1016万例文収録!

「でんかいこうかとらんじすた」に関連した英語例文の一覧と使い方(113ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > でんかいこうかとらんじすたに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

でんかいこうかとらんじすたの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5621



例文

また、駆動回路100は、マイコン151からの空打ち要求に際し、インジェクタ101〜104のソレノイド101a〜104aに流れる電流値に基づき、実際には燃料噴射を行わない程度に小さい電流域でトランジスタT10〜T40をオン/オフし、インジェクタ101〜104による空打ちを実施してコモンレール圧を減圧する。例文帳に追加

Upon request of cold blow from the microcomputer 151, the drive circuit 100 turns ON/OFF the transistors T10 to T40 in a small current region in which a fuel injection is not actually carried out, based on a current value flowing in a solenoids 101a to 104a of the injectors 101 to 104, and the cold blow by the injectors 101 to 104 is performed thereby reducing the common rail pressure. - 特許庁

電子部品5は前記開口部4a内に設置され、前記電子部品5の電極部6は前記ランド部3上に半田接合され、前記電子部品5の周囲には接着層8が広がり、前記接着層8は前記基板11上に形成されているものの、前記レジスト層4には非接触状態である。例文帳に追加

An electronic component 5 is disposed in the opening 4a, an electrode portion 6 of the electronic component 5 is bonded by solder on the land portion 3, an adhesive layer 8 spreads around the electronic component 5, and the adhesive layer 8 is in a non-contact state on the resist layer 4 while it is formed on the substrate 11. - 特許庁

画像を表示するための画像信号をパルス幅変調した駆動信号により画像表示部を駆動する駆動手段を備えている電界放出型ディスプレイ装置において、3原色の蛍光体の輝度特性に対応してホワイトバランスを得るための参照データを格納するルックアップテーブルと、前記ルックアップテーブルの参照データに基づき、前記パルス幅変調された駆動信号の電圧値を制御するドライブ電圧制御回路とを備える。例文帳に追加

The device is provided with a driving means which drives an image display section by driving signals made by pulse width modulation image signals to display an image, and further, provided with a look-up table which stores reference data to obtain white balance corresponding to the luminance characteristics of three primary color phosphor and a drive voltage control circuit which controls the voltage value of the pulse width modulated driving signals. - 特許庁

Nチャネル電界効果型トランジスタのソース/ドレインを形成するためのイオン注入Nを用いて、多結晶シリコンゲート5にオーバー不純物導入層10を形成し、オーバー不純物導入層10に含まれるN型不純物を多結晶シリコンゲート5内でアクティブ領域7の方向に拡散させる。例文帳に追加

Using ion implantation N for forming the source/drain of an N channel field effect transistor, an over impurity introduction layer 10 is formed in a polysilicon gate 5 and N type impurities contained in the over impurity introduction layer 10 are diffused in the direction of an active region 7 in the polysilicon gate 5. - 特許庁

例文

本発明による薄膜トランジスタ基板は、絶縁基板と;前記絶縁基板上に形成されて、チャンネル領域の両側に離隔配置されたソース電極及びドレイン電極と;前記ソース電極及び前記ドレイン電極の各々の少なくとも一部分露出させながら、前記チャンネル領域を包囲する、フッ素系高分子物質で形成される隔壁と;前記隔壁内に形成されている有機半導体層を含むことを特徴とする。例文帳に追加

The present invention relates to a thin film transistor substrate comprising: an insulating substrate; a source electrode and a drain electrode which are formed on the insulating substrate and separated from each other and have a channel area therebetween; a wall exposing at least portions of the source electrode and the drain electrode, respectively encompassing the channel area, and formed of fluoropolymer; and an organic semiconductor layer characteristically formed inside the wall. - 特許庁


例文

基板上に少なくともソース領域およびドレイン領域に接続するチャネル領域と、該チャネル領域にゲート絶縁膜を介して対峙するゲート電極とを備える薄膜トランジスタの製造方法において、前記ゲート絶縁膜の形成工程は、前記基板205をプラズマ発生させるための電極203上に押さえ部材206により固定した状態で、プラズマ化学気相堆積法によりシリコン酸化物を形成する。例文帳に追加

In the method of manufacturing a thin film transistor having a channel region connected to at least a source region and a drain region and a gate electrode opposite to the channel region through a gate insulation film on a substrate, the process of forming the gate insulation film is to form a silicon oxide by the plasma chemical vapor deposition method with the substrate 205 fixed by a retaining member 206 above plasma generating electrodes 203. - 特許庁

STI法(Shallow Trench Isolation)を用いた素子分離において、トレンチコーナー部の応力緩和を、アクティブ領域の面積及びトランジスタ幅を減少させること無く実施でき、或いは、半導体基板または半導体基板と導電型が逆タイプのウエルの抵抗を安定に形成できる半導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a semiconductor device which can conduct stress relaxation at trench corners without reducing the area of an active region or the transistor width or stably form the resistance of a semiconductor substrate or a well of opposite conductivity type from that of the semiconductor substrate, in element isolation using an STI (shallow trench isolation) method. - 特許庁

表面シリコン原子の再配列によって形成した複数のステップ11およびテラス12を有するミスオリエンテーション基板10を用いて、その基板10のテラス12上にエピタキシャル成長させた極薄の結晶質二酸化シリコン膜15をゲート絶縁膜としてMOS電界効果型トランジスタを構成する。例文帳に追加

With the use of a mis-orientated wafer 10 with a plurality of steps 11 and terraces 12 formed by rearranged surface silicon atoms, a MOS field-effect transistor is structured with a very thin crystalline silicon dioxide film 15 which is grown epitaxially on the terrace 12 of the wafer 10 as a gate insulating film. - 特許庁

コンバータ1およびインバータ3の少なくとも直流負母線側に配置される並列接続の複数の単位トランジスタ素子(3UN1,3UN2)のエミッタ端子とそれに対応する単位コンデンサの直流負側主回路端子とを、ほぼ均等な幅と厚みを持つ接続導体(13)によって接続する。例文帳に追加

Each of emitter terminals of a plurality of parallel-connected unit transistor devices (3UN1, 3UN2) disposed on at least DC negative bus-bar side of a converter 1 and an inverter 3 and DC negative side main-circuit terminal of a unit capacitor corresponding to it are connected to each other through a connection conductor (13) with roughly even width and thickness. - 特許庁

例文

AGCループのコントロール電圧を測定する高周波信号パワー測定装置において、PINダイオード3,4と固定抵抗5,6で構成した減衰量可変アッテネータの減衰量コントロールをトランジスタ差動アンプで行なうことにより測定信号レベルによらず均一な分解能の測定を実現する。例文帳に追加

In this high frequency signal power measuring instrument for measuring the control voltage of an AGC loop, the measurement of uniform resolution is realized without depending on a measurement signal level in such a manner that a transistor differential amplifier performs attenuation quantity control of an attenuation quantity variable attenuator consisting of PIN diodes 3 and 4 and fixed resistances 5 and 6. - 特許庁

例文

第1方向に形成されたアクティブエリア11と、アクティブエリア11上に形成され、抵抗値の変化によってデータを記憶するMTJ素子12と、MTJ素子12の両側のアクティブエリア11上に、第1方向と直交する第2方向に形成されたセルトランジスタT1,T2のゲート電極(ワード線WL)とを備える。例文帳に追加

The magnetic memory device includes an active area 11 formed in a first direction; an MTJ element 12, formed on the active area 11 and storing data by a change in the resistance value; and a gate electrode (word line WL) of cell transistors T1 and T2, formed on the active area 11 on both sides of the MTJ element 12 in a second direction orthogonal to the first direction. - 特許庁

複合IC10は、その島領域内に設けられており、LDMOSトランジスタ20のドリフト領域22の側面及び/又はソース領域26とドリフト領域22の間のボディ領域28の側面に第2側壁酸化膜64を介して対向する第2埋込み導電体62を有するトレンチ部60を備えている。例文帳に追加

The compound IC 10 is provided with trench portions 60 which are provided in the island region and each of which includes a second embedded conductor 62 opposite to a side of a body region 28 between a side of a drift region 22 of the LDMOS transistor 20 and/or a source region 26, and the drift region 22, through a second side wall oxidation film 64. - 特許庁

信号電荷を蓄積するフローティングディフュージョン部と、前記フローティングディフュージョン部にゲート電極が電気的に接続されるトランジスタを含み、前記フローティングディフュージョン部の電位変化に応じた信号を出力する出力回路とを備え、前記出力回路の接続配線が、前記ゲート電極の端部を含み前記フローティングディフュージョン部に開口するように形成されたコンタクトホールと、前記コンタクトホール内で、前記フローティングディフュージョン部から前記ゲート電極に這い上がるように形成され、前記ゲート電極と前記フローティングディフュージョン部とを電気的に接続する金属シリサイド膜を備えたことを特徴とする。例文帳に追加

Connection wiring of the output circuit has a contact hole formed to be opened in the floating diffusion part including an end part of the gate electrode and a metallic silicide film which is formed to creep up from the floating diffusion part to the gate electrode and electrically connects the gate electrode and the floating diffusion part. - 特許庁

従来の共通基板上へのデバイスの並置構成は、電流通路の寄生のインダクタンス、抵抗、及びパッケージの放熱要件を増大し、製造コストも増大するため、III−窒化物又は他のIII−V族トランジスタをIV族ダイオードと一体化するコンパクトでコストエフェクティブなパッケージングを提供する。例文帳に追加

To provide a compact and cost-effective packaging for integrating III-nitride or other group III-V transistors with group IV diodes, in contrast to conventional side-by-side placement of devices on a common substrate which increases parasitic inductance and resistance in current paths and also increases thermal dissipation requirements of a package as well as manufacturing costs. - 特許庁

そして、MOSトランジスタ105a、105bのそれぞれのゲート端子g1、g2を互いに接続するとともに、その接続ノードN1が、容量素子104aを介して配線ノードN3に接続され、容量素子104bを介してノードN4に接続され、抵抗素子を108介して基準電源GNDに接続されるように構成する。例文帳に追加

Then, gate terminals g1, g2 of the MOS transistors 105a, 105b are connected to each other, and a connection node N1 thereof is connected to a wiring node N3 through a capacitive element 104a, connected to the node N4 through a capacitive element 104b, and connected to the reference power source GND through a resistance element 108. - 特許庁

一実施形態による基板処理ツールは、基板処理領域を画成する本体、基板処理領域内に基板を支持するように適応された基板支持体、この基板支持体から離間され、基板支持体上に配置された基板へ紫外線を伝送するように構成された紫外線ランプ、及び上記紫外線ランプ又は基板支持体の少なくとも一方を互いに対して少なくとも180度回転させるように作動的に結合されるモータを備える。例文帳に追加

The substrate treatment tool by one embodiment includes a main body delineating a substrate treatment region, a substrate support adapted to support the substrate within the substrate treatment region, a UV lamp constituted to transmit the UV rays to the substrate arranged on the substrate support, and a motor coupled operatively so as to rotate at least either of the UV lamp or the substrate support at least 180° with each other. - 特許庁

自発光素子を具備する複数の副画素を含む画素と、前記副画素の各々に備えられた、少なくともチャンネル領域を有する半導体活性層を具備し、前記自発光素子に電流を供給するために前記自発光素子に接続されてなる、駆動用薄膜トランジスタ(20r、20g、20b)とを含むフラットパネルディスプレイであって、前記半導体活性層のチャンネル領域が、少なくとも2つの前記副画素に関して相異なる方向に配置されてなることを特徴とするフラットパネルディスプレイである。例文帳に追加

The channel regions of the semiconductor active layers are arranged in the mutually different directions regarding at least two sub-pixels. - 特許庁

サリサイド形成過程において、フローティングディフュージョン203と増幅トランジスタ104のゲート電極104gとを接続する検出用配線217を、サリサイド形成過程に発生する非シリコン表面上のシリサイド化反応していない高融点金属材料を利用して形成する。例文帳に追加

In a salicide formation process, a detecting wiring line 217 for connecting a floating diffusion 203 and a gate electrode 104g of an amplification transistor 104 is formed in the form of a high-melting-point metallic material not reacting with the silicide reaction on a non-silicon surface generated in the salicide formation process. - 特許庁

実質的に直線状のゲート電極パターン101、101′を備えたレティクルパターン110を用いてリソグラフィ工程を行うに際して、レティクルパターンのトランジスタ領域間にはコンタクト領域を少なくとも一部配置される凸部100を直線状のゲート電極パターンの長辺のほぼ中央に形成し、且つ凸部とは反対側の辺に少なくとも前記凸部の突出する辺のすべてが対向するように凹部を形成する。例文帳に追加

In a lithographic process using a reticle pattern 110 having substantially linear gate electrode patterns 101, 101', protrusions 100 where contact regions are disposed at least partly are formed at approximately the centers of the long sides of the linear gate electrode patterns between transistor regions of a reticle pattern, and recesses are formed on the opposite side to the protrusions so that at least the protruding sides of the protrusions all face opposite. - 特許庁

電界効果トランジスタは、基板11の上に形成された第1の窒化物半導体層13と、第1の窒化物半導体層13の上に形成され、第1の窒化物半導体層13と比べてバンドギャップが大きい第2の窒化物半導体層14と、第2の窒化物半導体層14の上に形成された結晶性の窒化シリコンからなる第1の絶縁膜15と、第1の絶縁膜15の上に形成された第2の絶縁膜16とを備えている。例文帳に追加

The field effect transistor includes: a first nitride semiconductor layer 13 formed on a substrate 11; a second nitride semiconductor layer 14 formed on the first nitride semiconductor layer 13 with a larger band gap compared to the first nitride semiconductor layer 13; a first insulating film 15 composed of a crystalline silicon nitride and formed on the second nitride semiconductor layer 14; and a second insulating film 16 formed on the first insulating film 15. - 特許庁

例文

液晶装置100では、支持基板10dにおいて、走査線3a、容量線5b、データ線6aおよび電界効果型トランジスタ30が形成されている格子状の非表示領域100cの幅方向の両端部に沿って、支持基板10dに対して垂直な側部遮光層7aが形成されている。例文帳に追加

A liquid crystal device 100 has a side light shield layer 7a perpendicular to a support substrate 10d, formed along both width-directional ends of a lattice-shaped non-display area 100c where a scan line 3a, a capacitance line 5b, a data line 6a and a field effect transistor 30 are formed on the support substrate 10d. - 特許庁

索引トップ用語の索引



  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2024 GRAS Group, Inc.RSS