「Reliability Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device and its test method capable of performing a test having high reliability, while keeping performance of a multichip module.例文帳に追加

マルチチップモジュールの性能を維持しつつ、信頼性の高い試験を可能にした半導体装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁

IMPACT TEST METHOD, IMPACT TESTING DEVICE AND RELIABILITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

衝撃試験方法、衝撃試験装置および半導体装置の信頼性評価方法 - 特許庁

To improve the maintainability and reliability of a source program and the facility of a verification test.例文帳に追加

ソースプログラムの保守性および信頼性、並びに、検証テストの容易性を向上させる。 - 特許庁

To reduce test time while securing reliability of the test, in a data retention test for a semiconductor memory in which data retention is changed with time.例文帳に追加

データ保持特性が経時的に変化する半導体メモリをも考慮したデータ保持特性試験において、試験の信頼度を確保したまま時間の短縮を図る。 - 特許庁

To realize a semiconductor device which can improve a reliability with suppressing an increase of power consumption at a burn-in test time and, its test apparatus and its test method.例文帳に追加

バーンインテスト時の消費電力の増加を抑制しつつ信頼性を向上させることができる半導体装置、そのテスト装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wire connection device with work efficiency or reliability improved at the time of carrying out of a withstand voltage test and an electric circuit verification test (sequence test) of a distribution panel.例文帳に追加

配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行う時の作業の効率や信頼性が向上する結線装置を提供する。 - 特許庁

To improve reliability by making the constitution of a dual port memory test device simpler and by shortening a test time by decreasing the number of signals to be observed.例文帳に追加

デュアルポートメモリ試験装置をより簡単な構成にし、観測する信号数を減して試験時間を短縮し、信頼性を高める。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device and its test method improving reliability of the operation test while suppressing the increase of a chip size.例文帳に追加

チップサイズの増加を抑制しつつ動作テストの信頼性を向上出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test device which tests a semiconductor test device outputting analog signal, has general usability and high reliability.例文帳に追加

アナログ信号を出力する半導体デバイスを試験する、汎用性を有し、信頼性の高い、半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

A virtual test is performed in a planning level, and the pertinent number of test items is displayed for each level sub-divided into 5 levels as virtual test situations and reliability degrees as the test result, and detail items and identification numbers or the like are displayed especially for the test items whose reliability is low ranging from the level 0 to the level 2.例文帳に追加

企画段階で仮想試験を行い、その結果として、仮想試験状況と信頼度として５段階に細分化された各レベル毎に該当する試験項目数が表示され、特にレベル０〜２までの信頼性の低い試験項目については詳細な項目及び識別番号などが表示される。 - 特許庁

To provide an aging method by which the reliability test of a liquid crystal module in a manufacturing stage is conducted only in a nearly completed state and reliability standards are securely satisfied at this time to prevent an IC chip from being broken owing to the reliability test.例文帳に追加

製造工程内の液晶モジュールの信頼性試験を略完成された状態でのみ行い、この際に確実に信頼性基準を満足し、信頼性試験によるＩＣチップの破損を防止するエージング方法を提供する。 - 特許庁

To achieve a network access management technology that improves reliability and reduces a workload in design or test.例文帳に追加

信頼性が高く設計やテストの負担の少ないネットワークアクセス管理技術を実現する。 - 特許庁

To provide a lithium secondary battery exhibiting a high reliability according to the nailing test and assuring a high capacity.例文帳に追加

釘刺し試験における信頼性が高く、かつ高容量なリチウム二次電池を提供する。 - 特許庁

A test is made at every build-up of a power supply to the warning output device, thereby heightening reliability.例文帳に追加

警報出力装置への電源立上りのたびにテストを行うことで信頼性を高める。 - 特許庁

Consequently, a time required for the reliability test and a manufacturing cost for the semiconductor device are reduced.例文帳に追加

したがって、信頼性試験の所要時間と半導体装置の製造コストとが削減される。 - 特許庁

To obtain a system test device which can integrate the steps from creating a test specification, executing a test, and generating the test result, to creating a manual, thereby reducing a load on a system designer, and realizing a system with high reliability.例文帳に追加

試験仕様書、試験の実施、試験結果およびマニュアル作成までの工程を一元化し、システム設計者の負担を軽減し、かつ、信頼性の高いシステムを実現することのできるシステムテスト装置を得る。 - 特許庁

To attain shortening of a test time of a recording disk and high test reliability by more accurately predicting the number of defects on the basis of a test result about a portion of tracks in the recording disk.例文帳に追加

記録ディスクにおける一部トラックについてのテスト結果によってより正確な欠陥数を予想し、記録ディスクのテスト時間の短縮とより高いテスト信頼性とを実現する。 - 特許庁

To reduce work and effort for recording work of leak test data of objects to be measured and improve work accuracy of leak test and reliability of test data.例文帳に追加

被測定物の漏洩試験データの記録作業等に要する手間や労力の軽減を図れるようにすると共に、漏洩試験の作業精度及び試験データの信頼性を向上させる。 - 特許庁

To provide a test apparatus capable of concurrently attaining high reliability of product test and prevention of missing of a test cable and of remarkably improving convenience.例文帳に追加

本発明は、製品テストの信頼性向上とテストケーブルの紛失防止とを同時に実現でき、利便性を著しく向上できるテスト装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To contribute to improvement in an accuracy of test, a product yield and a reliability, by attaining the test in the worst case, which activates word lines of first and second ports by a same timing at the test.例文帳に追加

テスト時、第１、第２のポートのワード線を同一タイミングで活性化させる、ワーストケースでのテストを可能とし、テストの精度、製品の歩留まり、信頼性の向上に貢献する。 - 特許庁

To provide a device for evaluating the reliability of a thermoelectric conversion system, which can test the reliability of the thermoelectric conversion system in an actual environment.例文帳に追加

実環境での熱電変換システムの信頼性試験を行うことができる熱電変換システム信頼性評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic temperature impact test system having simple conveyance operation and high reliability, capable of performing a low-temperature test for a long period.例文帳に追加

搬送動作が単純で信頼性が高く、更には長時間に渡る低温試験を行うことができる、自動温度衝撃試験システムを得る。 - 特許庁

To provide a device and a method for a jitter test which enable execution of a high-reliability jitter test, in a short time.例文帳に追加

本発明は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことのできるジッタ試験装置及びジッタ試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To assure reliability in test by preventing a needles output signal coming from an integrated circuit from fed back to the integrated circuit at scan test.例文帳に追加

スキャンテスト時に、集積回路からの不要な出力信号が集積回路に帰還されるのを防止し、もってテストの信頼性の確保を図る。 - 特許庁

To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.例文帳に追加

加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of reducing the test time for high reliability.例文帳に追加

高信頼性に向けたテスト時間の短縮化が可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To normally and stably conduct a reliability evaluation test.例文帳に追加

信頼性評価試験を正常に且つ安定して行なうことができる半導体評価試験装置を提供する。 - 特許庁

Since the input address is checked directly, test can be conducted in a short time with high reliability.例文帳に追加

直接入力アドレスをチェックするため、上記テストを短時間且つ高信頼性で行うことができる。 - 特許庁

To improve the reliability in an electric test by securing the contact of a subject and a contact probe.例文帳に追加

被検査物とコンタクトプローブとの接触を確実かつ良好にして、電気テストの信頼性を向上する - 特許庁

To perform the test of a secret data storage part with high secrecy and high reliability while suppressing increase of a chip area.例文帳に追加

チップ面積の増大を抑え、高い秘匿性、高い信頼性で秘密データ格納部の検査を行う。 - 特許庁

To improve the reliability even with respect to an unmanned continual test which lasts for many hours.例文帳に追加

無人による連続した長時間にわたる試験に対しても信頼性を向上させることができる。 - 特許庁

To realize an ultrasonic transducer in which a connection durable to a thermal shock test is possible and is superior in reliability.例文帳に追加

熱衝撃試験に耐えうる接続が可能で、信頼性に優れた超音波振動子を実現させる。 - 特許庁

To provide a means for ensuring improved electric contact over a long time in a wafer level reliability test, such as an aging breaking test of insulation films.例文帳に追加

経時的絶縁膜破壊試験等のウェーハレベル信頼性試験において、長期にわたって良好な電気的接触を確保する手段の提供。 - 特許庁

To obtain a high-reliability test result in a load test of a parallel processor device, and to rapidly specify an abnormal part in failure diagnosis.例文帳に追加

並列プロセッサ装置の負荷試験において信頼性が高い試験結果を得るとともに、障害診断において迅速に異常箇所の特定を行うこと。 - 特許庁

Since module members are not mounted to the liquid crystal cells 2, it is possible to make a temperature inside of the thermostatic oven 1 be about 100°C to test reliability by an accelerated test.例文帳に追加

液晶セル２にモジュール部材が装着されていないため、恒温槽１内を約１００℃にして加速度試験による信頼性試験ができる。 - 特許庁

To partially test software, while examining whether a stub includes a defect deteriorating the reliability of a test result or not.例文帳に追加

スタブがテスト結果の信頼性を損ねるような欠陥を含んでいるかどうかを検証しつつ、ソフトウェアを部分的にテストすることができるようにする。 - 特許庁

To completely automatize airtightness test process, obtain an optimum detection capability of the waste water trap and improve reliability of test results.例文帳に追加

気密性検査工程を完全自動化できることに加えて、排水トラップに最適な検出能力を得ることができ、検査結果の信頼性を向上できる。 - 特許庁

To automate a unit test and a function test, and to enhance reliability of incorporated software and development efficiency.例文帳に追加

単体テスト，機能テストの自動化を実現し、組み込みソフトウェアの信頼性および開発効率を向上することができる組み込みソフトウェアのテストシステムを提供する。 - 特許庁

Also, necessity for a vehicle test using a prototype vehicle as a resolution is displayed with respect to the test items whose reliability is low ranging from the level 0 to the level 2.例文帳に追加

また、レベル０〜２までの信頼性の低い試験項目については、解決策として試作車を用いた実車試験が必須である旨が表示される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit raised in effect of an accelerated test in a reliability evaluation test while suppressing consumption current in normal operation.例文帳に追加

通常動作時における消費電流を抑えたまま、信頼性評価試験における加速試験の効果が高められた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To improve the reliability of electrical test in a semiconductor integrated circuit, a manufacturing method of a semiconductor device, and a test method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体集積回路、半導体装置の製造方法、及び半導体装置の試験方法において、電気的な試験の信頼性を高めること。 - 特許庁

To provide a test device of a semiconductor device which can improve reliability of an operation test in a wafer state by utilizing BOST and BIST.例文帳に追加

ＢＯＳＴ及びＢＩＳＴを活用して、ウェハ状態での動作試験の信頼性を向上させ得る半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a siloxane polymer coating film having excellent crack resistance and excellent reliability on a temperature cycle test, a humidity loaded test or the like, and to provide an optical waveguide using the coating.例文帳に追加

耐クラック性に優れ、温度サイクル，湿中試験等に対する信頼性に優れたシロキサンポリマ皮膜およびそれを用いた光導波路を得る。 - 特許庁

To provide a damping test method, a control apparatus, a hydraulic system and a program capable of improving reliability of a damping test result without using a pressure sensor.例文帳に追加

圧力センサを用いることなく、ダンピング試験結果の信頼性を向上し得る、ダンピング試験方法、制御装置、油圧システム及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To obtain a method of storing a test result, a method of displaying a test result, and a test result display device, capable of facilitating verifying whether reliability of a designed semiconductor integrated circuit with time can be guaranteed.例文帳に追加

設計した半導体集積回路の経時的な信頼性を保証できるか否かを容易に検証できる試験結果記憶方法、試験結果表示方法、及び試験結果表示装置を得る。 - 特許庁