「構造試験」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

場内試験によりフロント構造物の強度評価を精度よく行う。例文帳に追加

To accurately evaluate the strength of front structure by in-place tests. - 特許庁

薄膜式ウエハー試験装置及びそのプローブ検出伝送構造例文帳に追加

THIN-FILM TYPE WAFER TESTING DEVICE AND ITS PROBE DETECTING/TRANSMITTING STRUCTURE - 特許庁

試験構造(200;300;400)は、2ポート光学部品の同時特性決定を支援する。例文帳に追加

Test structures (200, 300, and 400) support simultaneously deciding of characteristics of a 2-port optical component. - 特許庁

荷重試験機のリミットスイッチ機構におけるドグの係合構造例文帳に追加

DOG ENGAGEMENT STRUCTURE IN LIMIT SWITCH MECHANISM OF LOAD TEST MACHINE - 特許庁

構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法及び模型構造物を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for testing a model structure, which can test physical phenomena occurring when a mobile object moves in a structure, by using a simple model, and to provide the model structure. - 特許庁

１台の試験機で静的破壊試験から２０ｍ／ｓといった高変位速度での衝撃試験までを行うことができるとともに、試験片破壊過程における荷重挙動、変位挙動などの検出が可能な、小型かつシンプルな構造の可変速三点曲げ衝撃試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a variable speed three-point bending impact testing device having a small-sized simple structure, capable of performing a test from a static breaking test up to an impact test at high displacement speed of 20 m/s by one testing machine, and detecting a load behavior, a displacement behavior or the like in a test piece breaking process. - 特許庁

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体試験装置、半導体装置試験用コンタクト基板、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor tester device for testing electronic devices with a fine electrode structure to be tested by keeping a good electric contact, and to provide a contact substrate for testing the semiconductor device, and a test method for the semiconductor device, the semiconductor device, and its manufacturing method. - 特許庁

試験される電子装置が本来の装置機能として動作できると共に、試験時には電圧マージン試験手段から制御可能とし、かつ試験手段そのものが劣化防止構造を備えた電圧マージン試験回路と劣化診断装置。例文帳に追加

To provide a voltage margin test circuit capable of operating an electronic device under test as a primary device function, capable of controlling it from a voltage margin test means at the time of a test, and provided with a deterioration preventing structure on the test means itself. - 特許庁

構造が単純、小型で、モジュラー構造を採用し、複数の試験対象物を同時に試験することができ、かつ、安価である蛍光補助試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an inexpensive fluorescence auxiliary test apparatus with a small size and a simplified structure capable of simultaneously testing a plurality of test objects by adapting a modular structure. - 特許庁

構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device and method for testing a model structure for testing, with a simple model, a physical phenomenon occurring when a mobile unit moves in the structure. - 特許庁

半導体集積回路装置の試験方法、試験システム、メモリブロックの物理マップ特定用データ構造例文帳に追加

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING SYSTEM, DATA STRUCTURE FOR SPECIFYING PHYSICAL MAP OF MEMORY BLOCK - 特許庁

地中構造物構築のための掘削孔を深層載荷試験を行うための試験孔として用いることで、工期及び建設コストを低減する。例文帳に追加

To reduce the term of works and construction cost by using an excavated hole for constructing an underground structure as a test hole for performing a deep layer load test. - 特許庁

流水検知装置に設置される試験弁１４をアングル弁構造として、試験弁１４の設置高さを低くする。例文帳に追加

A test value 14 installed in the water flow detecting device has an angle valve structure, and the installation height of the test valve 14 is lowered. - 特許庁

集積回路チップの試験検査装置、集積回路チップの試験検査用コンタクト構造体及びメッシュコンタクト例文帳に追加

APPARATUS AND CONTACT STRUCTURE FOR TESTING AND INSPECTING INTEGRATED CIRCUIT CHIP AND MESH CONTACT - 特許庁

簡素な構造で供試体のセッティングが容易であり、高速且つ高精度の疲労試験を行うことができる疲労試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a fatigue tester having a simple structure, easy to set a test piece and capable of performing a high-speed and high-precision fatigue test. - 特許庁

汎用の振動試験機が無くても、構造物と振動試験機の結合部の振動特性を測定することができる測定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a measurement method for measuring vibration characteristics of a coupling part between a structure and a vibration testing machine, even when there is no general-purpose vibration testing machine. - 特許庁

実際の使用形態に近い状態でタッチパネル構造体の打鍵耐久性を試験する方法及びそのための試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a method for testing the keying durability of a touch panel structure in a state close to an actual use form and a test unit for that method. - 特許庁

試験構造物や地盤の変形に追従して荷重を簡単に制御して作用させることができる載荷試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a loading test device capable of controlling easily a load to act following deformation of a test structure or the ground. - 特許庁

簡易な構造で熱感知器の感知性を良くした熱感知器用加熱試験器、熱感知器用加熱試験器補助具を提供する。例文帳に追加

To provide a heating tester for a thermal sensor and a heating tester auxiliary tool for a thermal sensor by which the sensitivity of a heat sensor is improved with a simple structure. - 特許庁

媒体読み取り装置の試験用ステージに関し、簡単な構造で水平、起立姿勢での装置の試験ができるようにすることを目的とする。例文帳に追加

To test a medium reading device in its horizontal or upright posture on a testing stage of simple structure. - 特許庁

低圧環境下における航空機用レシプロエンジンの性能評価試験を実施できる構造が簡単かつ安価な試験設備を提供する。例文帳に追加

To provide testing equipment with a simple and inexpensive strucure which can implement a performance evaluation test of a reciprocal engine for an aircraft under a low pressure environment. - 特許庁

比較的簡易な構造でありながら、確実にウイスカ発生状況の判定を行える試験方法及び試験用治具を提供すること。例文帳に追加

To provide a testing method and a testing fixture capable of surely determining the occurrence status of a whisker even in a comparatively simple structure. - 特許庁

３層４段型自走式自動車車庫のような多層構造の車庫において正確な火災試験データを取得でき、一度の火災試験で複数種類の車庫のデータを併せて取得することで、試験費用の大幅な低減及び試験場所の確保を容易にした自走式自動車車庫の火災試験方法及び火災試験用車庫を提供すること。例文帳に追加

To provide an accurate fire test data, and to substantially reduce a test cost and easily secure test space by acquiring plural kinds of garage data with one fire test, in a multistory structure garage such as three-story four-stage type automobile garage. - 特許庁

赤外線カメラによる構造物の調査方法、構造物の温度環境監視システム、構造物の撮影時期報知システム、構造物の試験体例文帳に追加

STRUCTURE EXAMINATION METHOD BY INFRARED CAMERA, STRUCTURE TEMPERATURE ENVIRONMENT MONITORING SYSTEM, STRUCTURE PHOTOGRAPHING TIME NOTIFICATION SYSTEM, AND STRUCTURE TEST BODY - 特許庁

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体装置試験用コンタクト基板を提供する。例文帳に追加

To provide a contact substrate for testing semiconductor device for conducting a test of an electronic component to be tested having fine electrode structure, while holding satisfactory electric contact. - 特許庁

タイヤ均等性試験装置は、ガントリー状フレーム構造上に取付けられた試験ステーション（１２）と、この試験ステーションに近接して設けられた取入コンベア（１０）とを備える。例文帳に追加

A tire uniformity testing system includes a testing station (12) mounted on a gantry-like frame structure and an inlet conveyor (10) located adjacent to the testing station. - 特許庁

実際の動作温度域よりも低い温度域で安全に試験できる超音速作動流体が通過する構造体の試験方法および試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a test method and a test device for a structure for passing supersonic working fluid capable of safely performing a test in a lower temperature area than an actual operating temperature area. - 特許庁

多品種および複数メーカにも対応可能な構造の、試験装置用ソケットにより、安価で連続的自動試験が可能な、半導体デバイスの試験装置およびテストボードを提供する。例文帳に追加

To provide a testing apparatus of a semiconductor device and a test board that can perform continuous automatic test inexpensively with a socket for the testing apparatus having a structure capable of responding to many forms and a plurality of manufacturers. - 特許庁

回路要素の寿命時間が所定の試験温度で電気的に測定される試験対象の回路装置において、大規模な恒温槽を必要とすることなく簡単な構造で回路要素を試験温度にできるようにする。例文帳に追加

To heat a circuit element up to a test temperature with a simple structure without requiring a large scale thermostat, in a circuit device, which is a test object, for measuring electrically a life time of the circuit element at the prescribed test temperature. - 特許庁

サンプル試験採取装置１１で実機構造物２１からサンプル試料を採取し、サンプル試料採取装置１１で採取したサンプル試料をその場で試験片加工装置１２により試験片に加工する。例文帳に追加

The sample is collected from the actual product structure 21 by a sample test collection apparatus 11, processed and converted into a test piece by a test piece processing apparatus 12 in the field. - 特許庁

内層回路間の絶縁性評価試験において、絶縁劣化現象を、試験片を構造破壊せず、かつ経時的に、明瞭に観察できる試験片及びその作成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test piece and its manufacturing method which enables insulation deterioration to be clearly observed in time, without destroying the test piece structure in an insulation evaluating test between inner layers. - 特許庁

載荷版の上に荷重計、変位計と共に載荷試験用のジャッキを略垂直姿勢に設置して載荷試験反力を既存構造物の梁又はスラブにとる構成とし、ジャッキを駆動して載荷試験を行う。例文帳に追加

A loading testing jack together with a load meter and a displacement meter are installed on the loading slab in an approximately vertical posture to have such a constitution that loading test reaction force is taken in a beam of the existing structure or a slab, and the jack is driven to perform a loading test. - 特許庁

簡易な構造で音響シールド特性がよい音響インタフェース機構、小型で量産ライン内に適用可能な通話試験用カプラ及び該通話試験用カプラを適用する通話試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a sound interface mechanism which has a simple structure and has good sound shield characteristics, a coupler for speech test which is made small-sized and can be applied to a mass production line, and a speech test device applying the coupler for speech test. - 特許庁

引張試験用治具セットは、荷重印加用ブロック１４による圧縮荷重を試験片ＴＰに引張荷重として好適に印加する構造のもので、引張試験が良好に行えるものである。例文帳に追加

The jig set for a tensile test has a structure for suitably applying the compression load due to the load applying block 14 to a test piece as tensile load, and can well perform a tensile test. - 特許庁

試験槽に開口が設けられた構造を備え、比較的広い設定温度範囲において試験槽の槽内温度を好適に制御することができる温度試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a temperature test device having a structure that a test bath is equipped with an opening and capable of favorably controlling temperature in the test bath in a relatively wide setting temperature range. - 特許庁

また、この自在継手を試験片の上下に接続する構造の引張り・ねじり試験機を構成し、曲げモーメントのない高精度の引張り・ねじり試験を可能とした。例文帳に追加

The tension and torsion testing machine of a structure in which the universal coupling is connected to the upper part and the lower part of a test piece is constituted, and a tension and torsion test of high accuracy can be performed without generating the bending moment. - 特許庁

クローズドセル構造のポーラス金属について標準試験片寸法とは異なる所要試験片寸法の場合でのプラトー応力を、該所要試験片寸法での静的圧縮試験を行うことなく適正に予測できるようにすること。例文帳に追加

To properly estimate the plateau stress when the dimension of a required test piece is different from that of a standard test piece with respect to a porous metal having a closed cell structure, without performing the static compression test in the dimension of the required test piece. - 特許庁

試験槽内で生成させた腐食液のミストが前記試験槽外に漏洩するのを防止し、省エネルギーで、再現性と作業性の優れた試験ができる、水による密閉シール構造を具備した噴霧腐食試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a spraying corrosion testing device having a hermetically sealing structure by water, capable of preventing mist of corrosive liquid generated in a test tank from leaking to the outside of the test tank, and performing a test excellent in reproducibility and work efficiency in an energy saving state. - 特許庁

ロ　ピストン発動機の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識例文帳に追加

(b) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of piston engine  - 日本法令外国語訳データベースシステム

ハ　ピストン発動機補機の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識例文帳に追加

(c) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of piston engine accessory  - 日本法令外国語訳データベースシステム

ロ　タービン発動機の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識例文帳に追加

(b) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of turbine engine  - 日本法令外国語訳データベースシステム

ハ　タービン発動機補機の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識例文帳に追加

(c) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of turbine engine accessory  - 日本法令外国語訳データベースシステム

ロ　無線通信機器の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識例文帳に追加

(b) knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of radio communication device  - 日本法令外国語訳データベースシステム

配線試験構造は、交互配置螺旋形パターンで構成された複数の配線トレースを含む。例文帳に追加

The wire testing structure includes a plurality of wiring traces constituted by an alternately disposed spiral-form pattern. - 特許庁

ＢＴＳ試験の影響のない半導体構造を有する高電圧ＭＯＳ素子を提供する。例文帳に追加

To provide a high voltage MOS element having a semiconductor structure not affected by BTS test. - 特許庁