「へんこうけんびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

顕微鏡装置１は、チタンサファイアレーザ２から射出されたレーザ光のビーム径をビーム径可変光学系３で可変して、位相変調型ＳＬＭ５に照射する。例文帳に追加

In a microscope device 1, the beam diameter of a laser beam emitted from a titanium sapphire laser 2 is varied by a beam diameter varying optical system 3 to irradiate a phase modulation type SLM5. - 特許庁

高い屈折率の浸液と従来のカバーガラスとを用いた場合にも、カバーガラスの厚さ変化や温度変化に起因する諸収差の変動を良好に補正することのできる液浸系顕微鏡対物レンズ。例文帳に追加

To provide an immersion system microscope objective in which the variations of aberrations caused by the thickness change of a cover glass or a temperature change is satisfactorily corrected even when an immersion liquid and a conventional cover glass with a high refractive index are used. - 特許庁

明治3年2月27日(旧暦)（1869年3月28日）-一部（高野山金剛峯寺領）が新設の五條県に編入される。例文帳に追加

March 28, 1869: A portion (Kongobu-ji Temple on Mt. Koya) was incorporated in the newly-found Gojo Prefecture.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

生化学反応に起因して起こる生体分子一個の構造変化を実時間で観測し得る走査型プローブ顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning type probe microscope allowing observation on real time, a structural change of one biomolecule caused by a biochemical reaction. - 特許庁

間引き学習処理（Ｓ２０２）では、計測した処理負荷に基づいて間引きの条件（間引き判定回転数ＮＥＬＲＮ、間引き回数Ｎ）を学習することにより、前記処理負荷に応じて当該間引きの条件を変更して設定し直す。例文帳に追加

In a thinning-out learning process (S202), conditions of a thinning-out process (thinning-out decision rotational frequency NELRN and thinning-out frequency N) are learnt according to the measured process load and then the conditions of the thinning-out process are changed and set again according to the process load. - 特許庁

光源２１からの光をローションプリズム２８によってＳ偏光とＰ偏光に分離して、被検物１とカンチレバー１２との相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、参照ミラー６３を計測基準としてカンチレバー変位を計測する機能を設ける。例文帳に追加

In the atomic force microscope that separates the light from a light source 21 into S-polarized light and P-polarized light by a lotion prism 28 to measure the relative displacement of the article 1 to be inspected and the cantilever 12, the function for measuring the displacement of the cantilever 12 by using a reference mirror 63 as a measurement standard is provided. - 特許庁

軸外での性能劣化が少なく、波面変換素子の制御方法が簡単で、瞳リレー光学系の構成が簡単か不要な波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡例文帳に追加

To provide a scanning optical microscope using a wavefront conversion element which is less deteriorated in abaxial performance, is simple in a method of controlling the wavefront conversion element and is simple in the constitution of a pupil relay optical system or does not require the same. - 特許庁

グラビア版セル形状測定装置には、偏光角度変更手段２０を備えたカメラ顕微鏡２が備えられ、それぞれ異なる偏光角度で複数枚のセル画像を撮像する。例文帳に追加

The photogravure plate cell shape measuring apparatus has a camera microscope 2 having a polarization angle changing means 20, and picks up a plurality of cell images at different polarization angles. - 特許庁

普遍的に使用可能で、公知の種々の走査顕微鏡の利点を提供し、位置調整コストを要せずに、或いは位置調整コストを少なくして後付け可能な走査顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning microscope which is universally usable, provides the advantages of various known scanning microscopes, does not require a position adjusting cost or reduces the position adjusting cost and can be post installed. - 特許庁

部分ビームの数と間隔を、互いに簡単に変更することができる、レーザ走査顕微鏡のためのビームスプリッタ装置を提供する。例文帳に追加

To provide the beam splitter device for a laser scanning microscope which can easily vary the number and intervals of partial beams. - 特許庁

軸外での性能劣化が少なく、観察する物体に影響を及ぼすことの少ない、波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡。例文帳に追加

To provide a scanning optical microscope which employs a wave front converting element, has little off-axis performance deterioration and exerts little influence on an object to be observed. - 特許庁

試料１を加工することによって、透過型電子顕微鏡による所望の観察箇所２を含む薄片部を形成し、記薄片部を含む試料表面に薄膜を成膜した後に、薄片部に対し集束イオンビームにより加工を施して、薄片部の一部の薄膜を除去し、透過型電子顕微鏡の観察試料とする。例文帳に追加

A slice part, containing a desired observation place 2 due to the transmission electron microscope, is formed by processing the sample 1, and after a thin film is formed on the surface of the sample containing the slice part, the slice part is processed by a converged ion beam and the thin film of a part of the slice part is removed, to obtain the observation sample of the transmission electron microscope. - 特許庁

本発明は、周辺機器を積載しても顕微鏡全体の質量増分を低く抑え、運搬性が良好な手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。例文帳に追加

To provide a surgical microscope excellent in portability obtained by restraining an increase in the mass of the entire microscope to be small even when peripheral equipment is loaded. - 特許庁

顕微鏡システム２００は、Ｈｅイオン源、第一レンズ２１６、軸合せ偏向器２２０及び２２２、絞り２２４、走査偏向器２１９及び２２１、第二レンズ２２６を含むイオン光学機器１３０、並びに試料室を有する。例文帳に追加

A microscope system 200 comprises: a He ion source; a first lens 216; axis adjusting deflectors 220 and 222; a diaphragm 224; scanning deflectors 219 and 221; an ion optical device 130 including a second lens 226; and a sample chamber. - 特許庁

回転ステージに容易に装着でき、試料板をＸ軸方向及びＹ軸方向に簡便に移動させることができ、安価に製造することのできる偏光顕微鏡用メカニカルステージ及びこれを備えた偏光顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a mechanical stage for a polarizing microscope, which can be easily mounted on a rotating stage and allows a sample plate to be easily moved in an X-axis direction and Y-axis direction and can be inexpensively manufactured, and a polarizing microscope provided with the same. - 特許庁

偏光を使用する観察と偏光を使用しない観察との切り換えを一つの動作ででき、かつ経済的に構成できる偏光ユニットおよびこれが取り付けられる顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a polarizing unit by which switching between observation using polarized light and the one without using the polarized light can be performed by one operation and which is economically constituted, and a microscope to which the polarizing unit is attached. - 特許庁

電子レンズの収束条件を変化させた場合にも，走査電子顕微鏡本来の操作性を損なうことなく一次電子の偏向を補正して外部擾乱の相殺が適切に行えることを目的とする。例文帳に追加

To properly offset external disturbance by correcting deflection of a primary electron without impairing original operability of a scanning electron microscope even when changing a converging condition of an electron lens. - 特許庁

一度撮影した画像に対してフォーカス位置を変化させた画像を追加したり、明るさを変更した画像を追加したりして、検査側が所望の画質の画像に仕上げることができる顕微鏡画像撮影装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a microscopic image photographic device which enables an inspection side to finish images to the images of desired image quality by adding the images changed in focal positions or adding the images changed in brightness to the once photographed images. - 特許庁

栄養価に富み優れた抗酸化力を有し、また莫大な供給能力も有しながら、加工による変色が顕著で加工品が商品化できずに用途が限られていた空心菜、及び季節的に変色する小松菜を、新たな栽培方法により変色しないものとする。例文帳に追加

To provide a new cultivation method capable of preventing swamp cabbage and Komatsuna (such as Brassica rapa var. peruviridis) from discoloration, wherein the Ipomoea aquatica Forsk is rich in nutritive value and excellent in antioxydation power and has a huge amount of supply capacity but is conspicuous in discoloration caused by processing and thereby limited in application and the Komatsuna discolors depend on seasons. - 特許庁

倍率、走査方向や測定装置を変更しても、測定結果の変動が生じない線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a linewidth measurement regulation method and a scanning electron microscope capable of preventing a measured result from being fluctuated even when changing a magnification, a scanning direction and a measuring instrument. - 特許庁

トリガ信号入力から露光開始までの時間を測定し、生物標本に生じた現象の時間変化を正確に把握することが可能な顕微鏡用撮像装置、顕微鏡用撮像プログラムおよび顕微鏡用撮像方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an imaging apparatus for a microscope, which is capable of accurately obtaining the time change of a phenomenon occurring in a biological sample by measuring a time from the input of a trigger signal to the start of exposure, and to provide an imaging program for the microscope and an imaging method for the microscope. - 特許庁

ハーフミラーやハーフプリズム等の偏向部材を光路中に備える落射顕微鏡において、縦横のラインパターンによる解像度の差やコントラストの差を無くすことが可能な落射顕微鏡、及び落射顕微鏡に用いられる対物レンズなどの光学部材を提供する。例文帳に追加

To provide a vertical illumination microscope equipped with a deflecting member such as a half mirror or a half prism in its optical path and capable of eliminating the difference of resolution and the difference of contrast caused by the vertical and horizontal line patterns, and an optical member such as an objective used in the vertical illumination microscope. - 特許庁

対物レンズＯＬと、前記対物レンズＯＬの像側の直後に中間変倍部ＶＬを配置してなる顕微鏡光学系。例文帳に追加

This microscope optical system comprises an objective lens OL and an intermediate variable magnification part VL, disposed immediately after the image side of the objective lens OL. - 特許庁

締付帯５、３０及び６、３１は、それぞれ形状可変部材８及び９、及び１０によって架橋され、甲パッド７を懸架している。例文帳に追加

The fastening straps 5, 30 and 6, 31 are respectively bridged by the shape variable members 8, 9 and 10 to suspend the instep pad 7. - 特許庁

第１及び第２の偏向素子を近づけて配置することができ、全体を小型化した走査型顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning microscope arranging first and second deflection elements nearby and reducing a total size. - 特許庁

顕微鏡光源１２の定格電圧に対して所定比率の電圧値以上の電圧範囲内で電圧値を可変して顕微鏡光源１２に印加することにより調光し、又は所定比率の電圧値に固定して顕微鏡光源１２に印加すると共に、顕微鏡光源１２から放射される光束を減光フィルタに透過させて調光する。例文帳に追加

Light control is carried out by applying a voltage value within a voltage range of a voltage value or more of a prescribed ratio or more against the rating voltage of a microscope light source 12, or by means that the voltage value is fixed at a prescribed ratio and applied to the microscope light source 12, and that light flux emitted from the microscope light source 12 is made to be transmitted through a dimmer filter. - 特許庁

顕微鏡で観察する対象物の偏光情報や光学異方性情報を撮像素子のフレームレートで取得することができるカメラ付き顕微鏡システムを提供する。例文帳に追加

To provide a microscopic system with camera, which acquires polarizing information and optical anisotropic information on an object to be observed by a microscope at the frame rate of an imaging device. - 特許庁

また、光検出器２３ａおよび２３ｂのうちのいずれか一方の設定値が、所定の目標輝度値を目標として変更されたとき、その変更後の設定値との関係性が維持されるように他方に定されるべき値を導き出す。例文帳に追加

When the set value of one of the optical detectors 23a and 23b is changed to another set value, a value to be set for the other is derived so as to maintain the offset, and sets this value. - 特許庁

本発明は、入射光の波長を変調することで試料からの信号に変調を加え、変調された信号からＳＮＯＭ信号を抽出することでＳ／Ｎよい画像を得る信号検出手段を備えた近接場光学顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a proximity field optical microscopic apparatus equipped with a signal detection means modulating the wavelength of incident light to apply modulation to the signal from a sample and extracting an SNOM signal from the modulated signal to obtain an image having a good S/N ratio. - 特許庁

顕微鏡などの試料照明用光学系に波長変換フィルタのような中間物を装着し、変換した波長で試料を照明するとき、中間物の特性、特徴を生かした照明をする。例文帳に追加

To mount an intermediate matter such as a wavelength conversion filter on a sample lighting optical system such as a microscope and perform lighting while making good use of the characteristic and feature of the intermediate matter, when lighting a sample with a converted wavelength. - 特許庁

そして、このイオン電流ｉｏは、オペアンプ２１及び帰還抵抗器２３を有する電流−電圧変換回路４１により直接電圧変換され、電圧（電圧変換値）Ｖｒとして検出回路２５に出力される。例文帳に追加

The ion current io is directly converted into the voltage by a current-voltage converting circuit 41 having an operational amplifier 21 and a feedback resistor 23, and output to a detecting circuit 25 as the voltage (voltage converted value) Vr. - 特許庁

物体に集光する光軸方向の位置を変更しても結像性能の劣化が少ない波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡。例文帳に追加

To provide a scan type optical microscope using a wavefront converting element which less deteriorates in imaging performance even when a position in the direction of an optical axis where light is condensed on an object is changed. - 特許庁

顕微鏡から得られた画像のサムネイル画像のサイズを変更可能としながら、サムネイル画像と共に表示されるメタデータの表示形態を、サムネイル画像の視認性を損なわないように変更すること。例文帳に追加

To change the display form of metadata displayed together with a thumbnail image, so as not to damage the visibility of the thumbnail image, while making it possible to change the size of the thumbnail image of an image obtained from a microscope. - 特許庁

この掃き出しゲート８の駆動条件を変更するだけで、任意の間引き率で読み出しを行うことができる。例文帳に追加

Reading can be done at an arbitrary thin-out rate only by changing the driving conditions of the weep-off gate 8. - 特許庁

走査電子顕微鏡の電子ビームを走査（スキャン）させるための２次元の座標を生成するスキャン制御部１２に、水平（Ｘ）方向及び垂直（Ｙ）方向毎に個別に座標変換する変換部８，９を備え、試料の検査対象領域で任意の方向に電子ビームを走査させる。例文帳に追加

Conversion parts 8, 9 which individually perform coordinate-conversion in each horizontal (X) direction and vertical direction (Y) are provided at a scan control part 12 to form two dimensional coordinates for scanning electron beams of a scanning electron microscope, and the electron beams are scanned in the arbitrary direction in the inspection object region of the sample. - 特許庁

顕微鏡およびズーム対物レンズにおいて、幅広い変倍範囲に対応しながら芯ずれの非常に少ない倍率切換を行え、それにより顕微鏡観察の作業性を向上でき、しかも低コスト化、小型化が図れるようにする。例文帳に追加

To vary magnification with extremely less off-centering while coping with the wide magnification variable range, then, to improve the workability in microscopic observation, and also, to attain the cost reduction and the miniaturization, as for a microscope and a zoom objective lens. - 特許庁

顕微鏡を含む複数の光学装置に対して光源からの光を同時に供給、かつ瞬時にその光量を変更することができる光源装置と、これを有する光学装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a light source device capable of supplying light from a light source simultaneously to a plurality of optical devices including a microscope, and changing the light quantity instantly, and to provide an optical device having the light source device. - 特許庁

落射蛍光照明装置のユニットを兼用して簡単な構成変更だけでリフレクションコントラスト照明観察を可能とする顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope which enables reflection contrast lighting observation by using a unit of a epifluorescent lighting device in common and only making simple constitution alternations. - 特許庁

荷重点である変位出力端側に応答特性に優れた拡大移動量を付与して電気計測プローブをＺ軸方向に迅速に移動させることができる変位拡大機構および基板検査装置の提供。例文帳に追加

To provide a displacement enlarging mechanism which applies an enlarged movement amount excellent in responsiveness to a displacement output end side as a load point to rapidly move an electric measurement probe in a direction of a Z-axis, and also to provide a substrate inspection device. - 特許庁

信蕃は本能寺の変後、空白地帯となった信濃・甲斐に家康を手引きし、その占領に貢献した。例文帳に追加

Nobushige provided assistance to help Ieyasu conquer Shinano and Kai Provinces, which had been left without a territorial governor after the Honnoji Incident.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

対物レンズの倍率Ｍ_OBJ及び開口数ＮＡ_OBJと光電変換素子の分解能Ｐとを基に、補助倍率Ｍ_SUBを下記数式（１）により算出し、顕微鏡の補助倍率を当該算出された補助倍率に変更する。例文帳に追加

The auxiliary magnification MSUB is calculated by the following mathematical expression (1) in accordance with the magnification MOBJ and numerical aperture NAOBJ of the objective lens and the resolution P of a photoelectric conversion element and the auxiliary magnification of the microscope is changed to the calculated auxiliary magnification. - 特許庁

長禄の変（ちょうろくのへん）は、室町時代の長禄元年12月2日(旧暦)（1457年12月27日）に赤松家遺臣らが後南朝の行宮を襲い、南朝の皇胤である尊秀王と忠義王（後南朝の征夷大将軍である）の兄弟を騙し討って、神璽を持ち去った事件。例文帳に追加

Choroku no hen was an incident that occurred on December 27, 1457 during the Muromachi period when former retainers of the Akamatsu family attacked angu (emperor's temporary palace) of Gonancho (Second Southern Court), made a surprise assault on the brothers of Sonshuo and Chugio who were descendants of the Southern Court emperor (the latter was a seii taishogun (literally, "great general who subdues the barbarians" of the Southern Court), and took away Shinji (the sacred jewel).  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

ＯＣＴシステムのコリメーティング光学素子によって形成された測定光ビームは、ビームスキャナによって偏向され、結像光学素子を横断し、反射器によって反射され、測定光ビームが顕微鏡光学素子の対物レンズを横断し、顕微鏡光学素子の物体領域に照射される。例文帳に追加

A beam of measuring light formed by collimating optics of an OCT system is deflected by a beam scanner, traverses imaging optics, and is reflected by a reflector so that the beam of measuring light traverses an objective lens of microscopy optics and is directed to an object region of the microscopy optics. - 特許庁

エリプソメトリー顕微鏡は、光源と偏光子と位相補償子とを備えると共に試料面ＳＰに対して照明光Ｌ４を斜めに照射する斜め照明系と、結像系と、検光子２３と、結像系による像を検出面２５で検出する撮像素子２４とを備える。例文帳に追加

An ellipsometry microscope includes: an oblique illumination system that includes a light source, a polarizer and a phase compensator and emits an illumination light L4 obliquely to a sample surface SP; an imaging system; an analyzer 23; and an imaging element 24 for detecting an image by the imaging system on the detection surface 25. - 特許庁

走査型レーザ顕微鏡装置のシステムコントローラ８はＡ／Ｄ変換クロックａを測光装置７のＡ／Ｄ変換器１２に出力し、画素クロックｐを同じく測光装置７の演算装置１３に出力する。例文帳に追加

A system controller 8 of the scanning laser microscope device outputs an A/D conversion clock (a) to an A/D converter 12 of the photometric apparatus 7 and outputs a pixel clock (p) to an arithmetic unit 13 of the photometric apparatus 7. - 特許庁