「Inspection 12」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

And the operation data of an elevator 12 is memorized to a remote inspection data base 48.例文帳に追加

また遠隔点検データベース４８に昇降機１２の運行データを記憶しておく。 - 特許庁

This kit K_1 has the point-of-care inspection cartridge 12, and a blunt end cannula assembly 14.例文帳に追加

キットＫ_1は、ポイントオブケア検査カートリッジ１２と、鈍端カニューレアセンブリ１４とを有する。 - 特許庁

The OS 1 ensures a trace data area 12 corresponding to the inspection object memory area.例文帳に追加

また，その検査対象メモリ領域に対応するトレースデータ域１２を確保する。 - 特許庁

The circuits for inspection comprise each scanning signal wiring 11 or TFTs 22 for inspection connected with each signal wiring 12, inspection terminals 31-35 to be connected with the scanning signal wiring 11, and inspection terminals 41-45 to be connected with the signal wiring 12.例文帳に追加

検査用回路は、各走査信号配線１１、もしくは、各信号配線１２に接続された検査用ＴＦＴ２２と、走査信号配線１１に接続される検査用端子３１〜３５と、信号配線１２に接続される検査用端子４１〜５３を有する。 - 特許庁

The inspection circuit has scanning signal wires 11 or inspection TFTs 22 connected to data signal wires 12, inspection terminals 31-35 connected to the scanning signal wires 11, and inspection terminals 41-53 connected to data signal wires 12.例文帳に追加

検査用回路は、各走査信号配線１１、もしくは、各データ信号配線１２に接続された検査用ＴＦＴ２２と、走査信号配線１１に接続される検査用端子３１〜３５と、データ信号配線１２に接続される検査用端子４１〜５３を有する。 - 特許庁

By using the relational expression with the reference camera 19, the correlation between the inspection device 12 and the adjustment devices 111-11n can be found other than the reference camera 19.例文帳に追加

基準カメラ19との関係式により、基準カメラ19以外にも検査装置12と調整装置11_1 〜11_n との相関もとれる。 - 特許庁

The fluorescence light intensity and turbidity of inspection water are simultaneously measured, and the measured values are supplied to the chlorophyll (a) concentration computing element 12.例文帳に追加

検水の蛍光光度と濁度は同時に測定され、これら測定値はクロロフィルａ濃度演算器12に供給される。 - 特許庁

The chuck top stage 16 is provided on a surface of an inspection stage 12 which comprises the ceramic substrate 20 formed with an insulation sheet 18.例文帳に追加

チャックトップステージ16は、絶縁シート18が形成されたセラミック基板20からなる検査ステージ12の表面に設けられる。 - 特許庁

The cathode-ray tubes are measured by respective CCD camera 161m-16nm, 171-17m of adjustment devices 111-11n, and an inspection device 12, and the results are inputted to the arithmetic control device 20.例文帳に追加

調整装置11_1 〜11_n 、検査装置12の各ＣＣＤカメラ16_1m〜16_nm，17_1 〜17_m で測定し、演算制御装置20に入力する。 - 特許庁

The inspection target 12 is irradiated with X rays in a pulsated state by the X-ray emitting means 17 which inputs the X-ray irradiation signal.例文帳に追加

Ｘ線照射信号の入力したＸ線発生手段17は披検査物12にＸ線をパルス照射する。 - 特許庁

An image input part 12 generates input image data 32 of an object of inspection and an input image buffer 18 stores it.例文帳に追加

画像入力部12は検査対象物の入力画像データ32を生成し、入力画像バッファ18はこれを記憶する。 - 特許庁

The personal computer 6 issues an inspection start signal to the pulse generator 12 when an inspection start signal is inputted from an inspection start switch 10 and at the same time measures a lapse period after issuing the inspection start signal.例文帳に追加

パソコン６は、検査開始スイッチ１０から検査開始信号が入力されると、パルス発生器１２に対して検査開始信号を発行するとともに、この検査開始信号発行後における経過期間を計測する。 - 特許庁

A visual inspection apparatus 10 is primarily composed of a main unit 12 and a test unit 14.例文帳に追加

外観検査装置１０は、主にメインユニット１２と試験ユニット１４とから構成される。 - 特許庁

This visual inspection apparatus 10 is chiefly constituted of both a main unit 12 and a test unit 14.例文帳に追加

外観検査装置１０は、主にメインユニット１２と試験ユニット１４とから構成される。 - 特許庁

To provide a measurement device 12 by which the inspection of an outer diameter of round bar steel 14.例文帳に追加

丸棒鋼１４の外径検査が容易に行われうる測定装置１２の提供。 - 特許庁

The inspection device is constituted for inspecting the foreign matter 12 on the surface of the pallet 10.例文帳に追加

検査装置は、パレット１０の表面の異物１２を検査するように構成される。 - 特許庁

The inspection beam L transmitted through the inspected object 20 is photoreceived by a photoreception means 12.例文帳に追加

その被検査物２０を透過した検査光Ｌが受光手段１２で受光される。 - 特許庁

The control computer 12 conducts remote control for the inspection equipment 18 via the host computer 14.例文帳に追加

管理コンピューター（１２）がホストコンピューター（１４）を介して検査機（１８）を遠隔管理する。 - 特許庁

The torque meters 12, 14 measure an output torque of the inspection-objective transaxle 1.例文帳に追加

トルクメータ１２，１４は，検査対象トランスアクスル１の出力トルクを計測するのものである。 - 特許庁

Moreover, an inspection lid 19 is fitted in a tip of each inspection pipe 16 exposed to the outside of the foundation 12 so as to mount and dismount.例文帳に追加

また、基礎１２の外部に露出した各点検管１６の先端には、点検蓋１９が着脱可能に嵌合されている。 - 特許庁

The reference structure 12 includes first number of lines with a reference pitch, and the inspection structure 13 includes second number of lines with an inspection pitch.例文帳に追加

基準構造体１２は基準ピッチで第１の数の線を含み、検査構造体１３は検査ピッチで第２の数の線を含む。 - 特許庁

A common inspection slice value 10 in all measuring channels of the defect inspection device, measuring channel correction values 11 which are the correction values for every measuring channel, and inspection head correction values 12 which are the correction values for every inspection head, are added by adders 14 to obtain an actual inspection slice value 15.例文帳に追加

欠陥検査装置の全測定チャネルで共通の検査スライス値１０と，測定チャネルごとの補正値である測定チャネル補正値１１と，検査ヘッドごとの補正値である検査ヘッド補正値１２とを加算器１４で加算して実際の検査スライス値１５を得る。 - 特許庁

A vehicle inspection line 5 is divided into a first inspection station 11 for mainly executing a visual inspection, a second inspection station 12 for executing an inspection by a measuring instrument and a third inspection station 13 for executing decomposition, checks and inspections for a lower surrounding part by using a lift along a moving passage 8 of the automobile of the inspection object in the order from its entrance 3 side.例文帳に追加

車両検査ライン５は、検査対象の自動車の移動経路８に沿って、その入口３の側から順に、主として目視による検査を行なう第１の検査ステーション１１と、測定機器による検査を行なう第２の検査ステーション１２と、リフトを用いて下回りの分解、点検検査を行なう第３の検査ステーション１３に区分されている。 - 特許庁

The watertight inspection device 10 has a water tank 12 and a lid 14 closing the water tank and inspects watertight performance of an inspection object α by arranging the inspection object α inside the water tank 12.例文帳に追加

水密検査装置１０は、水槽１２と、前記水槽を密閉する蓋体１４とを有し、前記水槽の内部に水密検査対象物αを配設してその検査対象物αの水密状態を検査するものである。 - 特許庁

When the inspection is normally ended, the CPU 11 deletes the inspection program and the data for the inspection written in the fixed disk and writes the product program to the flash ROM 12.例文帳に追加

検査が正常に終了すると、ＣＰＵ１１は、固定ディスクに書き込まれている検査プログラム、検査用データを削除するとともに、製品プログラムをフラッシュＲＯＭ１２に書き込む。 - 特許庁

The remaining nitrogen concentration of water passing through the sensor 12 is simultaneously inspected by a DPD method, and the obtained inspection value is accommodated at a concentration inspection value storage section 19 as a concentration inspection value Ka.例文帳に追加

同時にセンサ１２を通った水の残留塩素濃度をＤＰＤ法で検査し、得られた検査値を濃度検査値Ｋａとして濃度検査値記憶部１９に格納しておく。 - 特許庁

The inspection balloon device 1 is lifted by sealing gas in an interior of a balloon 11, and it conducts inspection by an inspection device built in a mechanical box 12 provided in a bottom of the balloon 11.例文帳に追加

検査用気球装置１は、気球１１の内部にガスを封入して浮遊させ、気球１１の底部に設けられたメカボックス１２に内蔵される検査装置によって検査を行う。 - 特許庁

A channel switching connection part 14 connected to the inspection gas introduction piping 12 switches and connects the inspection gas introduction piping 12 to an inspection gas supply piping 31 of an external inspection gas supply device 20 and a piping 21a for ventilation connected to a ventilation-requiring device 21.例文帳に追加

点検用ガス導入配管１２に接続された流路切換接続部１４は、点検用ガス導入配管１２を、外部の点検用ガス供給装置２０の点検用ガス供給配管３１または要換気デバイス２１に接続された換気用配管２１ａに切り換えて接続する。 - 特許庁

An inspection device 10 includes a resistance r for inspection connected in series to the capacitor 12, a power source E for applying a voltage to the capacitor 12 and the resistance r for inspection, a voltmeter 14 for measuring a both terminal voltage of the resistance r for inspection, and a determination means 16 for determining the quality of the insulation resistance R.例文帳に追加

検査装置１０は、コンデンサ１２に直列接続される検査用抵抗ｒ、コンデンサ１２と検査用抵抗ｒに電圧を印加する電源Ｅ、検査用抵抗ｒの両端電圧を測定する電圧計１４、絶縁抵抗Ｒの良否を判定する判定手段１６を備える。 - 特許庁

The contactor 13 of the inspection device 12 is equipped with the inspection terminals 14 connected respectively to elongated terminal parts of plural wires 12 elongated from the inspection device body 11 and arranged in parallel along one direction A, and an insulator 15 elongated along one direction A, for supporting each inspection terminal 14.例文帳に追加

検査装置２のコンタクタ１３が、検査装置本体１１から延出する複数の配線１２の延出端部にそれぞれ接続されて、ある一方向Ａに沿って並設される検査用端子１４と、一方向Ａに沿って延び上記各検査用端子１４を支持する絶縁体１５とを備える。 - 特許庁

The image/electric inspection device 20 comprises a projector 11 and an inspection board 12 fitted slidably in parallel with a light projection face, and when the inspection plate 12 is divided into a plurality of kinds of inspection patterns along the slide direction, the image of the kind of pattern can be inspected.例文帳に追加

画像・電気検査装置２０を、投光器１１と、その投光面に平行にスライド可能に取り付けた検査板１２で構成し、検査板１２を前記スライド方向に沿って複数種の検査パターンの画面に区分けすると、そのパターンの種類の画像検査が行える。 - 特許庁

The collection implement 100 includes a support plate 12, the porous member 23 supported on the support plate 12, and an inspection target solution supply part 20 for supplying an inspection target solution to the porous member 23.例文帳に追加

支持板１２と、支持板１２上に支持された多孔部材２３と、多孔部材２３に対して被検液を供給する被検液供給部２０と、を備える捕集器具１００である。 - 特許庁

Based on the information obtained by the control unit 14, a supervision unit 16 generates a list display data in which the inspection results and the scheduled inspection dates of the plurality of lighting instruments 12 are displayed in a list.例文帳に追加

監視装置16は、制御装置14で取得した情報に基づき、複数の照明器具12の点検結果や点検予定日などを一覧表示する一覧表示データを作成する。 - 特許庁

The instrument specification DB (12) is accessible only from the management terminal (30), and the inspection data which has been input to the instrument inspection DB (11) is input to the instrument specification DB (12) by the instruction from the management terminal (30).例文帳に追加

計器仕様ＤＢ（１２）は、管理端末（３０）のみからアクセス可能で、管理端末（３０）からの指示により計器点検ＤＢ（１１）に入力された点検データが入力される。 - 特許庁

The maintenance management server specifies an apparatus with the cumulative operating hours within a certain period from a periodic inspection exceeding an overhaul period as an overhaul object apparatus from periodic inspection objective apparatuses 12.例文帳に追加

メンテナンス管理サーバは，定期点検対象の機器(12)のうち，定期点検時から一定の期間内で累計運転時間がオーバーホール時間を超える機器をオーバーホール対象機器と特定する。 - 特許庁

Furthermore, the ultrasonic waves are made incident from the second probe 12 and are received again by the second probe 12 to perform end-part echo flaw inspection.例文帳に追加

さらに、第２探触子１２から超音波を入射させ、再度第２探触子１２で受信せしめて端部エコー探傷する。 - 特許庁

An inspection means 14 inspects, in order, the parts 11 to be inspected placed on the installation part 16 and moving at a specified speed together with the support member 12.例文帳に追加

検査手段14は載置部16上に載置されて支持部材12と共に一定速度で移動する被検査品11を順次検査する。 - 特許庁

The head 10 has a camera 11 for photographing the inside of the pipe being an inspection object and an illuminating part 12 for illuminating the photographing range of the camera 11.例文帳に追加

ヘッド10には、点検対象のパイプ内を撮影するカメラ11と、カメラ11の撮影範囲を照らす照明部12とを有する。 - 特許庁

An inspection mechanism is provided with an inspection opening 24 on an outer circumference of a mixer body 12, wherein the inspection opening is closed by an attachable/detachable lid member 26 and allows an inspection and cleaning of the orifice hole 22 formed in a primary throat member 18, from the outside.例文帳に追加

点検機構は、混合器本体１２の外周部に、着脱自在な蓋部材２６で閉止され、１次スロート部材１８に形成したオリフィス穴２２を外部から点検と清掃が可能な点検開口部２４を設ける。 - 特許庁

When the results of inspections executed by an inspection engineer in accordance with the work sheet 8 are registered in an inspection result database 15 by an inspection result receiving processing part 3, an inspection omission detecting processing part 12 compares the database 14 with the database 15 to check the possible omission of an inspection.例文帳に追加

検査技師がワークシート８に従い実施した検査の結果が検査結果受付処理部３により検査結果データベース１５に登録すると、検査漏れ検出処理部１２は、当日検査分データベース１４と検査結果データベース１５とを比較して、検査漏れのチェックを行う。 - 特許庁

An inspection index part 13 is arranged under a ring 12 attached to the zoom ring 10.例文帳に追加

ズーム操作環１０に取り付けられているリング１２の下に、検査用指標部１３を設ける。 - 特許庁

A RAM 12 of the inspection device 1 temporarily stores the animation data photographed by the photographing device 2.例文帳に追加

検査装置１のＲＡＭ１２は、撮影装置２が撮影した動画データを一時記憶する。 - 特許庁

The client mediating part 22 exchanges information to an inspection client through a network 12.例文帳に追加

依頼者仲介部２２は、ネットワーク１２を介して検査依頼者に対して情報の交換を行う。 - 特許庁

The cameras 3a and 3b obtain image data by photographing a panel 1 when the panel 1 is on an inspection position 12 of the conveyance passage 11.例文帳に追加

また、搬送路１１の上方及び下方に、夫々カメラ３ａ及び３ｂを設ける。 - 特許庁

A contact resistance measuring circuit is configured to determine the contact resistance of an inspection apparatus 12.例文帳に追加

接触抵抗測定回路は検査装置１２の接触抵抗を判定するよう構成される。 - 特許庁