「へんこうけんびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

左右方向変位量の検出に当たり、直線部11及び曲線部12の走行中では、それぞれ磁力検出装置17，20及び磁力検出装置18，19の検出量を採用する。例文帳に追加

When detecting the lateral displacing amount, during the traveling along with straight part and curved part, the detected amounts of magnetic force detectors 17 and 20 and magnetic force detectors 18 and 19 are respectively adopted. - 特許庁

培養空間の環境を変化させることなく簡単な構成で培養細胞に投薬などの操作を行なえる培養顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a culture microscope apparatus capable of carrying out operation of medication, etc., to a culturing cell by a simple constitution without changing environment of a culturing space. - 特許庁

高価な音響光学変調器を不要とするために、レーザ走査顕微鏡におけるビーム遮断用デバイスと、ビーム遮断を用いてレーザ走査顕微鏡を走査する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device for beam shut-off in a laser scanning microscope and a method for scanning the laser scanning microscope by using beam shut-off in order to dispense with an expensive acoustooptical modulator. - 特許庁

グリース中の金属石鹸粒子の顕微鏡観察方法において、グリースを透明な２枚の板の間に所定の強度の力で挟み、微分干渉もしくは偏光機能を有した光学顕微鏡で観察する。例文帳に追加

In this microscopic observation method of metallic soap particles in grease, the grease is sandwiched between the two transparent plates with a force having prescribed strength and observed by an optical microscope having differential interference or polarization function. - 特許庁

集束イオンビーム加工装置の試料ステージと透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法例文帳に追加

SAMPLE STAGE FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR MAKING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE PLANE-OBSERVED SEMICONDUCTOR THIN SAMPLE - 特許庁

偏向信号に歪みが生じても、その取得された観察画像の精度を保障する走査型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which guarantees precision of observation images obtained even if distortion is caused in a deflection signal. - 特許庁

共焦点顕微鏡への入射レーザ光のビーム径をビーム径可変光学系１２によって変化させることによって、試料のレーザ照射領域の大きさを変化させる。例文帳に追加

By changing the beam diameter of incident laser light to a confocal microscope by a variable beam diameter optical system 12, the size of the laser irradiated area of a sample is changed. - 特許庁

六　前各号に掲げる事項の基礎となる経済及び金融の情勢に関する基本的見解その他通貨及び金融の調節に関する日本銀行としての見解の決定又は変更例文帳に追加

(vi) Determining or altering the Bank of Japan's view on currency and monetary control, including its basic view on economic and monetary conditions which provides the basis for matters listed in the preceding items.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

コンパクトな構造で、かつ運動能力が少なくとも３自由度を有する偏平なパラレルリンク型の顕微鏡用ステージを提供する。例文帳に追加

To provide a stage for a microscope of a flat parallel link type which has a compact structure and of which the moving capability has at three degrees of freedom. - 特許庁

画像の縦横比が変更された場合においても、観察対象物の寸法を容易にかつ正しく求めることを可能とする顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope capable of obtaining dimensions of an observation object easily and correctly even if an aspect ratio of an image is changed. - 特許庁

レーザー光源１１により発生したレーザー光は顕微鏡対物レンズ１２を透過後、コリメータレンズ１４で平行光に変換される。例文帳に追加

Laser beam generated by a laser beam source 11 is transmitted by an objective lens 12 of a microscope and then converted into parallel light by a collimator lens 14. - 特許庁

エ 国は、肝炎から進行した肝硬変及び肝がんの患者に対する更なる支援の在り方について検討する上での情報を収集するため、肝硬変及び肝がん患者に対する肝炎医療や生活実態等に関する現状を把握するための調査研究を行う。例文帳に追加

d) The national government shall conduct surveys and research to determine the actual status of hepatitis treatment of patients with cirrhosis and liver cancer and the impact of their disease on their quality of life, in order to collect information necessary to evaluate the scope of further support that may be necessary for patients with hepatitis-associated cirrhosis and liver cancer. - 厚生労働省

対象物（５）を結像するための偏光干渉顕微鏡（１）は、光源（２）、照明ビーム路（６）、結像ビーム路（７）及び対物レンズ（４）を備える。例文帳に追加

The polarization interference microscope (1) for imaging the objects (5) comprises a light source (2), an illumination beam path (6), an imaging beam path (7) and an objective (4). - 特許庁

専用の装置を付加することなく少ない変更で簡単に三次元形状計測を行うことができる走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of simply carrying out three-dimensional shape measurement without adding an exclusive device and with less changes. - 特許庁

蛍光像の明るさ調整を行った場合にも透過像の明るさの変動を防止することができる顕微鏡を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a microscope that prevents variation in brightness of a transmitted image even when the brightness of a fluorescent image is adjusted. - 特許庁

複雑な垂直転送電極の配線構造を作ることなく、駆動条件を変更するだけで、任意の間引きレートを実現でき、フレームレート,解像度等を容易に変更することができる固体撮像装置を提供する。例文帳に追加

To provide a solid image pickup device, which can realize arbitrary thin-out rate and can change frame rate, solution or the like easily, by only changing the drive conditions without forming a complicated wiring structure of a vertical transfer electrode. - 特許庁

光学検出ヘッド１６〜検光子２２で構成される微分干渉顕微鏡を用いてディスク１０表面の形状を干渉による画像として捕らえ、この画像をホトダイオード２８で電気信号に変換する。例文帳に追加

The shape of the surface of a disk 10 is captured as an image due to interference by using a differential interference microscope constituted of an optical detection head 16 and an analyser 22 and this image is converted to an electric signal by a photodiode 28. - 特許庁

本発明の上記課題は対物レンズと接眼レンズと赤外光源を備えた顕微鏡において、標本面と共役位置に赤外可視変換部が配置されることを特徴とする光学顕微鏡によって解決される。例文帳に追加

Provided is the optical microscope where an infrared-visible conversion part is arranged at a conjugate position to a sample surface in a microscope equipped with an objective, an eyepiece and an infrared light source. - 特許庁

光学顕微鏡下において、その焦点位置をオーバーシュートや振動を起こすことなく高速、かつ、安定に変位させることを可能にする顕微鏡ステージ、および焦点位置計測装置・システムを提供すること。例文帳に追加

To stably displace the focal position of an optical microscope under an optical microscope at a high speed without causing overshooting and vibration. - 特許庁

ビームスプリッター等による光量の損失もなく、制御が容易で、従来のレーザー走査型顕微鏡の光学配置を大きく変更することなく、波面変換素子の大きさにも容易に対応することが可能な走査型光学顕微鏡。例文帳に追加

To provide a scanning optical microscope which is easily controlled without a loss of light quantity due to a beam splitter or the like and is capable of easily corresponding to the size of a wavefront converting element without largely changing an optical arrangement of the conventional laser scanning microscope. - 特許庁

この事件をきっかけに、長州藩は強硬派に引きずられる形で挙兵・上洛し、7月19日(旧暦)の禁門の変を引き起こす。例文帳に追加

Beginning with this incident, the Choshu clan fell under the influence of zealots and later came to Kyoto and raised the Kinmon rebellion on July 19 (in the old calendar).  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

手動および電動でズーム倍率を変更可能で、作業操作性がよいズーム顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a zoom microscope which is capable of changing a zoom magnification manually or electrically and excellent in working operability. - 特許庁

平衡強度検出器の各々の出力および強度プロファイルは、それぞれ対応するディジタル表現に変換される。例文帳に追加

The output of each of the balanced intensity detectors, and the intensity profile, are each converted to respective digital representations. - 特許庁

金属異物は実体顕微鏡あるいは金属顕微鏡の偏向観察等で黒色に近い外観色にて観察され、また内部ポアおよびキレは白色に近い外観色にて観察される。例文帳に追加

The metal foreign matter is observed in an appearance color close to black by polarized light observation of a stereoscopic microscope or a metallurgical microscope and the internal pore and cut are observed in an appearance color close to white. - 特許庁

この手術顕微鏡１は、前記顕微鏡実視野に対して前記表示画像の角度と位置を前記中間結像面と共役な面上で、光学的に変更可能な画像位置調整手段１３８と、前記顕微鏡実視野に対して前記表示画像の倍率を光学的に変更可能な画像倍率調整手段とを備えている。例文帳に追加

The surgical microscope 1 is provided with image position adjusting means 138 capable of optically changing the angle and position of the display image on a plane conjugate with an intermediate imaging plane with respect to the microscope real field and image magnification adjusting means capable of optically changing the magnification of the display image with respect to the microscope real field. - 特許庁

ｎｍオーダの局所領域において電場変調による光学応答性としてのスペクトルを得、線形及び非線形の物理特性を解析するようにした電場変調スペクトル近接場光学顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an electric field modulation spectrum near-field optical microscope devised to analyze linear and nonlinear physical characteristics by obtaining a spectrum as optical responsiveness by electric field modulation in a local region of an nm order. - 特許庁

また、顕微鏡１００は、そのように構成された対物光学系４と、少なくとも１つの可動レンズを含み、可動レンズが光軸方向に移動することにより変倍する変倍光学系６と、変倍光学系６から射出された光を結像させる結像光学系７と、を含む。例文帳に追加

The microscope 100 includes: the objective optical system 4 having such a configuration; the variable power optical system 6 including at least one movable lens and configured to vary power by moving the movable lens in the direction of an optical axis; and an imaging optical system 7 configured to image light emitted from the variable power optical system 6. - 特許庁

標本の表面上の合焦点位置を示す指標を照明するための新たな光源を追加することなく、また、顕微鏡が備える既存の光学系を何ら変更することなく、標本の表面上の合焦点位置を簡単な構成で視認することができる自動焦点顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an autofocus microscope capable of visualizing a focusing position on the sample surface with a simple constitution without adding a new light source for illuminating a mark indicating the focusing position on the sample surface and without changing the conventional optical system disposed in the microscope in the least. - 特許庁

微小物質の光学異性、回転依存性、円偏光励起蛍光、磁気光学特性、スピン依存性などを顕微分光できる合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a local polarizing microscope analysis/spectral separation method and an apparatus for the method by composite evanescent wave dark field excitation capable of performing the microspectroscopy of optical isomerism, rotary dependency, circular polarization excitation fluorescence, magnetooptical characteristics, spin dependency, and the like in a minute substance, and to provide a substance operation method and a substance operation apparatus applying the method and the apparatus. - 特許庁

(電子)顕微鏡の電子銃系は、電子銃の偏向系を傾けたりずらしたりすることによって、コンデンサレンズ系の軸上に調整できる。例文帳に追加

The electron gun system of a microscope can be adjusted onto the axis of the condenser lens system by tilting and shifting the deflection system of the gun.  - 科学技術論文動詞集

（オ）具体的な施策の目標設定に資する肝炎、肝硬変及び肝がん等の病態別の実態を把握するための調査研究例文帳に追加

v. Surveys and research to determine actual conditions of hepatitis, cirrhosis and liver cancer in terms of pathology, in order to support goal setting for practical measures - 厚生労働省

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加

An electronic microscope 5, for observing defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, is configured in such a manner that an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and that a distribution polarization element and a spatial filter are inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field. - 特許庁

光ファイバー３を伝送してきたレーザ光Ｑを、このレーザ光Ｑの波長とは異なる波長のレーザ光Ｑａに変調して走査型光学顕微鏡本体４に送る高調波発生装置５を、走査型光学顕微鏡本体４に一体的に取り付けた。例文帳に追加

A higher harmonic wave generation device 5 modulating a laser light beam Q transmitted through optical fiber 3 to a laser light beam Qa whose wavelength is different from that of the light beam Q and transmitting it to a scanning type optical microscope main body 4 is integrally fitted to the main body 4. - 特許庁

標本の状態変化に応じて観察条件を変化させ、高速かつ高分解能な観察を行うことができるレーザ顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a laser microscope device capable of changing observation conditions according to a change in sample's status and of performing a high-speed and high-resolution observation. - 特許庁

倍率変換器を有する立体顕微鏡に使用する際に、倍率が高い場合には高い分解能を有するようにし、この分解能は公知の立体顕微鏡よりも大きく、さらに顕微鏡の倍率領域全体を、口径食なしで使用できる対物レンズを提供する。例文帳に追加

To provide an objective lens which is made to so as to have high resolution when the resolution of a stereomicroscope is high when used in the stereomicroscope having magnification converters and whose resolution is larger than that of the well-known steromicroscope and moreover which can use the whole magnification area of the microscope without vignetting. - 特許庁

システム構成の変化を柔軟に検出可能な管理対象機器、機器管理装置、機器管理システム、及び機器管理方法を提供する。例文帳に追加

To provide a management target device, a device management apparatus, a device management system, and a device management method capable of flexibly detecting a change of a system configuration. - 特許庁

全体制御器９は、ビーム偏向による顕微鏡像の移動量から焦点はずれ量を計算し、焦点距離を偏向するように対物レンズ電源に指令する。例文帳に追加

An overall controller 9 computes an unfocused quantity from the movement of a microscope image caused by beam deflection, and commands to the power source of the object lens to deflect a focus distance. - 特許庁

試験対象の変換器及び基準の変換器に対し、ナイキスト周波数まではフラットな周波数特性を有する同一のホワイトノイズを入力して、アナログ信号及びデジタル信号間の変換を実行させる。例文帳に追加

Conversion between the analog signal and the digital signal is executed by inputting the same white noise having flat frequency characteristics to the Nyquist frequency to a converter to be tested and a reference converter. - 特許庁

散乱電子線検出器の取り込み角度範囲の設定と独立にエネルギー分光器の取りこみ角度範囲が設定でき、散乱電子線検出器の取り込み角度範囲の変化に対してエネルギー分光器の条件を変更する必要がない走査透過電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning transmission electron microscope capable of independently setting capturing angle ranges of a scattered electron beam detector and an energy spectrometer, and not requiring to change a condition of the energy spectrometer for the change of the capturing angle range of the scattered electron beam detector. - 特許庁

広い倍率域で最適な偏斜照明を行い、効果的なコントラスト観察が行える実体顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a stereoscopic microscope capable of performing an optimum oblique illumination at wide magnification range and an effective high contrast observation. - 特許庁

視野に照射する光を、可視光、紫外線、赤外線、またはこれらの組み合わせに自在に変更可能な顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope in which light irradiating a visual field can be freely changed to any one of a visible ray, UV ray and IR ray or combination of these. - 特許庁

高感度な力変位センサを集積した、原子間力顕微鏡等に用いられるカンチレバーを提供する。例文帳に追加

To provide a cantilever used for an atomic force microscope formed by integrating a highly sensitive force displacement sensors. - 特許庁

可視化した最終目標に向けて、新たなアクションプランの設定及び既存のアクションプランの変更の必要性について検討すること例文帳に追加

Establish a new action plan and consider the need to change the existing action plan in order to achieve the visualized ultimate goal. - 厚生労働省

ピエゾ素子の電圧−伸長特性の校正表を用いることにより、フィードバック回路等を用いることなく高速にピエゾ素子を伸長・短縮させ、顕微試料を顕微鏡の光軸方向に高速に変位させる。例文帳に追加

A microscopic sample is displaced at high speed in the optical axis direction of the microscope by extending/shortening the piezoelectric element using a calibration table of the voltage-extension characteristics for a piezoelectric element without using a feedback circuit etc. - 特許庁

顕微鏡視野内の基準座標と操作針の針先に対応したマニュピレータの座標とを共通化し、視野内の観察位置の変更に連動して針先位置を変更することを可能にする顕微鏡装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a microscope system which changes the position of an operating needle point to be linked with a change in an observing position within a visual field by commonalizing the coordinate for reference coordinate within the visual field of a microscope and the coordinate of a manipulator corresponding to the operating needle point. - 特許庁