「構造試験」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

製品完成後もウェハ試験時と同等の試験が可能な構造を有するパッケージに組み立てられた半導体装置及びそのテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device which is assembled into a package that is so structured as to be tested as well as a wafer is tested even after a product is finished and a test method of the same. - 特許庁

アース構造物であるＥＭＩ試験対象物に第1の探触子を直結させて接続の安定化をはかり、ＥＭＩ試験対象物の共振周波数を周波数分析器で測定する。例文帳に追加

By stabilizing a connection connecting a first probe into the EMI test object as an earth structure, the resonance frequency of the EMI test object can be measured by a frequency analyzer. - 特許庁

また、より実際の自動車構造を模擬するように、鋼板合わせ部を形成したのち、化成処理および電着塗装を施し試験片とし、この試験片に対して腐食環境に供して耐食性を評価することが好ましい。例文帳に追加

It is also preferable that the corrosion resistance be evaluated in corrosion environment to a test piece, which is chemically converted and electrodeposited after forming the steel plate clad section so as to simulate more actual automobile structure. - 特許庁

外部接続端子を有する半導体装置に、電気特性試験とバーンイン試験と外部接続端子の形成とをウェハ状態で一括して、かつ各部に損傷を与えることなく行うことが出来る電極構造を具備させる。例文帳に追加

To allow a semiconductor device having an external connection terminal to have an electrode structure with which an electric characteristic test, a burn-in test and formation of the external connection terminal can be collectively executed in a wafer state without causing a damage on each portion. - 特許庁

実機構造物において採取したより微小な供試体に対して十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行える材料試験装置を提供することである。例文帳に追加

To provide a material testing apparatus by which a sufficient load is loaded onto a very small specimen sampled in an actual-machine structure and by which a test is made in a spot sampling the specimen. - 特許庁

本発明は、既存構造物の弾性定数とねじり強度とを簡易に測定する携帯型ねじり試験器およびねじりを利用した弾性定数とねじり強度の試験方法に関する発明である。例文帳に追加

To provide a portable twisting tester for simply measuring the elastic constant and twisting strength of an existing structure and an elastic constant/twisting strength testing method, using a twist to measure the elastic constant and destruction constant of the existing structure on the spot, in real time. - 特許庁

水門、樋門、樋管におけるゲート等の水圧を受ける平板構造体に対し実際にゲートが使用される状況に近い状態での圧力を載荷する簡易な構成の試験装置により強度試験を行う。例文帳に追加

To perform a strength test by a testing device with a simple configuration, which loads pressure at a state close to a situation that a gate is actually used to a flat plate structure which receives hydraulic pressure of a gate, etc. in a water gate, a sluice gate, and a sluice pipe. - 特許庁

また、より実際の自動車構造を模擬するように、鋼板合わせ部を形成したのち、化成処理および電着塗装を施し試験片とし、この試験片に対して腐食環境に供して耐食性を評価することが好ましい。例文帳に追加

After the steel sheet laminated part is formed to imitate an actual automobile structure, chemical conversion treatment and electrode position coating are applied to the steel sheet laminated part, to use it as the test piece; and this test piece is preferably presented to the corrosive environment to evaluate corrosion resistance. - 特許庁

構造物の一部分を数値モデル化して計算機に搭載し、他の部分を実モデルとし加振機を用いて加振試験するハイブリッド試験において、分布変位を供試体に載荷可能にする。例文帳に追加

To make a distributed displacement able to be loaded in a specimen during the course of a hybrid test during which excitation tests are performed by means of exciters, by loading a part of a structure in a computer by numerically modeling the part and using the other part of the structure as an actual model. - 特許庁

試験装置本体２と、この試験装置本体２に設けられ、コンクリート構造物５０に削孔された孔５１の孔壁の面を直接局部載荷する載荷部とを備えたことを特徴とする。例文帳に追加

The device is provided with a tester body 2, and a load section disposed in the tester body 2 and directly and locally loading a face on a wall in a hole 51 drilled in the concrete structure 50. - 特許庁

簡単な構造でロット待機中にプローブ針を介してプローブカードの温度を保持することができ、そのときプローブ針を損傷しにくい、半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device for semiconductor device capable of maintaining the temperature of a probe card with a simple structure via a probe needle during a lot standby and preventing the probe needle from being easily damaged at that time, and to provide a testing method of semiconductor device. - 特許庁

コンクリート供試体に所要の圧縮荷重を加えて高精度の圧縮強度試験を行うことができる簡易型構造のコンクリート圧縮強度試験装置を得る。例文帳に追加

To provide a concrete compressive strength testing device having a simple structure capable of performing a highly accurate compressive strength test by applying a required compressive load to a concrete specimen. - 特許庁

ＡＬＰＧによる試験パターンの発生機能を限定することにより、構造を簡略化しかつ高速の信号伝送機能を有し、またピン方向への拡張性に優れた半導体部品の試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test device for semiconductor parts which has high speed signal transmitting function, that structure is simplified and expansion in the direction of pin is superior by limiting a function for generating a test pattern by ALPG. - 特許庁

複数の試験片を収容するカセットと試験片供給機構全体をモールドボックス内に収納し、各開口部にパッキンを設置した構造にすることで密閉状態を作ることを特徴とする。例文帳に追加

A cassette used to house a plurality of test pieces and a test- piece feed mechanism are housed wholly inside a molded box, and an airtight state is created by forming a structure in which a packing is installed in each opening. - 特許庁

また、より実際の自動車構造を模擬するように、鋼板合わせ部を形成したのち、化成処理および電着塗装を施し試験片とし、この試験片に対して腐食環境に供して耐食性を評価することが好ましい。例文帳に追加

More preferably, in order to further simulate an actual automobile structure, after forming the steel sheet clad section, chemical conversion treatment and electrodeposition coating are applied thereto to prepare the test piece; and the test piece is supplied into the corrosive environment, and its corrosion resistance is evaluated. - 特許庁

実機である炉内機器および構造物と同じ環境に曝された試験片を用いて環境助長割れ発生試験を行い、実機状態をよりよく模擬した環境助長割れの評価を行う。例文帳に追加

To perform an environmental acceleration cracking generation test by using a test piece exposed to the same environment as that for incore equipment which is actual machine and structure, and to evaluate environmental acceleration cracking simulating the actual machine state more properly. - 特許庁

本発明は、自己発熱の大きい被試験デバイスを、シンプルな構造で短時間で温度降下させ、また温度上昇も早くして、自己発熱に影響されにくい温度制御ができる半導体試験装置のハンドラを提供する。例文帳に追加

To reduce a temperature of a device to be tested having large self heat generation by a simple structure in a short time and increase its temperature quickly so as to enable temperature control without being affected by the self heat generation. - 特許庁

装置の設置から測定、試験結果の評価まで多大の時間を要していたプラント内構造物の振動状況の試験を容易に且つ短時間で実施できるようにする。例文帳に追加

To easily conduct a test of the vibration state of an in-plant structure which required a long time from the installation of a device to the evaluation of a measurement and a test result in a short time. - 特許庁

また、より実際の自動車構造を模擬するように、鋼板合わせ部を形成したのち、化成処理および電着塗装を施し試験片とし、この試験片に対して腐食環境に供して耐食性を評価することが好ましい。例文帳に追加

It is also preferable that the corrosion resistance be evaluated in a corrosive environment to a test piece which is chemically converted and electrodeposited, after forming the steel plate clad section so as to more closely simulate the actual automobile structure. - 特許庁

平板構造体である試験体１をその一方の面の側辺において当接担持体２ａ，２ｂにより担持し、荷重載荷部により試験体の反対側の面に水圧再現荷重を載荷する。例文帳に追加

A test body 1 having a flat plate structure is carried by contact carriers 2a, 2b on the side of one surface of it, and a hydraulic pressure reproduction weight is loaded on a surface on the opposite side of the test body by a weight loading part. - 特許庁

遊技機の制御特性に合わせて、実際の作動状態に近い状態で動作確認試験を行うことが出来ると共に、動作確認試験を効率よく行うことが出来る、新規な構造の遊技機を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a structurally new game machine which enables an operation check test to be performed in a state almost equal to an actual operation state in accordance with control characteristic of the game machine, and enables the efficient performance of the operation check test. - 特許庁

鋼管の外圧負荷試験装置の外面シール機能を低下させることなく、その締結構造をより簡素にし軽量かつコンパクトな外圧負荷試験装置の提供。例文帳に追加

To obtain a lightweight and compact external pressure load-testing device by further simplifying clamping structure without reducing the outer surface-sealing function of the external pressure load-testing device of a steel pipe. - 特許庁

有機部材を具備する配線基板などの構造体について、試験時に晒される温度環境下での材料特性の変化をも考慮しつつ、高精度の信頼性評価を得ることのできる寿命試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of testing a lifetime for obtaining precise reliability evaluation, while also considering changes in the material characteristics, under temperature environment to be exposed to in testing for a structure, such as a wiring board, having organic members. - 特許庁

流体圧による構造部材３，４への影響を試験する流体試験装置において、構造部材３，４に作用する負荷を測定する測定手段２を設け、測定手段２の設置部に弾性を有する保護用材料１を流し込み、構造部材３，４の隙間をなくす。例文帳に追加

In the fluid tester for testing effect of a fluid pressure on mechanical members 3 and 4, a measuring means 2 is provided to measure a load acting on the mechanical members 3 and 4 and an elastic material 1 for protection is cast into an installation part of the measuring means 2 to stop a clearance between the mechanical members 3 and 4. - 特許庁

一　国土交通大臣が無線電話を装備することが構造上困難であると認める航空機が民間訓練試験空域を飛行する場合例文帳に追加

(i) When aircraft that is deemed by the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism to be structurally difficult to equip with radiotelephone equipment flies within a civil training and testing area  - 日本法令外国語訳データベースシステム

イ　ピストン発動機、ピストン発動機補機及びピストン発動機の指示系統の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に必要な知見例文帳に追加

(a) Knowledge necessary for structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of piston engine, piston engine accessory, and piston engine's command system  - 日本法令外国語訳データベースシステム

イ　タービン発動機、タービン発動機補機及びタービン発動機の指示系統の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に必要な知見例文帳に追加

(a) Knowledge necessary for structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of turbine engine, turbine engine accessory, and turbine engine's command system  - 日本法令外国語訳データベースシステム

イ　プロペラ、プロペラ補機及びプロペラの指示系統の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に必要な知見例文帳に追加

(a) Knowledge necessary for structure, function, maintenance, remodeling, and test of propeller, propeller accessory, and propeller's command system  - 日本法令外国語訳データベースシステム

イ　機械計器、電気計器、ジャイロ計器及び電子計器の構造、機能、整備、改造及び試験に必要な知見例文帳に追加

(a) Knowledge necessary for structure, function, maintenance, remodeling, and test of machine instrument, electric instrument, gyroscopic instrument, and electronic instrument  - 日本法令外国語訳データベースシステム

半導体装置、その実装構造、その実装方法、その試験方法、その品質表示方法、その運搬方法、及び半導体装置の製造方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MOUNTING STRUCTURE, ITS MOUNTING METHOD, ITS TESTING METHOD, ITS QUALITY DISPLAYING METHOD, ITS TRANSPORTING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

フリップ・チップ・バンピング・プロセスの実行に先立って半導体ウェハを試験するための方法および構造例文帳に追加

METHOD AND STRUCTURE FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER PRIOR TO EXECUTION OF FLIP CHIP BUMPING PROCESS - 特許庁

回折格子パッチ構造、リソグラフィ装置、試験方法、デバイス製造方法及び該方法によって製造したデバイス例文帳に追加

DIFFRACTION GRATING PATCH STRUCTURE, LITHOGRAPHIC APPARATUS, METHOD OF TESTING, METHOD OF MANUFACTURING DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURED BY THE METHOD - 特許庁

干渉計ベースの光ネットワーク解析を用いて光学部品の二つのポートの特性を同時に決定するための試験構造例文帳に追加

TEST STRUCTURE FOR SIMULTANEOUSLY DECIDING CHARACTERISTICS OF TWO PORTS OF OPTICAL COMPONENT USING OPTICAL NETWORK ANALYSIS OF INTERFEROMETER BASE - 特許庁

バンブー構造の配線中ではＡｌ原子が移動しにくく、これに対し試験配線中では粒界３に沿ってＡｌ原子が容易に移動する。例文帳に追加

Al atoms are difficult to move in the wirings having bamboo structure, and, on the contrary, Al atoms are easy to move along the grain boundaries 3 in the test wirings. - 特許庁

フリップ・チップ・バンピング・プロセスの実行に先立って半導体ウェハを試験するための方法および構造を提供すること。例文帳に追加

To provide a method and structure for testing a semiconductor wafer prior to the execution of flip chip bumping process. - 特許庁

各試験ユニットへソケットボードを搬送することができる半導体デバイステストシステムのソケットボード循環構造を提供する。例文帳に追加

To provide a socket board circulating structure of a semiconductor device testing system capable of conveying a socket board to each test unit. - 特許庁

能動微細構造素子の機能試験方法及び装置、当該方法を用いて能動微細素子を製造する能動微細素子製造方法例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FUNCTION OF ACTIVE FINE- STRUCTURE ELEMENT, AND METHOD FOR MANUFACTURING ACTIVE FINE ELEMENT USING THE TESTING METHOD - 特許庁

構造が簡単であり、少量の検体量でＨＤＬコレステロールを簡単に測定できる試験片を提供する。例文帳に追加

To obtain a test piece having a simple structure, with which HDL cholesterol can be simply assayed with a small amount of specimen. - 特許庁

フリップチップ構造の半導体集積回路の試験を低コストで確実に実施する技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology for surely executing the test of a semiconductor integrated circuit having a flip-chip structure. - 特許庁

燃料インジェクタをモジュール構造にすることにより、バルブグループとコイルグループとを別個に組み立てかつ試験することができるようにする。例文帳に追加

To enable a valve group and a coil group to be independently assembled and tested by making a fuel injector a module structure. - 特許庁

構造が簡単な試験片を用いて、トレッド溝の耐溝底クラック性能を評価するための方法。例文帳に追加

To provide a method of evaluating groove bottom crack resistance performance of a tread groove by using a test piece of a simple structure. - 特許庁

オフライン・交換機構造の全メッシュ連結性をチェックするために、複数の試験セルを使用することができる。例文帳に追加

To check all mesh connectivity of the off-line exchange structure, plural test cells are usable. - 特許庁

長大な構造物の、例えば地震に対する強度・信頼性を評価する実験にあたって、高精度かつ経済的な試験を実施すること。例文帳に追加

To execute a highly accurate and economical test, when executing an experiment for evaluating the strength/reliability of a long and large structure against, for example, an earthquake. - 特許庁

簡単な構造で被検体に加える荷重を変動可能な荷重変動機構及びこれを用いた砥石結合度試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a load fluctuation mechanism capable of fluctuating a load to be added to an analyte by simple structure and a grindstone coupling degree testing device using the same. - 特許庁

製造試験用ライナー１について、予め定めた断面にて分割及び結合可能な分割部Ｓを有する構造とする。例文帳に追加

The liner is configured so as to have a split portion S capable of splitting and combining at predetermined cross section about the liner 1 for the manufacturing test. - 特許庁