「テスト要求」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

システムテストに当たっては、システム要求事項を網羅してテストケースを設定して行うこと。例文帳に追加

Prepare potential test cases covering all the system requirements for system tests. - 経済産業省

また、テスト画像データと定着温度から要求光沢度を算出する。例文帳に追加

Then, it calculates required glossiness from test image data and fixing temperature. - 特許庁

また、かかる構成により、要求されるテストパッドの数を低減できる。例文帳に追加

The number of the test pads required can also be reduced by such a configuration. - 特許庁

プログラム設計書及びテスト要求事項をレビューすること。例文帳に追加

Review program design documents and the test requirements. - 経済産業省

要求仕様記述および自動生成したテストシナリオパスからテスト仕様を自動的に生成するテスト仕様自動生成方式を提供する。例文帳に追加

To provide an automatic test specification generation system for automatically generating a test specification from request specification description and an automatically generated test scenario pass. - 特許庁

たとえば、テスト開始要求にしたがって、テスト信号生成部１３より、あらかじめ定められたテスト信号が発生される。例文帳に追加

For example, a predetermined test signal is generated by a test signal generation part 13 according to a test start request. - 特許庁

設計要求には、システムＬＳＩの要求仕様（面積，ピン数，テスト時間，優先制約重み情報など）や、ＶＣ情報がある。例文帳に追加

Requested specification (such as area, the number of pins, test time, priorities and restricted weighting information) of a system LSI and VC information, etc., are included in the designing request. - 特許庁

許可された要求に対するテストケースを追加するには、次の手順に従います。例文帳に追加

To add the test case for an approved request:  - NetBeans

拒絶された要求に対するテストケースを追加するには、次の手順に従います。例文帳に追加

To add the test case for a rejected request:  - NetBeans

前記メータ１２は、バイオセンシングテストの実施前に起動コードを要求する。例文帳に追加

The meter 12 requests a start code before performing a biosensing test. - 特許庁

この同期条件は、多数の相違する同期テストを満たすことが要求される。例文帳に追加

The synchronization condition can required that a plurality of different synchronization tests be met. - 特許庁

ＣＰＵ１１は、本体部１側にネットワーク３を介してテストを要求する。例文帳に追加

The CPU 11 requests the side of the body part 1 to conduct a test via the network 3. - 特許庁

また、テスト管理端末機４からテスト管理サーバ３にテスト進捗状況情報の検索要求が送出されると、テスト管理サーバ３のテスト検索機能３３により進捗管理ＤＢ５からテスト進捗状況情報を検索し、検索した情報をテスト管理端末機４に表示する。例文帳に追加

When a request for retrieving the test progress state information is sent from a test management terminal 4 to the server 3, the test progress state information is retrieved from the DB 5 by the function 33 and the retrieved information is displayed on the terminal 4. - 特許庁

そして、その取得された結果格納位置に従ってテストプログラムに被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出し、その抽出したテスト条件がテスト要求仕様におけるテスト条件に合致するか否かを判別する。例文帳に追加

Then, the test conditions specified as conditions necessary for acquiring the test result of the object to be tested in the test program according to the acquired result storage position are extracted, and whether or not the extracted test conditions are matched with test conditions in the test required specifications is determined. - 特許庁

より詳細には、該プロセッサは、該少なくとも１個のテスト要求を該ＪＴＡＧテスト制御器用のＪＴＡＧデータへ変換することが可能である。例文帳に追加

More specifically, the processor can convert the at least one test request into JTAG data for the JTAG test controller. - 特許庁

Ｇ２テスト部９、Ｇ３テスト部１０を同時に検証する場合、割り込み処理部７からの要求を優先的に実行するように変更する。例文帳に追加

When a G2 test part 9 and a G3 test part 10 are verified simultaneously, the device is altered to prioritize execution of the request from an interruption processing part 7. - 特許庁

テスト印刷情報生成部３０４は、要求受付部３３１によって受け付けられテスト印刷要求に基づいてテスト印刷情報に必要な情報を取得し、取得した情報に基づいて文字列として印刷用紙に印刷するためのテスト印刷情報を生成する。例文帳に追加

A test printing information creating part 304 acquires the information necessary for the test printing information on the basis of the test printing request received by the request receiving part 331, and creates the test printing information to be printed on the printing paper in a state of the letter string on the basis of the acquired information. - 特許庁

本発明の課題は、組み込みシステムの要求記述を作成する次のような方法、すなわち、要求記述によってどのユーザでも、処理されている具体的な要求が何であるかを一義的に認識することができ、かつ、記述された要求から、組み込みシステムをテストするための一義的なテストを自動生成するのに適した要求記述を作成する方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a following method for creating a requirement description of an embedded system, namely a method for enabling any user to uniquely recognize what is a concrete requirement being processed according to the requirement description and for creating a requirement description suited for automatically creating a unique test for testing the embedded system from the described requirement. - 特許庁

テストによっては(-modify1,-await, -abort, -redefine 等)、テスト関数の内部ループ内で追加のステップを実行する。 これはテストされる要素の要求に応じるためや、テストの見栄えを良くするために行われる。例文帳に追加

Some tests, such as -modify1,-await, -abort, and -redefine, perform additional steps within the test function inner loop, as required by the element being tested, or in an attempt to make the test more visually appealing. - XFree86

そして、テストケース一覧表示要求に対し、現在管理しているリクエストおよびテスト条件項目の組み合わせを検索条件としてテストケースを検索し、取得したテストケースを一覧表示する。例文帳に追加

In response to a test case list display request, a test case is retrieved under a retrieval condition of the combination of the presently managed request and test condition item, and the obtained test cases are listed and displayed. - 特許庁

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。例文帳に追加

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments. - 特許庁

装着されたＨＤＤをテストするためにテストスレッドが呼出しおよび要求された時，それぞれの割り当てられたスレッドは一連のテスト作業を一つずつ行い，テストスレッドによってテストの一作業が終了する度に各ＨＤＤのテスト状態が記録される。例文帳に追加

When the test threads are called and requested for testing the mounted HDDs, the respective allocated threads execute a series of test operations one-by-one, and the test status of each HDD is recorded at every time one operation of the test is ended by the test thread. - 特許庁

テストシナリオパス生成処理部８は、要求仕様ファイル２のイベントフローのイベント(系列)をテストシナリオパスの形をイメージして処理し(４)、指定されたテスト戦略に対応して自動的にテストシナリオパスを生成し、テストシナリオパスファイル５に生成したデータを格納する(５)。例文帳に追加

A test scenario pass generation processing part 8 processes an event (series) of an event flow of the request specification file 2 while imaging the form of the test scenario pass (4), automatically generates a test scenario pass correspondingly to specified test strategy, and stores the generated data in a test scenario pass file 5 (5). - 特許庁

そして、スキャンテスト制御部がスキャンテストを実行している際に、プロセッサ制御部からのスキャンテスト中断要求があった場合、スキャンテストを中断し、アプリケーションの実行後に、スキャンテストを再開させるものである。例文帳に追加

When a scan test interruption request is received from the processor control unit during the execution of the scan test by the scan test control unit, the scan test is interrupted and, after the execution of the application, the scan test is resumed. - 特許庁

一のテスト項目について、テストプログラムに被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、テスト要求仕様における合否判定条件に合致するか否かを判別する。例文帳に追加

Whether or not success/failure conditions specified as conditions for deciding success/failure based on the test result of an object to be tested in a test program are matched with success/failure decision conditions in test required specifications is determined for one test item. - 特許庁

機能テスト情報記憶手段１２は、業務フローを構成する業務ステップを実現する各モジュールが、要求を満たしているか否かをチェックする機能テストの手順を示す機能テスト情報を記憶する。例文帳に追加

A function test information storage part 12 stores function test information showing a procedure of a function test checking whether each module materializing a business step composing a business flow satisfies requirement or not. - 特許庁

データ通信装置７は、中央管理装置６からのテスト要求により、中央管理装置６により設定したパラメータ中の発呼先電話番号へ発呼し、テスト通信（テストコール）を実施する。例文帳に追加

The data communication device 7 is designed to call to the target phone number set in the parameter by the central management device 6, after receiving a test request from the central management device 6, and to perform a test communication (test call). - 特許庁

本発明は、テストプログラムの検査方法及び検査装置に関し、テストプログラム自体の要求仕様に対する整合性をチェックすることでテストプログラムの品質向上を図ることを目的とする。例文帳に追加

To provide a test program inspection method and device for checking the consistency of a test program itself with required specifications to improve the quality of the test program. - 特許庁

したがって、テスト対象集積回路の個数に比例した個数のメモリセットを要求した従来のテスト装置に比べてテスト装置の生産費用を減らすことができる。例文帳に追加

Accordingly, the production cost of the tester can be reduced, compared to a conventional tester which requires sets of memories whose number of sets is proportional to that of integrated circuits being devices under test. - 特許庁

これにより、Ｇ２テスト部９、Ｇ３テスト部１０の要求は待たされることになるが、Ｇ１テスト部８の待ち時間は、単体検証時と同じ４ＣＰＵ＿Ｃで条件は同じになり、新たな調整の必要がなくなる。例文帳に追加

Though the request from the G2 test part 9 and G3 test part 10 is put in a standby state, the waiting time of a G1 test part 8 is 4CPU_-C which is the same as for its single verification and needs no adjustment. - 特許庁

複数のアクセス要求元からのメモリに対するアクセス要求に応じてメモリに対するアクセス動作を実行する回路１００の検証処理で用いられるテストベンチ１において、複数のアクセス要求元に対応した複数のメモリモデル５０３を備える。例文帳に追加

The test bench 1 used in verification processing of a circuit 100 for executing an access operation to the memory according to access requests to the memory from a plurality of access requesting origins, includes a plurality of memory models 503 corresponding to the plurality of access requesting origins. - 特許庁

(3) テストの目的で出願人が提供した材料は，局が特に要求した場合を除いては，特別に処理されていてはならない。例文帳に追加

3. The material provided by the applicant for the purpose of the test shall not have been subjected to any special treatment, unless specifically required by the Directorate. - 特許庁

情報処理周辺装置内で、呼を設定するダイヤル情報が情報処理周辺装置から要求されているか否かをテストする。例文帳に追加

Whether dial information for setting a call is requested from the information processing peripheral device is tested within the information processing peripheral device. - 特許庁

また、リフレッシュ制御回路は、リフレッシュマスク信号が有効レベルのときにテストリフレッシュ要求信号の生成を禁止する。例文帳に追加

Also by the refresh control circuit, a formation of the test refresh requisition signal is inhibited when the refresh mask signal is in a valid level. - 特許庁

記録体Ｓ上に定着テスト画像Ｔを作成し（Ｓ１）、その要求光沢度および実測光沢度を算出する（Ｓ２〜Ｓ５）。例文帳に追加

A fixing test image T is formed on a recording body S (S1), and the required glossiness and the actual glossiness of the image T are calculated (S2 to S5). - 特許庁

テストリフレッシュ要求信号は、リフレッシュマスク信号のレベルに応じて生成され、あるいは生成が禁止される。例文帳に追加

The test refresh requisition signal is formed according to the level of the refresh mask signal, or the formation is inhibited according thereto. - 特許庁

Ｐ台は、ＣＵからのモード変更要求を受けて、動作モードを営業モードからメンテナンスモードあるいはテストモードに切り換える。例文帳に追加

A Pachinko machine changes an operation mode from a business mode to a maintenance mode or a test mode by receiving a mode change request from a CU. - 特許庁

システム稼動時、システムに搭載されているメモリモジュールに対し、定期的あるいは要求があったときにメモリテストを実施する。例文帳に追加

When a system is operating, a memory test is performed for a memory module installed in a system periodically or in response to a request. - 特許庁

電源投入時または所定印刷枚数時またはユーザー要求時に、テストパターンを形成する。例文帳に追加

A test pattern is formed when turning the power on, or printing sheets of the number predetermined, or being demanded by users. - 特許庁

コントローラ（監視装置）は、音声テストを開始すると、通信回線を接続した後、音声要求信号を警備センタに対して送出する。例文帳に追加

At the time of starting a voice test, a controller (monitor) connects a communication line, and transmits a voice request signal to a security center. - 特許庁

検証テストプログラム１０６とＣＰＵモデル１０１は、メモリ制御回路１０２にメモリモデル１０５へのアクセスを要求する。例文帳に追加

A verification test program 106 and a CPU model 101 request an access to a memory model 105 for the memory control circuit 102. - 特許庁

Ｐ台は、ＣＵからのモード変更要求を受けて、動作モードを営業モードから試打モードあるいはテストモードに切り換える。例文帳に追加

A Pachinko machine changes an operation mode from a business mode to a trial shooting mode or a test mode by receiving a mode change request from a CU. - 特許庁

テストチャートの印刷要求を行われると、画像形成装置１０は、記録用紙３２に階調チャートを出力する。例文帳に追加

When the print of a test chart is requested, an image-forming device 10 outputs a gradation chart to a recording paper sheet 32. - 特許庁

メモリテストの結果エラーが発生したアドレスを用いてコントローラ１０１は固有チップＩＤを作成し、認証要求の応答とする。例文帳に追加

The controller 101 creates a chip-unique ID using an address where an error has occurred as a result of the memory test, as a response to the authentication request. - 特許庁

従来技術に対して、より改善された自動テスト機器をプログラミングし操作する方法および装置が要求される。例文帳に追加

To provide an improved method and device for programming and operating automatic testing equipment that are improved more, as compared with those of prior art. - 特許庁