「へんこうけんびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

廃止条例第49条(条件違反による登録の削除又は変更の権限)に基づいて提起される手続であって施行日に係属中のものは，旧法に基づいて取り扱い，必要な変更及び記入は新登録簿にする。例文帳に追加

Proceedings brought under section 49 of the repealed Ordinance (power to expunge or vary registration for breach of condition) which are pending on the commencement date shall be dealt with under the old law, and any necessary alterations and entries shall be made in the new register.  - 特許庁

円偏光としたレーザーを回転する偏光子に通してプローブ先端へ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射する偏光変調装置と、プローブ先端にＰ偏光が照射されたタイミングでプローブ先端と試料との間の散乱光を検出する光検出部とを少なくとも有することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。例文帳に追加

This scanning probe microscope is provided at least with a polarization modulator which lets circularly-polarized light in a rotating polarizer to modulate and irradiate the P-polarized component of linear polarization on the probe tip, and a photodetector for detecting scattered light between the probe tip and the sample at the time point, when P-polarized light is irradiated on the probe tip. - 特許庁

最適蛍光光子収量に関して、多光子励起を生ずる光源（２）の動作変数および／または共焦点走査型顕微鏡のシステム変数が蛍光材料の特性に適合していることを特徴とする。例文帳に追加

The operation variable of a light source (2) generating multiple photon excitation and/or the system variable of a confocal scanning microscope is suited to the characteristics of a fluorescent material as to the optimum fluorescent photon collection quantity. - 特許庁

試料から発生した蛍光は、顕微鏡４を通ってダイクロイックミラー８を透過し、偏光板１０と同一の偏光方向に設定された検光子（偏光子）１２を通過した後、励起光成分を除去するカットオフフィルタ１４を経てストリークスコープ１６に導かれて検出される。例文帳に追加

Fluorescence generated from the sample is transmitted through the dichroic mirror 8 through the microscope 4, passes through an analyzer (polarizer) 12 set in the same polarization direction as the polarizing plate 10, and then is guided to a streak scope 16 through a cut-off filter 14 for removing excitation light components. - 特許庁

視野の周辺部の解像力も好適に得られるようにした低コストの走査型光学顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a scanning optical microscope of a low cost which makes it possible to adequately obtain the resolution in the peripheral portion of a visual field as well. - 特許庁

表面硬度、耐衝撃性、打ち抜き加工性および耐黄変劣化性に優れ、ディスプレイカバーや建材などの用途に適した積層体の提供。例文帳に追加

To provide a laminate which is excellent in surface hardness, impact resistance, punching processability, and yellowing deterioration resistance and can suitably be applied to a display cover, a building material, etc. - 特許庁

走査型電子顕微鏡１０において、画像切出部１９より、電子線１３を偏向する偏向信号ｓ４，ｓ５の電圧値若しくは電流値を輝度として切り出した偏向画像２１，２３を、観察画像と同時に取得する。例文帳に追加

In the scanning electron microscope 10, deflection images 21, 23 in which a voltage value or a current value of the deflection signals s4, s5 to deflect electron beams 13 is cut out as luminance is obtained simultaneously with an observation image from an image cut-out part 19. - 特許庁

検査箇所を変更する際の移動時間とともに検査時間を短縮でき、検査効率を向上させることができる基板検査システム及び基板検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a system and method for inspecting a substrate that can shorten the moving time and inspection time in changing an inspection place, and improving the inspection efficiency. - 特許庁

本発明は、完全同軸照明や角度付照明に対応し、且つ、相関色温度を変更可能なことより、観察条件の変更操作を容易且つ短時間に行うことができる眼科用顕微鏡を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a microscope for ophthalmology which corresponds to perfect coaxial illumination and illumination with an angle range, and can easily perform modification operation of observation condition in a short time by enabling a change in correlated color temperature. - 特許庁

対物レンズ１３及び変倍光学系１４ａ，１４ｂは、前記手術用顕微鏡１０の筐体１２に設けられ前記被検体２の光学像を得るための顕微鏡対物光学系となっている。例文帳に追加

An objective lens 13 and scaling optical systems 14a and 14b serve as a microscopic objective optical system which is provided in a casing 12 for the operating microscope 10 so as to obtain an optical image of the subject 2. - 特許庁

離散化した検出信号を効率よくディジタル信号に変換し、像質の良い走査像を得ることができる走査荷電粒子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide a scanning charged particle microscope which can efficiently convert a discretized detection signal to a digital signal, thereby obtaining a high quality canning image. - 特許庁

レーザ光の偏光方向を変化させて使用した場合でも光束の軸ズレ検出部への入射光量の変動が小さい光走査顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an optical scanning microscope that is small in changes in quantity of light incident on a luminous flux axis displacement detecting section even when the microscope is used while the polarizing direction of a laser beam is changed. - 特許庁

ガラスと機構との間、及び機構間において干渉する変位又はシーケンスの制限を高精度で予測する。例文帳に追加

To highly accurately predict the limitation of interfering displacements or sequences between glass and mechanisms and between the mechanisms. - 特許庁

第１変位検出光学系、及び第２変位検出光学系にて被測定物における同一の箇所を容易に測定することができるプローブ顕微鏡の提供。例文帳に追加

To provide a probe microscope for easily measuring an identical region in a to-be-measured object by using first and second displacement detecting optical systems. - 特許庁

これらの試験片較正コードおよび幾何学的領域は、上記試験片に対する当該試験片較正コードの内の１個の割り当てにおける一定の量子化エラーが最適に減少されるように、上記多次元的な較正パラメーターの区域にわたり分布される。例文帳に追加

The test strip calibration codes and the geometric regions are distributed over the multi-dimensional calibration parameter space to reduce optimally a quantization error of assigning one of the test piece calibration codes to the test strip. - 特許庁

開口数が大きく、浸液の温度等による屈折率変化やカバーガラスの厚さの変化等に起因する諸収差の変動を良好に補正することのできる液浸系顕微鏡対物レンズを提供する。例文帳に追加

To provide a liquid immersion type microscopic objective lens which is large in a numerical aperture and is capable of well correcting the fluctuations in the various aberrations occurring in the change in the refractive index by the temperature, etc., of an immersion liquid, the change in the thick ness of cover glass etc. - 特許庁

高性能な対物レンズを用いる場合であっても、簡単な構成で偏光の回転を補償することのできる顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope cable of compensating the rotation of polarized light with a simple configuration even in the case of using a high- performance objective lens. - 特許庁

主たる観察者の観察野を遮ることなく、容易に助手用観察光学系の位置を変更できる実体顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a stereomicroscope that enables easy change of the position of an assistant's observation optical system without blocking an observation field of a primary observer. - 特許庁

セクショニング分解能が変更可能な共焦点観察と通常の共焦点観察とを切り換えて行うことが可能な顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope apparatus, which can perform confocal observation capable of changing sectioning resolution and regular confocal observation by switching. - 特許庁

本発明は、顕微鏡主対物レンズ系１０１および拡大率を可変な拡大システム１０８を含む顕微鏡結像光学系を通る観察光路１０９を備える、手術用顕微鏡１００に関するものである。例文帳に追加

The operation microscope 100 has an observation light path 109 that passes through a microscopic imaging optical system including a microscopic main objective lens system 101 and a magnification system 108 with variable magnification. - 特許庁

電子スピン検出器並びにそれを用いたスピン偏極走査電子顕微鏡及びスピン分解光電子分光装置例文帳に追加

ELECTRON SPIN DETECTOR, SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME, AND SPIN DECOMPOSED-LIGHT ELECTRON SPECTROSCOPE - 特許庁

検体の変形が起こらず、かつ効率的で安全に観察できる顕微鏡観察用プレートを提供する。例文帳に追加

To provide a plate for microscopic observation which enables a user to efficiently and safely make observation without the occurrence of deformation of a specimen. - 特許庁

温度上昇に起因する遮光手段の変形量を少なくすることができる照明装置及び照明装置を備える顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a lighting system for reducing a deformation quantity of a shading means caused by temperature increase, and a microscope provided with the lighting system. - 特許庁

光学顕微鏡に共焦点スキャナが取付けられ、この共焦点スキャナにより試料の像を共焦点画像として取得することができるように構成された共焦点顕微鏡において、可動部のない表面張力制御型の可変焦点レンズを顕微鏡のフィールドレンズとして用いる。例文帳に追加

In the confocal microscope constituted by attaching a confocal scanner to an optical microscope so that the image of a sample can be acquired as a confocal image by the confocal scanner, a surface tension control type variable focus lens having no movable part is used as the field lens of the microscope. - 特許庁

高倍率な対物レンズを用いた場合であっても、高い消光比の得られる偏光顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a polarizing microscope by which high quenching ratio can be obtained even when an objective lens of high magnifying factor is used. - 特許庁

本発明の顕微鏡の光学系は、顕微鏡における対物レンズと、観察像との間の光学系内に設置され、反射により光路の方向を変更する反射用ミラーを有する。例文帳に追加

The optical system of the microscope is provided with a reflection mirror which is arranged in the optical system between the objective lens of the microscope and the observation image and changes the direction of an optical path by reflection. - 特許庁

本発明は、標本を精密に観察するための偏光位相顕微鏡に関し、より詳くは、生体細胞の構成要素を通過する光の位相差を用いて生体細胞の構造および変化を観察することが可能な偏光位相顕微鏡に関する。例文帳に追加

To provide a polariscopic phase microscope that precisely observes a specimen, and more specifically, observes a structure and change of a physiological cell by using a phase contrast of light passing through components of the physiological cell. - 特許庁

金属加工品２０の加工面２０１の加工変質層を含む検査面、例えば、２０２面の粒界顕微鏡像を、撮像手段１１により撮影し、撮像手段１１の画像信号をＡＤ変換し、ＡＤ変換された画像信号を画像のクトル化手段１４により、ベクトル画像に変換する。例文帳に追加

An image means 11 photographs an inspection surface including the deformed layer of a worked surface 201 of a metallic worked member 20, for instance, a grain boundary microscope image of a surface 202, the image signal of the imaging means 11 is subjected to AD conversion, and an image vectorizing means 14 converts the image signal subjected to AD conversion into a vector image. - 特許庁

温度変動等に対する安定性及び記録状態の検出感度を向上させた記録状態検出指数を得ることにより、記録状態変動に対する追従性能を向上させる。例文帳に追加

To improve the follow-up performance to the variation of the recording state by obtaining the recorded state detecting index which makes the stability to the temperature fluctuation, etc., and the detection sensitivity of the recording state to be improved. - 特許庁

ワークサイズが変更になっても、ワークのアライメントに用いる双対物顕微鏡の交換を必要としないダイシング装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a dicing apparatus that does not require the exchange of a dual-objective microscope used for work alignment even when the size of work changes. - 特許庁

分離した画像の位置を容易に変更可能な光路分割光学素子とこれを備えた顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an optical path splitting element capable of easily changing the positions of separated images and a microscope having the same. - 特許庁

位相差顕微鏡の位相板に電気光学素子を用い、０次以外の回折光に対する０次光の位相シフト量を可変にする。例文帳に追加

An electro-optical device is used as a phase plate for a phase- contrast microscope, and the phase shift volume of zero-order light is made variable for diffracted light other than zero-order light. - 特許庁

多光子蛍光観察専用のレーザ顕微鏡に当該レーザ顕微鏡の構成を変更することなくアドオンされてＣＡＲＳ光観察の機能を追加する。例文帳に追加

To provide a unit for CARS light which is added on a laser microscope used only for multiphoton fluorescent observation without changing a constitution of the laser microscope so as to add a function for CARS light observation. - 特許庁

観察倍率の変更に要する時間を一定の範囲内に抑え、顕微鏡観察の操作性を向上させる。例文帳に追加

To enhance the operability of microscope observation by keeping the time required to change observation magnification within a certain range. - 特許庁

顕微鏡レンズの低速または静的な位置制御を維持しつつ、中速または高速の位置変更の適用を可能にする。例文帳に追加

To allow intermediate or high speed positional change of a microscope lens while maintaining the low speed or static positional control thereof. - 特許庁

照明装置の照明光強度を大幅に変更可能で、誤作動により患者の組織構造に損傷を与えない手術用顕微鏡、特に神経外科用の手術用顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a surgical microscope, especially for a neurological surgery, whose lighting intensity of a lighting system could be largely changed, and which prevents tissue structure of a patient from being damaged by its improper operation. - 特許庁

プローブ顕微鏡１は、被測定物Ｗに接触する探針２１を有するカンチレバー２と、第１の変位検出光学系３と、第２の変位検出光学系４と、対物レンズ７とを備える。例文帳に追加

The probe microscope 1 includes a cantilever 2 having a probe 21 contacting the to-be-measured object W, the first displacement detecting optical system 3, the second displacement detecting optical system 4, and an objective lens 7. - 特許庁

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する顕微鏡装置に関し、絞り部材の絞り開口の大きさを変更することを目的とする。例文帳に追加

To change the size of an aperture hole of an aperture member, in a microscope device which intensifies the contrast of a test piece to make observation. - 特許庁

各観察法により異なる発生源をもつ熱や、環境温度からの熱等の、顕微鏡本体に伝搬する各々の熱による顕微鏡の変形から生ずる像ボケを軽減し、かつ顕微鏡のステージの安定度を維持し、また簡易で安価な構成の顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a microscope which reduces an image blurring arising from the deformation of the microscope by various kinds of the heat propagating to the microscopic body, such as a heat from generating sources varying with respective observation methods, a heat from environmental temperature, etc., maintains the stability of the stage of the microscope and has a simple and inexpensive constitution. - 特許庁

電子線の偏向歪補正方法、及び歪補正手段を有する電子線露光装置、走査型電子顕微鏡例文帳に追加

DISTORTION COMPENSATING METHOD OF ELECTRON-RAY DEFLECTION, ELECTRON-RAY EXPOSURE DEVICE WHICH HAS DEFLECTION DISTORTION COMPENSATING MEANS, AND SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

変換ブロックを第１位置と第２位置の間で移動させることで、それに設置された低倍率顕微鏡と高倍率顕微鏡を速やかに変換して使用できる。例文帳に追加

By moving the conversion block between the first position and the second position, the low-power microscope and the high-power microscope placed thereon can be utilized through prompt converting. - 特許庁

一　第三十三条第一項第一号の手形の割引に係る基準となるべき割引率その他の割引率並びに当該割引に係る手形の種類及び条件の決定又は変更例文帳に追加

(i) Determining or altering the basic discount rate and other discount rates pertaining to the discounting of negotiable instruments set forth in Article 33, paragraph 1, item (i), as well as the types and conditions of negotiable instruments pertaining to the said discounting;  - 日本法令外国語訳データベースシステム

観察倍率を変更する際に、筒偏芯や同焦点のずれが発生することなく、低倍率から高倍率まで良好な像を観察できる顕微鏡光学系を提供すること。例文帳に追加

To provide a microscope optical system allowing observation extending from low magnification to high magnification, without causing barrel distortion or defocusing, when observing magnification is changed. - 特許庁

それにより、反射部材５０は、対物レンズ１５を経由した反射光を位置変更後の助手用顕微鏡７に導く。例文帳に追加

Therefore, the reflecting member 50 leads the reflected light via the objective lens 15 to the assistant's microscope 7 whose position has been changed. - 特許庁

原子間力顕微鏡などにおける力勾配の測定と変位電流の測定を安定させ、精度を高めることを可能にする走査型プローブ顕微鏡を提供するとともに、この走査型プローブ顕微鏡の構成を用いた高密度の情報再生装置を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning type probe microscope for stabilizing the measurement of a force gradient and a displacement current, for example, in an atomic force microscope for improving accuracy, and at the same time to provide a high-density information-reproducing apparatus using the configuration of the scanning-type probe microscope. - 特許庁