field defectとは 意味・読み方・使い方

MAGNETIC FIELD VISUALIZING APPARATUS, INSPECTING APPARATUS, VISUALIZING METHOD AND DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

磁界の可視化装置、検査装置、可視化方法および欠陥の検出方法 - 特許庁

When a plurality of defect candidates are detected by a first automatic inspection, the distance between the defect candidates is calculated, a defect candidate existing within a fixed distance determined by a visual field size and magnification are grouped as a group of defect candidates, and a visual field position is determined for performing a second inspection so that all defect candidates included one group of defect candidates enter one visual field.例文帳に追加

第１の自動検査により欠陥候補が複数検出された際に、欠陥候補間の距離を計算し、視野サイズや倍率から決められる一定距離以内に存在する欠陥候補をひとつの欠陥候補群としてグルーピングし、一の欠陥候補群に含まれる全ての欠陥候補が一視野に入るように視野位置を決めて第２の検査を行うようにする。 - 特許庁

This defect detection device is constituted by using the dark field illumination device.例文帳に追加

また、このような暗視野照明装置を用いて、欠陥検出装置を構成する。 - 特許庁

The surface defect detecting method and device is constituted so that whether it is defect or not is discriminated by using an optical system constituted of a belt like light source 1 used for both dark field lighting and bright field lighting and a light receiving element 3 for detecting the defect in the dark field and bright field and comparing the taken image with a prescribed value.例文帳に追加

暗視野照明及び明視野照明を兼用する帯状光源１と、暗視野及び明視野で欠陥を検出する受光素子３とから構成した光学系を用い、取り込んだ画像を所定値と比較して欠陥か否かを判定するようにした表面欠陥検出方法及び装置。 - 特許庁

To provide a dark field illumination device and a defect detection device capable of observing and detecting a defect in preferable conditions by a simple adjustment corresponding to the kind of an inspection sample or the direction of the defect.例文帳に追加

検査試料の種類や欠陥の方向に応じて、簡単な調整でその欠陥を好条件で観察、検出できる暗視野照明装置、及び、欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

The picture element defect is moved into the visual field of the magnifying lens 11 in accordance with the approximate picture element defect coordinate determined by this picture element defect position instruction device 25 and the exact coordinate position is measured.例文帳に追加

絵素欠陥位置指示装置２５を用いて求めた概略絵素欠陥座標に基づいて拡大レンズ１１の視野内に絵素欠陥を移動させ、正確な座標位置を測定する。 - 特許庁

Prior to correction of defect, a stage 2 moves a substrate 1 two-dimensionally to a position where the defect are put in the visual field area of an objective 14.例文帳に追加

欠陥の修正が行われる前に、ステージ２は、欠陥が対物レンズ１４の視野領域に入る位置に基板１を二次元移動する。 - 特許庁

A computer 18 determines the existence of the defect of the sample on the basis of acquired magnetic field distribution data.例文帳に追加

コンピュータ１８は、取得された磁場分布データに基づいて、試料の欠陥の有無を判定する。 - 特許庁