「へんこうけんびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

光学素子、光学装置、及び偏光顕微鏡例文帳に追加

OPTICAL ELEMENT, OPTICAL DEVICE AND POLARIZATION MICROSCOPE - 特許庁

光学要素用変換装置及び立体顕微鏡例文帳に追加

CONVERSION APPARATUS FOR OPTICAL ELEMENT AND STEREOMICROSCOPE - 特許庁

偏光補正光学系及びそれを用いた顕微鏡装置例文帳に追加

POLARIZATION CORRECTION OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE DEVICE USING THE SAME - 特許庁

光学式変位検出機構及びそれを用いたプローブ顕微鏡例文帳に追加

OPTICAL DISPLACEMENT DETECTION MECHANISM, AND PROBE MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁

照射変更自在型光学顕微鏡およびこのような顕微鏡の作動プロセス例文帳に追加

OPTICAL MICROSCOPE WITH MODIFIABLE LIGHTING AND METHOD OF OPERATION THEREOF - 特許庁

空間光変調器を用いた広視野超解像光学顕微鏡例文帳に追加

WIDE-FIELD SUPER-RESOLUTION OPTICAL MICROSCOPE USING SPATIAL LIGHT MODULATOR - 特許庁

変位検出機構およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡例文帳に追加

DISPLACEMENT DETECTION MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME - 特許庁

光学素子、光学素子の製造方法、レクティファイア、及び偏光顕微鏡例文帳に追加

OPTICAL DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL DEVICE, RECTIFIER AND POLARIZATION MICROSCOPE - 特許庁

財産の管理者の変更及び共有財産の分割の対抗要件例文帳に追加

Requirements of Perfection of Change of the Administrator of Property or Division of Property in Co-ownership  - 日本法令外国語訳データベースシステム

超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子例文帳に追加

SUPER-RESOLUTION MICROSCOPE AND SPATIAL MODULATION OPTICAL ELEMENT USED THEREIN - 特許庁

近接場光学顕微鏡及びそれを用いた偏光評価方法例文帳に追加

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND POLARIZATION EVALUATING METHOD USING THE SAME - 特許庁

顕微鏡装置を構成する光学系により生じる偏光状態の変化を補正することが可能な顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a microscopic device, capable of correcting a change in polarization state caused by an optical system constituting the microscopic device. - 特許庁

基板の変形検出機構，処理システム，基板の変形検出方法及び記録媒体例文帳に追加

BASAL PLATE DEFORMATION DETECTING MECHANISM, PROCESSING SYSTEM, BASAL PLATE DEFORMATION DETECTION METHOD AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

変更検出部は、スケジュール制御を非スケジュール制御に変更することになる設備機器の設定の変更の入力を検出する。例文帳に追加

The change detecting section detects input of a change in settings of the equipment to change scheduled control to non-scheduled control. - 特許庁

電場変調スペクトル測定用近接場光学顕微鏡例文帳に追加

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE FOR MEASURING ELECTRIC FIELD MODULATION SPECTRUM - 特許庁

基板処理装置、基板処理条件変更方法及び記憶媒体例文帳に追加

SUBSTRATE PROCESSING DEVICE, SUBSTRATE PROCESSING CONDITION CHANGING METHOD, AND STORAGE MEDIUM - 特許庁

顕微鏡用光偏向ユニット、それを備えた落射投光管及び顕微鏡例文帳に追加

OPTICAL DEFLECTION UNIT FOR MICROSCOPE, VERTICAL ILLUMINATING LIGHT PROJECTION TUBE AND MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁

顕微鏡は、焦点を自動的に変更できるように電動式である。例文帳に追加

The microscope is electrically driven so that the focus can be automatically varied. - 特許庁

偏光板と高速フーリエ変換を用いたナノ線感知用光学顕微鏡システム例文帳に追加

OPTICAL MICROSCOPE SYSTEM FOR DETECTING NANOWIRE USING POLARIZING PLATE AND HIGH SPEED FOURIER TRANSFORM - 特許庁

揺動体装置、光偏向装置、及び共振周波数検知方法例文帳に追加

OSCILLATING BODY APPARATUS, LIGHT DEFLECTOR, AND RESONANCE FREQUENCY SENSING METHOD - 特許庁

観察条件などの変更の際の操作性を向上させた全反射顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a total reflection microscope having improved operability in the case of changing an observation condition etc. - 特許庁

光学素子用変換器のポジション識別装置付き顕微鏡例文帳に追加

MICROSCOPE WITH POSITION DISCRIMINATION DEVICE OF CONVERTER FOR OPTICAL ELEMENT - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法例文帳に追加

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING CHANGE IN MOLECULAR STRUCTURE - 特許庁

走査型レーザ顕微鏡において、Ｚ方向の輝度変化を補正する。例文帳に追加

To correct the Z-directional luminance variation of a scanning type laser microscope. - 特許庁

結像レンズを交換することなく、結像光学系の焦点距離を変更可能な顕微鏡光学系及び顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a microscopic optical system and microscope, capable of changing the focal distance of an imaging optical system, without having to replace an imaging lens. - 特許庁

さらに、外部電源追加など電子顕微鏡への変更は不要となる。例文帳に追加

In addition, a change in the electron microscope such as addition of an external power supply is not required. - 特許庁

顕微鏡装置を構成する光学系により生じる偏光状態の変化を補正する偏光補正光学系及びこの偏光補正光学系を備える顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a polarization correction optical system that corrects changes in a polarization state caused by an optical system constituting a microscope device, and to provide a microscope device equipped with the polarization correction optical system. - 特許庁

偏光顕微鏡で鉱物薄片を観察する時に見られる光の干渉によってできる像例文帳に追加

a figure observed through a conoscope, called interference figure  - EDR日英対訳辞書

暗視野観察や蛍光観察を行う際にも、顕微鏡周辺の環境を暗くする必要がない顕微鏡カバー、顕微鏡カバーを収容可能な顕微鏡、および顕微鏡カバー収容箱を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope cover eliminating any necessity of darkening environment around the microscope even if performing a dark-field observation or a fluorescence observation; and to provide a microscope capable of storing the microscope cover, and a microscope cover storage box. - 特許庁

また、主制御部は種別情報が期待値変更用データの場合、検査値及び期待値を変更する期待値変更用データを生成して検査値記憶手段の検査値を変更する。例文帳に追加

Then, the main control unit, when the type information indicates expectation value changing data, generates expectation value changing data for changing inspection values and expectation values, and changes an inspection value in inspection value storage means. - 特許庁

微細構造体、カンチレバー、走査型プローブ顕微鏡及び微細構造体の変形量測定方法例文帳に追加

FINE STRUCTURAL BODY, CANTILEVER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MEASURING AMOUNT OF DEFORMATION OF THE FINE STRUCTURAL BODY - 特許庁

撮影用光学装置、撮影用光学システムおよび距離変化量検出装置例文帳に追加

IMAGE PICKUP OPTICAL DEVICE, IMAGE PICKUP OPTICAL SYSTEM AND DISTANCE VARIATION DETECTING DEVICE - 特許庁

揺動体装置、光偏向装置、光学機器、及び共振周波数検出方法例文帳に追加

OSCILLATOR DEVICE, LIGHT DEFLECTOR, OPTICAL EQUIPMENT, AND RESONANCE FREQUENCY DETECTION METHOD - 特許庁

Ｘ線分光顕微分析方法および光電変換型Ｘ線顕微鏡装置例文帳に追加

X-RAY SPECTRAL MICROSCOPIC ANALYZING METHOD AND PHOTOELECTRIC CONVERSION TYPE X-RAY MICROSCOPIC DEVICE - 特許庁

荷電粒子ビームの偏向機構及び荷電粒子ビーム装置並びに走査電子顕微鏡例文帳に追加

DEFLECTION MECHANISM OF CHARGED PARTICLE BEAM, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

変質のない良好な透過電子顕微鏡用観察試料の作成方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a non-deteriorated good observation sample for a transmission electron microscope. - 特許庁

単一のコイルでインダクタンスの変化を効果的に検出し、小型でありながら高精度な変位センサを実現するためのインダクタンス変化検出回路と、これを用いる変位検出装置及び金属検出装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inductance variation detecting circuit that effectively detects variation of inductance with a single coil and realizes a compact and yet high-precision displacement sensor, and to provide a displacement detector and a metal detection device that use the same. - 特許庁

本発明では、撮影条件や顕微鏡操作に応じて各光路に分割される光量比率を変更することができる顕微鏡システムにおいて迅速かつ簡便に鮮明な顕微鏡画像を撮影できる顕微鏡システムを提供する。例文帳に追加

To provide a microscope system varying ratios of light quantities divided to respective optical paths according to imaging conditions and microscope operations, and quickly and easily imaging a clear microscopic image. - 特許庁

試料片を含む透過型電子顕微鏡用の試料を効率よく製造する。例文帳に追加

To efficiently manufacture a sample for a transmission electron microscope including a sample piece. - 特許庁

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope. - 特許庁

光学検査装置、例えば顕微鏡用の変更装置は、第１の光学像用の２つの光路を含み、変更装置内に回転可能に配置された変更光学素子を備える。例文帳に追加

The optical inspection instrument, for instance, a change device for a microscope includes a changing optical element which includes two optical paths for a first optical image and is rotatably arranged in the change device. - 特許庁

透過電子顕微鏡で作成した試料像をカメラ４で観察する場合において、透過電子顕微鏡の光学条件を変更した場合、当該光学条件の変更に伴って透過電子顕微鏡で作成した試料像の輝度を、前記光学条件から算出される補正値を用いてカメラ４の感度を変更することで調整するように構成される。例文帳に追加

When observing a sample image, formed by a transmission electron microscope, with a camera 4 and if optical conditions of the transmission electron microscope are changed, luminance, obtained owing to the change of the optical conditions, of the sample image formed by the transmission electron microscope, is adjusted by changing a sensitivity of the camera 4 while using a correction value calculated from the optical conditions. - 特許庁

走査型非線形誘電率顕微鏡を応用した超高感度変位計測方式例文帳に追加

ULTRA-HIGH SENSITIVITY DISPLACEMENT MEASURING SYSTEM APPLIED BY SCANNING NONLINEAR PERMITTIVITY MICROSCOPE - 特許庁

顕微鏡の状態の変更に同期させて行う必要のあるカメラの設定の変更を適切に行えるようにする。例文帳に追加

To properly perform the change of setting of a camera which is needed to be carried out in synchronization with the change of the state of a microscope. - 特許庁

周辺装置を備えた荷電粒子顕微鏡における試料ステージ傾斜機構例文帳に追加

GRADIENT MECHANISM OF SAMPLE STAGE IN CHARGED PARTICLE MICROSCOPE PROVIDED WITH PERIPHERAL DEVICE - 特許庁