.例文帳に追加

みんなが知ってることよ あなた抜きでは・・・ ODINシステムは実用化 されなかったって・・・ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide a testing system that can easily confirm the implementation status of test.例文帳に追加

試験の実施状況を容易に確認することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN, INFORMATION PROCESSOR, INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成方法、情報処理装置、集積回路試験システム、プログラム、記録媒体 - 特許庁

To provide a testing device for experimentally testing for a prescribed period operation of a power distribution system linking a distributed power source.例文帳に追加

分散型電源を連系した配電系統の運用を所定期間にわたり実験的に試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technology capable of reducing consumption of electric power, at the testing of semiconductor integrated circuit devices (LSIs), in a testing system for LSI.例文帳に追加

半導体集積回路装置（ＬＳＩ）のテストシステムにおいて、ＬＳＩテスト時の消費電流を低減することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system capable of also testing a perfect printed material having a backlit transmitted portion accurately, by eliminating the influence of the backlit transmitted portion.例文帳に追加

裏写りのある両面印刷物についても、裏写りの影響を除去して正確に検査することが可能な検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a DDR-SDRAM interface circuit in which the loop-back test can be more exactly performed, and its testing method and its testing system.例文帳に追加

ループバック試験をより正確に行うことが可能なＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、その試験システムを提供すること。 - 特許庁

A monitoring apparatus 101 is used in a testing system 501 in which a house side apparatus 202 and a station side apparatus 201 relay a plurality of testing frames and reporting frames transmitted from a testing apparatus 206 to the testing apparatus 206.例文帳に追加

モニタ装置１０１は、試験装置２０６から送信される複数の試験用フレーム、および報告用フレームが宅側装置２０２および局側装置２０１によって試験装置２０６へ中継される試験システム５０１において用いられる。 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING DEVICE OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, STANDARD CIRCUIT BOARD USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DC SYSTEM RELAY MEANS USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法と、半導体集積回路の試験装置と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いる標準回路基板と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いるＤＣ系中継手段 - 特許庁

A semiconductor testing system has: a semiconductor testing apparatus 1 for executing a predetermined test on a semiconductor device 11a; and a control apparatus 2 for setting testing conditions and instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test.例文帳に追加

半導体試験システムは、半導体デバイス１１ａに対して所定の試験を行う半導体試験装置１と、試験条件を設定するとともにこの試験の実行を半導体試験装置１に対して指示する制御装置２とを有する。 - 特許庁

To provide a game machine testing system capable of appropriately testing a game machine without greatly changing a hardware constitution of a conventional testing apparatus of game machines; and to provide a game machine.例文帳に追加

従来の遊技台の試験装置におけるハード構成を大幅に変更する必要がなく、遊技台の試験を的確に実施することができる遊技台試験システムおよび遊技台を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1 in an integral manner, and a redundancy system 20 which performs redundancy operations using the result of testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０とを備える。 - 特許庁

TESTING SYSTEM, CLIENT DEVICE AND RELAY DEVICE CONTAINED IN THE SYSTEM, TESTING METHOD FOR COMMUNICATIONS APPARATUS, AND PROGRAM PRODUCT FOR CAUSING COMPUTER TO FUNCTION AS CLIENT DEVICE OR RELAY DEVICE例文帳に追加

テストシステム、そのシステムに含まれるクライアント装置および中継装置、通信機器のテスト方法、ならびに、コンピュータをクライアント装置または中継装置として機能させるためのプログラム - 特許庁

To provide a semiconductor testing system capable of managing unitarily information of a cooling device provided in each semiconductor test unit, from a host computer for managing the semiconductor testing system.例文帳に追加

半導体試験システムを管理するホストコンピュータから、各半導体試験ユニットが備える冷却装置の情報を一元的に管理することを可能とした半導体試験システムを実現する。 - 特許庁

A method for testing a resuspending characteristic of the chemical dispersing agent includes a step of providing a testing device with a solution container, a drive system and a shaft.例文帳に追加

化学分散剤の再縣濁特性を試験する方法は、溶液収容容器、駆動システム及びシャフトを有した試験装置を提供するステップを含む。 - 特許庁

To provide a system and a method for testing an integrated circuit device by using electrostatic discharge testing of an electric transmission pathway and a device charged model.例文帳に追加

送電経路及びデバイス帯電モデルの静電気放電試験を用いて、集積回路デバイスを試験するためのシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a communication program testing method and a communication program testing system for performing the communication load test of a program by minimizing the consumption of the resource of a server.例文帳に追加

サーバのリソースの消費を最小限にしてプログラムの通信負荷試験を行う通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing system of a device for driving loads that ensures prevention of the device for driving loads against damages in evaluation/testing stages, and to provide its control method.例文帳に追加

評価・試験段階において負荷駆動装置の破損を確実に防止する負荷駆動装置の試験システムおよびその制御方法を提供する。 - 特許庁

When the second testing device is connected to the system, this method includes the step of making the second testing device operational together with the above interface.例文帳に追加

第２の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第２の試験装置が前記インタフェースと共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁

A method of testing resuspension characteristics of a chemical dispersant includes the step of providing a testing apparatus having a solution containment vessel, a drive system, and a shaft.例文帳に追加

化学分散剤の再縣濁特性を試験する方法は、溶液収容容器、駆動システム及びシャフトを有した試験装置を提供するステップを含む。 - 特許庁

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.例文帳に追加

ウェハプローバが発信するロケーション・データをＩＣ試験装置が読み取り、ＩＣ試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するＩＣテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもＩＣ試験装置でそのロケーション・データを解読することができるＩＣテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a system for game machine testing which can properly perform a performance confirming test.例文帳に追加

好適に性能確認試験を行うことが可能な遊技機試験用システムを提供すること - 特許庁

To provide an accurate, reliable, and high-throughput flow cell system for solubility testing of compounds.例文帳に追加

正確で信頼性のある化合物のハイスループット溶解度測定用フローセルシステムを提供する。 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD FOR ELECTRONIC PART AND SYSTEM THEREFOR, AND ELECTRONIC PART MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電子部品の気密性の検査方法とこれに用いる装置、及び電子部品の製造方法 - 特許庁

To provide a system, an apparatus and a method for testing about a high-speed data transmission error.例文帳に追加

高速データ伝送エラーに関して試験するためのシステム、装置、及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a battery pack testing apparatus for preventing a reverse power flow to an incoming power supply system.例文帳に追加

受電電源系統への逆潮流を防止できる電池パックの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a network load testing system capable of improving the workability at job sites of measurements.例文帳に追加

測定現場での作業性を向上させることができるネットワーク負荷試験システムを提供する。 - 特許庁

The present invention provides an improved system for testing a tested object by an IC tester.例文帳に追加

本発明は、被試験対象をＩＣテスタにより試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a testing system capable of determining executable tests according to a tester state.例文帳に追加

測定器の状態に基づいて実行可能な試験を判断できる試験装置を提供する。 - 特許庁

After removing the measuring tool, the substrate is arranged on the chuck to be tested using a testing system.例文帳に追加

測定ツールを取り外した後、チャック上に基板を配置し、試験システムを用いて試験を行う。 - 特許庁

To provide a system and a method for testing which reduce a production test time for semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の生産試験時間を低減する試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

SOUND REPRODUCTION CONTROL APPARATUS, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SOUND REPRODUCTION EVALUATION SYSTEM AND TESTING METHOD OF SOUND REPRODUCTION DEVICE例文帳に追加

音再生制御装置、集積回路装置、音再生評価システム、音再生装置のテスト方法 - 特許庁

To provide an eddy current test system (5) and method for testing a constituting part (12).例文帳に追加

構成部品（１２）を検査するための渦電流探傷検査システム（５）及び方法を提供する。 - 特許庁

To enhance expandability of a parallel testing system by miniaturizing its entire configuration.例文帳に追加

並列試験システム全体の構成を小型にし、当該並列試験システムの拡張性を高める。 - 特許庁

To enable a semiconductor element to be efficiently manufactured in a multi-stage selecting system testing the wafers.例文帳に追加

ウェハテストによる多段階選別方式で効率的に半導体素子を製造できるようにする。 - 特許庁

ABSOLUTE HUMIDITY-BASED TEMPERATURE AND HUMIDITY ADJUSTING CONTROL SYSTEM AND TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

絶対湿度による温湿度調整コントロールシステム及び、該コントロールシステムを使用した試験装置 - 特許庁

To realize a memory test system which can improve throughput when testing a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスのテスト時のスループットを向上することのできるメモリテストシステムを実現すること。 - 特許庁

MICROBIOLOGICAL TESTING APPARATUS, TEST AND CULTURE SYSTEM INCLUDING THE SAME AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加

微生物学的試験装置、それを含む試験および培養システム、ならびにそれを使用する方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system capable of keeping confidentiality of test programs and test data.例文帳に追加

テストプログラムやテストデータの機密性を保持することが可能な半導体試験システムを実現する。 - 特許庁

To provide a game machine testing system which allows a performance test to be performed in a suitable form.例文帳に追加

好適な形で性能試験を行うことが可能な遊技機用試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a circuit board module automatic testing system capable of preventing surely damage of a circuit board module.例文帳に追加

確実に回路板モジュールの損傷を防ぐ回路板モジュール自動試験システムを提供する。 - 特許庁

FUEL CELL TESTING SYSTEM AND CONTROL METHOD OF CONTROLLING CONTROLLABLE CONDITION OF FUEL CELL例文帳に追加

燃料電池を試験するシステムおよび燃料電池の制御可能な条件を制御する方法 - 特許庁

To provide an arrangement and alignment method of structured light system for carrying out optical gage testing of an object (A).例文帳に追加

物体（Ａ）を光ゲージ試験するための構造化光システムの配置及び位置合わせの方法。 - 特許庁