「波面」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

波面補正系１は、被検眼の波面収差及び／又は補正される収差を含む波面測定データを測定し、被検眼の光学特性を求める。例文帳に追加

A wavefront correcting system 1 finds the optical characteristics of an eye to be inspected by measuring the wave-front measurement data containing the wavefront aberration and/or aberration to be corrected of the eye to be inspected. - 特許庁

波面分割素子は、照明光学系から供給された光束を複数の光束に波面分割し且つ波面分割された各光束を対応する位相シフト部またはその近傍へ集光する。例文帳に追加

The wavefront splitting element (3) wavefront-splits a light flux fed from the lighting optical system (2) into a plurality of light fluxes, and enables the light fluxes that are subjected to wavefront splitting to collect on the corresponding phase-shifting parts or their vicinities. - 特許庁

微小ループアンテナ１０は、水平偏波面及び垂直偏波面の２つの偏波面を有し、その偏波比は所定の偏波比（例えば０ｄＢ）である。例文帳に追加

The minute loop antenna 10 includes two polarized wave surfaces, such as, a horizontal polarized wave surface and a vertical polarized wave surface, and the polarized wave ratio thereof is a predetermined value (for instance, 0 dB). - 特許庁

また、意図的な波面変形が除去された被測定状態における被検光学系からの光を、波面分割して複数の像を形成し、第２波面情報を求める（ステップ１１６〜１１８）。例文帳に追加

Further, a plurality of images are formed by dividing the wave front of the light from the optical system to be inspected in a state to be measured wherein the intensional deformation of the wave front is removed to calculate second wave front data (steps 116-118). - 特許庁

制御装置８０は、制御信号を波面変調デバイス４０に閉ループフィードバックすることにより、入射光の波面３０を補償し、理想的な波面７０を出力する。例文帳に追加

The control device 80 compensates a wave front 30 of the incident light and outputs an ideal wave front 70, by performing closed loop feedback of the control signals to the wave front modulating device 40. - 特許庁

意図的に回転対称な波面変形を発生させた被検光学系（投影光学系）からの光を、波面分割して複数の像を形成して撮像し、第１波面情報を求める（ステップ１１３〜１１５）。例文帳に追加

A plurality of images are formed by dividing the wave front of the light from an optical system to be inspected (projection optical system), which has intentionally generated the deformation of the wave front of symmetry of rotation, and picked up to calculate first wave front data (steps 113-115). - 特許庁

透明導電性素子１は、可視光の波長以下の平均波長を有する波面Ｓｗが設けられた光学層２と、波面Ｓｗ上に該波面Ｓｗに倣うように形成された透明導電層６とを備える。例文帳に追加

A transparent conductive element 1 comprises an optical layer 2 provided with a wave front Sw having an average wavelength equal to or shorter than that of visible light, and a transparent conductive layer 6 formed to copy the wave front Sw on the wave front Sw. - 特許庁

フレネルレンズスクリーン７から出射された画像光の波面を分割して、その波面の位相を変調する波面分割位相変調部材２１を光拡散部材１０の手前に配置する。例文帳に追加

A wave surface division and phase-modulation member 21, for dividing the wave surface of the image light emitted from a fresnel lens screen 7 and modulating the phase of the wave surface, is arranged ahead of a light-diffusing member 10. - 特許庁

被検光学系６から出射した０次光はピンホール７ａを通過して参照波面１０となり、１次光は窓７ｂを通過して被検光学系６の波面収差を含む被検波面１１となる。例文帳に追加

The 0-th order beam coming out of the optical system 6, passing through a pinhole 7a, serves as a reference wavefront 10, and the first-order beam serves as an inspected front wave 11, a passing aperture 7b and containing the wavefront aberration of the optical system 6. - 特許庁

そして、第１波面情報を使用して、意図的に発生させた回転対称な波面変形の中心軸位置、すなわち、被検光学系からの光の波面の中心軸位置を精度良く求める（ステップ１１９）。例文帳に追加

Then by using the first wavefront information, the position of the central axis of the intentionally generated rotationally symmetric wavefront deformation, i.e., the position of the central axis of the wavefront of the light from the optical system to be tested is accurately found (step 119). - 特許庁

そして、ステップＳ１２で、仮定した波面ベクトル方向の屈折率ｎを、仮定した波面法線ベクトルの関数として表すと共に、屈折率の、波面法線ベクトルの各成分に対する微分値を求める。例文帳に追加

In a step S12, a refractive index n of the assumed wave front vector direction is expressed as a function of the assumed normal vector, and differentiated values of components of the normal vector of the index are obtained. - 特許庁

光源装置から出射された光束の波面の観測を容易に行うことができる光波面測定装置、光波面測定方法、及び光源装置の調整方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method and apparatus for measuring optical wavefront, and to provide a method for adjusting a light source, wherein the wavefront of light flux emitted from the light source is easily observed. - 特許庁

前記受信偏波面が前記垂直偏波面及び水平偏波面それぞれである状態において、方位角が変更されるごとに、指向性アンテナ８の電界強度を電界強度測定器が測定する。例文帳に追加

In a state that the receiving polarization plane is in each of the vertical polarization plane and the horizontal polarization plane, an electric field-strength measuring device measures the electric field intensity of the directional antenna 8 each time the azimuth angle is changed. - 特許庁

波長分離合成回路は、波長分離器30と合波器40とを繋ぐ第3偏波面保存光ファイバ16、波長分離器と偏波面回転部60とを繋ぐ第5光偏波面保存ファイバ22及び偏波面回転部と合波器とを繋ぐ第6偏波面保存光ファイバ24とでループ状の光導波回路として形成されている。例文帳に追加

The wavelength separating/multiplexing coupling circuit is formed as a loop-shaped light guide circuit by using a third polarization surface preserving optical fiber 16 connecting a wavelength separator 30 to a coupler 40, a fifth polarization surface preserving optical fiber 22 connecting the wavelength separator to a polarization surface rotation part 60 and a sixth polarization surface preserving optical fiber 24 connecting the polarization surface rotation part to the coupler. - 特許庁

引き続き、強度分割された複数の光それぞれが、それらの複数の光それぞれに応じて配置され、互いに異なる波面分割数（波面分割ピッチ）を有する波面分割光学系９４_1，９４_2それぞれにより波面分割され、波面分割光学系９４_1，９４_2ごとに複数の光の像が形成される。例文帳に追加

Then, each of a plurality of intensity divided lights is disposed in accordance with each individual of the plurality of lights, wavefront divided by respective wavefront dividing optical systems 94_1, 94_2 having wavefront division numbers which differ from one to another (wavefront division pitch), and a plurality of optical images are formed for every wavefront dividing optical system 94_1, 94_2. - 特許庁

被検光学素子が有する複屈折性の影響により透過波面情報が正しく担持されない領域を有する干渉縞が撮像されるような場合でも、透過波面測定を適正に行うことが可能な複屈折性光学素子の透過波面測定方法を得る。例文帳に追加

To provide a transmission wavefront measuring method of a birefringence optical element measuring properly a transmission wavefront, even when imaging an interference fringe having a domain where transmission wavefront information is not carried correctly by an influence of birefringence carried by a test optical element. - 特許庁

画像処理方法は、光学像を形成する波面を波面符号化するステップと、光学像をデータストリームに変換するステップと、波面符号化の影響を逆転し、最終画像を生成するために、フィルタカーネルを用いてデータストリームを処理するステップとを含む。例文帳に追加

The image processing method includes the steps of: wavefront-coding a wavefront that forms an optical image; converting the optical image to a data stream; and processing the data stream with a filter kernel to reverse effects of wavefront coding and generate a final image. - 特許庁

光源から出射される光束を異なる波面曲率を有する複数の光束に分離し、分離された光束のうち少なくとも１つを選択的に出射する波面曲率変調装置及び波面曲率変調装置を備えた画像表示装置を提供する。例文帳に追加

To provide a wavefront curvature modulating device that separates luminous flux emitted by a light source into a plurality of beams having different wavefront curvatures, and an image display device equipped with the wavefront curvature modulating device. - 特許庁

これは、測定波面と基準波面の間に一定の光路長差（例えばゼロＯＰＤ）を生成するべく測定波面を反射する理論試験表面に対応する仮想表面（１５２）の曲率半径を変化させることによって達成される。例文帳に追加

This is achieved by varying the radius of curvature of a virtual surface (152) corresponding to a theoretical test surface that would reflect a measurement wavefront to produce a constant optical path length difference (e.g., zero OPD) between the measurement and reference wavefronts. - 特許庁

被検光学系の波面収差の算出のための画像処理を実施する前に、撮像した画像データの干渉縞の状態をチェックすることによって、高精度に被検光学系の波面収差を測定することができる波面収差測定装置及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide a wavefront aberration measuring apparatus and a wavefront aberration measuring method which can measure the wavefront aberration of an optical system under test with high precision by checking the state of the interference fringes of photographed image data before performing image processing for calculating the wavefront aberration of the optical system under test. - 特許庁

異なる波長のレーザビームが、対応する光記録媒体の情報記録面上に集光する際に発生する波面収差のうち、最大波面収差をＷmax、最小波面収差をＷminとしたとき、Ｗmax≦０．０３５λＲＭＳを満たす。例文帳に追加

Out of wave front aberrations generated when the laser beams with different wavelengths are condensed on the information recording surfaces of the corresponding optical recording media, the maximum wave front aberration Wmax and minimum wave aberration Wmin are assumed and they meet the following equation, Wmax≤0.035 λRMS. - 特許庁

被検光束が低可干渉光束である場合でも、被検光束の波面情報を担持した干渉光を得ることが可能であり、かつ振動等の影響を受け難くアライメントも容易に調整し得る波面測定用干渉光学系、およびこれを備えた波面測定用干渉計装置を得る。例文帳に追加

To provide an interference optical system for measuring wave fronts, capable of obtaining interference light carrying wave front information of an inspected beam, even when the inspected beam is a beam of low interference, that is less likely to be affected by vibration or the like, and capable of easily regulating the alignment, and to provide an interferometer provided therewith. - 特許庁

感光性媒体を、三次元物体の波面から成る波面に対して露出すると同時に、インコヒーレント−コヒーレント変換器を照射するために用いる波光源と、コヒーレントな光源から成る参照波面とに対して露出する。例文帳に追加

A photosensitive medium is exposed to the wave front formed of the wave front of the three-dimensional object and is also exposed to a wave light source used for irradiating the incoherent-coherent converter and a reference wave front formed of a coherent light source. - 特許庁

そして、この回転量指令信号を偏波面回転部２に与えて、水面に照射されたレーザ光の偏波面と水面とのなす角度が走査位置によらずに一定になるように、レーザ光の偏波面を回転させるようにした。例文帳に追加

The rotation amount instruction signal is given to the polarization plane rotating unit 2 and thereby a polarization plane of the laser light is rotated so as to keep the angle constant between a polarization plane of the laser light made incident on the water surface and the water surface regardless of scanning positions. - 特許庁

この発明のレーザ装置１１は、レーザ光Ｌａ，Ｌｂの光路中に、波面Ｗｓに歪みを伴なうレーザ光の波面Ｗｓを平坦化するための入射面または出射面の少なくとも一方の面が非平坦面になっている透光性の波面成形装置１３が介在されているレーザ装置である。例文帳に追加

In this laser device 11, a translucent wave front forming device 13 whose at least incident face or outgoing face is formed as a non-flat face for flattening a wave front Ws of a laser beam accompanied by a distortion is interposed in the optical path of laser beams La and Lb. - 特許庁

二次元受光器上の画像を重複することなく複数の閉領域に分割し、得られた各閉領域に対応する単位光波面分布を算出し、この単位光波面分布を用いて平行移動と重ね合わせでホログラム面上の光波面分布を算出する。例文帳に追加

An image on a two-dimensional light receiver is divided into plural closed areas without overlapping, and unit light wave front distribution corresponding to each obtained closed area is calculated, and this unit light wave front distribution is used to calculate the light wave front distribution on the hologram surface by parallel translation and superposition. - 特許庁

斜入射スリットを用いることにより、スリットに入射する波面のメリジオナル断面を保存したまま、スリットの延長線を回転対称軸とする波面を参照波面として形成し、非球面量が大きい回転対称ミラーの計測に好適な干渉計を提供すること。例文帳に追加

To provide an interferometer for suitably measuring rotation symmetry mirror of large aspherical surface amount by forming a wave front, the rotation symmetry axis of which is the extension line of the slit as a reference wave front, while conserving the meridional cross section of the incident wave front on the slit by using the oblique incidence slit. - 特許庁

指向性アンテナ８の受信偏波面を水平及び垂直偏波面のうち選択されたものに切り換える偏波面切換モータと、指向性アンテナ８の方位角を調整する方位角調整モータとを備えた取付具６によって、指向性アンテナ８が支柱４に取り付けられている。例文帳に追加

A directional antenna 8 is mounted on a column support 4 by a mounting implement 6 which is provided with; a polarization-plane changeover motor used to change over a receiving polarization plane of the directional antenna 8 to one plane selected from a horizontal polarization plane and a vertical polarization plane; and an azimuth-angle adjusting motor used to adjust an azimuth angle of the directional antenna 8. - 特許庁

ノート型パーソナルコンピュータ６６が、垂直及び水平偏波面それぞれに指向性アンテナ８の受信偏波面を偏波面切換モータに切り換えさせ、この切り換えた状態において、方位角調整モータに所定角度ずつ指向性アンテナ８の方位角を変更させる。例文帳に追加

A notebook-type personal computer 66 makes the polarization-plane changeover motor change over the receiving polarization plane of the directional antenna 8 to each of the vertical polarization plane and the horizontal polarization plane, and, in this changed-over state, it makes the azimuth-angle adjusting motor change the azimuth angle of the directional antenna 8 by each prescribed angle. - 特許庁

幅広く使われている用語「波面」あるいは「波の表面」は、一定の位相φの表面として定義される。例文帳に追加

The widely used terms wavefront or wave surface can be defined as surfaces of constant phase φ.  - 科学技術論文動詞集

光学的に安定で波面収差の少ない反射防止膜付き屈折率分布レンズを提供する。例文帳に追加

To provide a graded index lens with an antireflection film optically stable having little wavefront aberration. - 特許庁

アンテナ全体を厚くすることなく、放射する電磁波の偏波面を任意に設定できるようにする。例文帳に追加

To arbitrarily set the polarization plane of radiating electromagnetic waves without thickening the whole antenna. - 特許庁

リソグラフィ投影装置の波面を成形するために、投影光学部品を用いることができる。例文帳に追加

The projection optics can be used to shape a wavefront in the lithographic projection apparatus. - 特許庁

波面分析により光学系の収差を客観的に測定するための方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for objectively measuring aberration of an optical system by wavefront analysis. - 特許庁

（Ｂ２−Ｂ１）／２の演算により、コリメートレンズ６１によるレーザ光の波面収差Ｂを計算する。例文帳に追加

Wavefront aberration B of the laser light by the collimator lens 61 is calculated through the operation of (B2-B1)/2. - 特許庁

透過率測定装置及び透過率測定機構を備えている波面収差測定装置例文帳に追加

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING DEVICE PROVIDED WITH TRANSMISSIVITY MEASURING DEVICE AND TRANSMISSIVITY MEASURING MECHANISM - 特許庁

補償光学技術に利用される可変形状鏡システムの波面の補正の自由度を高める。例文帳に追加

To enhance flexibility in correcting the wave surface of a variable-shape mirror system for use in compensation optics technology. - 特許庁

システム誤差計測装置およびこれを備えた波面測定用干渉計装置例文帳に追加

APPARATUS FOR MEASURING SYSTEM ERROR AND INTERFEROMETER SYSTEM FOR WAVEFRONT MEASUREMENT EQUIPPED WITH THE SAME - 特許庁

レーザビーム補正システムおよびバイモルフ波面補正ミラーの製造方法例文帳に追加

LASER BEAM CORRECTION SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING BIMORPH WAVE-FRONT CORRECTION MIRROR - 特許庁

平版投射装置、回折モジュール、センサモジュールおよび波面収差を測定する方法例文帳に追加

LITHOGRAPHIC PROJECTION APPARATUS, DIFFRACTION MODULE, SENSOR MODULE, AND METHOD OF MEASURING WAVE FRONT ABERRATION - 特許庁

回折格子で発生する収差を測定可能な波面収差測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a wavefront aberration measuring device capable of measuring aberration to be generated in a diffraction grating. - 特許庁

非線形光波混合を用いたレーザー波面合成方法及びそれを用いた装置例文帳に追加

LASER WAVE FRONT COMPOSING METHOD USING NONLINEAR LIGHT WAVE MIXING, AND DEVICE USING SAME - 特許庁

適応光学（ａｄａｐｔｉｖｅｏｐｔｉｃｓ）を用いて光学信号波面の歪みを補正する方法および装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTION OF OPTICAL SIGNAL WAVE FRONT DISTORTION USING ADAPTIVE OPTICS - 特許庁

別の方法によると、最適化は全体的な眼及びレンズ光学系の波面で実行される。例文帳に追加

According to another method, the optimization is performed on the wavefront of the overall eye and lens optical system. - 特許庁

他覚的屈折波面収差測定装置、手術用顕微鏡およびスリットランプ例文帳に追加

INSTRUMENT FOR OBJECTIVE MEASUREMENT OF REFRACTIVE WAVEFRONT ABERRATION, SURGICAL MICROSCOPE, AND SLIT LAMP - 特許庁