「Inspection 12」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

This substrate crack inspection device is equipped with an excitation part 12, a plurality of measuring parts 11, and a control part 3.例文帳に追加

基板割れ検査装置は、加振部１２と、複数の計測部１１と、制御部３とを具備する。 - 特許庁

The inspection connecting device 4 is detached from the inspection outflow pipe 20 only after the moving valve 3 is seated on the valve seat 22 communicated with the inspection outflow pipe 20 when changing the inspection channel passing from the inflow pipe 11 to the inspection outflow pipe 20 to the passing channel passing from the inflow pipe 11 to the passing outflow pipe 12.例文帳に追加

流入管(11)から点検用流出管(20)に通じる点検用の流路から、流入管(11)から通用流出管(12)に通じる通常の流路に切り替えるときに、移動弁(3)が点検用流出管(20)に通じる弁座(22)に着座することによってはじめて点検用流出管(20)からの点検用接続装置(4)の取り外しができる。 - 特許庁

If the inspection boards 12, 13 for mounting are prepared beforehand relative to each kind of semiconductor devices, simultaneous inspection of various kinds of semiconductor devices can be performed only by mounting properly proper inspection boards 12, 13 for mounting on the general-purpose inspection board 14 on condition that the capacity of a semiconductor inspection device 11 is not exceeded.例文帳に追加

半導体装置の種類毎に実装用検査ボード１２，１３を予め作成しておけば、半導体検査装置１１のもつ能力を越えないという条件の下で、適切な実装用検査ボード１２，１３を、汎用検査ボード１４に適宜、装着するだけで、各種の半導体装置についての同時検査を実施できるようになる。 - 特許庁

At the time of performing the maintenance and restoration of the track 12, the amount of displacement of the track 12 is obtained as measurement data by dividing, for example, an electric and track inspection car 11 on the track 12.例文帳に追加

軌道の狂いを整備復元する際、例えば、電気軌道総合試験車１１が軌道１２上を走行して軌道の変位量を測定データとして得る。 - 特許庁

Based on the image obtained by the optical image pickup machine 11, the surface state of the Mg-based cast material 100 is inspected by an image processing-inspection unit 12.例文帳に追加

光学撮像機11により得られた像に基づいて画像処理検査部12により、Mg基鋳造材100の表面状態を検査する。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting a cathode-ray tube, allowing accurate inspection of a pattern formed on a face portion 12 of a panel 11.例文帳に追加

パネル11のフェース部12に形成されたパターンを正確に検査できる陰極線管の検査方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

The inspection chip 11 is provided with a structural color developing substrate 12 and a nucleic acid ligand 13 connected to the structural color developing substrate 12.例文帳に追加

検査用チップ１１は、構造性発色基板１２と、該構造性発色基板１２に結合した核酸リガンド１３とを備えている。 - 特許庁

The inspection gauge 2 is composed so that the distance between the tip of the lever 12 and the abutting section 26 is varied by the rotation of the lever 12.例文帳に追加

この検査ゲージ２は、レバー１２の回動によってレバー１２の先端と当て部２６との距離が変動するように構成されている。 - 特許庁

As a result, a flange part 21 is illuminated from the inside 22 by light from the piston 12, and the light is utilized as the backlight for flange part 12 inspection.例文帳に追加

これにより、ピストン１２からの光でフランジ部２１を内側２２から照らし、フランジ部１２検査用のバックライトとして利用する。 - 特許庁

In addition, an inspection space 121 is provided on a substrate conveyance path of the carrying-out means 12 and a substrate visual inspection part for visually inspecting the substrate W on the inspection space 121 from the outside of the device, are prepared.例文帳に追加

搬出手段１２の基板搬送路上に検査スペース１２１が設けられるとともに、検査スペース上の基板１２１を装置外部から目視するための基板目視部が設けられる。 - 特許庁

The inspection hole 2 is formed in a section close to a peripheral fringe of the washing place part 12, and an inspection hole lid 3 is detachably attached to the inspection hole 2.例文帳に追加

床パン１は浴槽設置部１１と洗い場部１２とを備え、洗い場部１２の周縁近傍部に点検口２を形成すると共に、該点検口２に点検口蓋３を着脱自在に設けた。 - 特許庁

In a substrate inspection system 10A, an appearance inspection apparatus 12 performs appearance inspection by taking an image of a substrate and inspecting the substrate for its mounting status by using the result of analysis of the taken image.例文帳に追加

基板検査システム１０Ａにおいて、外観検査装置１２は、基板の画像を撮像し、撮像された画像の解析結果を利用して基板の実装状態を検査する外観検査を実施する。 - 特許庁

A semiconductor chip (2) comprises a circuit connection electrode (4), a first inspection electrode (11) provided independently from the circuit, and a second inspection electrode (12) short-circuited to the first inspection electrode (11).例文帳に追加

半導体チップ（２）は、回路接続用電極（４）と、回路から独立に設けられた第１検査用電極（１１）と、第１検査用電極（１１）に短絡された第２検査用電極（１２）とを備える。 - 特許庁

Inspection information of search engines, virus definition files and the like of the executed virus inspection are formed by a data forming part 32 and the inspection information is printed on the surface of the CD and the like by a printing part 12.例文帳に追加

データ生成部３２で、実行したウイルス検査の検索エンジン及びウイルス定義ファイル等の検査情報を生成し、印刷部３２によりＣＤ等の表面に検査情報を印刷する。 - 特許庁

The inspection device 10 is arranged at the upper portion of the printed- circuit board and is equipped with a desk robot assembly 12 with an inspection head 14 that can move three-dimensionally.例文帳に追加

この検査装置はプリント回路板の上方に配置され且つ三次元で動くことができる検査ヘッドを有する卓上ロボット組立体を具備する。 - 特許庁

This wire harness inspection jig 1 is installed on a wiring board 16, and it is provided with a jig body 10, a continuity inspection section 11, an operation lever 12, and a coil spring.例文帳に追加

ワイヤハーネス用検査治具１は布線ボード１６に設置され治具本体１０と導通検査部１１と操作レバー１２とコイルばねを備えている。 - 特許庁

An interface (50) acquires the inspection data from data sources (12, 14, 16, 18), and the inspection data is converted into a data output which is formatted by one data protocol.例文帳に追加

インターフェース（５０）がデータ源（１２、１４、１６、１８）から検査データを取得し、それを１つのデータプロトコルでフォーマットされたデータ出力に変換する。 - 特許庁

The inspection device 12 includes, to perform this inspection method, a conveying part 18, the camera 20, an image processing part 22, a recording part 24, and a calculation part 26.例文帳に追加

この検査装置１２は、この検査方法を実行するための、搬送部１８と、カメラ２０と、画像処理部２２と、記録部２４と、演算部２６とを含む。 - 特許庁

This X-ray inspection device 10 comprises a conveyor 12, an X-ray irradiation apparatus 13, an X-ray line sensor 14, a quality inspection section 21c, and an initializing section 21b.例文帳に追加

Ｘ線検査装置１０は、コンベア１２と、Ｘ線照射器１３と、Ｘ線ラインセンサ１４と、品質検査部２１ｃと、初期設定部２１ｂとを備える。 - 特許庁

The tool defect inspection device includes a backface reflecting plate 22 for reflecting an irradiation light emitted from the ring illumination 32 in a backface side of the inspection image of the work 12 and in the periphery thereof.例文帳に追加

リング照明３２から照射された照射光を、ワーク１２の検査面の背面側及び周囲で反射させる背面反射板２２を備える。 - 特許庁

The drain manifold 1 is provided with an inspection hole 12 to eliminate the need for newly connecting an inspection hole coupling and prevent piping work from becoming troublesome.例文帳に追加

そのため、それだけ配管作業が面倒になり、しかも個々の住戸へ割り当てるスペースがパイプスペースの分だけ狭くなるということがあった。 - 特許庁

Under the control of the inspection module, a synthesizer 24 generates inspection signals and applies them to a selected reception channel 12 through a controllable switch 30.例文帳に追加

検査モジュールの制御の下で、シンセサイザ２４が検査信号を発生し、制御可能なスイッチ３０を介してこれらを選択した受信チャネル１２に印加する。 - 特許庁

The light source 11 of an inspection light generating device 10a generates an inspection light in an nonpolarized state, and a polarizing board 12 emits its S-polarization component.例文帳に追加

検査光発生装置１０ａの光源１１は無偏光状態の検査光を発生し、偏光板１２はそのＳ偏光成分を射出する。 - 特許庁

Consequently, an alarm is generated by a lamp and a buzzer, and the inspection point reaching the inspection time is displayed on the displays 12, 13 and informed to a user.例文帳に追加

これにより、ランプやブザーで警報を発するとともに、表示装置１２，１３に点検時期に達した点検個所を表示して使用者に知らせる。 - 特許庁

An underground utility vault inspection system and method includes a pre-defined railway 12 installed in an underground utility vault, and an inspection vehicle 11 adapted to traverse the railway to provide inspection results to inspection personnel.例文帳に追加

地中ユーティリティ埋設室の検査システム及び方法は、地中ユーティリティ埋設室内に設置された所定のレールウェイ１２と、検査職員に検査結果を提供するように前記レールウェイを移動するように構成された検査車両１１と、を備える。 - 特許庁

An inspection land 30 for the characteristics inspection of the IC chips 11, 12 is provided in the ceramic multilayer substrate 10, and at the same time, a through-hole 41 for the inspection land is provided in the molding resin 40 so as to expose the inspection land 30 from the molding resin 40.例文帳に追加

セラミック多層基板１０にＩＣチップ１１，１２の特性検査用の検査ランド３０が設けられるとともに、モールド樹脂４０にモールド樹脂４０から検査ランド３０が露出するように検査ランド用貫通孔４１が設けられている。 - 特許庁

If an abnormality occurs in communication through the communication means 12 in the inspection mode, there is a possibility of an abnormality occurring in the power source A, so, the inspection is disrupted to return to the normal mode.例文帳に追加

点検モードにおいて、通信手段12を介した通信に異常がある場合には、電源Ａについても異常が発生する可能性があるため、点検を中断して通常モードに復帰する。 - 特許庁

A plurality of connection holes 12 lie between a common potential wiring layers 11 electrically connected to a substrate and inspection wiring layers 13, and the inspection wiring layers 13 are separated for every connection holes 12.例文帳に追加

基板に電気的に接続した共通電位配線層１１と検査配線層１３との間に複数の接続孔１２が介在され、検査配線層１３は、接続孔１２毎に分離されている。 - 特許庁

The stage 12 for inspection is composed of the ceramic material such as aluminum nitride, in which lightness is set N4 or less by the standard of JIS Z 8721, by containing carbon black as a blackening agent, and a metallic layer having the high melting point and high hardness such as nickel is formed on the surface of the stage 12 for inspection as a chuck-top conductor layer 14.例文帳に追加

黒色化剤としてカーボンブラックを含有させることにより、明度をJIS Z8721の規格でN4以下とした窒化アルミニウムなどのセラミック材料により検査用ステージ12を構成し、検査用ステージ12の表面にニッケルなどの高融点・高硬度の金属層をチャックトップ導体層14として設ける。 - 特許庁

This inspection device 10 comprises a stage 14 for arranging the array board 12 on, an inspection section for inspecting the electric property of the array board 12, a light shielding lid 16 for shielding the array board 12 from light, and air blowing means for blowing dry air 18 against the surface of the array board 12.例文帳に追加

本発明の検査装置１０は、アレイ基板１２を配置するステージ１４と、アレイ基板１２の電気的特性を検査する検査部と、アレイ基板１２に対して光を遮る遮光蓋１６と、アレイ基板１２の表面にドライエアー１８を吹きかけるエアーブロー手段と、を含む。 - 特許庁

Inspection holes 15c communicating with rear parts of terminal housing chambers 12 are formed on a peripheral wall 15b of a terminal insertion part 15 of this waterproof connector 10; and an inspection rod T is allowed to contact a rear part of a terminal 21 in each terminal housing chamber 12 by inserting the inspection rod T from the outside through the inspection hole 15c.例文帳に追加

防水コネクタ１０の端子挿入部１５の周壁１５ｂに端子収容室１２の後部に連通する検査孔１５ｃを形成すると共に、検査孔１５ｃを通して外部から検査棒Ｔを挿入することで端子収容室１２内の端子２１の後部への検査棒Ｔの接触を可能とする。 - 特許庁

The inspection/taping device is equipped with a visual inspection module 7 or 8 for performing the visual inspection of a side or rear surface and a taping unit 12 for housing only a semiconductor product, which is judged as being superior through inspection by the visual inspection module 7 or 8, in a carrier tape and stages which conducts inspection by the visual examination module are provided at a plurality of places.例文帳に追加

側面外観検査または裏面外観検査を行う外観検査モジュール７または８と、この側面外観検査モジュール７または８による検査で良品と判定された半導体製品のみをキャリアテープに収納するテーピングユニット１２とを具備し、外観検査モジュールによって検査を行うステージを複数箇所設けたことを特徴とする。 - 特許庁

Cleaning and inspection are executed under a state that a probe is fixed by mounting a cleaning unit 11 for removing foreign matters from a probe by means of laser radiation and a work unit 12 for executing an inspection process inside the probe inspection apparatus 1 so that the cleaning unit 11 and the work unit 12 can move.例文帳に追加

プローブ検査装置１の内部に、レーザ照射によってプローブから異物を除去するクリーニングユニット１１と検査処理を実行するワークユニット１２とを移動可能に設けることでプローブを固定した状態でクリーニングと検査処理とを実行可能とする。 - 特許庁

A support bracket 12 and the existing inspection platform 14 installed previously on a side cut construction machine are utilized to mount a tread 19 of a wide additional inspection platform 18 on the existing inspection platform 14, and a bolt 24B of a fixture 24 is screwed to be pushed to a support bracket 12.例文帳に追加

横掘り建設機械に予め設置されている支持ブラケット１２、既設点検台１４を利用し、既設点検台１４に広幅な追加点検台１８の踏板１９を載置し、固定具２４のボルト２４Ｂをねじ込んで支持ブラケット１２に押付ける。 - 特許庁

A contact structure for inspection 12 is attached to the lower surface side of a circuit board 10 in a probe card 2.例文帳に追加

プローブカード２における回路基板１０の下面側に、検査用接触構造体１２が取付けられる。 - 特許庁

A contact structure 12 for inspection is mounted on the under surface side of a circuit board 10 of a probe card 2.例文帳に追加

プローブカード２における回路基板１０の下面側に，検査用接触構造体１２が取付けられる。 - 特許庁

The inspection target being a metal member having a rotation-symmetric shape is rotated by a drive part 12.例文帳に追加

駆動部１２によって、回転対称形状の金属部材である検査対象物を回転させる。 - 特許庁

Then, the magnetic disk device 10 stores inspection results in a test write result table 12a of a RAM 12.例文帳に追加

そして、磁気ディスク装置１０は、検査の結果をＲＡＭ１２の試験ライト結果テーブル１２ａに記憶する。 - 特許庁

A light guide inspection sensor 10 includes: a light guide 12; a reagent coating film 16; and a mesh layer 22.例文帳に追加

光導体検査センサ１０は、光導体１２、試薬被覆膜１６、および網目層２２を備える。 - 特許庁

An operation control part 12 as an inspection means determines whether displacement of each of the end faces is within the allowance.例文帳に追加

検査手段としての操作制御部１２は各端面の変位が公差内にあるか判定する。 - 特許庁

A microextraction unit 14 extracts micro information from an inspection object file 12 and re-builds to a source code.例文帳に追加

マクロ抽出部１４は、検査対象ファイル１２からマクロ情報を抜き出し、ソースコードに再構築する。 - 特許庁

Then in the inspection process, an alligator clip short-circuits both the wires 13, 14 placed in parallel on the opening 12.例文帳に追加

そして、検査工程では、開口部１２に並設された両線１３，１４をワニ口クリップでショートする。 - 特許庁

The opening 12 for underfloor work or inspection is provided on the flooring material 10 for a washing place 11.例文帳に追加

洗い場１１の床材１０に床下作業用又は点検用の開口１２が設けられている。 - 特許庁

The lens inspection device 2 includes an illumination optical system 3 and a liquid crystal panel 5 displaying the test pattern 12.例文帳に追加

レンズ検査装置２は、照明光学系３と、テストパターン１２を表示する液晶パネル５とを有する。 - 特許庁

A part on the substrate 1, not supported by the blocks 12 is irradiated with inspection light 2 from an optical system.例文帳に追加

基板１のブロック１２で支持されていない部分には、光学系から検査光２が照射される。 - 特許庁