「"後焦点"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

顕微鏡が像モードのとき、最終投影レンズの後焦点面は試料の回折図形を収容する。例文帳に追加

The back focal plane of the final projector lens contains the diffraction pattern of the sample when the microscope is in image mode.  - 科学技術論文動詞集

平行照射の最適な作動条件は、後焦点面を最終観察面に結ぶことによって確認できる。例文帳に追加

The optimum working condition for parallel illumination can be checked by imaging the back focal plane on the final viewing screen.  - 科学技術論文動詞集

位相のずれは、ゼルニケ位相板を対物レンズの後焦点面に挿入することによって作ることができる。例文帳に追加

Phase shifts can be produced by inserting a Zernike phase plate in the back focal plane of the objective lens.  - 科学技術論文動詞集

しかる後、焦点距離を最小焦点距離（ワイド端）まで１段ずつ変えながら、撮像動作と録画動作とを行う（ＳＡ１８〜ＳＡ２２）。例文帳に追加

Then photographing and video recording are conducted, while the focal distance is changed by each step, up to a minimum focal distance (wide end) (SA18-SA22). - 特許庁

レーザ光は凹レンズ２で発散され凸レンズ３によって超高開口数対物レンズ７の後焦点面に集束される。例文帳に追加

Laser beams are diverged through a concave lens 2, and then, converged on the back focal plane of a super high numerical aperture objective lens 7. - 特許庁

その後、焦点データ比較部４２６により選択された再生表示画像が、画像表示部４２２に再生表示される。例文帳に追加

The reproduction display image selected by the focus data comparing part 426 is then reproduced and displayed on an image display part 422. - 特許庁

しかる後、焦点距離を最大焦点距離（テレ端）まで１段ずつ変えながら、撮像動作と録画動作とを行う（ＳＡ１２〜ＳＡ１６）。例文帳に追加

Then photographing and video recording are conducted, while the focal distance is changed by every one step up to a maximum focal distance (telescopic end) (SA12-SA16). - 特許庁

リング形状の光はダイクロイックミラー５で反射され、後焦点面を通過して超高開口数対物レンズ７に入射し屈折する。例文帳に追加

Ring-shaped light is reflected by a dichromic mirror 5, transmitted through the rear focal face, and gets incident into the ultra-high aperture objective lens 7 to be refracted. - 特許庁

第１の反射ミラー３で任意の角度で反射されたレーザ光は、一対の凸レンズ１１，１２を通過することにより、その角度変化を保存したまま第２の反射ミラー５上の一点（後焦点位置Ｆ２）に入射する。例文帳に追加

The laser beam reflected at an arbitrary angle by the first reflecting mirror 3 is made incident on one point (back focal position F2) on the second reflecting mirror 5 by passing the pair of convex lenses 11, 12, at the angle unchanged. - 特許庁

以後、焦点調節状態の変更と画像処理とを交互に繰り返し、焦点調節状態が撮影に適した状態になったら焦点調節を停止する。例文帳に追加

Thereafter, the change of the focusing state and the image processing are alternately repeated and focusing is stopped when the focusing state becomes a state fit for photography. - 特許庁

対物レンズ後焦点面に配置された位相板による位相操作により、コントラスト伝達関数を奇関数化し、差分コントラスト像を得るようにしたものである。例文帳に追加

By phase manipulation with a phase plate placed on the rear focus surface of an object lens, a contrast transfer function is made an odd function, so as to obtain a differential contrast image obtained. - 特許庁

それぞれのレーザチップ４５〜４７から出射された光は、エッチドミラー４５−３で反射されて光路の方向が変えられた後、焦点距離２５ｍｍのコリメートレンズによって平行光となる。例文帳に追加

After the light made to exit from each laser chips 45 to 47 is reflected by an etched mirror 45-3 and the light path is changed in the direction, the light is collimated through a collimator lens of a 25 mm focal length. - 特許庁

この際、Ｘ線レンズ１０は、その前焦点Ｏ_1が試料２の表面に位置し、その後焦点Ｏ_2がＸ線レンズ１０と平板分光結晶４Ａ′の間に位置するように配置する。例文帳に追加

At this time, the X-ray lens 10 is arranged, in such a way that a front focus O1 of the X-ray lens 10 is located at the surface of the sample 2 and that its rear focus O2 is located between the X-ray lens 10 and the flat analyzing crystal 4A'. - 特許庁

レンズ２２の後焦点面に設けられているマスク２３は、空間光変調素子２１で発生した再生光のうち高次回折像を除去し、０次再生光のみを通過させる。例文帳に追加

The mask 23 provided on the rear focal surface of the lens 22 removes the high-order diffracted image out of reconstructed light generated in the spatial optical modulation element 21, and allows only zero-order reconstructed light to pass. - 特許庁

レンズ１２の後焦点面に設けられているマスク１３は、空間光変調素子１１で発生した再生光のうち高次回折像を除去し、０次再生光のみを通過させる。例文帳に追加

The mask 13 provided on the rear focal surface of the lens 12 removes the high-order diffracted image out of reconstructed light generated in the spatial optical modulation element 11, and allows only zero-order reproduced light to pass. - 特許庁

薄膜位相板は、レンズ後焦点面またはその後方にくるように配置され、帯電を防止するために顕微鏡使用前に電子線を大量に照射する。例文帳に追加

A thin film phase plate is arranged so that it is placed at the rear focal plane of the lens or behind it, and in order to prevent electrification, it is irradiated with an electron beam in a large quantity prior to the use of the microscope. - 特許庁

対物レンズ６の後焦点を含む所定の領域を通過する電子線と、前記所定の領域外の領域を通過する電子線との間に位相差を生じさせる位相板８を備える。例文帳に追加

This transmission electron microscope is provided with a phase plate 8 for generating a phase difference between an electron beam passing through a predetermined region including a rear focal point of an object lens 6 and an electron beam passing through a region excluding the predetermined region. - 特許庁

Ｘ線は立体角度ΔφでＸ線レンズ１０で収集され、Ｘ線レンズ１０の後焦点Ｏ_2に集光され、発散角度Δθ_2で平板型分光結晶４Ａ′に入射する。例文帳に追加

X-rays are collected at a solid angle Δϕ by the X-ray lens 10, condensed onto the rear focus O2 of the X-ray lens 10, and is made to be incident on the flat analyzing crystal 4A' at an angle Δθ2 of divergence. - 特許庁

発射された光線は平行に反射器３１の反射面３４を照射した後，焦点３５に集束し，更に積分器３３内に入射して均一化され，後続のオプチカルパスにおける処理に使用される。例文帳に追加

The light emitted irradiates the reflection surface 34 of the reflector 31 in parallel, and then converges on the focal point 36 and further enters an integrator 33 to be rendered uniform for use in the successive optical path. - 特許庁

レンズ鏡筒１は対物レンズ２、中間レンズ３、投影レンズ４、対物レンズ２の後焦点面に配置されたアパーチャー切替機構５、マルチチャンネルプレート６、蛍光板７を含む。例文帳に追加

The lens body tube 1 includes an objective lens 2, a middle lens 3, a projection lens 3, an aperture switching mechanism 5 arranged on a rear-focus face of the objective lens 2, a multi-channel plate 6, and a fluorescent screen 7. - 特許庁

スリット光はダイクロイックミラー５で反射され、後焦点面を通過して超高開口数対物レンズ７に入射し、屈折されてカバーガラス８上の細胞などの標本に達する。例文帳に追加

The slit light is reflected by a dichroic mirror 5, transmitted through the back focal plane, and then, made incident on the super high numerical aperture objective lens 7, then, refracted so as to reach the sample such as cells on a cover glass 8. - 特許庁

凸レンズ２２はリング形状にオン制御されるマイクロミラーからの反射光のみを通過させ、この通過光を超高開口数対物レンズ７の後焦点面に集束させるレンズである。例文帳に追加

A convex lens 22 is a lens for transmitting only reflected light from the micromirror on-controlled in the ring shape, and for converging transmitted light in a rear focal face of an ultra-high aperture objective lens 7. - 特許庁

１つの垂直照明光学系と複数の斜光照明光学系が設けられ、各照明光学系においては、光源１０からの光をレンズ系１１によってケーラー照明として、レンズ系１１の後焦点位置に置かれた被検固体撮像素子面を照射している。例文帳に追加

The lighting device is provided with one vertical lighting optical system and a plurality of oblique lighting optical systems, and in each lighting optical system, a light from a light source 10 uses a lens system 11 to be emitted to a face of a solid-state image pickup element 12 to be checked placed at a rear focal point of the lens system 11 as a Keller lighting. - 特許庁

シート切断ユニット１１は、シート束とレーザ発光装置１８との少なくとも一方を移動させてシート束の厚み方向の一部分を切断した後、焦点範囲Ｌの位置をシート束の厚み内の深い位置に変更する。例文帳に追加

In the sheet cutting unit 11, after cutting a portion in the thickness direction of the sheet bundle by moving at least either the sheet bundle or a laser beam emitting device 18, the position of the focal range L is changed to a deep position inside the thickness of the sheet bundle. - 特許庁

この構成では、接眼光学系２０′はレンズ２１のみから成り、このレンズ２１は、観察者（眼疾患者）の眼球Ｅの瞳孔中心や角膜白濁を生じていない箇所や人口瞳孔に後焦点が位置するように設けられる。例文帳に追加

In such constitution, the eyepiece optical system 20' comprises only a lens 21, which is provided in such a manner that its rear focus is positioned at the center of the pupil of observer's (eye disease patient's) eyeball E or a spot where cornea nebula is not caused or an artificial pupil. - 特許庁

野村證券の元社員によるインサイダー取引事件についてお聞きしたいのですが、先ほど容疑者が再逮捕されたということで発表があったようなのですけれども、事件に対する見方を改めてお聞きしたいということと、今後焦点の一つになると思われる会社の内部管理態勢について、行政として今後どのような基準で判断していくのかお聞きしたいと思います。例文帳に追加

Regarding the case of insider trading involving a former Nomura Securities employee, the re-arrest of the suspect was announced earlier today. Could you tell me again about how you view this case and what kind of criteria the FSA intends to use in evaluating the internal control system of companies- an issue that is expected to become a major focus of attention?  - 金融庁

電子レンズ１１１の後焦点面に形成される回折スポットのうち、試料１０４から垂直に反射される電子が形成する部分を遮蔽物１１７で遮蔽し、その他の反射電子線を検出器１１２で検出し、その積分強度を入出力装置１１５でモニタすることにより異物や欠陥の判定を行う。例文帳に追加

A portion where electrons reflected vertically from a sample 104 are formed is shielded by a shielding object 117, on a diffraction spot formed on a rear focal plane of an electron lens 111, and other reflected electron beams are detected by a detector 112, and its integration intensity is monitored by an input/output device 115, to thereby determine a foreign matter or a flaw. - 特許庁

スキャトロメータディテクタによって検出された、基板表面からの放射の生の後焦点面像データを使用して、生データ内のばらつきを確認し、生データのばらつきをリソグラフィ装置、または基板表面をパターニングしたプロセスにて起こり得る異常に関連付ける、異常検出／分類方法を開示する。例文帳に追加

An abnormality detection/classification method that checks dispersion in a raw data using a raw back-focal-plane image data of radiation from a substrate surface detected by a scatterometer detector, and associates the variation in the raw data that may possibly occur in the lithographic device or a fault that may possibly occur in a process where the substrate surface is patterned is disclosed. - 特許庁