「Inspection 12」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

An appearance inspection apparatus 10 inspects an inspection object 12 using an inspection object image obtained, by imaging the inspection object 12 with a substrate and components mounted to the substrate.例文帳に追加

外観検査装置１０は、基板と該基板に実装されている部品とを備える被検査体１２を撮像して得られる被検査体画像を使用して被検査体１２を検査する。 - 特許庁

In the seal plug 12, a hole 12a for inspection is formed.例文帳に追加

シールプラグ１２には、検査用穴１２ａが形成されている。 - 特許庁

To provide a lighting system 11 allowing for easy confirmation of inspection results and scheduled inspection dates of a plurality of lighting instruments 12.例文帳に追加

複数の照明器具12の点検結果や点検予定日などを容易に確認できる照明システム11を提供する。 - 特許庁

A battery inspection device 10 comprises a battery inspection table 12 which has a plurality of inspection units for inspecting a chargeable/dischargeable battery, and a controller 15 which is provided separately from the battery inspection table 12 and controls the battery inspection table 12.例文帳に追加

電池検査装置１０は、充放電可能な電池を検査するための検査部を複数備える電池検査台１２と、電池検査台１２とは別体に設けられており電池検査台１２を制御するためのコントローラ１５と、を備える。 - 特許庁

This inspection socket 10 has a socket body 12 mounted on an inspection substrate 14.例文帳に追加

検査用ソケット１０は、検査用基板１４に取り付けられたソケット本体１２を有している。 - 特許庁

A control unit 14 communicates with each lighting instrument 12, supplies an inspection order to each lighting instrument 12 based on a preset schedule, and obtains state information including the inspection result of each lighting instrument 12.例文帳に追加

制御装置14は、各照明器具12と通信し、予め設定されたスケジュールに基づき各照明器具12に対して点検指令を与え、各照明器具12の点検結果を含む状態の情報を取得する。 - 特許庁

Then, the inspection liquid 3 is returned to the inspection liquid tank 12 through a filter 41 to be used in the next inspection.例文帳に追加

その後検査液３は検査液タンク１２にろ過器４１を通して検査液タンク１２へ戻し次の検査に再使用する。 - 特許庁

The inspection device (12) for executing the method is also disclosed.例文帳に追加

この方法を実行するための検査装置（１２）も開示する。 - 特許庁

In January 1879, KAWAJI left Tokyo for the inspection of foreign police. 例文帳に追加

明治12年（1879年）1月、海外警察視察のために東京を発つ。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

This circuit inspection device 10 comprises an inspection signal supply part 12, a signal application measuring probe 14, and a failure detection part 13.例文帳に追加

本発明での回路検査装置10は、検査信号供給部12、信号印加測定用プローブ14、故障検出部13から構成する。 - 特許庁

This inspection board is divided into a general-purpose inspection board 14 and inspection boards 12, 13 for mounting, and the inspection boards 12, 13 for mounting can be mounted on optional positions on the general-purpose inspection board 14 (mountably on/dismountably from optional positions).例文帳に追加

検査ボードを、汎用検査ボード１４と、実装用検査ボード１２，１３に分割し、実装用検査ボード１２，１３を、汎用検査ボード１４上の任意の位置に装着することを可能（任意位置における着脱自在）とする。 - 特許庁

The inspection database 12 storing the inspection data relating to an inspected matter is connected to an inspection data server 11, the inspection data server registers the inspection data to the inspection database in accordance with the registration access, and retrieves the inspection database in accordance with the retrieval access to obtain the retrieved inspection data.例文帳に追加

検査データサーバ１１には被検査物に関する検査データが格納される検査データベース１２が接続されており、検査データサーバは登録アクセスに応じて検査データベースに検査データの登録を行うとともに、検索アクセスに応じて検査データベースを検索して検索検査データを得る。 - 特許庁

The defect inspection system is constituted of a DF defect inspection device 1 having a spatial filter section 12, and a defect inspection correction device 2.例文帳に追加

空間フィルタ部１２を有するＤＦ欠陥検査装置１及び欠陥検査補正装置２を含み欠陥検査システムが構成される。 - 特許庁

Since each of the inspection sections 10 is provided with the data processing section 12, the data processing time of the pattern inspection device 1 can be shortened, as compared with the conventional inspection device.例文帳に追加

各検査部１０がデータ処理部１２を備えているので、従来の検査装置よりもデータ処理の時間を削減できる。 - 特許庁

After the inspection finishes, the inspection gas in the closed space 12 ejects from the opening and closing valve SV12 which functions also as an inspection gas exhaust port.例文帳に追加

検査終了後、閉空間１２内の検査ガスは、検査ガス排出口としても機能する開閉弁ＳＶ１２から排出する。 - 特許庁

Besides, an inspection device is connected to the upper molds 8 and the pinlike blade 12 to perform electrical inspection.例文帳に追加

同時に、上型８とピン状刃１２に検査装置を接続して電気的検査を行い得るようにする。 - 特許庁

The inspection signal supply part 12 applies an inspection signal to a signal line of inspection object of a circuit 11 of inspection object through the probe 14, and the failure detection part 13 fetches a signal of the signal line.例文帳に追加

検査信号供給部12が信号印加測定用プローブ14を介して検査対象回路11の検査対象信号線に検査信号を印加するとともにその信号線の信号を故障検出部13に取り込む。 - 特許庁

CONSTRUCTION METHOD OF STANDARD 12 LEAD ELECTROCARDIOGRAM AND ELECTROCARDIOGRAM INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

標準１２誘導心電図の構築方法および心電図検査装置 - 特許庁

The well logging inspection device includes a prove (10) having a detector assembly (12).例文帳に追加

検層装置は、検出器アセンブリ（１２）を有するプローブ（１０）を含む。 - 特許庁

The second image of the liquid crystal panel 14 is acquired in the second inspection part 12.例文帳に追加

第２検査部１２で液晶パネル１４の第２画像を取得する。 - 特許庁

The tool for inspection of the connector is used in such a way that a connector 12 on the tool side is fitted to a connector on the inspection object side, and the connector on the inspection object side is electrically connected to a measuring instrument through the connector 12 on the tool side.例文帳に追加

被検査側のコネクタに治具側のコネクタ１２を嵌合し、被検査側のコネクタを治具側のコネクタ１２を介して測定器に電気的接続するコネクタ検査用治具である。 - 特許庁

A connector 12 for inspection to receive a counter connector C is fixed on a substrate 11 of an inspection unit 3.例文帳に追加

検査ユニット３の基板１１には、相手側コネクタＣを受け入れる検査用コネクタ１２が固定されている。 - 特許庁

An inspection device 14 outputs an inspection order transmission request to the personal computer 12 when the power is turned on.例文帳に追加

検査装置１４は、電源がオンされることでパソコン１２に対して検査オーダー送信要求を出力する。 - 特許庁

An inspection image is obtained by imaging an inspection target 1, including a substrate 14 in which the wiring pattern 12 is formed.例文帳に追加

配線パターン１２が形成された基板１４を含む検査対象物１を撮像して検査画像を得る。 - 特許庁

The inspection portion 12 includes a first inspection workpiece and a second inspection workpiece to which the functional liquid is to be ejected and an imaging part for imaging the ejection surface of the functional liquid on the first inspection workpiece and the second inspection workpiece.例文帳に追加

検査部１２は、機能液が吐出される第１の検査用ワーク及び第２の検査用ワークと、第１の検査用ワーク及び第２の検査用ワークにおける機能液の吐出面を撮像する撮像部と、を有する。 - 特許庁

The battery inspection device 10 includes: a battery inspection board 12 equipped with a plurality of inspection parts in order to test a chargeable/dischargeable battery; and a power supply device 11 which is separately installed from the battery inspection board 12, and supplies/recovers electric power to/from the inspection parts.例文帳に追加

電池検査装置１０は、充放電可能な電池を検査するための検査部を複数備える電池検査台１２と、該電池検査台１２とは別体に設けられており検査部への電力の供給及び回収をするための電源装置１１と、を備える。 - 特許庁

A maintenance inspection method, which uses the maintenance inspection system, moves the maintenance inspection robot 12 along the maintenance inspection work route 11 and works the maintenance inspection robot 12 according to the read data from the IC tag 10 in each position.例文帳に追加

そして、この保守点検システムを用いた保守点検方法として、保守点検作業ルート１１に沿って保守点検ロボット１２を移動させ、各位置のＩＣタグ１０，・・・からの読み取りデータに基づいて保守点検ロボット１２に作業を実行させる方法を採用した。 - 特許庁

A substrate 20 for inspection of a wafer end batch inspection device equipped with a wafer tray 11 for holding a semiconductor wafer 12 and the substrate 20 for inspection is formed with a plurality of terminals 18 for inspection.例文帳に追加

半導体ウェハ１２を保持するウェハトレイ１１と、検査用基板２０とを備えたウェハ一括検査装置の、検査用基板２０には複数の検査用端子１８が形成されている。 - 特許庁

Furthermore, an electrode sheet 22, a rubber heater 24, and a bottom plate 26 are sequentially provided on an underside of the inspection stage 12.例文帳に追加

検査ステージ12の下側にはさらに、電極シート22、ラバーヒータ24およびボトムプレート26が順番に設けられる。 - 特許庁

An inspection result acquisition means 12 acquires inspection results of infection inspection based on a specimen obtained from the traveler in association with the traveller.例文帳に追加

検査結果取得手段１２は、当該旅行者から採取した検体に基づく感染症検査の検査結果を、当該旅行者と対応付けて取得する。 - 特許庁

Information indicating the type of an inspection for inspecting equipment, the range of the inspection, and the degree of deterioration obtained as the result of the inspection is input from an input part 12.例文帳に追加

入力部１２から、設備を検査する検査の種類、検査の範囲、及び検査の結果得られた劣化度を示す情報が入力される。 - 特許庁

A visual inspection apparatus 10 includes a main unit 12 and a test unit 14.例文帳に追加

外観検査装置１０は、メインユニット１２と試験ユニット１４とを含む。 - 特許庁

This tool defect inspection device has a support device 18 for supporting the work 12 by a chucking member 16, a ring illumination 32 for illuminating an inspection face of the work 12, and a camera 26 for imaging the illuminated work 12.例文帳に追加

ワーク１２をチャック用部材１６により支持する支持装置１８と、ワーク１２の検査面を照明するリング照明３２と、照明されたワーク１２を撮像するカメラ２６を有する。 - 特許庁

An inspection data receiving part 12 receives the inspection data for each product, to store the same in a product data table 22.例文帳に追加

検査データ受付部１２は、製造品毎の検査データを受け付けて、これを製造品情報テーブル２２に格納する。 - 特許庁

The inspection system 1 for the magnetic recording device 12 comprises an interface 14, an inspection program transmitting part 31 and a monitoring part 32.例文帳に追加

磁気記録装置１２の検査システム１は、インタフェイス１４と、検査プログラム送信部３１と、監視部３２と、を備えている。 - 特許庁

A personal computer 12 generates an inspection order obtained by associating patient's identification information with the patient's required inspection items.例文帳に追加

パソコン１２により、患者の識別情報と、この患者の要検査項目とを対応付けした検査オーダーが生成される。 - 特許庁

When an inspection controller 13 in the semiconductor integrated circuit 10 sequentially inspects functional blocks 11a, 11b, on the basis of inspection conditions held in an inspection condition holding section 12, receives an inspection mode signal S1 from an inspection device 20.例文帳に追加

半導体集積回路１０における検査制御部１３は、検査装置２０から検査モード信号Ｓ１を受けると、検査条件保持部１２に保持された検査条件に基づいて、順次、機能ブロック１１ａ，１１ｂの検査を行う。 - 特許庁

The measuring circuit 18 is coupled to a processing module 18 and the inspection apparatus 12.例文帳に追加

測定回路１８は処理モジュール８及び検査装置１２に接続される。 - 特許庁

To provide lighting equipment 12 for disaster prevention capable of confirming lighting by a battery 26 by releasing an inspection regulation mode.例文帳に追加

点検規制モードを解除してバッテリ26による点灯確認ができる防災用照明器具12を提供する。 - 特許庁

Table 4-3-1-4 Status of radiation inspection and regulation in the major countries/regions(Vessels, marine containers, etc.) (as at May 12)例文帳に追加

第4-3-1-4表　主要国・地域における放射線検査・規制の状況（船舶・海上コンテナ等）（5 ／12 時点） - 経済産業省

The inspection circuit 29 comprises a first inspecting TFT 21 provided at one end of the signal line 12, and a second inspecting TFT 22 provided at the other end of the signal lines 12.例文帳に追加

検査回路29を、信号線12の一端側に設ける第１検査用ＴＦＴ21と、信号線12の他端側に設ける第２検査用ＴＦＴ22とで構成する。 - 特許庁

When inspection is performed, the carriage 12 equipped with the nozzle is set at an inspection position facing the shielding member 16 and a liquid drop is ejected from the nozzle for inspection.例文帳に追加

この検査装置４Ａは、複数の穴１７を備えた遮蔽部材１６を有し、その遮蔽部材１６はそれらの穴１７がノズルに対向して位置するように設けられる。 - 特許庁

To provide a color filter surface inspection machine provided in a conveyance system between an application device 12 and an exposure device 13, capable of total inspection by shortening a time required for inspection.例文帳に追加

検査の所要時間を短縮して全数検査を可能とし、塗布装置１２〜露光装置１３間の搬送系に設けるカラーフィルタ表面検査機を提供する。 - 特許庁

When self inspection is carried out, an inspection light outputted from a light emitting diode 8 passes through the beam splitter 15 and is made incident on the optical fiber 12.例文帳に追加

自己点検時、発光ダイオード８が出力した点検光１０は、ビームスプリッタから光ファイバ１２に入射される。 - 特許庁

This inspection device 1 has the dispensation mechanism 12 for dispensing the reagent into an inspection chip 4 for making the specimen react with the reagent.例文帳に追加

検査装置１は、検体と試薬を反応させるための検査チップ４に試薬を分注する分注機構１２を有している。 - 特許庁