「走査限界」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

水平走査期間で同時に２ラインの走査配線が選択される重複走査モードにおいて、垂直限界解像度の１／２の解像度にあたる空間周波数のゲインが０ｄＢ〜＋６ｄＢとなるように映像信号に高域強調フィルタ処理を施す。例文帳に追加

In a dual scanning mode picking up the wiring for two scanning lines at the same time in a horizontal scanning period, the image signals are filtered to emphasize the high range so that the gain becomes 0 to +6dB for the spatial frequency which is equal to half the vertical limit resolution. - 特許庁

ダイの限界寸法の値は、相対して高いスキャン速度により得られる低解像度の走査像から得られるので、上述の方法は、受け入れ可能な検査時間内で、ウェハ全体中の各ダイの限界寸法の値を得て、半導体製造プロセスの均一性を監視することができる。例文帳に追加

the values of the critical dimensions of the die can be obtained from a scan image of low resolution obtained at a relatively high scanning speed, so the method can obtain values of critical dimensions of respective dies in the whole wafer within an acceptable inspection time to monitor uniformity of a semiconductor manufacturing process. - 特許庁

これにより、単位時間当たりに同一画素位置の蛍光体に与えられるビーム電流の総和が、その蛍光体の輝度飽和の限界を超えることのないよう、各分割画面を走査する各電子ビームの走査時刻に相対的な差が生じる。例文帳に追加

Thereby, a total of beam currents given to a fluorescent substance at the same pixel position per unit time prevents the generation of a relative difference in the scanning time of each electron beam to scan each split screen so that the limit of the brightness saturation of the fluorescent substance is not exceeded. - 特許庁

本発明による電子線検査装置では、ステージをスキャン移動させる方向と同一の方向（水平方向）にて電子線を走査させることで、電子線の偏向周波数の限界に関係なく走査数によりステージ移動速度が調整可能となる。例文帳に追加

In the electron beam inspection device, a stage shifting speed can be adjusted irrespective of a limit of electron beam deflection frequency by scanning electron beam in the same direction (a horizontal direction) with a direction of scan-shifting of the stage. - 特許庁

データライン駆動回路の汎用性を損なうことなく、走査ラインの間隔を、その出力ピッチの限界値以上に狭めることができる走査ライン駆動回路、これを用いた電気光学装置、電子機器及び半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning line driving circuit capable of narrowing a scanning line pitch to a limit value of the output pitch or smaller without damaging the versatility of a data line driving circuit, and an electro-optical device, electronic equipment, and semiconductor device using the same. - 特許庁

そして、その計測時間Ｔp1，Ｔp2に基づき有効走査領域を走査した直後の光ビームの最大振幅角θmaxが予測され、該予想結果θmaxが破壊限界角θth以上となっている際には、直ちに偏向器の駆動が停止される。例文帳に追加

The maximum amplitude angle θmax of the light beam just after the scanning of the effective scanning area is predicted on the basis of the measured time Tp1 and Tp2, and the driving of a deflector is immediately stopped when the result of the prediction shows that θmax exceeds a fracture critical angle θth. - 特許庁

動作原理に内在する問題点によって性能や機能が制限されることが少ない質量分析装置であって、原理上、測定できる質量電荷比の範囲に限界がなく、高速の質量走査が可能な装置を提供する。例文帳に追加

To provide a mass spectrometer having a little restriction on performance and functions thereof due to problems inhering in the operation principle thereof, having no limitation on a range of a mass-to-charge ratio that can be measured in principle, and enabling high-speed mass scanning. - 特許庁

電源ＯＮ毎にプログレッシブスキャン時の走査ラインを１ラインずらして映像表示に要する蛍光体を１本おきに発光させ、蛍光体の劣化に起因する輝度低下の限界時間を従来の２倍に延ばす。例文帳に追加

To prolong the limit time of the reduction of luminance caused by the degradation of phosphor to twice by making phosphors required for displaying a video every other phosphor while shifting the scanning line at the time of performing a progressive scanning by one line for every ON of a power source. - 特許庁

記録トラックを昇温するための開口ヘッド１１を、光１３の回折限界以上の長さと、記録トラックに直交する方向に光１３の回折限界よりも短い幅を有し、長手方向が記録トラックの走査方向に沿って配置された開口スリット１１ｂを有するように設ける。例文帳に追加

An aperture head 11 for raising the temperature of the recording track is provided so as to have an aperture slit 11b which has the length equal to the diffraction limit of light 13 or more and the width shorter than the diffraction limit of the light 13 in a direction orthogonal to the recording track and is disposed so that its longitudinal direction is along the scanning direction of the recording track. - 特許庁

本発明は、走査速度が変化した場合や欠陥部・プローブ間距離が離れている場合でも、ヘリウムの洩れに対する検出限界（検出可能最小値）を向上させることができるスニッファープローブ、それを用いたガス洩れ試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sniffer probe and gas leak testing method using the same whereby, if the scan speed varies or the defect-probe distance is long, the detecting limit (min. detectable value) of He leakage can be improved. - 特許庁

赤外線センサー２０７及び制御装置で印画紙４０の処理量を検出し、処理量（処理液２０の劣化度合い）に応じて制御装置が光走査装置２０４のビームの強度を制御するので、処理液の使用限界まで一定した画像品質を得ることができる。例文帳に追加

Constant image quality can be obtained up to the use limit of the processing liquid, because an infrared sensor 207 and a controller detect a throughput of photographic paper 40, and the controller controls the intensity of the beam of an optical scanner 204 according to the throughput (deterioration degree of the liquid 20). - 特許庁

本発明によるレーザ走査型顕微鏡の動作方法では、試料は少なくとも１つのスキャナ２を通じて照明され、撮像が行われ、スキャナ２および／またはスキャナ駆動部において温度測定が行われ、限界温度に達すると冷却装置６が始動され、また有利なことに、冷却装置６のスイッチがオンに入ると撮像が中断され、または限界温度に達すると表示装置が光学的表示または音響的表示を行う。例文帳に追加

The method of operating laser scanning microscope comprises: lighting a sample through at least one scanner 2; imaging the sample; measuring temperature at the scanner 2 and/or a scanner driving part; starting a cooling device 6 when limit temperature is reached; advantageously interrupting the imaging operation once the cooling device 6 is switched on; and making a display device perform optical display or acoustic display when the limit temperature is reached. - 特許庁

上述の手法で検知されるＸ線は、概ね、観察試料支持部材内での入射電子の拡散範囲内の領域から放出されることとなり、当該入射電子の拡散範囲を数ｎｍ程度に制御すれば、得られる走査型Ｘ線顕微鏡像の分解能は、従来の手法の理論的限界とされていた１０ｎｍ以下とすることが可能となる。例文帳に追加

The X-ray detected by the method described above is discharged mostly from the region within the diffusion range of the incident electron in the observation sample support member, and if the diffusion range of the incident electron is controlled to about a few nm, the resolution of the scanning X-ray microscope can be not more than 10 nm which has been considered to be the theoretical limit by the conventional method. - 特許庁