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へんこうけんびきょうの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 808



例文

観察装置に依存しない組織標本の解析を可能にするとともに、染色状態の定量化、変換、組織自体の構造を明確にすることができる顕微鏡画像処理装置を提供する。例文帳に追加

To provide a microscopic-image processing apparatus which can analyze a tissue sample without depending on an observation device and by which the quantification and the conversion of a staining state and the structure of the tissue itself can be clarified. - 特許庁

本発明の目的は、構成が簡単で小型軽量であり、対物レンズの観察光軸に対する観察角度変更の操作が素早く行える実体顕微鏡を提供することである。例文帳に追加

To provide a stereomicroscope whose constitution is simple and which is made small in size and light in weight and realizes quick operation to change an observation angle to the observation optical axis of an objective. - 特許庁

簡単な構成で、高倍率から低倍率まで幅広い倍率範囲で、安定した偏斜照明で観察することが可能な実体顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a stereoscopic microscope simple in configuration and capable of observing an examinee in the presence of oblique lighting over a wide magnification range from a high magnification to a low magnification. - 特許庁

無線通信システム及び基地局及び移動局に関し、伝送効率を低下させることなく、且つ処理を複雑化することなく、周辺セル検出モードに移行させる。例文帳に追加

To provide a radio communication system comprising mobile stations and base stations wherein the mobile station is shifted to a peripheral cell detection mode without decreasing the transmission efficiency and complicating the processing. - 特許庁

例文

走査電子顕微鏡の構成要素として用いられるマイクロプロセッサ,FPGA,CPLDのメモリに記述されている制御内容を、メーカの開発拠点・サービスセンタに居ながらにして変更する。例文帳に追加

To enable to change control contents described in memories of a microprocessor, an FPGA and a CPLD that are used as component elements of a scanning electron microscope, without moving from the development base of a manufacturer or a service center. - 特許庁


例文

板端部に切欠き6が形成された板状試験片1をサイドベンド試験機にセットし、板面内の引張および曲げを与えて破断させ、破断部のひずみとひずみ勾配とひずみ集中とを測定する。例文帳に追加

A plate-like test-piece 1 in the end part of which a notch 6 is formed is set to a side bend testing machine and, by making it break by imparting in-plane tension and bending, and strain, a strain gradient and strain concentration in the broken part are measured. - 特許庁

観察物体の勾配,微小平面部,エッジ部,段差,位相変化量等の具体的な物理量を微分干渉顕微鏡によって得られる観察物体の微分干渉画像から短時間で検出するための装置とこれを用いた検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device for detecting the concrete physical quantity of an observed object such as the inclination of the observed object, the minute planer part, the edge part, the level difference and the phase variation, etc., in a short time from the differential interference image of the observed object obtained through a differential interference microscope. - 特許庁

プローブ変位検出のための機構を簡単化することができ、また複数のプローブを用いる場合においても検出系の構成を簡便化することができ、省スペース化を図ることが可能な信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a signal detection apparatus enabling simplification of a mechanism for detecting the displacement of a probe and simplification of the arrangement of a detection system even if a plurality of probes are in use, thus enabling a space saving, a scanning atomic force microscope constructed of the detection apparatus, and a signal detection method. - 特許庁

放電加工機の制御装置11は、ジャンプ動作の所定の動作条件に対応させて設定した変位量を記憶する記憶部25と、ジャンプ動作の動作条件及び記憶部25に記憶されたデータに基づいて加工電極とワークとの相対移動量を補正する補正部29とを有する。例文帳に追加

A controller 11 of the electric discharge-machining equipment has: a storage part 25 for storing a displacement quantity set according to a predetermined operation condition of a jump; and a correction part 29 for correcting a relative traveling distance between the machining electrode and a workpiece, based on the operation condition of the jump and data stored in the storage part 25. - 特許庁

例文

そして、初期条件6及び境界条件5を含む制約関数4の条件下において、その評価関数7を最小化(又は最大化)する決定変数を算出する最適化計算8を行い、各鋼材の搬送ルート9を決定する搬送ルート算出を行う。例文帳に追加

Under the conditions of the constraint function 4 including the initial conditions 6 and the boundary conditions 5, it performs optimizing calculation 8 for calculating the determination variables to minimize (or maximize) the evaluation function 7, and carrying route calculation for determining the carrying route 9 for each steel material. - 特許庁

例文

第八条 法第十一条の規定による届出をしようとする者は、法第五条第二項第四号に掲げる事項の変更の届出にあつては当該変更に係る事実のあつた日の翌日から起算して三十日以内に、同号に掲げる事項以外の事項の変更の届出にあつては当該変更に係る事実のあつた日の翌日から起算して十日以内に、当該届出に係る事項が許可証の記載事項に該当しない場合にあつては一般労働者派遣事業変更届出書(様式第五号)を、当該届出に係る事項が許可証の記載事項に該当する場合にあつては一般労働者派遣事業変更届出書及び許可証書換申請書(様式第五号)を厚生労働大臣に提出しなければならない。例文帳に追加

Article 8 (1) A person who intends to make a notification pursuant to the provisions of Article 11 of the Act shall submit a written notice of changes to a general worker dispatching undertaking (Form 5) in the case where the matters pertaining to said notification do not fall under any of the matters stated in the License Certificate, and a written notice of changes to a general worker dispatching undertaking and a written application for the rewriting of a License Certificate (Form 5) in the case where the matters pertaining to said notification fall under any of the matters stated in the License Certificate, to the Minister of Health, Labour and Welfare, within 30 days from the day following the day on which the fact pertaining to said changes occurred in the case of making a notification of changes listed in item (iv) of paragraph (2) of Article 5 of the Act, and within ten days from the day following the day on which the fact pertaining to said changes occurred in the case of making a notification of changes other than those listed in the same item.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

記録紙搬送経路内に、記録紙の搬送状態を検知するためのフィラー式の記録紙検知手段18を備え、前記記録紙検知手段18の上流側近傍に搬送されてくる記録紙先端の搬送方向を変更および規制するためのガイド部材14cを設けた。例文帳に追加

This device is provided with the filler type recording paper detecting means 18 for detecting the carrying state of a recording paper within a recording paper carrying route and a guide member 14c for changing and regulating the carrying direction of the tip of the recording paper carried to the vicinity of the upstream side of the recording paper detecting means 18. - 特許庁

照明状態をケーラ照明とクリティカル照明の間で連続的に変化させることができ、常に観察に適した照野と明るさを得ることの出来る顕微鏡用照明光学系を提供すること。例文帳に追加

To provide an illumination optical system for microscope which allows the state of illumination to continuously change between Koehler illumination and critical illumination, and can always obtain illumination and brightness suitable for observation. - 特許庁

集束型の超音波探触子を用いた超音波顕微鏡において、超音波の送信による媒質の温度上昇による音速の変化を抑制することによって、高精度な計測を行うことを目的とする。例文帳に追加

To attain highly precise measurement by restraining a sonic velocity from being changed by a temperature elevation of a medium caused by transmission of ultrasonic wave, in an ultrasonic microscope using an ultrasonic probe of a convergence type. - 特許庁

従来試料の観察時に光学素子により生じていた試料の明度およびコントラストの低下、色情報の変化を防止し、測定時間を迅速化した走査型プローブ顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To prevent lowering in lightness and contrast of a sample, generated by an optical element, when the sample is observed in prior art, and change in color information therein to shorten a measuring time. - 特許庁

機械的な機構を必要とせずに、容易にシア量を精度良く連続的に変化させることができる光束制御装置、干渉装置及び微分干渉顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a luminous flux controller with which shear is easily, accurately and continuously varied without requiring any mechanical mechanism, and to provide an interference device and a differential interference microscope. - 特許庁

試料の立体的な形状が時間的に変化する場合でも、光軸方向に試料が存在する範囲で試料の画像を取得することができる走査型顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a scanning type microscope which can acquire an image of a sample in a range where the sample exists in an optical axis direction even when a three-dimensional shape of the sample changes with the lapse of time. - 特許庁

電子スピン共鳴や核磁気共鳴で利用されている磁気共鳴による磁化反転・変調技術を原子間力顕微鏡に取り入れ、探針・試料間に働く交換相互作用力を的確に計測する磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法を提供する。例文帳に追加

To obtain a magnetic-resonance-type exchange interaction force microscope that incorporates magnetization inversion/modulation technique due to magnetic resonance being utilized by electronic spin resonance and nuclear magnetic resonance into an atomic force microscope, and accurately measures exchange interaction force operating between a probe and a sample, and the measuring method of the exchange interaction force using it. - 特許庁

これにより、周辺露光装置における周辺領域の露光において、有効基準チップ領域に隣接した無効基準チップ領域、その他無効チップ領域が残存していても、形成されるパターンの違いから有効基準チップ領域の位置を目視、顕微鏡などによっても容易に認識することができる。例文帳に追加

Thus, even if the non-effective reference chip region adjacent to the effective reference chip region, and other non-effective chip regions remain in exposure of a peripheral region in a periphery aligner, a position of the effective reference chip region can be easily recognized by visual observation, a microscope, or the like according to a difference in a pattern to be formed. - 特許庁

様々な対物レンズ及び照明波長のためのひとみの軸方向位置に対して光線偏向装置の照明光線・回転点の結像を適合することが可能である、走査顕微鏡、及び、目標物を走査するための方法を提案する例文帳に追加

To provide a scanning microscope which is capable of adapting the image formation of the illumination rays and rotating point of a ray deflector to the axial position of a pupil for various objective lenses and illumination wavelengths and a method for scanning a target. - 特許庁

カラープリンタなどの画像形成装置の出力条件が変更されて再現色域が変動しても、好ましい再現性が得られる画像を出力できるようなキャリブレーション方法、プログラム及びキャリブレーションシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a calibration method, a program, and a calibration system capable of outputting images with preferable reproducibility obtainable even if reproduction color gamut is changed when output conditions of an image forming apparatus such as a color printer are changed. - 特許庁

ポリアミド(A)100重量部に対し、エチレンビスオレイン酸アミド(B)0.005〜1重量部、ステアリン酸バリウム(C)0.01〜2重量部からなり、偏光光学顕微鏡で観察した球晶直径の平均値A、標準偏差Bが、次の(1)式を満たすことを特徴とするポリアミド樹脂組成物。例文帳に追加

wt. polyamide, (B) 0.005-1 pt. wt. ethylene bis-oleic acid amide and (C) 0.01-2 pt. wt. barium stearate is characterized in that the mean value A and standard deviation B of a spherical crystal diameter observed by a polarlizing optical microscope satisfy the following formula (1): B/A≤0.3. - 特許庁

検出セル22の検出信号Sdおよび基準セル23の検出信号Srの出力レベルに応じて、受光信号処理回路6が制御信号CTLにより、有効表示領域部(画面表示部)2の表面輝度を変化させることで、近接あるいは接触を検出する光検出部としての検出セル22に物体が近接あるいは接触したことを判別する。例文帳に追加

A light receiving signal processing circuit 6 uses a control signal CTL to vary surface luminance of an effective display area part 2 (screen display part) in accordance with output levels of a detection signal Sd of a detection cell 22 and a detection signal Sr of a reference cell 23, whereby it is discriminated that the object approaches or contacts the detection cell 22 being a photodetector part which detects approach or contact. - 特許庁

明るい非共焦点画像が得られるとともに、CPUの負荷を増大させること無く焦点深度を変更させる差画像演算を行う共焦点顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a confocal microscope which enables obtaining of a bright non-confocal image and performs difference image computation for changing the depth of focus, without increasing the load of a CPU. - 特許庁

アミノ変性シリコーンを含有するガラス用撥水剤よりも長期に亘る撥水持続性を有し、ガラス周辺の塗装及び金属等に腐食等の悪影響を与えず、作業者の健康を害することもないガラス用撥水剤及び撥水方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a water repellent agent, which has water repellent durability for longer time than that of a water repellent agent containing an amino- modified silicone, give no bad influence like corrosion to coatings and metals around glasses, and is harmless to the human body of workers, and to provide a water repellent method. - 特許庁

ここで、顕微鏡フォーカス維持装置は、組み合わせる対物レンズの瞳径に合わせてレーザー光ビームの光束径とレーザー光源の出力を変更可能になっている。例文帳に追加

In this case, the microscope focus maintaining device can alter the luminous flux diameter of a laser beam and an output from a laser light source, according to the pupil diameter of the objective lens used in combination. - 特許庁

顕微鏡対物レンズの辺縁部にレーザ光を導入しこのレーザ光の照明方向を回転可能にした照明光学系において、常に対物レンズ光軸中心からの放射状方向と直角方向の横波成分のみを持つエバネセント場で照明する回転式輪帯偏光全反射照明光学系とした。例文帳に追加

By providing a bar-like projection on the illumination system, the vibrating direction of rotating polarized light not made visible ordinarily is easily detected in the visual field of the microscope and rotating speed is read from a rotation driving control system. - 特許庁

パーティクルカウンタで測定したウェーハ上の粒子の座標データに対し走査型電子顕微鏡(SEM)で当該粒子の探索を効果的に行うための、座標データ変換・補正式を短時間で精度良く算出する。例文帳に追加

To accurately calculate a coordinate data conversion/correction formula for a short time so as to effectively search particles on a wafer from their data that are measured by a particle counter, by a scanning electron microscope (SEM). - 特許庁

対物レンズの瞳をリレーして、瞳共役面に瞳変調素子を配置して位相物体を観察する際に、瞳共役面の位置が変動しても、収差の発生が少ない良好な像が得られる顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope device capable of obtaining a good image with less aberration, even when the position of a pupil conjugate surface is fluctuated in the case of observing a phase object by relaying a pupil of an object lens and arranging a pupil modulation element on the pupil conjugate surface. - 特許庁

入力装置16から読み文字列が声調付きのピンインで入力されると、CPU11は声調付きで辞書引きする手段12aを用いて中国語辞書14から該当する変換候補を検索する。例文帳に追加

When a read character string is inputted from an input device 16 with pin-in with voice tone, a CPU 11 retrieves a conversion candidate from a Chinese dictionary 14 by using the means 12a consulting the dictionary with voice tone. - 特許庁

被写体の像のぶれ量に応じて、照明光量/露光時間/カメラゲインを変化させることにより、最適撮影を行うことができる顕微鏡カメラを提供する。例文帳に追加

To provide a microscope camera that enables optimum photographing by changing a quantity of illumination light/exposure time/camera gain in accordance with an amount of blur of an image of a subject. - 特許庁

電子制御装置は、検出されたパージガスの燃料量に応じて、直噴インジェクタ及び吸気通路インジェクタの少なくとも一方の燃料噴射態様を変更する。例文帳に追加

This electronic control device changes the fuel injection pattern of at least one of the direct injection injector and the intake air passage injector according to the fuel amount of the purge gas detected. - 特許庁

観察者の足元に位置され、観察者自身の脚で、操作可能な操作入力装置で入力した操作力を、手術用顕微鏡の鏡体2の位置を変更する移動力に変換して鏡体2の位置を変えるようにした支持装置である。例文帳に追加

The support device is positioned at the foot of the observer, and is constituted to shift the position of a mirror body 2 by converting operational force input in an operation input device which is operated by the foot of the observer into moving force for shifting the position of the mirror body 2 of a surgical microscope. - 特許庁

高さ方向で構造が変化するようなパターンであっても、走査型顕微鏡(CD−SEM)を用いて取得した画像データを用いて所望のパターンエッジが再現性よく決定できる画像処理条件(閾値等)を、簡便に得ることのできる画像データ解析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image data analysis device with which image processing conditions (threshold value or the like) enabling desired pattern edges with good reproductivity can be easily obtained by using image data obtained by using a scanning type microscope (CD-SEM) even if the patterns change structures in a height direction. - 特許庁

検出用管体1の内側で且つ開口窓部2s,2rの周辺に設けられ、マイクロ波の伝搬を遮蔽しつつ導き、当該マイクロ波の指向性を制御する金属製の覆い21s,21rを設ける。例文帳に追加

There are set metal covers 21s and 21r inside the tubular body 1 for detection and in the periphery of opening window parts 2s and 2r, which guide while shielding propagation of microwaves and control the directivity of the microwaves. - 特許庁

この顕微鏡では、撮像装置に設置された撮像素子の寸法および/または変倍光学系5,6の倍率m1,m2を基に、矩形絞り40Aの開口寸法がマイクロコンピュータ70により算出される。例文帳に追加

In this microscope, opening dimensions of rectangle stop 40A is calculated by a microcomputer 70 on the basis of the dimensions of an imaging element disposed on the imaging device and/or the powers m1, m2 of variable magnification optical systems 5, 6. - 特許庁

目標タービン回転数設定器30,切替器32,変化率制限器31から構成されるタービン回転数指令回路に、保持開始検出器43,保持終了検出器44,フリップフロップ演算器45より構成される保持検出回路40,保持演算器41、及び切替器42を設ける。例文帳に追加

A holding detecting circuit 40 composed of a holding start detector 43, a holding completion detector 44, and a flip flop calculator 45, a holding calculator 41, and a switch 42 are disposed in a turbine rotating speed command circuit composed of a target turbine rotating speed setter 30, a switch 32, and a change ratio restrictor 31. - 特許庁

レーザー発振手段2は被検レンズ1の光軸方向から被検レンズ1にレーザー光を照射し、被検レンズ1を透過したレーザー光がカバーガラス5にて集光した像を顕微鏡6で拡大しカメラ7にて映像信号に変換する。例文帳に追加

A laser oscillating means 2 radiates a laser beam in the optical axis direction of a tested lens 1 to the tested lens 1, and an image of the laser beam transmitted through the tested lens 1 and focused on a cover glass 5 is expanded by means of a microscope 6 so as to be converted into an image signal by means of a camera 7. - 特許庁

そして、残渣除去ユニット42の光照射部および基板移動機構が除去制御部に制御されることにより、基板上にレーザ光の光スポットが形成され、残渣検出部による検出結果に基づいて当該光スポットの位置が基板上の残渣の位置へと変更される。例文帳に追加

Then, as a light irradiation part of a residue removal unit 42 and the substrate movement mechanism are controlled by a removal control part, a light spot of laser beams is formed on the substrate, and a position of the light spot is changed to that of the residues on the substrate according to a detection result by the residue detection part. - 特許庁

基台11に立設した支柱2に、顕微鏡観察する光学系(4,5,6)を設けた顕微鏡において、基台11には、基台11の左右側方に引き出し自在な脚片20、基台11の前方に引き出し自在な収納ボックス30を設ける。例文帳に追加

In a microscope including optical systems (4, 5, and 6) for microscopic observation in a column 2 erected on a base 11, the base 11 includes a leg piece 20 which is freely pulled out to both left and right sides of the base 11 and a storage box 30 which is freely pulled out to the front side of the base 11. - 特許庁

振動検出装置41は、振動を感知する振動感知手段42、振動感知手段42が感知した振動が基準値以上の大きさの振動であるか否かを判定する判定手段47、及び、基準値を変更する基準値変更手段45を有している。例文帳に追加

The vibration detector 41 includes: a vibration sensor 42 for sensing the vibration; a determining means 47 for determining whether the vibration sensed by the vibration sensor 42 is not less than a reference value or not; and a reference value changing means 45 for changing the reference value. - 特許庁

従来の顕微鏡に搭載される画像記録装置は、蛍光発光の輝度が変化する標本を撮影する場合、撮影開始前に露出条件を設定すると、撮影中に大きな輝度差が発生すると、正確な画像情報が得られず、ゲイン補正等では階調特性が損なわれる。例文帳に追加

To solve the problem that exact image information is not obtained and gradation characteristics are spoiled in gain compensation, etc. when large luminance difference occurs during photography when exposure conditions are set before starting the photography when photographing a sample in which luminance of fluorescence changes in an image recorder to be loaded on the conventional microscope. - 特許庁

傾斜角の変化する立体形状試料に対して、試料形状方向の分解能を一定として検出できるプローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a probe scanning control device, scanning probe microscope by the same, probe scanning control method, and measuring method by the scanning control method, capable of detecting a solid-shaped sample where the angle of inclination changes, with fixed resolution in the direction of the shape of the sample. - 特許庁

さらに、β変態点−100℃からβ単相域上限の温度範囲より水冷以上の冷却速度で冷却することにより、光学顕微鏡組織の初析α相が45%以下であることを特徴とする。例文帳に追加

Further, by performing cooling at a cooling rate equal to or higher than water cooling from the temperature range of from a β transformation point -100°C to a β single phase region upper limit, an optical microscope structure has 45% or less of pro-eutectoid α phase. - 特許庁

本発明の目的は、直流負荷の温度ドリフトによる抵抗値変動を補償し、短時間で出力が安定する電子顕微鏡に用いられる直流安定化電源を提供することにある。例文帳に追加

To provide a stabilized direct-current power supply used for an electron microscope of which the output is stabilized in a short time by the compensation of resistance value fluctuation caused by the temperature drift of a direct-current load. - 特許庁

屋外及び屋内にて紫外線に曝される使用条件下でも、黄変の少なく良好な表面光沢を維持した成形品が得られる芳香環含有ポリアミド樹脂及び強化芳香環含有ポリアミド樹脂組成物を提供することにある。例文帳に追加

To obtain both an aromatic ring-containing polyamide resin and a reinforced aromatic ring-containing polyamide resin composition capable of providing a molding product having a slight yellowing and maintaining excellent surface gloss even under a use condition exposed to ultraviolet rays indoors and outdoors. - 特許庁

ベース10における実体顕微鏡本体14の観察光軸Dが通る点を中心とする周辺に、複数の発光ダイオード29を照明基板28上に実装してなる第1の照明部25を設ける。例文帳に追加

This microscope has on the base 10 a first illumination 25 that consists of the light emitting diodes 29 mounted on an illumination board 28 centering around the optical axis of the microscope 14. - 特許庁

暗視野観察時にはフレアを防止し、かつ、明視野観察時には周辺減光を防止し、両観察とも良好な観察像を得ることが可能な顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope device that prevents a flare during a dark field observation, and also prevents limb darkening during a bright field observation, thereby obtaining superior observation images through both observation. - 特許庁

炭素原子数4〜18の脂肪族炭化水素基を置換基として芳香環に有する芳香族エポキシエステル樹脂のアミン変性物(A)、有機溶剤(B)及び金属石鹸(C)を含むことを特徴とするアミン変性エポキシエステル樹脂組成物。例文帳に追加

The amine-modified epoxy ester resin composition comprises an amine-modified aromatic epoxy ester resin (A) containing a 4-18C aliphatic hydrocarbon group as a substituent group on an aromatic ring, an organic solvent (B) and metallic soap (C). - 特許庁

例文

電子ビームの走査のための偏向電流に重畳したノイズによる走査像の画質や分解能の劣化を、著しく軽減することができる走査像観察機能を有した透過電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope with a scanned image observation function which can remarkably reduce deterioration of scanned image quality and resolution due to noises superposed on a deflecting current for scanning of electron beam. - 特許庁

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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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