「へんこうけんびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

補助者の容易な（さらには安全な）サイド変更を可能にし、その構造大きさないし高さ（従って該装置を有する顕微鏡の構造大きさないし高さ）も可及的に小さくすることができる顕微鏡のための０°−補助者装置。例文帳に追加

To provide a zero-degree assistant's device for a microscope capable of enabling an assistant to easily (further safely) perform side change and making the size or the height (therefore, the size or the height of the structure of a microscope having the device) of the structure as small as possible. - 特許庁

ゲノム変異誘発物質の検出感度の向上と、構造異常と数的異常の識別能の向上を図る細胞の形態解析方法および記憶媒体を提供すること。例文帳に追加

To provide both a method for cell form analysis for improving detection sensitivity of genome mutagenic substance and improving identification ability of structural abnormality and numerical abnormality and a storage medium. - 特許庁

光学顕微鏡１００には、屈折力可変レンズ２０、屈折力変更機構３０およびレンズ駆動機構４０とが備えられ、マイクロプレートＭは、標本Ｓを培養液とともに収容し、ＸＹ移動ステージ６上に載置されている。例文帳に追加

The optical microscope 100 is equipped with a refractive power variable lens 20, a refractive power changing mechanism 30 and a lens driving mechanism 40, and a microplate M in which the sample S is stored together with the culture solution is placed on an XY moving stage 6. - 特許庁

ロボットハンド１によれば、複数の指機構１１〜１３のうち一部の指機構１３から物体ｗに作用する力Ｆ_3が変更されるとき、物体ｗにおける各指機構１１〜１３の「接点」ならびに各指機構１１〜１３から物体ｗへの「作用力ベクトル」が「安定把持条件」を満たすように各指機構の動作が制御される。例文帳に追加

The motions of the finger mechanisms of this robot hand 1 are controlled so that the contact points of the finger mechanisms 11-13 on the workpiece w and the acting force vectors from the mechanisms 11-13 to the workpiece w meet the stably grasping conditions, when the force F_3 acting on the workpiece w from one part 13 of the finger mechanisms 11-13 is altered. - 特許庁

顕微鏡１での観察対象である試料Ｓと対物レンズ１３との間の距離を調整する電動焦準機構１０を駆動して当該距離を変化させる際の当該駆動の速度を、顕微鏡１の観察光学系の焦点深度に基づいてコントローラ２が制御する。例文帳に追加

Driving speed, in changing the distance between a sample S being an object to be observed by the microscope 1 and an objective 13 by driving a motor-driven focusing mechanism 10 for adjusting the distance, is controlled by a controller 2, based on the depth of focus of the observation optical system of the microscope 1. - 特許庁

本発明は、好ましくは共焦点走査型顕微鏡法において、光源（３）の光ビーム（２）を用いて、試料（１）を走査するための方法および装置に関し、光ビーム（２）がビーム偏向装置（４）を用いて偏向され、走査動作が制御装置（５）によって制御される方法および装置に関する。例文帳に追加

The method and device for scanning the sample (i) by using the light beam (2) of the light source (3) preferably in a conforcal scanning type microscopic method, in which the light beam (2) is deflected by using a beam deflector (4) and the scanning operation is controlled by a controller (5). - 特許庁

結像光学系を介して観察される視野内の光量を均一にすることができる可変絞り及びこの可変絞りを有する顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a variable diaphragm capable of equalizing a light quantity in a view field observed through an imaging optics, and to provide a microscope having the variable diaphragm. - 特許庁

光学顕微鏡２０のレンズ格納部２１は、光軸変換部２２に取り付けられ、光軸変換部２２は、電動ズーム鏡筒２３の上端部に取り付けられている。例文帳に追加

A lens-housing section 21 of the optical microscope 20 is attached to an optical axis conversion section 22, and the optical axis converting section 22 is attached to the upper end part of the electrically driven zoom lens barrel 23. - 特許庁

プローブ顕微鏡１は、探針２１を有するカンチレバー２と、変位検出光学系３と、観察光学系４と、対物レンズ６と、平行ガラス７とを備える。例文帳に追加

The probe microscope 1 includes: a cantilever 2 having a probe 21; a displacement detecting optical system 3; an observation optical system 4; an objective lens 6; and a parallel glass 7. - 特許庁

高感度、高分解能で小型化も可能な自己変位検出型のカンチレバー、カンチレバーシステム及びプローブ顕微鏡並びに吸着質量センサを提供すること。例文帳に追加

To provide a self-displacement detection type cantilever which has high sensitivity and high resolution and can be miniaturized, and to provide a cantilever system, a probe microscope, and an adsorption mass sensor. - 特許庁

細胞の状態を顕微鏡観察しながら、マイクロチャンバーの構造を細胞培養中に変更でき、かつ、細胞培養中に自由に培養液を交換できる新しい細胞培養マイクロチャンバーを提供することにある。例文帳に追加

To provide a new microchamber enabling its structure to be altered during cell culture while microscopically observing cell condition and also enabling a culture solution to be freely exchanged during cell culture. - 特許庁

送信変調信号の品質劣化の原因となるイメージ信号及び局部発振波漏洩を検出し、ベースバンド信号の位相及び直流レベルを補償することにより、イメージ信号及び局部発振波漏洩レベルを低減させ、高品質の送信変調信号を送出する。例文帳に追加

To transmit a high-quality transmission modulation signal while reducing a level of image signal and local oscillation wave leakage, by detecting the image signal and local oscillation wave leakage, which cause deterioration in quality of the transmission modulation signal, and by compensating for a phase and a DC level of a baseband signal. - 特許庁

摩擦力顕微鏡においてカンチレバーの有効な探針高さおよび捻れバネ定数を、それぞれカンチレバーの撓み方向の変位情報から求めた撓み感度および捩れ方向の変位情報から求めた捩れ感度により算定し、該算定値を用いた摩擦力の算定機構を備えた摩擦力顕微鏡を提供する。例文帳に追加

A friction force microscope includes a calculation mechanism which calculates the effective probe height and twist spring constant of a cantilever in the friction force microscope by bending sensitivity obtained from displacement information of the cantilever in the bending direction and twisting sensitivity obtained from displacement information in the twisting direction, respectively, and calculates a friction force using the calculation values. - 特許庁

比較的容易な構成で性能の高い音叉、及びその製造方法、並びに、音叉を用いた合焦装置、変位センサ、及び共焦点顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a high-performance tuning fork with a relatively simple structure and a method for manufacturing the same, and a focusing device, a displacement sensor and a confocal microscope, using the same. - 特許庁

反射電子検出器を装着した走査電子顕微鏡内に引張り装置を取り付け、反射電子像を撮影しながら試験片を引張り、反射電子像に現れる結晶粒の形の変化を測定し、結晶粒毎の歪量及び引張り方向に対する断面積を逐次演算する。例文帳に追加

This tension testing device is attached to an inside of a scanning electron microscope mounted with a reflected electron detector, a test piece is tensioned while photographing a reflected electron image, and a change of a shape in a crystal grain appearing in the reflected electron image is measured to compute sequentially a strain amount in each crystal grain and a cross section with respect to a tensioned direction. - 特許庁

眼科手術用顕微鏡１は、予め設けられた複数の観察モードのうち現に選択されている観察モードを検出し、この観察モードの検出結果に基づいて鏡筒部１０（顕微鏡６）の移動速度を変更するように作用する。例文帳に追加

The eye surgery microscope 1 detects the actually selected observation mode among a plurality of predetermined observation modes, and performs an actuation to change the movement speed of a lens tube section 10 (the microscope 6), based on the detection result of the observation mode. - 特許庁

測定対象Ｓからの反射光Ｌ３と参照光Ｌ２が合波され、その干渉光Ｌ４が干渉光検出手段６により検出され測定対象Ｓの断層画像が取得される共焦点顕微鏡装置において、参照光Ｌ２の周波数変調を行う光変調部２０が設けられている。例文帳に追加

In the confocal microscope apparatus where reflected light L3 from an object S to be measured and reference light L2 are coupled, and the interference light L4 is detected by an interference light detecting means 6, then, the tomographic image of the object S is obtained, an optical modulation part 20 for carrying out the frequency modulation of the reference light L2 is provided. - 特許庁

処理流体による基板処理の際に、基板表面上で顕著な変化を生じさせ、これにより、処理効率の向上を図ることができる基板処理方法および基板処理装置を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate treatment method capable of improving processing efficiency by generating a remarkable change on a substrate surface in substrate treatment by a treatment fluid, and a substrate treatment apparatus. - 特許庁

シュードスコピック立体像を正立させ、かつその観察光線を反転させる光学反転装置（２１ａ、２１ｂ）を有する立体顕微鏡であって、反転装置は屈折能力を備える少なくとも１つの偏向要素（２１ａ、２１ｂ）を有する立体顕微鏡。例文帳に追加

In the stereomicroscope having optical inverting devices (21a and 21b) for erecting the pseudoscopic stereoscopic image and inverting an observing light beam, the inverting device has at least one deflecting element (21a or 21b) possessing refracting ability. - 特許庁

顕微鏡対物レンズの辺縁部にレーザ光を導入し物体を照明するケーラー式照明系において、前記レーザ光による照明方向を顕微鏡対物レンズ５６の軸心を中心に回転可能としたことを特徴とする回転式輪帯全反射照明機構。例文帳に追加

In a Koehler type illumination system in which an object is illuminated by introducing laser light to the peripheral part of an objective lens of a microscope, the rotational zone total reflection illumination mechanism is characterized in that the direction of illumination with the laser light is rotatable around the axis of the objective lens 56 of the microscope. - 特許庁

複数人が同時に観察でき、かつ、少なくとも一人の観察者の観察方向を変更することができる実体顕微鏡において、観察者同士の相対的な観察位置を、所定の観察方向を保ったままの状態で、変更することができるようにしている。例文帳に追加

As to this stereoscopic microscope by which plural observers can simultaneously perform observation, and the observing direction of at least one observer can be changed, the relative observing positions of observers can be changed with each other in a condition where a specified observing direction is kept. - 特許庁

顕微鏡制御部１１は、該薄膜の対物レンズ２からの距離を光軸方向に変化させて、該距離と光検出器７で検出される輝度との関係を示す測定データを取得する。例文帳に追加

A microscope control section 11 changes the distance of the thin film from the objective lens 2 in the direction of the optical axis, and obtains measurement data indicating the relationship between the distance and the intensity detected by the photodetector 7. - 特許庁

本発明は、一度に複数の測定項目の測長測定を効率よく行え、自動測長用のパラメータの登録、確認、変更を容易にできる走査形電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which efficiently performs the distance measurement on a plurality of measurement items at once, and which easily registers, verifies, and changes the parameters for the automatic distance measurement. - 特許庁

本発明の上記課題は、赤外光を可視光に変換する結像レンズの結像位置に配置されたアップコンバージョン蛍光体と、アップコンバージョン蛍光体で変換された可視光を検出する撮像素子とを備えた赤外線顕微鏡を提供することで解決される。例文帳に追加

The problem is solved by providing the infrared microscope equipped with: the up-conversion phosphor disposed at the imaging position of an imaging lens that converts infrared light to visible light; and an imaging element that detects the visible light converted by the up-conversion phosphor. - 特許庁

放射写真画像を記録する方法及び装置において、放射源の出力は識別された記録用媒体の特性及び期待処理条件からの実際の処理条件の偏差を考慮に入れて調節される。例文帳に追加

In the method and apparatus for recording radiographic images, the output of the source of radiation is adjusted considering the characteristics of a discriminated recording medium and the deviation of actual processing conditions from expected processing conditions. - 特許庁

検光子１３の透過軸方向が入射面に対して任の角度ω_０傾き、偏光子１１の透過軸方向が入射面に対して０°及び９０°傾いている時の透過光強度に基づいて比ｒを求める。例文帳に追加

A ratio r is found based on an intensity of transmission light when a transmission axis direction of an analyzer 13 is inclined at an optional angle ω_0 with respect to an incident face and when a transmission axis direction of a polarizer 11 is inclined at 0° and 90° with respect to the incident face. - 特許庁

検光子１３の透過軸方向が入射面に対して任の角度ω_０傾き、偏光子１１の透過軸方向が入射面に対して０°及び９０°傾いている時の透過光強度に基づいて比ｒを求める。例文帳に追加

A ratio (r) is calculated on the basis of the intensity of transmitted light, when the transmission axis direction of an analyzer 13 is inclined by an arbitrary angle ω_0, with respect to the incidence plane and the transmission axis direction of a polarizer 11 is inclined by 0° and 90°, with respect to the incidence plane. - 特許庁

このような構成によれば、微小試料片を試料台から取り外すことなく、イオンビームによる加工および任意の方向からの二次電子像および電子顕微鏡観察が可能となる。例文帳に追加

By the above mechanism, a processing by using an ion beam, and observation of secondary electron image in optional direction through an electron microscope are made possible without taking out a fine piece of sample from the sample stand. - 特許庁

あわせて、国及び地方公共団体は、肝硬変及び肝がんを含む肝疾患に係る肝炎医療の水準の向上等を図るため、医療従事者への研修等人材育成を推進する。例文帳に追加

The national and local governments shall also enhance education of human resources such as training of health care workers in order to improve the level of hepatitis treatment related to liver disease including cirrhosis and liver cancer. - 厚生労働省

本発明の課題は、傾斜機能をもつ試料ステージを備えた荷電粒子顕微鏡において、併設される光学顕微鏡等の他の周辺機器に対して試料ステージの傾斜駆動が影響を及ぼさないような機構を提供することにある。例文帳に追加

To provide a mechanism in which gradient driving of a sample stage does not influence on other peripheral devices such as a photoelectron microscope or the like installed in combination, in a charged particle microscope provided with the sample stage having the gradient function. - 特許庁

本発明では、観察画像の輝度分布における高輝度変位点と低輝度変位点との輝度値の差分に応じて、ブラックバランス補正を行う顕微鏡システムを提供する。例文帳に追加

To provide a microscope system for performing black balance correction in accordance with a differential between luminance values at a high-luminance displacement point and a low-luminance displacement point in luminance distribution of an observation image. - 特許庁

原稿画像のパターンを検知した場合に使用者の認証情報に基づいて、画像データを変更するか否かを切り替えるよう制御する画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラムおよび記録媒体を提供する。例文帳に追加

To provide an image processing apparatus, an image processing method, an image processing program, and a recording medium for switchably controlling whether to change image data on the basis of authentication information of a user when a pattern of an original image is detected. - 特許庁

偏光顕微鏡でマルターゼクロス像を評価することにより、被験物質として多硫酸化コンドロイチン硫酸を用いたとき、規則正しくラメラ構造を構築した。例文帳に追加

A regular lamella structure is constructed by evaluating a Maltese Cross image with a polarizing microscope in using the polysuflated chondroitin sulfate as the test article. - 特許庁

可変組織抵抗、可変出力回路リアクタンス、および厳しい電力配電条件の下で、応答時間の短縮および規制強化を達成しつつ、電力、電圧または電流の電気外科出力パラメータを規制する閉ループ・フィードバック制御システムを備えた電気外科発生装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electrosurgery generating device equipped with a closed loop/feed back control system for regulating electrosurgery output parameters of power, voltage or current while achieving shortening of response time and tightening of regulation under variable tissue resistance, variable output circuit reactance, and strict power distribution condition. - 特許庁

透過型電子顕微鏡５００の複数の光学素子を用いることにより非散乱電子ビームを偏向して、回折平面に配置されたコントラスト向上素子５１８に該電子ビームが照射されないように調節する。例文帳に追加

Using a plurality of optical elements in a transmission electron microscope 500, an unscattered electron beam is adjusted to deflect to prevent incidence of the electron beam onto a contrast enhancing element 518 disposed in the diffraction plane. - 特許庁

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）等の荷電粒子線装置において、試料室の上下（電子線の入射側及び出射側）に設置される絞り（オリフィス）の口径変更、交換、着脱が容易に行えるようにする。例文帳に追加

To facilitate a diameter change, an exchange, and mounting and dismounting of an orifice arranged above and below a sample chamber (an incident side and an emitting side of an electron beam) in a charged particle beam device such as a transmission electron microscope (TEM). - 特許庁

被検体用担体あるいは対物レンズやコンデンサについても、それらの異方性が問題とならない被検体の顕微鏡結像のための偏光光学的な干渉コントラストを形成する方法。例文帳に追加

To provide a method for forming a polarization optical interference contrast for microscope imaging of a specimen which is free of problems of anisotropy of a specimen carrier, an objective, or a condenser. - 特許庁

前記試料ホルダ１４は、試料位置の移動に加え傾斜と回転の機構を有するか、前記走査型電子顕微鏡の鏡筒１と反射電子検出器１２の位置を変更し、前記鏡筒１と反射電子検出器１２を前記試料表面に対向させるための手段を備える。例文帳に追加

The sample holder 14 is equipped with a means, having a mechanism of inclination and rotation, in addition to the movement of the position of the sample or a means for altering the position of the lens barrel 1 of the scanning electron microscope and a reflected electron detector 12, to make the lens barrel 1 and the reflected electron detector 12 face the surface of the sample. - 特許庁

このとき、光源部２０の光源２３，２４及び偏向部３０のレンズ３３，３４は、顕微鏡１００の結像部４０を囲むように、円周方向に略等間隔で配置される。例文帳に追加

At this time, the light sources 23, 24 of the light source part 20 and the lenses 33, 34 of the deflection part 30 are arranged in a peripheral direction with nearly the same intervals so as to surround an imaging part 40 of the microscope 100. - 特許庁

取得画像から任意の指定領域にのみ全反射蛍光照明光を速やかに照射可能で、かつ照射光の強度を任意に可変できる顕微鏡に付加される全反射蛍光照明装置を提供する。例文帳に追加

To provide a total reflection fluorescence illuminator, capable of rapidly irradiating only an optional designated area from an acquired image with total reflection fluorescence illuminating light, optionally varying the intensity of irradiated light and added to a microscope. - 特許庁

上記の光学顕微鏡３によれば、プローブ光９が生きている細胞の細胞膜近傍での濃度勾配により偏向することから、該偏向を測定することで細胞の生死判別及び細胞活動を迅速にかつ簡易に判別・測定することができる。例文帳に追加

In the the above optical microscope 3, since the probe light 9 is deflected by density gradation near the cell membrane of living cells, viability of cells and cell activity can rapidly and easily be judged and measured by measuring the deflection. - 特許庁

試料上の任意の箇所に導電性物質を含む微量の液滴を付与する手段と、付与位置を観察、特定するための光学顕微鏡と、試料と液滴付与手段および光学顕微鏡の相対位置を変位させるための移動手段。例文帳に追加

This pretreating device is provided with a means 4 to provide a minute amount of droplet 3 containing a conductive substance for any location on a sample 2, an optical microscope for observing and specifying the provided location, a moving means for displacing the relative locations of the sample 2, the droplet providing means 4 and the optical microscope. - 特許庁

顕微鏡画像の横方向で経時的な解像能を整合するための設備は、顕微鏡画像の画像内容における変化を検知するための手段と；上記画像内容を限定するための電子手段と；適切な伝達モードに自動的に切り替わるための手段とを備える。例文帳に追加

The equipment for matching the temporal resolution in the lateral direction of the microscopic images is also provided with a means for detecting changes in the image contents of the microscopic images; an electronic means for restricting the image contents; and a means for automatically switching to the adequate transmission mode. - 特許庁

基板上に塗布された着色膜に生じる微小な濃度変動を光学フィルターによって強調することでＳ／Ｎ比を向上させ、きわめて小さな濃度変動の良否判定を行う基板検査装置および基板観察装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a substrate inspection device and a substrate observation device which improves an S/N ratio by emphasizing fine concentration fluctuation generated on a colored film applied onto a substrate by an optical filter, and performing quality determination of extremely fine concentration fluctuation. - 特許庁

基板上に塗布された着色膜に生じる微小な濃度変動を光学フィルターによって強調することでＳ／Ｎ比を向上させ、きわめて小さな濃度変動の良否判定を行う基板検査装置および基板観察装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a substrate inspection device and a substrate observation device for performing quality determination of a very small concentration fluctuation by improving an S/N ratio by emphasizing a micro-concentration fluctuation generated in a colored film applied onto a substrate by an optical filter. - 特許庁