「Reliability Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To easily and stably conduct a simulation test and reflects a control design result for the improvement of the quality and reliability of a monitor system and control performance.例文帳に追加

監視制御システムの品質や信頼性向上及び制御性能向上のために、シミュレーション試験や制御設計結果の反映を容易にかつ安定して実行することができるようにする。 - 特許庁

To provide an ozone exposure test method high in reproducibility and reliability even with respect to recorded matter wherein a recording medium such as a printing, ink jet or silver salt photographic medium itself has water/ moisture absorbability.例文帳に追加

印刷やインクジェット、銀塩写真など、その記録媒体自体が吸水性・吸湿性を有する記録物に対しても、再現性と信頼性の高いオゾン暴露試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a packaging method that ensures long life in a temperature cycle test and improves junction reliability in a structure where semiconductor devices with solder balls have been mounted on a circuit board.例文帳に追加

半田ボールを有する半導体装置を回路基板上に実装した実装構造において、温度サイクル試験による寿命が長く、接合信頼性を高めることができるようにする。 - 特許庁

To improve the reliability of estimated engine characteristics even when shortening a period of time for a sweep test of engine control parameters in a method of estimating engine characteristics which changes according to the engine control parameters.例文帳に追加

エンジン制御パラメータに応じて変化するエンジン特性の推定方法において、エンジン制御パラメータのスイープ試験時間を短くしても推定されたエンジン特性の信頼性を高める。 - 特許庁

To provide an efficient additional circuit etc. capable of preventing malfunctioning resulting in decreased reliability, due to voltage fluctuations when performing an at-speed (hereinafter "AS") test in an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路においてアット・スピード・（以後ＡＳ）テストを行う際の電圧変動に伴う誤動作とそれによる信頼性の低下を解決する効率的な付加回路等を提供する - 特許庁

To provide a measuring instrument of crimping characteristics of a fiber, capable of automatically and easily measuring crimping characteristics, such as the number of crimpings or the like with high accuracy, and enabling obtaining test result of high reliability.例文帳に追加

捲縮数等の捲縮特性を自動で容易に且つ高精度に測定し、信頼性の高い測定結果を得ることができる捲縮特性の測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of an electro-optical device and a quality control method of the electro-optical device capable of estimating reliability of an actual product highly accurately with few test samples.例文帳に追加

少ない試験サンプルで、実際の製品の信頼性を高い精度で見積もることが可能な電気光学装置の検査方法及び電気光学装置の品質管理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can detect a structure defect, such as damage which is difficult to detect by a conventional characteristic check such as a performance test, and has an IC chip of improved reliability.例文帳に追加

機能試験など従来の特性チェックでは検出が困難なキズなどの構造不良も検出可能にし、信頼性を向上したＩＣチップを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To measure the lifetime at a contact part accurately when the reliability at the contact part is evaluated by electromigration test.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション試験によりコンタクト部の信頼性を評価する際に、コンタクト部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To evaluate a test item or a check item prepared for objective software from the point of view of software reliability, and to extract the irreducible minimum item.例文帳に追加

本発明では対象ソフトウェアに対して作成されたテストアイテムやチェックアイテムをソフトウェア信頼性の観点から評価し、必要最低限のアイテムを抽出することを目的にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which influence of a noise caused by simultaneous operation of plural output buffers can be confirmed in a test mode and reliability can be improved.例文帳に追加

複数の出力バッファが一斉に動作する事に伴うノイズの影響をテストモードにおいて確認でき、信頼性の向上を図り得る半導体記憶装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test.例文帳に追加

打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test system of semiconductor integrated circuit and operation confirming board therefor in which the reliability of judgement results can be ensured by confirming whether a scan signal is being outputted normally or not and whether a test mode is just as set or not.例文帳に追加

スキャン信号が正常に出力されているか否か、及び、設定した試験モードが設定通りであるか否かを確認することで、判定結果の信頼性を確保することができる半導体集積回路試験装置及び当該装置の動作確認用基板を提供する。 - 特許庁

To regenerate fog under low-temperature conditions in a high mountain and fog under high-temperature conditions in the tropics to conduct an atomization test, by holding a water temperature of an atomized testing-salt water at an arbitrary temperature, to enhance reliability, and to cope with various tests, concurrently in a salt water atomization test device.例文帳に追加

塩水噴霧試験装置において、噴霧する試験用塩溶液の水温を任意の温度で保持し、高山における低温条件下での霧と熱帯における高温条件下での霧を再現させ噴霧試験を行い、同時に、信頼性向上、多様な試験への対応を図ること。 - 特許庁

To provide conductive paste which can restrain an electronic part from decreasing in capacitance due to the oxidation of electrodes when it is used for forming the outer electrodes of the electronic part, be degreased enough, and be improved in reliability in a thermal shock test and a wet loading test.例文帳に追加

電子部品の外部電極を形成するために用いた場合に、電極の酸化により容量が低下することなく、脱脂を十分に行うことができ、熱衝撃試験や湿中負荷試験における信頼性を向上させることが可能な導電性ペーストを提供する。 - 特許庁

To obtain a highly reliable semiconductor device that suppresses oxidation deterioration of a sealing resin even at a high temperature, can use the same sealing method and sealing resin as before, and has no decrease in breakdown voltage even during a heat cycle test and a reliability test of high-temperature operation etc.例文帳に追加

高温下においても封止樹脂の酸化劣化を抑制し、封止方法および封止樹脂は従来通りのものを使用することができ、ヒートサイクル試験や高温動作などの信頼性試験でも、絶縁破壊電圧が低下しない、信頼性の高い半導体装置を得る。 - 特許庁

The transistor having an oxide semiconductor film treated by dehydration or dehydrogenation treatment by heat treatment, and oxygen doping treatment, can reduce the amount of change of a threshold voltage of the transistor even before and after a bias-thermal stress test(BT test), and have high reliability.例文帳に追加

熱処理による脱水化または脱水素化処理及び酸素ドープ処理された酸化物半導体膜を有するトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減できており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。 - 特許庁

To provide a flexible multi-layer circuit substrate that is prepared by using a polyimide film remarkably improving adhesion reliability after an environment test such as PCT and a cold shock test, and can be used for the interposer of a semiconductor package dealing with minute processing for high density.例文帳に追加

ＰＣＴや冷熱衝撃試験などの環境試験後における接着信頼性が著しく改善されたポリイミドフィルムを用いて作成され、高密度化のための微細加工に対応可能な半導体パッケージのインターポーザーにも用いることができるフレキシブルな多層回路基板を提供する。 - 特許庁

In the software development supporting device provided with a function for evaluating the quality/reliability of software in a development test on the basis of plural mathematical models, a CPU 11 generates an estimation curve from measured data obtained in a software development test in accordance with the sorts of mathematical models.例文帳に追加

開発テスト中にあるソフトウェアの品質・信頼性を、複数の数理モデルに基づいて評価する機能を備えたソフトウェア開発支援装置であって、ＣＰＵ１１は、数理モデルの種類に応じてソフトウェアの開発テスト中に得られる観測データから推定曲線を生成する。 - 特許庁

The correction part 54 controls the display part 57 so as to output, when the number of specific test man-hour is less than 2, a graph showing a reliability development curve, and output, when the number of specific test man-hour is two or more, a graph for the correction function.例文帳に追加

信頼度成長曲線補正部５４は、特定テスト工数の数が２個未満の場合、信頼度成長曲線を表すグラフを出力し、特定テスト工数の数が２個以上の場合、矯正関数についてのグラフを出力するように、信頼度成長曲線表示部５８を制御する。 - 特許庁

To provide a dedicated reading/quantifying apparatus for reading an expiration date of a test paper piece using a visual carrier such as gold colloidal particles and blue latex particles as a labeling antibody, and using the test paper piece for informing a user of the expiration date and improving the reliability in an immunological chromatograph method.例文帳に追加

免疫学的クロマトグラフ法において、標識抗体に金コロイド粒子やブルーラテックス粒子などの可視担体を用いる試験試験片紙片の有効期限を読み取り、ユーザーに知らせ測定の信頼性を高める試験紙片を用いる専用の読み取り定量装置を提供する。 - 特許庁

To provide a penetration testing device securing high reliability of measurement data as the penetration testing device applied to a Swedish sounding test, the penetration testing device being capable of penetrating a penetration test rod into the ground in a mechanically clamped state and automatically conducting loading, load separation, and rotary excavation by mechanical means.例文帳に追加

スウェーデン式サウンディング試験に適用する貫入試験装置として、貫入試験用ロッドを機械的にクランプした状態で地盤中に貫入でき、荷重の負荷及び切り離し、回転掘進を機械的手段で自動的に行って測定データの高い信頼性を確保する。 - 特許庁

Computer simulation for reading the time corresponding to the value, which is calculated by subtracting the reliability of L10 life or the like from 100% to set it to a test stop reference time upon damage of a piece, is performed from the cumulated distribution.例文帳に追加

この累積分布から、１００％からＬ１０寿命等の信頼度を減算した値に対応する時間を読み取って１個破損時の試験中止基準時間とするコンピュータシミュレーションを行う。 - 特許庁

To reduce line defect problems of postprocessing, a reliability test, and a user by preventing a defect in connection from being overlooked in sensitive inspection and an inspector from incorrectly deciding an unstable connection.例文帳に追加

感応検査での接続不良の見逃しや、接続不安定なものの検査作業者による判定違いの発生を防ぎ、後工程や信頼性試験及びユーザーにおける線欠陥問題を低減する。 - 特許庁

To provide an adhesive composition that can prevent the elution of a connection terminal composed of an ITO and an IZO, thereby obtaining excellent adhesive strength and maintaining stable performance even after being subjected to a reliability test.例文帳に追加

ＩＴＯやＩＺＯからなる接続端子の溶出を抑制し、優れた接着強度が得られ、信頼性試験後でも安定した性能を維持できる接着剤組成物を提供する。 - 特許庁

To conduct a reliability evaluation test with the thinned thickness of a package and with the efficient number of lamination in yield, in the semiconductor package in which a plurality of semiconductor elements is laminated and sealed.例文帳に追加

複数の半導体素子を積層して封止した半導体パッケージにおいて、パッケージの厚さを薄くし、さらに歩留的に効率のよい積層数で信頼性評価試験の実施を可能にする。 - 特許庁

The lowest value for an extension percentage of electrolytic Ni-plated products is 4.9%, and cracks and disconnections of the wiring pattern 10 after thermal shock test disappear and reliability is enhanced with respected to repeated bending stress.例文帳に追加

電解Ｎｉめっき品の伸び率の最低値は４．９％であり、熱衝撃試験後の配線パターン１０のクラック、断線が無くなり、繰り返し曲げ応力に対する信頼性を向上できる。 - 特許庁

To provide a connector for semiconductor package test protecting a low density, electrically conductive silicon section with good joint reliability and robust mechanical and electric contact, while utilizing conventional manufacturing processes of silicon connectors.例文帳に追加

従来のシリコンコネクタの製造工程を利用しながら、接合信頼性が良好で機械的電気的接触が堅固な低密度導電性シリコン部を保護する半導体パッケージテスト用コネクタを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card and test device including ther same which enhances a reliability of a measurement value of an electric property, suppressing a spark applied to a semiconductor element when operating a switch.例文帳に追加

スイッチの動作時に半導体素子に印加されうるスパークを低減させ、電気的特性測定値の信頼性を向上させることができるプローブカード及びそれを備えるテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which has a Low-k film as an interlayer insulating film, the semiconductor device having superior reliability by preventing the interlayer insulating film from peeling in a temperature cycle test.例文帳に追加

層間絶縁膜としてＬｏｗ−ｋ膜を有する半導体装置において、温度サイクル試験時における層間絶縁膜の剥離を防止し、信頼性に優れた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a disk storage device capable of ensuring high reliability by performing a magnetization test even in a magnetic disk drive of a small diameter with increased data sector length, a head amplifier and a head testing method.例文帳に追加

データセクタ長が増えた小径の磁気ディスク装置でも帯磁テストを行なうことで、高い信頼性が確保可能なディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

To reduce a mounting area of a semiconductor device for use as a fingerprint sensor, reduce a manufacturing cost by improving throughput in assembly and test processes, and improve mounting reliability.例文帳に追加

本発明は、指紋センサ用半導体装置の実装面積を縮小化し、組立、テスト工程の処理能力を向上させて製造コストを削減し、実装信頼性を向上させることを課題とする。 - 特許庁

To suppress deterioration of a signal waveform quality between a pin card and a signal transmission means in a test head; to heighten connection reliability between the pin card and the signal transmission means; and to reduce device cost.例文帳に追加

テストヘッドにおいて、ピンカードと信号伝送手段との間における信号波形品質の劣化を抑制し、ピンカードと信号伝送手段との間の接続信頼性を高め、かつ、装置の低コスト化を図る - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of shortening a time for specifying a malfunctioning circuit block and measuring characteristic deterioration in a reliability acceleration test of each circuit block.例文帳に追加

不良回路ブロックを特定する時間を短くでき、また、各回路ブロックの信頼性加速試験での特性劣化を精度良く測定できる半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a terminal structure having high reliability, capable of executing simply terminal processing, concerning the terminal structure for executing an airtightness test of a power cable having a corrugated metal sheath.例文帳に追加

波付き金属シースを有する電力ケーブルの気密試験を実施するための端末構造を、信頼性が高く、しかも端末処理を簡単に行なえうる端末構造とすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having heightened reliability of a test result by testing many semiconductor devices loaded on a burn-in board without wrong determination.例文帳に追加

バーンインボード上に搭載される多数の半導体装置に対する試験を誤判定を生じることなく実施できるようにして、試験結果の信頼性を高めた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To enhance the reliability of piping capable of confirming the pressurized water resistance for any type of pipe line making, capable of performing hydraulic pressure test at the connection part of piping which is demanded of sealing performance.例文帳に追加

どのような配管路に対しても、止水性の求められている管の継手部分における水圧試験を行えるようにして、止水部の耐水圧性が確認でき、配管の信頼性を高める。 - 特許庁

To provide an inspection device and inspection method for electro- optical device for efficiently performing the reliability test and/or burning (screening) inspection of a liquid crystal panel in a short time without affecting on a subject to be inspected.例文帳に追加

検査対象に悪影響を与えることなく、液晶パネルの信頼性試験及び／又はバーニング（スクリーニング）検査を短時間で効率的に行うための検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide ultrasonic test equipment and a method capable of improving greatly the efficiency of an inspection work, and improving inspection accuracy and reliability, by enabling reduction of hard system noise filters and shortening of a data analysis processing time without requiring noise reduction processing from the vast amount of ultrasonic data at the data analysis processing time.例文帳に追加

ハード方式ノイズフィルタの軽減、データ解析処理時に膨大な超音波データからノイズ低減処理を行う必要がなくデータ解析処理時間の短縮化が図れる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of suppressing a reduction in the deflecting strength of a chip and preventing cracking of a semiconductor chip in an assembling process, a reliability test, etc.例文帳に追加

チップの抗折強度の低下を抑制でき、組み立て工程や信頼性試験などで半導体チップが割れるのを防止できる半導体装置の製造方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To reduce development cost and also to drastically improve the reliability of a business program by drastically reducing a test period needed to confirm whether the business program or the like operates normally.例文帳に追加

業務プログラムなどが正常に動作するかどうかを確認するのに必要なテスト期間を大幅に短縮して、開発コストを低減させるとともに、業務プログラムの信頼性を大幅に向上させる。 - 特許庁

To make washing of a probe for collecting a specimen complete, to prevent contamination among specimens and to improve reliability of measured values when the specimens are continuously analyzed with a clinical test automatic analyzer.例文帳に追加

臨床検査自動分析装置で検体を連続して分析するに際し、検体を採取するプローブの洗滌を完璧にして、検体間汚染を防止して測定値の信頼性を向上する。 - 特許庁

To make operation confirmation test on a solenoid valve while preventing any increase in size of a solenoid valve manifold by improving the reliability and durability of a control device for controlling the operation of the solenoid valve manifold.例文帳に追加

電磁弁マニホールドの作動を制御する制御装置の信頼性と耐久性を向上し、電磁弁マニホールドの大型化を避けつつ電磁弁の作動確認試験を行い得るようにする。 - 特許庁

To provide an anisotropic conductive film which shows high adhesive strength, excels in storage stability at from room temperature to 50°C, and has an enough performance after a reliability test, and to provide a connection, and a semiconductor device.例文帳に追加

高い接着強度を示し、室温〜５０℃での貯蔵安定性に優れ、かつ信頼性試験後も十分な性能を有する異方導電フィルム、接続体及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method which enables the simple and rapid evaluation of the insulation reliability of a two-layered flexible substrate easy to produce a microquantity of ion migration in place of a conventional HHBT test method.例文帳に追加

微量のイオンマイグレーションが発生しやすい２層フレキシブル基板の絶縁信頼性について、従来のＨＨＢＴ試験方法に代えて、簡単且つ迅速に実施できる評価方法を提供する。 - 特許庁