「Inspection 12」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The adherend detector includes a laser beam source 11, a scanning means 12 for scanning a laser beam with respect to an inspection surface of the inspection target 1, an imaging means 13 for imaging the inspection surface of the inspection target 1 and a data processing part 14 for subjecting the imaging result by the imaging means 13 to data processing.例文帳に追加

レーザー光源１１と、レーザー光を被検体１の検査面に対して走査する走査手段１２と、被検体１の検査面を撮像する撮像手段１３と、撮像手段１３による撮像結果をデータ処理するデータ処理部１４と、を備える。 - 特許庁

An inspection start unit 12, upon receiving inspection start instruction from an inspection terminal 4, interrupts a charging current of a secondary battery 33, turns on a light source 2 by supplying power from the secondary battery 33 to a lighting circuit 34, and starts inspection of the secondary battery 33.例文帳に追加

点検開始部１２は、点検端末４から点検開始指示を受けると、二次電池３３の充電電流を遮断し、二次電池３３から点灯回路３４への電力供給により光源２を点灯させ、二次電池３３の点検を開始する。 - 特許庁

This system comprises an inspection device 11 inspecting the quality of the work 5, an identification information input device 10 inputting identification information ID of the work 5, and an inspection information output device 12 outputting inspection information T, P and the like including the identification information ID and the inspection result by the inspection device 11.例文帳に追加

ワーク５の品質を検査する検査装置１１と、前記ワーク５の識別情報ＩＤを入力する識別情報入力装置１０と、前記識別情報ＩＤおよび検査装置１１による検査結果を含む検査情報Ｔ，Ｐ…を出力する検査情報出力装置１２とを設けた。 - 特許庁

An inspection image acquiring part 12 acquires an inspection object image, obtained by picking up a printed matter with image data to be an inspection reference image printed thereon, and an image difference detecting part 14 detects difference amount between the inspection object image and the inspection reference image and derives a difference image.例文帳に追加

検査画像取得部１２において、検査基準画像となる画像データが印刷された印刷物から撮像して得られた検査対象画像を取得するとともに、画像差分検出部１４において、この検査対象画像と、検査基準画像の差分量を検出し差分画像を導出する。 - 特許庁

In an inspection processing part of this inspection device, the ultraviolet ray is applied to an inspection object 14 by an ultraviolet ray applying means 13, and the inspection object is picked up by an image pick-up means 12 having the sensitivity to an ultraviolet ray region, whereby the zenobiotic mixed in the inspection object comes up blackly to be detected.例文帳に追加

検査装置における検査処理部において、検査対象物14に対して紫外線照明手段１３を照射し、紫外領域において感度を有する撮像手段１２で撮影することにより当該検査対象物に混入する生体異物をが黒く浮き立たせて検出することを特徴とする。 - 特許庁

When a software design stage 11 and a process termination inspection 12-1 of a design process 10 are performed, a manufacturing initial inspection 23-1 in a manufacturing initial inspection stage 23 of a manufacturing process 20 is performed next.例文帳に追加

設計工程１０のソフトウェア設計段階１１及び工程終了検査１２−１が行われると、次いで、製造工程２０の製造初期検査段階２３における製造初期検査２３−１が行われる。 - 特許庁

In the building inspection system, an inspection passage 24 through which an inspector or a robot entering an attic space 14 from an inspection hole 22 passes is installed beforehand in the attic space 14 of a building 12.例文帳に追加

本建物の点検システムでは、建物１２の小屋裏空間１４内には、点検口２２から小屋裏空間１４内へ進入した点検者又はロボットが通行するための点検路２４が予め設定されている。 - 特許庁

The inspection apparatus is equipped with a loading unit 12, a lid opening unit 15, an inspection stage 10, a first transferring unit 16, a second transferring unit 17, and an exposure case set unit 14.例文帳に追加

検査装置は、入庫部１２と、開蓋部１５と、検査ステージ部１０と、第１移載ユニット１６と、第２移載ユニット１７と、露光用ケースセット部１４とを備えている。 - 特許庁

An illuminator 12 is provided on the side of the lower end 11 of an inspection target 2 and a light emitting surface 16 having a shape similar to that of the inspection target 2 is formed to a light emitting part 14.例文帳に追加

検査対象物２の下端１１側に照明１２を設け、発光部１４に検査対象物２の下端１１と相似形状の発光面１６を形成する。 - 特許庁

An inspection circuit 16 is provided on the inspection substrate 14, and through holes 20 penetrating between a bottom surface 12D and an upper surface 12U are provided in the socket body 12.例文帳に追加

検査用基板１４には検査回路１６が設けられ、ソケット本体１２には、底面１２Ｄと上面１２Ｕの間を貫通する貫通孔２０が設けられている。 - 特許庁

The defect inspection of the desired pipe portion can be conducted by moving the air plugs 12 and 13 in the pipe and fixing and setting them at the inspection position.例文帳に追加

したがって、配管内を移動し、エアープラグ１２、１３を検査する位置に固定設定することによって希望する配管部分の欠陥検査を行うことができる。 - 特許庁

The catheter 12 includes the joint region connected to a positioning device for positioning a transducer array so as to have a direction selected for the inspection region of tissue, and the transmission and receiving beam formers acquire ultrasonic data over the image plane of the inspection region of tissue at every direction of the transducer array.例文帳に追加

トランスデューサ・アレイの各向き毎に前記送受信ビームフォーマは、前記検査組織領域の画像平面にわたって超音波データを取得する。 - 特許庁

The current value measured in the inspection area 6 is distinguished between the TFT 11 for display and the TFT 12 for inspection, and the defective error determination of the TFT 11 for display can be prevented.例文帳に追加

検査領域６で測定する電流値を表示用ＴＦＴ11と検査用ＴＦＴ12とで区別し、表示用ＴＦＴ11の不良誤判定を防止できる。 - 特許庁

Signal light from a signal light input end 11 and inspection light from an inspection light source 12 are multiplexed with a multiplexer 13 to be input to the LN modulation element 14.例文帳に追加

信号光入力端１１から信号光と、検査光源１２から検査光とが、合波器１３により合波されてＬＮ変調素子１４へ入力される。 - 特許庁

An opening 11b is formed in a base plate 11a constituting a part of the base 11 of an IC handler 10 which performs inspection by conveying electronic components A with component conveyance units 15, and bringing the components into contact with the inspection sockets 12, and the inspection sockets 12 are arranged below the opening.例文帳に追加

電子部品Ａを部品搬送ユニット１５で搬送して検査ソケット１２に接触させることにより検査するＩＣハンドラ１０の基台１１の一部を構成する基台プレート１１ａに開口１１ａを形成してその下方に検査ソケット１２を配置した。 - 特許庁

During encoding function inspection, a CPU 4 writes data having an inspection bit added thereto by an error correction circuit 12 into the memory 3 of a writing speed higher than that of an EEPROM 2, and performs inspection by reading and collating without operating the error correction circuit 12.例文帳に追加

符号化機能検査時には、ＣＰＵ４は、誤り訂正回路１２により検査ビットの付加されたデータをＥＥＰＲＯＭ２よりも書き込み速度の速いメモリ３に対して書き込ませ、誤り訂正回路１２を機能させない状態で読み出し照合することにより検査を行う。 - 特許庁

The present invention relates to defective-marking method of a semiconductor device 10, having an inspection pad 12 such that when a defective inspection of the semiconductor device 10 is performed, and as a result, it is determined that the semiconductor device 10 is defective, the inspection pad 12 is removed by fusion.例文帳に追加

検査用パッド１２を有する半導体装置１０の不良品マーキング方法であって、 前記半導体装置１０の不良品検査を行い、 前記半導体装置１０が不良品であると判定したときに、 前記検査用パッド１２を溶断により除去することを特徴とする。 - 特許庁

A printer 10 is equipped with an image formation section 12, which forms an image on a form and an inspection device 16 which inspects the image formation result of the image formation section 12.例文帳に追加

プリンタ１０は、用紙に画像形成する画像形成部１２と、画像形成部１２による画像形成結果を検査する検査装置１６と、を備える。 - 特許庁

An inspection tool for a print circuit board of the present invention includes holding boards 10, 12, a probe pin 34 movably provided in the holding board 10, and a spring member 36 accommodated in the holding board 12.例文帳に追加

保持ボード１０，１２と、保持ボード１０に進退動自在に保持されるプローブピン３４と、保持ボード１２に収容されるばね部材３６と、を備える。 - 特許庁

(2) Following the filing of applications for registration, the Controller shall permit the inspection of copies of the applications as made in accordance with Rule 12(2) and of certificates filed under Rule 13.例文帳に追加

(2) 登録出願に続き，長官は，規則12(2)によりなされる出願の及び規則13に基づき提出される証明書の写の閲覧を許可する。 - 特許庁

When the function of the PCB 12 for controlling the scanning operation is normal, the PCB 12 receives the input of the inspection signal to stop an output of a motor drive pulse.例文帳に追加

ＰＣＢ１２は、スキャン動作を制御する機能が正常であれば、検査用信号の入力を受けてモータ駆動パルスの出力を停止する。 - 特許庁

Light source devices (310 and 311) are respectively provided to the respective inspection surfaces on the front and back sides of the disk (12) one by one and an optical fiber (312 or 313) is branched from one light source device (310 or 311) to symmetrically illuminate the inspection region of the disk (12) from two directions (left and right).例文帳に追加

ディスク（12）の表面側及び裏面側の各検査面に対して、それぞれ１台ずつ光源装置（310,311）を備え、１台の光源装置（310又は311)から光ファイバー（312又は313）を２分岐して、ディスク検査領域に対して２方向（左右）から対称的に照明する。 - 特許庁

Consequently, the inspection unit 15 is directly connected to the video signal processing unit 11 and the display module 12.例文帳に追加

従って、検査装置１５は、映像信号処理装置１１、表示モジュール１２と直接的に接続される。 - 特許庁

A socket body 12 on which a semiconductor chip 34 which is an inspection subject is placed is attached on a substrate 14.例文帳に追加

基板１４の上に、検査対象の半導体チップ３４を載置するソケット本体１２が取り付けられている。 - 特許庁

An inspection hole 18 through which the filter element 12 in a filtering state is monitored from the outside is an angled in the filter holder 11.例文帳に追加

フィルタホルダ１１には濾過中のフィルタエレメント１２を外部から監視する点検孔１８が設けられている。 - 特許庁

The corrosion inspection hole 1b is a bottomed hole which does not extend from the other surface 12 to the one surface 11.例文帳に追加

腐食点検穴１ｂは、他方の面１２から一方の面１１に貫通しない有底穴となっている。 - 特許庁

In this inspection device to be constituted, a test is performed by bringing the probe needle 13 of a probe block 12 into contact with the liquid crystal panel 5.例文帳に追加

液晶パネル５にプローブブロック１２のプローブ針１３を接触させて試験を行う検査装置である。 - 特許庁

The invention relates to the inspection method for an elastic layer roller having an elastic layer 13 on the periphery of a metallic core shaft 12.例文帳に追加

金属製の芯軸１２の周囲に弾性層１３を有する弾性層ローラの評価方法に関する。 - 特許庁

During this feed period, the inner surfaces of the caps C are imaged from the area under the transparent plate 12 by inner surface inspection cameras 16.例文帳に追加

この間に透明板１２の下方から内面検査カメラ１６でキャップＣの内面が撮像される。 - 特許庁

The optical fiber inspection apparatus 10 includes: a light introduction section 12; an image acquisition section 14; and an image processing section 16.例文帳に追加

光ファイバ検査装置１０は、光導入部１２と画像取得部１４と画像処理部１６とを備える。 - 特許庁

The medical examination department terminal 12 includes a function of issuing an inspection request to the request information management server 14.例文帳に追加

診療科端末１２は、依頼情報管理サーバ１４に対して検査依頼を発行する機能を備えている。 - 特許庁

A test program 7 submitted to an EWS server for submission 8 is checked for the presence or absence of necessary files, inspection conditions, inspection standards, and inspection items by a file inspection system 12 and a program checking system 13 and is then approved by a program approval system 14.例文帳に追加

提出用ＥＷＳサーバ８に提出されたテストプログラム７は、ファイル検証装置１２およびプログラムチェック装置１３によって、必要ファイルの有無のチェック,検査条件・検査規格・検査項目のチェックを受けた後、プログラム承認装置１４を用いて承認される。 - 特許庁

When an inspection tool 12 carries out inspection of an electric power unit 1, the inspection information is acquired by an inspection information acquiring means 31, and on the other hand, the component information regarding each component composing the electric power unit 1 is acquired by a component information acquiring means 32 from an operation input means 14.例文帳に追加

検査工具１２が電源装置１の検査を行なうと、検査情報が検査情報取得手段３１に取り込まれる一方で、電源装置１を構成する各部品に関する部品情報が操作入力手段１４から部品情報取得手段３２に取り込まれる。 - 特許庁

The inspection liquid is sucked into a degassing cylinder 13 by a vacuum pump 12 while filtering by a filter 14, the bubble in the liquid is removed in the degassing cylinder 13, and the degassed inspection liquid is returned to an inspection device by a feed pump 15.例文帳に追加

真空ポンプ１２により検査液をフィルター１４でフィルタリングしながら脱気筒１３に吸い込み、脱気筒１３で液中の気泡を除去し、脱気された検査液は送液ポンプ１５により検査装置１１に戻す。 - 特許庁

A probe block 23 is fixed to a block 24 for connection where a flexible substrate 32 is mounted, and an inspection tool 12 where wiring 14a for inspection whose tip section is composed of an inspection probe 14 is mounted is assembled to the probe block 23.例文帳に追加

フレキシブル基板３２が取り付けられた接続用ブロック２４にプローブブロック２３を固定し、プローブブロック２３に、先端部が検査用プローブ１４で構成される検査用配線１４ａが取り付けられた検査治具１２を組み付けた。 - 特許庁

The ultrasonic probe 11 transmits on ultrasonic wave to the inspection target from the vibrator 12 through the wedge 13 and the shoe 14 and receives the reflected wave from the inspection target by the vibrator 12 through the shoe 14 and the wedge 13.例文帳に追加

超音波探触子１１は、振動子１２から楔１３およびシュー１４を介して被検査体に超音波を送信するとともに被検査体からの反射波をシュー１４および楔１３を介して振動子１１で受信する。 - 特許庁

A controller 40 connects a load 22 for inspection to the terminal 17 of an inverter circuit 12 and also connects a DC power source 24 for inspection to the terminal 16 and the terminal 18 of the inverter circuit 11 when inspecting the inverter circuit 12.例文帳に追加

制御装置４０は、インバータ回路１２を検査する際に、検査用負荷２２をインバータ回路１２の端子１７に接続すると共に検査用直流電源２４をインバータ回路１１の端子１６と端子１８とに接続する。 - 特許庁

This spindle device includes: a spindle 12; a tool holder 18 mounted on the spindle 12; and an inspection mechanism 40 for inspecting the quality of state of mounting the tool holder 18 to the spindle 12.例文帳に追加

主軸装置が、主軸（１２）と、主軸（１２）に装着される工具ホルダー（１８）と、主軸（１２）に対する工具ホルダー（１８）の装着状態の良否を検査するための検査機構（４０）を有する。 - 特許庁

A signature verification device 12 performs a slave signature inspection on a signature inspection expression using pairing on the algebraic curve based on a pair of Ri and Si, M, Q, Ppub and Qpub, and Q_IDi.例文帳に追加

署名検証装置１２は、Ｒi及びＳiのペアと、Ｍと、Ｑ、Ｐpub及びＱpubと、Ｑ_IDiとに基づき、上記代数曲線上のペアリングを用いた署名検査式に従署名検査を行う。 - 特許庁

The second inspection electrode (12) is disposed at a position where it is electrically insulated from the second inspection substrate side electrode (22), when the semiconductor chip (2) and the substrate (3) are connected normally.例文帳に追加

第２検査用電極（１２）は、半導体チップ（２）と基板（３）とが正常に接続されるとき、第２検査用基板側電極（２２）と電気的に絶縁する位置に配置される。 - 特許庁

When inspection is requested, by grouping a plurality of related inspection requests O1, O2, the medical examination department terminal 12 can issue a relational instruction to the request information management server 14.例文帳に追加

診療科端末１２は、検査依頼を際に、関連する複数の検査依頼Ｏ１，Ｏ２をグループ化して、依頼情報管理サーバ１４に向けて関連付け指示を発行することができる。 - 特許庁

This inspection device 12 is equipped with a conveyance mechanism 15 for conveying the work W, an inspection field 17, a data processing device 18 using a personal computer or the like, a display device 19 or the like.例文帳に追加

検査装置１２は、ワークＷを搬送する搬送機構１５と、検査場１７と、パーソナルコンピュータ等を用いたデータ処理装置１８と、表示部１９などを備えている。 - 特許庁

The inspection wiring 5, an inter-layer insulating film 6, a surface protection film 12, and the inspection outside pad 16 have a side on a level with the side of the semiconductor substrate 3 respectively.例文帳に追加

検査用配線５、層間絶縁膜６、表面保護膜１２および検査用外部パッド１６は、それぞれ半導体基板３の側面と面一をなす側面（端面）を有している。 - 特許庁

This polyhedron inspection device 10 is constituted by including the polyhedron inspection feeder 12 inspecting a face of a chip W having a cubic shape and provided with a passage formation member.例文帳に追加

立方体形状を備えたチップＷの面を検査するための通路形成部材を備えた多面体検査用フィーダー１２を含んで多面体検査装置１０が構成されている。 - 特許庁

The tool defect inspection device includes a display 30 for displaying an image picked up by the camera 26, and an image processor 28 for image-processing an inspection image of the work 12 picked up by the camera 26.例文帳に追加

カメラ２６により撮像された画像を表示する表示装置３０と、カメラ２６により撮像されたワーク１２の検査像を画像処理する画像処理装置２８を備える。 - 特許庁