「"基準マーク"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

基準マークの形成方法例文帳に追加

METHOD OF FORMING FIDUCIAL MARK - 特許庁

基準マーク形成装置、該基準マーク形成装置を備えた記録装置例文帳に追加

REFERENCE MARK FORMING DEVICE AND RECORDING APPARATUS PROVIDED WITH THE REFERENCE MARK FORMING DEVICE - 特許庁

基準マーク位置検出装置および基準マーク位置検出プログラム例文帳に追加

REFERENCE MARK POSITION DETECTOR AND REFERENCE MARK POSITION DETECTION PROGRAM - 特許庁

基板Ｓに所定径の第１基準マークＰ１、第３基準マークＰ３および第４基準マークＰ４とこれら基準マークＰ１、Ｐ３、Ｐ４より大きい径の第２基準マークＰ２とを形成する。例文帳に追加

The substrate S is formed with a first reference mark P1, a third reference mark P3 and a fourth reference mark P4 each having a predetermined diameter and a second reference mark P2 having a larger diameter than the above reference marks P1, P2, P4. - 特許庁

基準マークでないものが基準マークとして誤認識される場合でも正しい基準マークの位置を取得する。例文帳に追加

To acquire a position of a correct reference mark even in the case that a mark which is not the reference mark is erroneously recognized as the reference mark. - 特許庁

基準マーク検出方法、基準マーク検出装置及び光学式文字読取装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING REFERENCE MARK AND OPTICAL CHARACTER READER - 特許庁

部品実装用基準マーク登録装置及び部品実装用基準マーク登録方法例文帳に追加

REFERENCE MARK REGISTRATION DEVICE FOR COMPONENT MOUNTING AND REFERENCE MARK REGISTRATION METHOD FOR COMPONENT MOUNTING - 特許庁

まず基準マーク１を画像処理して、前記基準マーク１の位置データを求める（Ｓ２）。例文帳に追加

First, the reference mark 1 is image-processed to obtain the positional data of the reference mark 1 (S2). - 特許庁

基準マーク移動装置及び基板アライメント装置例文帳に追加

REFERENCE MARK MOVING APPARATUS AND SUBSTRATE ALIGNMENT APPARATUS - 特許庁

多層積層板の基準マークのＸ線検出方法例文帳に追加

X-RAY DETECTING METHOD FOR REFERENCE MARK OF MULTILAYER LAMINATED BOARD - 特許庁

基準マークの表示方法および作図装置例文帳に追加

DISPLAY METHOD AND DRAWING DEVICE FOR REFERENCE MARK - 特許庁

自動車走行用基準装置並びに基準マーク例文帳に追加

REFERENCE DEVICE AND REFERENCE MARK FOR AUTOMOBILE RUNNING - 特許庁

基準マーク体及びそれを有する露光装置例文帳に追加

REFERENCE MARK BODY AND ALIGNER HAVING THE SAME - 特許庁

その後、基準マーク１を消去する。例文帳に追加

Thereafter, the reference mark 1 is erased. - 特許庁

基準マークモデルテンプレート作成方法例文帳に追加

REFERENCE MARK MODEL TEMPLATE CREATING METHOD - 特許庁

検査対象物の基準マーク検査装置例文帳に追加

INSPECTION APPARATUS FOR REFERENCE MARK OF INSPECTION OBJECT - 特許庁

基準マーク検出部２７２は、印刷物画像データＤｐｄに対して基準マークｒｍを検出し、その位置データを生成する。例文帳に追加

A reference mark detection section 272 detects a reference mark rm relative to the printing matter image data Dpd and generates its position data. - 特許庁

基準マーク検出部２７２は、印刷物画像データに含まれる基準マークｒｍに対応する交点Ｐの位置を検出する。例文帳に追加

A reference mark detection section 272 detects the position of an intersection P corresponding to a reference mark (rm) included in the printed matter image data. - 特許庁

プリント配線板の基準マークが位置するはずの部分を基準マークカメラに対向する位置に移動させて撮像する。例文帳に追加

The part where the reference mark of the printed wiring board must be located is moved to a position facing a reference mark camera and imaged. - 特許庁

最初に加工すべき被加工領域に対応する基準マークの位置を計測し、基準マークの位置情報を記憶する。例文帳に追加

The position of the reference mark corresponding to the area to be machined is first measured, and positional information of the reference mark is stored. - 特許庁

更に第１の絶縁基板２２表面に基準マーク４２を形成しておき、基準マーク４２上方の第２の絶縁基板２３は開口しておく。例文帳に追加

Reference marks 42 are formed on the surface of the first insulating substrate 22, and parts of the second insulating substrate 23 on the reference marks 42 are opened. - 特許庁

保持部に着脱可能に保持され保持対象には、基準マーク１及び基準マーク２が附される。例文帳に追加

A reference mark 1 and a reference mark 2 are attached to the object to be held which is detachably attached to the holding part. - 特許庁

次に１８０度回転させた基準マーク２を画像処理して、基準マーク２の位置データを求める（Ｓ４）。例文帳に追加

Next, the reference mark 2 rotated by 180 degrees is subjected to image processing to obtain the positional data of the reference mark 2 (S4). - 特許庁

基準マーク二次信号の信号クロスは、基準マーク一次基準信号の信号クロスの空間的近傍で特定される。例文帳に追加

A signal cross of the reference mark secondary signal is identified in the spatial vicinity of the signal cross of the reference mark primary reference signal. - 特許庁

基準マークが検出されるまでマーク角検出部５１で画像イメージの走査を行うので、確実に基準マークを検出することができる。例文帳に追加

Since the picture image is scanned by the mark corner detecting part 51 until the reference mark is detected, the reference mark can be surely detected. - 特許庁

システム制御部１００は異常と判定した基準マークを使用せず、他の正常な基準マークを基準として画像を形成する。例文帳に追加

In a system control part 100, the image is formed, not using the reference mark which is decided as the abnormal one, but using other normal reference marks. - 特許庁

そして印刷済みの印刷用紙から前記基準マークが読み取られ、各基準マークの位置ズレ量が演算される。例文帳に追加

The mark is read from the printed sheet, and a positional deviation amount of each mark is calculated. - 特許庁

テンプレートで基準マークを選択してから短時間で基準マークの中心を検出することができるようにする。例文帳に追加

To allow the center of a reference mark to be detected soon after the reference mark is selected using a template. - 特許庁

印刷版の基準マーク及びこれを用いるアライメント方法例文帳に追加

REFERENCE MARK FOR PRINTING PLATE AND METHOD FOR ALIGNMENT USING THE SAME - 特許庁

基板ステージには基準マーク（第２マーク）ＳＭが設けられている。例文帳に追加

A base plate stage is provided with a reference mark (a second mark) SM. - 特許庁

別態様は、測定方向に平行に延びる２つの基準マークトラックがそれぞれ少なくとも１つの基準位置に基準マークを有し、基準マークが１つの軸に対して鏡面対称に測定方向に構成され、基準マークトラック間にインクリメンタル目盛トラックを配置する。例文帳に追加

In another embodiment, the two reference mark tracks extended in parallel to a measuring direction have the reference marks respectively in at least one-reference positions, the reference marks are constituted to be mirror-symmetric with respect to one axis, and the incremental scale track is arranged between the reference mark tracks. - 特許庁

それら複数の認識マークの位置データと複数の基準マークの正規の位置に関するデータとに基づいて、基準マーク選出部１００により、複数の認識マークの中から基準マークを選出することにより、正しい基準マークの位置が取得される。例文帳に追加

On the basis of the position data of the plurality of recognition marks and data relating to normal positions of the plurality of reference marks, by selecting the reference mark from the plurality of recognition marks by the reference mark selection part 100, the position of the correct reference mark is acquired. - 特許庁

作図用画面１４上に重畳させて、複数の基準マーク１６からなる基準マーク群２０を表示可能とするとともに、その基準マーク１６・１６間の間隔を十分大きく設定する一方、基準マーク群２０を全体として、作図用画面１４上で任意位置に移動可能とする。例文帳に追加

A reference mark group 20, consisting of a plurality of reference marks 16 can be displayed, while being superimposed on the image drawing screen 14, and a distance between the reference marks 16 and 16 is set sufficiently wide, while the reference mark group 20 can be moved as a whole to an optional position on the image drawing screen 14. - 特許庁

レベルゲージ、及びレベルゲージの基準マーク位置変更方法例文帳に追加

LEVEL GAUGE, AND REFERENCE MARK POSITION CHANGING METHOD FOR LEVEL GAUGE - 特許庁

レジスト基準マーク１２０は、下地基準マーク１１０上のレジスト膜１３４に形成され、下地基準マーク１１０と異なる寸法の矩形枠状に形成される。例文帳に追加

A resist reference mark 120 is formed in a rectangular shape of dimensions different from those of the ground reference mark 110 on a resist film 134 on the ground reference mark 110. - 特許庁

基準マークパターンに観察光を照射し、そこで反射された光を検出し、基準マークパターンの位置を求めるための基準プレートにおいて、基準マークパターンを観察光に直接曝されない位置に設ける。例文帳に追加

The reference plate for irradiating the observational light to a reference mark pattern, detecting the light reflected by it, and obtaining the position of the reference mark pattern is set to a place, where the reference mark pattern is not exposed directly to the observational light. - 特許庁

磁気サーボ位置復調器、磁気媒体で基準マークを判断する方法、基準マークを検出するための装置、および磁気媒体で基準マークを検出する方法例文帳に追加

MAGNETIC SERVO POSITION DEMODULATOR, METHOD FOR DETERMINING REFERENCE MARK BY MAGNETIC MEDIUM, DEVICE FOR DETECTING REFERENCE MARK, AND METHOD FOR DETECTING REFERENCE MARK BY MAGNETIC MEDIUM - 特許庁

パンチ基準マーク付加制御手段１２６２により、補正後の印刷用データにパンチ基準マークデータが付加された印刷版データに基づいてパンチ基準マークＰを含む印刷版が形成される。例文帳に追加

By a punch reference mark adding control means 1262, the printing plate, including a punch reference mark P, is formed on the basis of printing plate data in which the punch reference mark data are added to corrected printing data. - 特許庁

基準マーク発生器は、複数個の基準マークが方向Ｐ沿いに所定間隔をとりつつ発現するよう、複数個のユニークな基準マークからなる繰り返しパターンをウェブの一部Ｆに印刷する。例文帳に追加

In the fiducial marker, a repeated pattern comprising a plurality of unique fiducial marks is printed on a part F of the web, so that a plurality of fiducial marks appear at a predetermined interval along the direction P. - 特許庁

露光部４３０Ｋによって感光体４１０Ｋに基準マークＭ１、Ｍ２の書込が開始された時からマーク検知センサ５２０Ａ、５２０Ｂによって基準マークＭ１、Ｍ２が検知された時間を基準マークＭ１、Ｍ２について各々計測する。例文帳に追加

Time taken for mark detection sensors 520A and 520B to detect reference marks M1 and M2 from the time when an exposure section 430K starts writing the reference marks M1 and M2 on a photoreceptor 410K are clocked for the reference marks M1 and M2. - 特許庁

幅変更時には基準マークカメラにレール基準マーク２７０を撮像させ、可動ガイドレール１５６の現在の位置を検出し、その位置と目標位置とに基づいて得られる距離，方向へ可動ガイドレールを移動させ、レール基準マーク２７０の撮像に基づいて目標位置に停止させる。例文帳に追加

When the width is varied, the reference mark camera picks up an image of the rail reference mark 270, the movable reference guide rail 156 is moved by a distance and in a direction which are obtained according to the position and target position and stopped at the target position by picking up an image of the rail reference mark 270. - 特許庁

また、単色画像連続形成時の画像形成中は基準マーク検出手段３６をＯＦＦにし、画像形成終了後は基準マーク検出手段３６をＯＮにし、基準マーク検出に基づき中間転写ベルト２を所定位置で停止させる。例文帳に追加

In image formation in monochromatic image continuous formation, the reference mark detecting means 36 is turned OFF and after the image formation, the reference mark detecting means 36 is turned ON; and the intermediate transfer belt 2 is stopped at a specified position in response to the reference mark detection. - 特許庁

レーザにより穴６を加工してから、砥石４５により、基準マーク５の近傍を処理膜の厚さｔだけ研磨して基準マーク５の表面に形成された処理膜を除去し、基準マーク５の表面を地色の銅色にする。例文帳に追加

After boring holes 6 by the laser, and the vicinity of a reference mark 5 is polished by a thickness t of a treating film, using a grindstone 45, thereby removing the treating film formed on the surface of the reference mark 5 to make a Cu ground color appear on the surface of the reference mark 5. - 特許庁

カメラにより読取窓の両側部にそれぞれ設けた複数の黒色の基準マークを読取り、これら基準マークと当該基準マークの背景部の部分をヒストグラム化し、このヒストグラム化した値を基準値と比較し、その比較結果に基づきカメラのゲインを制御する。例文帳に追加

A camera is used to read a plurality of black reference marks respectively provided to both sides of a read window, the reference marks and parts of the background of the reference marks are expressed in a form of histogram, the histogrammed value is compared with a reference value, and the gain of the camera is controlled on the basis of a result of the comparison. - 特許庁

気圧の変動が生ずるとベースライン量を測定する際に用いられる基準板６の体積変化が生じ、この体積変化により基準板６に形成された基準マークの間隔（例えば、基準マーク７Ａ，７Ｂと基準マーク８との間隔）が変化してベースライン量の誤差が生ずる。例文帳に追加

When the atmospheric pressure varies, a volume of a reference plate 6 used in measuring the base line quantity changes, and as a result, an interval between reference marks (an interval between reference marks 7A and 7B and a reference mark 8, for example) formed on the reference plate 6 changes by the change in volume, causing a difference in the base line quantity. - 特許庁