| 意味 | 例文 (476件) |
Reliability Testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 476件
SOLAR CELL MODULE RELIABILITY TEST APPARATUS AND SOLAR CELL MODULE RELIABILITY TEST METHOD例文帳に追加
太陽電池モジュールの信頼性試験装置、及び太陽電池モジュールの信頼性試験方法 - 特許庁
SUBSTRATE UNIT FOR RELIABILITY TEST, AND APPARATUS AND METHOD FOR RELIABILITY TEST例文帳に追加
信頼性試験用基板ユニット、信頼性試験装置及び信頼性試験方法 - 特許庁
HIGH RELIABILITY TRIPLE REDUNDANT LATCH WITH INTEGRATED TEST FACILITY例文帳に追加
テスト機能が組み込まれた高信頼性三重冗長ラッチ - 特許庁
Reliability demonstration test of nuclear design methodology for the full MOX core例文帳に追加
全MOX炉心核設計手法信頼性実証試験2） - 経済産業省
To improve the reliability of a test without increasing the number of test output terminals.例文帳に追加
テスト出力端子数を増大させることなく、テストの信頼性を向上させる。 - 特許庁
To provide a dicing substrate for test capable of improving test accuracy and connection reliability.例文帳に追加
試験精度及び接続信頼性の向上を図ることが可能な試験用個片基板を提供する。 - 特許庁
To control the temperature adjustment mechanism of integrated circuit probe device test environment, and thereby enhance the reliability of test results.例文帳に追加
集積回路プローブ装置試験環境の温度を制御し、よって試験結果の角度を高める。 - 特許庁
To improve the reliability of test by automating the preparation of test specification, and preventing the mixing of human error.例文帳に追加
テスト仕様の作成を自動化し、人的誤りの混入を防止し、テストの信頼性を向上させる。 - 特許庁
The reliability test when manufacturing the semiconductor device is appropriately performed by determining the condition of reliability test based on the substitution rate.例文帳に追加
置換率の高低に基づいて信頼性試験の条件を決定することで半導体装置を製造する際の信頼性試験が適切に行われる。 - 特許庁
The reliability of a soil test is only as good as the sample you submit.例文帳に追加
土壌試験の信頼性は、提出サンプルに限ってのみです。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
RELIABILITY EVALUATION TEST METHOD OF GAS TURBINE, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
ガスタービンの信頼性評価試験方法およびその装置 - 特許庁
To appropriately perform a reliability test when manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置を製造する際の信頼性試験を適切に行うこと。 - 特許庁
To efficiently test the reliability of a semiconductor device.例文帳に追加
、半導体装置の信頼性を効率良く試験できるようにする。 - 特許庁
To improve reliability of a test without lowering workability.例文帳に追加
稼働効率を低下させることなく、試験の信頼性の向上させる。 - 特許庁
To provide an IC socket realizing a characteristics test with high reliability.例文帳に追加
信頼性の高い特性試験を実現するＩＣソケットを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device having an excellent reliability in heat cycle test.例文帳に追加
温度サイクル信頼性に優れた半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加
信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁
To facilitate the generation of test specifications for testing the operations of a system to be tested and enhance the reliability of the test by reducing test leakage.例文帳に追加
試験対象システムの動作を試験する試験仕様の生成を容易にするとともに、試験漏れを少なくして、試験の信頼性を向上する。 - 特許庁
The test relates to a reliability test of flexible separator configured so that a cycle speed in a test can be raised.例文帳に追加
試験におけるサイクルの速度を上げることが可能なように構成された可撓セパレータの信頼性試験に関する。 - 特許庁
Thus, the cost of the test can be decreased, and reliability related to test efficiency and test result can be improved.例文帳に追加
これにより、テストのコストを減少させることができ、テストの能率とテスト結果に関する信頼性を高めることができる。 - 特許庁
To provide a burn-in test method and a burn-in test device that conduct a stable burn-in test with high reliability.例文帳に追加
安定した信頼性の高いバーンイン試験を実施することが可能となるバーンイン試験を行う試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁
A virtual test is performed in a planning level, and the pertinent number of test items is displayed for each level sub-divided into 5 levels as virtual test situations and reliability degrees as the test result, and detail items and identification numbers or the like are displayed especially for the test items whose reliability is low ranging from the level 0 to the level 2.例文帳に追加
企画段階で仮想試験を行い、その結果として、仮想試験状況と信頼度として５段階に細分化された各レベル毎に該当する試験項目数が表示され、特にレベル０〜２までの信頼性の低い試験項目については詳細な項目及び識別番号などが表示される。 - 特許庁
A reliability test may be further performed to improve performance, whereby the binary hypothesis test may be performed only if the reliability test is passed.例文帳に追加
性能を向上させるためにさらに信頼性テストを実行することができ、それにより信頼性テストに合格した場合にのみ、バイナリ仮説テストを実行することができる。 - 特許庁
A test node operating means 8 calculates the reliability α of the selected test node and propagates it to each bit node connected to the test node based on the reliability β.例文帳に追加
検査ノード演算手段８は、選択された検査ノードについて、信頼度βに基づき、当該検査ノードに接続する各ビットノードに向け伝搬する信頼度αを算出し伝搬する。 - 特許庁
To improve reliability at the point of a temperature drift or a DC drift in the case of applying especially a load in a reliability test such as a thermal shock test, a temperature cycle test in an optical waveguide device.例文帳に追加
光導波路デバイスにおいて、熱衝撃試験や温度サイクル試験などの信頼性試験で特に負荷を加えたときに、温度ドリフトやＤＣドリフトの点での信頼性を一層向上させる。 - 特許庁
To provide an aging method by which the reliability test of a liquid crystal module in a manufacturing stage is conducted only in a nearly completed state and reliability standards are securely satisfied at this time to prevent an IC chip from being broken owing to the reliability test.例文帳に追加
製造工程内の液晶モジュールの信頼性試験を略完成された状態でのみ行い、この際に確実に信頼性基準を満足し、信頼性試験によるＩＣチップの破損を防止するエージング方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device test device which tests a semiconductor test device outputting analog signal, has general usability and high reliability.例文帳に追加
アナログ信号を出力する半導体デバイスを試験する、汎用性を有し、信頼性の高い、半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and its test method capable of performing a test having high reliability, while keeping performance of a multichip module.例文帳に追加
マルチチップモジュールの性能を維持しつつ、信頼性の高い試験を可能にした半導体装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor storage device and its test method improving reliability of the operation test while suppressing the increase of a chip size.例文帳に追加
チップサイズの増加を抑制しつつ動作テストの信頼性を向上出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a test device of a semiconductor device which can improve reliability of an operation test in a wafer state by utilizing BOST and BIST.例文帳に追加
ＢＯＳＴ及びＢＩＳＴを活用して、ウェハ状態での動作試験の信頼性を向上させ得る半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.例文帳に追加
加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
To assure reliability in test by preventing a needles output signal coming from an integrated circuit from fed back to the integrated circuit at scan test.例文帳に追加
スキャンテスト時に、集積回路からの不要な出力信号が集積回路に帰還されるのを防止し、もってテストの信頼性の確保を図る。 - 特許庁
To improve reliability by making the constitution of a dual port memory test device simpler and by shortening a test time by decreasing the number of signals to be observed.例文帳に追加
デュアルポートメモリ試験装置をより簡単な構成にし、観測する信号数を減して試験時間を短縮し、信頼性を高める。 - 特許庁
To provide an automatic temperature impact test system having simple conveyance operation and high reliability, capable of performing a low-temperature test for a long period.例文帳に追加
搬送動作が単純で信頼性が高く、更には長時間に渡る低温試験を行うことができる、自動温度衝撃試験システムを得る。 - 特許庁
To improve the reliability of electrical test in a semiconductor integrated circuit, a manufacturing method of a semiconductor device, and a test method of the semiconductor device.例文帳に追加
半導体集積回路、半導体装置の製造方法、及び半導体装置の試験方法において、電気的な試験の信頼性を高めること。 - 特許庁
To increase test reliability, concerning a contactor, a test device for a semiconductor apparatus, and a method for manufacturing the semiconductor apparatus.例文帳に追加
コンタクタ、半導体装置の試験装置、及び半導体装置の製造方法において、試験の信頼性を高めること。 - 特許庁
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