| 意味 | 例文 |
Reliability Testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 476件
SUBSTRATE UNIT FOR RELIABILITY TEST, AND APPARATUS AND METHOD FOR RELIABILITY TEST例文帳に追加
信頼性試験用基板ユニット、信頼性試験装置及び信頼性試験方法 - 特許庁
RELIABILITY TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体素子の信頼性試験装置 - 特許庁
SOLAR CELL MODULE RELIABILITY TEST APPARATUS AND SOLAR CELL MODULE RELIABILITY TEST METHOD例文帳に追加
太陽電池モジュールの信頼性試験装置、及び太陽電池モジュールの信頼性試験方法 - 特許庁
Reliability demonstration test of nuclear design methodology for the full MOX core例文帳に追加
全MOX炉心核設計手法信頼性実証試験2) - 経済産業省
To improve the reliability of a test without increasing the number of test output terminals.例文帳に追加
テスト出力端子数を増大させることなく、テストの信頼性を向上させる。 - 特許庁
HIGH RELIABILITY TRIPLE REDUNDANT LATCH WITH INTEGRATED TEST FACILITY例文帳に追加
テスト機能が組み込まれた高信頼性三重冗長ラッチ - 特許庁
RELIABILITY EVALUATION TEST METHOD OF GAS TURBINE, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
ガスタービンの信頼性評価試験方法およびその装置 - 特許庁
To efficiently test the reliability of a semiconductor device.例文帳に追加
、半導体装置の信頼性を効率良く試験できるようにする。 - 特許庁
The test relates to a reliability test of flexible separator configured so that a cycle speed in a test can be raised.例文帳に追加
試験におけるサイクルの速度を上げることが可能なように構成された可撓セパレータの信頼性試験に関する。 - 特許庁
To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加
信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁
A reliability test may be further performed to improve performance, whereby the binary hypothesis test may be performed only if the reliability test is passed.例文帳に追加
性能を向上させるためにさらに信頼性テストを実行することができ、それにより信頼性テストに合格した場合にのみ、バイナリ仮説テストを実行することができる。 - 特許庁
To provide a semiconductor device having an excellent reliability in heat cycle test.例文帳に追加
温度サイクル信頼性に優れた半導体装置を提供する。 - 特許庁
The reliability of a soil test is only as good as the sample you submit.例文帳に追加
土壌試験の信頼性は、提出サンプルに限ってのみです。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
Thus, the cost of the test can be decreased, and reliability related to test efficiency and test result can be improved.例文帳に追加
これにより、テストのコストを減少させることができ、テストの能率とテスト結果に関する信頼性を高めることができる。 - 特許庁
To improve the reliability of test by automating the preparation of test specification, and preventing the mixing of human error.例文帳に追加
テスト仕様の作成を自動化し、人的誤りの混入を防止し、テストの信頼性を向上させる。 - 特許庁
To control the temperature adjustment mechanism of integrated circuit probe device test environment, and thereby enhance the reliability of test results.例文帳に追加
集積回路プローブ装置試験環境の温度を制御し、よって試験結果の角度を高める。 - 特許庁
To provide a dicing substrate for test capable of improving test accuracy and connection reliability.例文帳に追加
試験精度及び接続信頼性の向上を図ることが可能な試験用個片基板を提供する。 - 特許庁
To provide an IC socket realizing a characteristics test with high reliability.例文帳に追加
信頼性の高い特性試験を実現するICソケットを提供する。 - 特許庁
To improve reliability of a test without lowering workability.例文帳に追加
稼働効率を低下させることなく、試験の信頼性の向上させる。 - 特許庁
A test node operating means 8 calculates the reliability α of the selected test node and propagates it to each bit node connected to the test node based on the reliability β.例文帳に追加
検査ノード演算手段8は、選択された検査ノードについて、信頼度βに基づき、当該検査ノードに接続する各ビットノードに向け伝搬する信頼度αを算出し伝搬する。 - 特許庁
To shorten the time for testing a test circuit, and to improve the reliability of the test performed for a circuit under test, by performing detection of the malfunction of the test circuit.例文帳に追加
テスト回路の故障検出をおこなうことにより、テスト回路の試験時間の短縮化および試験対象回路におこなう試験の信頼性の向上を図ること。 - 特許庁
To appropriately perform a reliability test when manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置を製造する際の信頼性試験を適切に行うこと。 - 特許庁
The reliability test when manufacturing the semiconductor device is appropriately performed by determining the condition of reliability test based on the substitution rate.例文帳に追加
置換率の高低に基づいて信頼性試験の条件を決定することで半導体装置を製造する際の信頼性試験が適切に行われる。 - 特許庁
To provide technology capable of enhancing the reliability of an airtightness test and conducting the airtightness test without spending long time.例文帳に追加
気密試験の信頼性を高め且つ気密試験を時間をかけないで行うことができる技術を提供する。 - 特許庁
To provide a burn-in test method and a burn-in test device that conduct a stable burn-in test with high reliability.例文帳に追加
安定した信頼性の高いバーンイン試験を実施することが可能となるバーンイン試験を行う試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁
To enhance the reliability of a pinhole test by allowing a pinhole on a latent part to develop.例文帳に追加
潜在部でのピンホールも顕在化させてピンホール試験の信頼性を高める。 - 特許庁
To standardize the bonding strength test of a bonding wire while enhancing reliability.例文帳に追加
ボンディングワイヤの接合強度試験の標準化を図り、信頼性を向上する。 - 特許庁
To standardize the bond strength test of bonding wire and to improve reliability.例文帳に追加
ボンディングワイヤの接合強度試験の標準化を図り、信頼性を向上する。 - 特許庁
To improve reliability at the point of a temperature drift or a DC drift in the case of applying especially a load in a reliability test such as a thermal shock test, a temperature cycle test in an optical waveguide device.例文帳に追加
光導波路デバイスにおいて、熱衝撃試験や温度サイクル試験などの信頼性試験で特に負荷を加えたときに、温度ドリフトやDCドリフトの点での信頼性を一層向上させる。 - 特許庁
Since the test circuit chip 21 is provided in the vicinity of the needle root of the probe terminal 12 in this way, degradation of a test signal is suppressed, and test reliability is improved.例文帳に追加
このようにテスト回路チップ21をプローブ端子12の針元近傍に設けたことにより、テスト信号の劣化が抑え、テストの信頼性が向上する。 - 特許庁
To facilitate the generation of test specifications for testing the operations of a system to be tested and enhance the reliability of the test by reducing test leakage.例文帳に追加
試験対象システムの動作を試験する試験仕様の生成を容易にするとともに、試験漏れを少なくして、試験の信頼性を向上する。 - 特許庁
To provide a display device preventing a mistake in a test, early finding a mistake in description, and improving a test reliability such as debugging and test efficiency.例文帳に追加
テストミスの予防、記述ミス早期発見、デバッグ及びテスト効率アップ等テストの信頼性を向上が可能な表示装置を提供することを目的としている。 - 特許庁
To provide a ball grid array semiconductor package capable of improving drop test reliability and board level TC (temperature cycle) reliability.例文帳に追加
落下試験信頼性およびボードレベルTC信頼性を改善できるボールグリッドアレイ半導体パッケージを提供する。 - 特許庁
To shorten the test time of the setup time and hold time of input data and to improve the reliability of a test.例文帳に追加
入力データのセットアップ時間及びホールド時間のテスト時間を削減し、またテストの信頼性を向上させること。 - 特許庁
To increase test reliability, concerning a contactor, a test device for a semiconductor apparatus, and a method for manufacturing the semiconductor apparatus.例文帳に追加
コンタクタ、半導体装置の試験装置、及び半導体装置の製造方法において、試験の信頼性を高めること。 - 特許庁
To generate diverse test data including an abnormal input not permitted to improve reliability of a test result.例文帳に追加
許容されないような異常入力を含めて多様なテストデータを生成し、テスト結果の信頼性を向上させる。 - 特許庁
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