「Reliability Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

A program failed bit and a bit with marginal characteristics are detected by reading storage information by switching a circuit setting value so that a margin becomes small in comparison with the time of a usual use at the time of a test, and the high yield and the high reliability are obtained by relieving the failed bit or improving characteristics by performing re-programming.例文帳に追加

テスト時に、通常の使用時よりマージンが小さくなるように回路設定値を切り変えて記憶情報を読み出すことにより、プログラム不良ビット、マージナルな特性のビットを検出し、再プログラムを行って救済、または特性を改善することにより、高歩留まり、高信頼性を実現する。 - 特許庁

The manufacturing method of the semiconductor device includes steps (S31, S50) to determine a condition of the reliability test to be applied to semiconductor chips (2, 2a-2d) based on a substitution rate which shows percentage of normal memory cells substituted by redundant memory cells to all normal memory cells provided in the semiconductor chips (2, 2a-2d).例文帳に追加

半導体装置の製造方法は、半導体チップ（２、２ａ〜２ｄ）が有する全ての通常メモリセルに対する冗長メモリセルで置換された通常メモリセルの割合を示す置換率の高低に基づいて前記半導体チップに対して行うべき信頼性試験の条件を決定するステップ（Ｓ３１、Ｓ５０）を具備する。 - 特許庁

To provide a conductive particle that can be manufactured easily and that provides high insulation reliability when used as a conductive particle forming an anisotropic conductive adhesive, while also maintaining sufficiently high conductivity between electrodes connected together, even after a moisture absorption test.例文帳に追加

簡易に製造することが可能な導電粒子であって、異方性導電接着剤を構成する導電粒子として用いられたときに、高い絶縁信頼性が得られるとともに、接続される電極同士の十分に高い導通性が吸湿試験後にも維持される導電粒子を提供すること。 - 特許庁

To improve workability and reliability in an inspection method for recognizing if a post-engagement expansion spring engaged with an upper end cap part of a fuel rod in a locked state is seated on a seating stage edge of the fuel rod or not by determining its seating not by visual check as in conventional methods but by an electric continuity test.例文帳に追加

燃料棒の上部端栓部に抜止状態で被嵌した被嵌済膨張スプリングが、燃料棒の着座段縁に着座したか否かを確認する検査方法で、従来の目視等による着座判定ではなく、電気的な導通テストによる判定により、その作業性と信頼性の画期的改善を図る。 - 特許庁

To provide an approval system of automatic analysis results, which proves reliability of test results, that is, a quality of a laboratory by requesting a knowledgeable person to approve the analysis results and recording its results, to provide an automatic analysis system capable of approving the analysis results, and to provide an approval method of the automatic analysis results.例文帳に追加

分析結果の承認を有識者に依頼し、その結果を記録することで検査結果の信頼性すなわち検査室の質を証明する自動分析結果の承認システム、分析結果の承認処理を可能にする自動分析システム及び自動分析結果の承認方法を提供する。 - 特許庁

To integrate bioinformation such as medical data, data on a medical examination result, data on an execution result of a prevention-improvement program, or data related to daily life, to improve reliability of information provided from a test subject including a patient, and to complement minute individual instruction by a medical worker.例文帳に追加

医療データ、健康診断結果のデータ、予防・改善プログラムの実施結果のデータ、日常生活に関連するデータ等の生体情報の統合を実現し、かつ患者を含む被検体から提供される情報の信頼性を向上し、医療従事者によるきめ細かな個別指導の補完を行うことを可能とすること。 - 特許庁

To provide a design support method and a system therefor whereby reliability of a product is secured without conducting a real test and a simulation in a design process of an electronic instrument, and which are linked to a component procurement system and a process facilities control system, and are capable of giving instructions to the component procurement and the process facilities.例文帳に追加

電子機器の設計工程において、実試験やシミュレーションを行わずとも製品の信頼性が確保される、設計支援方法及びそのためのシステムであって、部品調達システムや工程設備制御システムにもリンクされて、部品調達・工程設備への指示をも可能とするものを提案する。 - 特許庁

To provide an image display device which suppresses the occurrence of bubbles in an interface between a transparent adhesive resin sheet and a front plate in a long-term reliability test under high temperature and high humidity, in a manufacturing method of the device in which a transparent filler is closely arranged between a transparent plastic front panel and an image display panel.例文帳に追加

透明プラスチック前面パネルと画像表示パネルの間に透明充填材が密着配置される装置の製造法において、高温高湿下での長期信頼性試験で透明な粘着性樹脂シートと前面板の界面の気泡の発生を抑制する画像表示用装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probing apparatus with a polishing mechanism and a method of polishing thereby which is capable of increasing a test reliability by surely removing contaminations by polishing, while extending the service life of an expensive probe pin by preventing excessive polishing, and which can also prevent an IC element from being contaminated by the removed contaminations.例文帳に追加

研磨により確実に異物を除去して検査の信頼性を向上させるとともに、過剰な研磨を防止して高価なプローブピンの使用寿命を延ばすことができ、さらには除去された異物によりＩＣ素子が汚染されることのない研磨機構付きプローブ装置およびその研磨方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laminated body for a flexible printed wiring board that comprises a conductor layer formed on a resin film, has an excellent etching characteristic and excellent adhesion between the resin film and the conductor layer, which are particularly held even after a durability test, and thereby has superior reliability.例文帳に追加

樹脂フィルム上に導体層を形成してなるフレキシブルプリント配線板用積層体において、エッチング性に優れ、且つ樹脂フィルムと導体層との密着性にも優れ、特にこれが耐久試験後も保持され、優れた信頼性を示すフレキシブルプリント配線板用積層体を提供することを課題とする。 - 特許庁

A resin layer of 200 μm or less, an inner layer circuit board having an inner layer circuit pattern for evaluating the insulation and a fluorescent layer are laminated one on top of the other, in the order, and a part of the resin layer is removed to expose terminal parts of the circuit pattern, thereby forming a test piece for testing and evaluating the insulation reliability and its manufacturing method.例文帳に追加

２００μm以下の樹脂層、絶縁性評価用の内層回路パターンを形成した内層回路板及び蛍光性層を、順に積層させ、そして該樹脂層の一部を除去して、該内層回路パターンの端子部分を露出させた、絶縁性信頼評価試験用の試験片及びその作成方法である。 - 特許庁

To provide a board for mounting semiconductors, a method for manufacturing the same, a package using the same and a method for manufacturing the package usable for a small package with superior reliability, applicable to miniaturization and high density, and capable of preventing package cracks in reflow and an open and short circuit of a wiring conductor in a temperature cycling test.例文帳に追加

小型化、高密度化に対応可能で、かつ、リフロー時のパッケージクラック、及び温度サイクル試験時の配線導体の断線やショートを防止し、信頼性に優れる小型の半導体パッケ−ジに用いることのできる半導体搭載用基板とその製造方法、及びこれを用いた半導体パッケージ並びにその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a high-reliability characteristic measuring device for a storage battery, a DC power supply system and a characteristic measuring device for a storage battery, which can stably perform deterioration determination regardless of the fluctuations in negative current, in deterioration decision test of a storage battery carried out, without having to separate the storage battery from the DC power supply system.例文帳に追加

本発明では、蓄電池を直流電力供給システムから切り離さずに行われる蓄電池の劣化判定試験において、負荷電流の変動に関わらず安定して劣化判断ができる信頼性の高い蓄電池の特性測定装置、直流電力供給システム及び蓄電池の特性測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can be improved in degree of integration through a method wherein a region of an electrode pad on which a test probe is made to abut is defined, an external electrode is bonded to an electrode pad avoiding its region where a probe mark is liable to be printed so as to improve bonding reliability, and a wiring providing region is expanded in a circuit under the electrode pad.例文帳に追加

電極パッドに対してテストプローブを当接させる領域を定義し、電極パッドのプローブ痕が生じる領域を避けて外部電極をボンディングし、ボンディング信頼性を高めるとともに、電極パッドの下部の回路での配線の配設領域を拡大して高集積化を実現することを可能にした半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which defines an area for making a test probeto abut on an electrode pad, bonds an external electrode away from an area where a probe mark of the electrode pad is left, elevates the reliability of bonding, and enables high integration by expanding a location area of wiring on a circuit under the electrode pad, and to provide its inspection method and its manufacturing method.例文帳に追加

電極パッドに対してテストプローブを当接させる領域を定義し、電極パッドのプローブ痕が生じる領域を避けて外部電極をボンディングし、ボンディング信頼性を高めるとともに、電極パッドの下部の回路での配線の配設領域を拡大して高集積化を実現することを可能にした半導体装置とその検査方法及び製造方法を提供する。 - 特許庁

When a component region where a failure is hardly detected by pixel comparing inspection is determined to exist by test inspection, shape comparing inspection is enabled to be applied to the component region, the failure is enabled to be detected even when the substrate color and component color are the same color, and the automatic inspection with high reliability is achieved.例文帳に追加

テスト検査により、画素比較検査では不良の検出が困難な部品領域が存在していることが判れば、その部品領域には形状比較検査を適用できるようにしたので、基板色と部品色が同色であっても画像形状の相違で不良検出ができるようになって上記課題が解決し、信頼性の高い自動検査が実現する。 - 特許庁

To provide a connector apparatus and a drive device utilizing the same to realize an operation examination of a circuit unit formed on a printed wiring board easily and in high reliability, solving several problems in such cases as connecting to FPC or FFC, or forming a test land on the printed wiring board.例文帳に追加

この発明は、検査用のＦＰＣまたはＦＦＣを接続することや、印刷配線基板上にテストランドを形成すること等による諸問題を解消し、印刷配線基板上に形成された回路ユニットの動作試験を容易にかつ高い信頼性をもって実現することを可能としたコネクタ装置及びそれを用いたドライブ機器を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus made using an adhesive and an adhesive film which have thermal resistance and moisture resistance necessary when actually equipping a semiconductor chip with large difference in a thermal expansion coefficient on a printed plugboard such as a glass epoxy substrate and a flexible substrate, especially have small deterioration and are excellent in reliability of moisture resistance when performing a test of moisture resistance under a severe condition such as PCT treatment.例文帳に追加

ガラスエポキシ基板やフレキシブル基板等のプリント配線板に熱膨張係数の差が大さい半導体チップを実装する場合に必要な耐熱性、耐湿性を有し、特に、ＰＣＴ処理等、厳しい条件下での耐湿性試験を行った場合の劣化が小さく、耐湿信頼性に優れた接着剤、接着フィルム、この接着フィルムを用いて作製した半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a socket assembly for testing an IC chip, capable of improving reliability for electrical characteristics inspection by improving efficiency by selecting one of direct/indirect connection between a test board and the IC chip in accordance with its characteristics, and reducing the load capacity between probe pins through direct contact and terminals, the IC chip which uses the same, and a tester which uses the socket assembly.例文帳に追加

テストボードと集積素子との間の接続を集積素子の特性に従い直間接的方式のうちの一つを選ぶことにより効率性を高め、直接接続を通じたリードと端子との間の負荷容量を減らして電気的特性検査の信頼度を高めることができる集積素子テスタ用ソケット組立体とこれを用いる集積素子、及びこれを用いるテスタを提供するにある。 - 特許庁

In the printed wiring board (TAB tape 1) wherein a plurality of wiring regions 3 forming a wiring pattern are disconnected and disposed at intervals mutually on one continuous rectangular insulating substrate 2, a reliability test circuit 5 which is disconnected to a wiring pattern inside the wiring region 3 is provided along a plurality of wiring region 3 in a void region outside the wiring region 3.例文帳に追加

１つの連続した矩形状の絶縁性基板２上に、配線パターンを形成してなる配線領域３が互いに間隔を置いて非接続に複数配置されたプリント配線板（ＴＡＢテープ１）であって、その配線領域３の外側の空き領域に、配線領域３内の配線パターンとは非接続な信頼性試験回路５を、複数の配線領域３に亘って沿うように設けた。 - 特許庁

19. In relation to audit procedures for retirement benefit allowance, which the audit client calculated by using package software, the audit team failed to perform those procedures to ascertain the reliability of the software and perform a substantive test, such as vouching or calculation verification on a sample basis, in order to check the accuracy of the year-end allowance balance. 例文帳に追加

・ 被監査会社が市販のパッケージソフトウェアを利用して算定した退職給付債務について、当該パッケージソフトウェアの信頼性を検証するための手続を実施していないほか、期末の退職給付債務額について、退職給付の個人別データのサンプル抽出による関連証憑資料との照合や計算チェック等の退職給付債務計算の正確性を検証する手続を実施していない。 - 金融庁