「test phase」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PHASE ADJUSTING CIRCUIT AND TEST DEVICE例文帳に追加

位相調整回路およびテスト装置 - 特許庁

TEST SUBSTRATE FOR BIOCHEMICAL TEST AND SOLID-PHASE CARRIER例文帳に追加

生化学的検査用の検査基板および固相担体 - 特許庁

We just released it in a test phase last month例文帳に追加

先月 試行版を発表しましたから - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

PHASE CALIBRATION METHOD FOR ATTENUATING PHASE-SHIFT MASK, TEST STRUCTURE AND SYSTEM例文帳に追加

減衰位相シフト・マスクの位相較正の方法、試験構造、およびシステム - 特許庁

TEST APPARATUS, PHASE ADJUSTMENT METHOD AND MEMORY CONTROLLER例文帳に追加

試験装置、位相調整方法、及びメモリコントローラ - 特許庁

Each test cycle includes a functional phase 315, a scan moving phase 320, and a hold phase 325.例文帳に追加

テストサイクルの夫々は、機能フェーズ３１５と走査移動フェーズ３２０とホールドフェーズ３２５とを含む。 - 特許庁

In the next phase, you test to see if the drug's effective例文帳に追加

次の段階は 薬の有効性を見るテストです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TESTING DEVICE, AND VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TEST METHOD例文帳に追加

気液二相流模擬試験装置および気液二相流模擬試験方法 - 特許庁

And in the third phase, you actually test it on a very large sample例文帳に追加

そして 第3段階で かなり大きなサンプルでテストします - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide a semiconductor device including a test circuit following a desired phase during a test to test a DDRif inexpensively.例文帳に追加

テスト中に所望の位相に対して追随できるテスト回路を備え、安価にDDRifのテストを行うことを目的としている。 - 特許庁

A phase connecting test means 11 inputs a phase image signal 1, a test area size signal 4 and a phase threshold signal 5, performs a test to decide whether a phase difference is less than its threshold in a test range and outputs a connectable pixel group as a connectable mask image signal 2.例文帳に追加

位相接続テスト手段11は、位相画像信号1とテスト領域大きさ信号4、位相閾値信号5を入力しテスト領域内での位相差が閾値以内であるか否かのテストを実行し接続が可能な画素群を接続可能マスク画像信号2として出力する。 - 特許庁

A test pattern generated by a test pattern generating circuit 13 is recorded on a phase transition recording disk 1.例文帳に追加

相変化記録ディスク１にテストパターン発生回路１３によって発生されたテストパターンが記録される。 - 特許庁

The power supply line 9 connected to the zero-phase current transformer 2 is also used in common with a test circuit 10 connected to the zero-phase current transformer 2 for shielding test.例文帳に追加

零相変流器２に通す電源線９を、遮断テストをする為に零相変流器２に通したテスト回路１０と共用させた。 - 特許庁

PHASE SHIFT MEASUREMENT DEVICE FOR SPREAD CODE IN MOBILE TERMINAL TEST DEVICE例文帳に追加

移動端末試験装置における拡散コードの位相ずれ測定装置 - 特許庁

This device is provided with an amplifier inputting an output from the test object, turning a phase of noise in the test signal into an opposite phase, and using an output as an output of the test object.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の出力を入力し、試験信号のノイズを逆位相にし、出力を被試験対象の出力とするアンプを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To speedily and accurately verify phase test by bringing a main circuit into a final state of connection and automating phase test processes.例文帳に追加

主回路を最終の接続状態にした上で検相工程を自動化することにより、検相確認を迅速にかつ正確に行えるようにする。 - 特許庁

To provide an earth leakage breaker capable of operating its test circuit even if an optional line of three-phase AC power feed lines is used as a single-phase line.例文帳に追加

三相交流電路のどの電路を単相電路として使用してもテスト回路が動作するようにする。 - 特許庁

To measure banding frequency, phase and/or amplitude by using a single test pattern.例文帳に追加

単一のテストパターンを用いてバンディング周波数、位相および／または振幅を測定する。 - 特許庁

For other chemicals, the test atmosphere may consist of a vapor which is near the gaseous phase.例文帳に追加

また、他の化学品では、試験雰囲気がほぼ気体相に近い蒸気であることもある。 - 経済産業省

When an electric wire 6a of a test circuit 6 is inserted into a zero-phase current transformer 1, an insertion direction is prescribed so that a phase of current to flow in the electric wire and an anode voltage phase of current of the thyristor 10 become to have the same phase.例文帳に追加

テスト回路６の電線６ａを零相変流器１に挿通する際、電線に流れる電流位相と、サイリスタ１０のアノード電圧位相が同相になるよう挿通方向を規定した。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING SUBSTANCE TO BE DETECTED ON POROUS SOLID-PHASE LIGAND MEASURING TEST PIECE例文帳に追加

多孔質固相リガンド測定試験片上における被検物質の定量法および装置 - 特許庁

A test processing unit 202 for detecting failures in a high-speed phase circuit 210 is built in a device.例文帳に追加

高速位相回路部２１０の不良を検出するテスト処理部２０２をデバイスに内蔵させる。 - 特許庁

A tune system acquires response data such as a gain and a phase in response to the test signal.例文帳に追加

テスト信号に応答して、同調システムは利得および位相のような応答データを取得する。 - 特許庁

The semiconductor device includes: a DLL 200 determining a phase shift amount; an arithmetic circuit 300 for shifting the phase by a prescribed phase during the test mode; registers 11 to 16 setting the phase shift amount; and a transmission circuit 10 transmitting and receiving a signal by shifting the phase to a set phase.例文帳に追加

本発明における半導体装置は、位相シフト量を決定するDLL２００と、テストモード時に所定位相ずらす演算回路３００と、位相シフト量を設定するレジスタ１１〜１６と、設定した位相にシフトして信号の送受信を行う伝送回路１０とを備える。 - 特許庁

In an embodiment, a first phase difference is the difference between the phase of the output 52 of a test interferometer at the time t and the phase of the output of a test interferometer at a time offsetting the known delay of a reference interferometer from the time t.例文帳に追加

１実施形態では、第１の位相差は、時間ｔにおける試験干渉計の出力(52)の位相と、時間ｔから基準干渉計の既知の遅延だけオフセットした時間における試験干渉計の出力の位相との差である。 - 特許庁

When a switching element 28 is put into an ON state by a control signal from a control section 14, test current is supplied to the test line 26 for making the test current flow from a power supply 27 for test to the primary side of the zero-phase current transformer 24.例文帳に追加

制御部１４からの制御信号により、スイッチング素子２８がオン状態になると、テスト用電源２７から零相変流器２４の一次側にテスト電流を流すためのテストライン２６にテスト電流が供給される。 - 特許庁

An absolute value of a phase difference between the first test sound and the second test sound in an assumed listening position is calculated (step S23).例文帳に追加

これらの検出結果に基づいて、想定聴取位置における第１テスト音声と第２テスト音声との位相差の絶対値を算出する（ステップＳ２３）。 - 特許庁

A splittable solid-phase carrier with a biochemical substance fixed to its fixation face is split to obtain the test substrate.例文帳に追加

生化学物質を固定面に固定した分割可能な固相担体を分割して検査基板を得る。 - 特許庁

To inspect a phase follow-up function of a CDR circuit in a serial interface circuit by a loopback test.例文帳に追加

シリアルインタフェース回路におけるＣＤＲ回路の位相追従機能を、ループバックテストによって検査する。 - 特許庁

Phase changes that are caused by the DUT are determined by measuring the phase differences between modulation sidebands of the test portion of the local oscillator signal.例文帳に追加

DUTによって引き起こされる位相変化は、局部発振器信号のテスト部分の変調側波帯間の位相差を測定することによって決定される。 - 特許庁

In another embodiment, the method of patient evaluation includes a process for performing an exercise test including an exercise phase and a recovery phase on the patient.例文帳に追加

別の実施形態では、患者を評価するための方法は、患者に対してエクササイズフェーズ及び回復フェーズを含むエクササイズ検査を実施する工程を含む。 - 特許庁

A test signal generating section 12 and a test signal switching section 13 divides a plurality of speakers into two groups of speakers, and supply test signals having two phase signals, i. e. positive and negative to two speakers in each group.例文帳に追加

試験信号発生部１２および試験信号切換部１３は、複数のスピーカを２個のスピーカの組に分け、各組における２個のスピーカに対し、正逆２相の試験信号を供給する。 - 特許庁

To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.例文帳に追加

ＰＬＬ回路等を含むＬＳＩ中のデータ出力回路に対する自動テスト装置（ＡＴＥ）を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁

A parameter calculating means 22 calculates parameters necessary for generating a test signal of designated phase noise characteristics R, and outputs a test signal St of the phase noise characteristics generated, based on its parameter from a test signal generating means 23.例文帳に追加

パラメータ算出手段２２は指定された位相雑音特性Ｒの試験信号を生成するために必要なパラメータを算出して、試験信号生成手段２３からそのパラメータに基づいて生成された位相雑音特性の試験信号Ｓｔを出力させる。 - 特許庁

Then, density information of the plurality of test patches is detected by a density sensor 41, and the phase of the density unevenness is obtained based on detection results (density information) of the plurality of test patches as well as based on a phase difference corresponding to a test patch whose density unevenness is a predetermined value in amplitude.例文帳に追加

そして濃度センサ４１による複数のテストパッチの濃度情報を検出し、複数のテストパッチの検出結果（濃度情報）と、そのうち濃度ムラの振幅が所定の振幅であるテストパッチに対応する位相差と、に基づき濃度ムラの位相を求める。 - 特許庁

To perform a high voltage insulation test of a two-phase output transformer in a two-phase output inverter transformer circuit in the completely same state as an actual operation state by one time test, concerning a high voltage insulation tester.例文帳に追加

高電圧絶縁試験器に関し、２相出力インバータトランス回路に於ける２相出力トランスの高電圧絶縁試験を実働状態と全く同じ状態で、しかも、１回の試験で検査できるようにする。 - 特許庁

A plurality of test patches each including a dark and light image which has density unevenness of a predetermined period is formed, wherein the plurality of test patches are differentiated in phase difference relative to a phase of density unevenness induced by rotational unevenness occurring at a predetermined period in a motor for driving a photosensitive drum.例文帳に追加

感光ドラムを駆動するモータの所定周期の回転ムラに起因した濃度ムラの位相に対して、各々異なる位相差を持つ所定周期の濃淡画像である複数のテストパッチを形成する。 - 特許庁

To obtain a leakage relay that performs leakage test without winding a test winding around a zero-phase current transformer and can detect disconnection from the zero-phase current transformer or a missing line without increasing the circuit scale.例文帳に追加

零相変流器にテスト巻線を巻回することなく、漏電テストが行えるとともに、回路規模をアップさせることなく、零相変流器との断線あるいは欠線を検出することができる漏電リレーを得る。 - 特許庁

To obtain a VCO phase test circuit capable of easily measuring and evaluating a phase difference between output clock signals in a VCO having multi-phase outputs by using a simple tool or measuring instrument.例文帳に追加

簡便な冶具や計測器を用いて多相出力を有するＶＣＯにおける出力クロック信号間の位相差を容易に測定、評価することができるＶＣＯ位相テスト回路を実現する。 - 特許庁

In order to increase throughput of the testing station, several test cycles are operated simultaneously in a phase-shifted manner.例文帳に追加

試験ステーションのスループットを高めるために、幾つかの試験サイクルを、段階をずらして同時に実行させる。 - 特許庁

The phase shift is detected by measuring an interval between clock pulses input in the toner concentration sensor 26 from the YMCK test patches.例文帳に追加

ＹＭＣＫのテストパッチから２６に入力するクロックパルスの間隔を計測して位相ずれを検知する。 - 特許庁

A modulated test optical-signal is converted into an intensity modulation from a phase modulation by a delay interferometer 107.例文帳に追加

変調された試験光信号を、遅延干渉計１０７により位相変調から強度変調に変換する。 - 特許庁

To easily test variation of the phase difference of a write clock signal or read clock signal from a dual port memory.例文帳に追加

デュアルポートメモリに対してライトクロック信号やリードクロック信号の位相差の変動を容易にテストできるようにする。 - 特許庁

A phase difference derived from a phase difference between test and reference surfaces is distinguished from that derived from a spatial path difference between reference and test beams by performing measurement at different wavelengths, because these phase differences change in different ways as the measuring wavelength changes.例文帳に追加

試験表面と参考表面の間の反射位相差由来の位相差は異なる波長での測定を行うことで参考光束と試験光束の間の空間経路差に由来する位相差と区別され、なぜならそれらは測定波長変化に伴い異なった変化を示すためである。 - 特許庁

A clock generating circuit includes a clock-generating unit 20 for generating a plurality of clocks having predetermined phase differences, respectively, from the phase of a reference clock; and a self-test circuit BIST for measuring phase differences of a pair of clocks whose phases are adjacent, among the plurality of clocks, respectively, in an operation test.例文帳に追加

クロック生成回路は，基準クロックの位相に対して所定の位相差をそれぞれ有する複数のクロックを生成するクロック生成ユニット２０と，動作テストのときに，複数のクロックのうち位相が隣接する１対のクロックの位相差をそれぞれ測定するセルフテスト回路ＢＩＳＴとを有する。 - 特許庁