| 意味 | 例文 |
Reliability Testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 476件
To obtain a circuit for measuring crosstalk delay, which can monitor and test a transmission delay time while considering a delay caused by a crosstalk and thereby can provide a semiconductor apparatus with high reliability.例文帳に追加
クロストークによる遅延を考慮して伝送遅延時間をモニタリングテストすることを可能とし、これにより高信頼性の半導体集積装置を提供し得るクロストーク遅延測定回路を得ること。 - 特許庁
To provide a probe card having high reliability by removing contact failure between a probe and a pad, and between the probe and a circuit board even at a high temperature, for example, in a burn-in test, while coping with pitch-narrowing and multi-chipping tendencies.例文帳に追加
狭ピッチ化及びマルチチップ化に対応しつつバーイン試験のような高温下においてもプローブとパッド及びプローブと回路基板との接続不良を無くし、信頼性の高いプローブカードを提供する - 特許庁
This stress value is compared with a stress value from a tension test conducted separately to estimate resistance to electromigration and estimate quantitatively the reliability of the wiring.例文帳に追加
そして、この応力値を別途に行う引っ張り試験からの応力値と比較することにより、エレクトロマイグレーション耐性を見積もることが出来、配線の信頼性を定量的に見積もることが出来る。 - 特許庁
To reduce the cost and to improve the reliability with regard to a test socket for testing an mounted electronic component, its manufacturing method and the semiconductor device using the socket.例文帳に追加
本発明は電子部品を装着してテストを行なうテスト用ソケット及びその製造方法及びこれを用いた半導体装置に関し、低コスト化及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁
To apply appropriate stress to a whole semiconductor integrated circuit including a memory circuit also at a test of reliability such as burn-in in a semiconductor integrated circuit incorporating a memory circuit.例文帳に追加
メモリ回路を内蔵する半導体集積回路において、バーンイン等の信頼性テスト時にメモリ回路まで含めた半導体集積回路全体に適切なストレス印加を行うことが困難である。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and a method for testing the semiconductor device for accurately measuring the life of wiring at the time of evaluating the reliability of the wiring by an electromigration test.例文帳に追加
エレクトロマイグレーション試験により配線部の信頼性を評価する際に、配線部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
Engineering and technical supportIn Japan, the reliability verification test and safety research programs on major components and equipment have been carried out to enhance the safety of nuclear installations.例文帳に追加
工学的及び技術的支援我が国では、原子炉施設の安全性向上を図るため、主要な機器、設備を対象とした信頼性の実証試験及び各種の安全研究を実施している。 - 経済産業省
To provide an epoxy resin molded material for sealing and electronic part device in which the characteristic evaluated by a bias test or the like under an elevated temperature and humidity is improved and thereby the operating life is elongated and which is excellent in moistureproof reliability.例文帳に追加
高温高湿下でのバイアステスト等で評価される特性が向上して長寿命になり、耐湿信頼性に優れた封止用エポキシ樹脂成形材料及び電子部品装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device for inspecting a mist concentration detector, capable of increasing the accuracy of the detector and reliability of detection, while readily keeping the mist concentration constant in a test vessel.例文帳に追加
テスト容器内のミスト濃度を容易に一定に保つことができ、ミスト濃度検出装置の精度および検出の信頼性を高めることができるミスト濃度検出装置の検査装置を提供する。 - 特許庁
Note: The above formula is expedient in this project in which all the acute toxicity values are regarded to have no reason for exclusion and to have equivalent reliability, and are processed semi-statically, and the study of the degree of reliability of the acute toxicity value itself (reliability of the test and evaluation method) is not performed, and is not the standard method of evaluating the acute toxicity.例文帳に追加
(注)上記の計算式は、すべての急性毒性値が排他すべき理由が無く同等の信頼性があるとみなし、準統計的に処理しているものであり、急性毒性値そのものの信頼性の度合い(試験、評価方法の信頼性)についての検討を実施しない今回の事業における便法であって、急性毒性を評価するにあたっての標準の手法ではない。 - 経済産業省
A burn-in test control and pattern generating circuit 503 is provided at periphery of a memory circuit as an exclusive test circuit at the reliability test such as burn-in inside a semiconductor integrated circuit including a memory circuit, the circuit supplies a pattern being able to apply appropriate stress, and it is confirmed whether the stress is applied correctly or not by providing an output discriminating circuit 505 inside the circuit.例文帳に追加
メモリ回路を含む半導体集積回路内部にバーンイン等の信頼性テスト時にメモリ回路周辺に専用のテスト回路としてバーンインテスト制御およびパターン発生回路503を設け適切なストレス印加が可能なパターンを供給し、この出力を回路内部に出力判定回路505を設けストレスが正しく印加されているか確認する。 - 特許庁
To provide a burn-in device capable of enhancing reliability of a testing objective circuit, in a device for carrying out a burn-in test for a semiconductor integrated circuit of a testing object, and to provide a semiconductor integrated circuit device capable of dispensing with preparing separately a circuit for the burn-in test in an outside.例文帳に追加
試験対象となる半導体集積回路に対してバーンイン試験を行う装置において、試験対象回路の信頼性をより向上できるようにしたバーンイン装置を提供し、バーンイン試験用の回路を別途外部に用意する必要をなくした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁
To provide an adhesive for circuit-member connection that allows alignment marks attached to a wafer to be highly recognizable in an uncured state and achieves excellent connection reliability when a semiconductor device is manufactured and a high-temperature and high-humidity test and a temperature cycle test are executed to the semiconductor device, and a semiconductor device using the same.例文帳に追加
未硬化状態において、ウェハに付されたアライメントマークの認識性が高く、かつ半導体装置を製造して、該半導体装置について高温高湿試験及び温度サイクル試験を行った場合に、優れた接続信頼性が得られる回路部材接続用接着剤、及びこれを用いた半導体装置を提供すること。 - 特許庁
The transistor including the oxide semiconductor film on which the dehydration or dehydrogenation process by heat treatment has been performed and on which the oxygen doping process has been performed in the manufacturing process, has a smaller amount of change in the threshold voltage of the transistor before and after the bias-thermal stress test (BT test), and therefore the transistor has high reliability.例文帳に追加
熱処理による脱水化または脱水素化処理を行った酸化物半導体膜を含み、且つ、作製工程において酸素ドープ処理されたトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験(BT試験)前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減できており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。 - 特許庁
The transistor having an oxide semiconductor film treated by dehydration or dehydrogenation treatment by heat treatment, and treated by oxygen doping treatment in steps for manufacturing the same, can reduce the amount of change of a threshold voltage of the transistor even before and after a bias-thermal stress test(BT test), and have high reliability.例文帳に追加
熱処理による脱水化または脱水素化処理を行った酸化物半導体膜を含み、且つ、作製工程において酸素ドープ処理されたトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験(BT試験)前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減できており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。 - 特許庁
To provide a test socket of a semiconductor device having a large contact area to an external terminal, high current, capable of conducting a high frequency reliability test, of preventing insufficient soldering in mounting caused by scratches on the surface of the external terminal, and of preventing damage such as breakage or chipping in a product.例文帳に追加
外部端子との接触面積が大きく、十分な大電流、高周波信頼性試験を行うことができ、外部端子表面への疵付けで実装時の半田付けが十分に行えなくなる虞が少なく、製品に破損や欠けなどの問題が生じる虞が少ない半導体装置のテストソケットを提供する。 - 特許庁
To provide a complex environmental test method having high reproducibility, and to provide a failure detection method, a failure detection program, and a recording medium for recording the failure detection program capable of performing a complex environmental test having high reproducibility, and evaluating reliability highly accurately by simple measurement.例文帳に追加
再現性が高い複合環境試験方法を提供するとともに、再現性が高い複合環境試験を実施し、かつ簡単な計測で、高精度の信頼性評価を行うことができる故障検出方法、故障検出プログラム、および故障検出プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁
To obtain a solderability-testing method and device for improving the accuracy and reliability of test data by reducing influence due to the temperature difference between the temperature of a metal test piece and that of solder paste when testing solderability and the difference between a setting temperature and actually measured temperature of the testing device.例文帳に追加
はんだ濡れ性試験時の金属試料片温度とはんだペーストとの温度差及び、試験装置の設定温度と実測温度との差による影響を減少させ、試験データの精度及び信頼性を向上させるはんだ濡れ性試験方法及びはんだ濡れ性試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an osteoporosis diagnosing apparatus capable of constructing a special nuclear magnetic resonance diagnosing device taking a calcaneum as a measurement object, preventing radiation exposure, having high reliability of measurement, undergoing a test in an easy posture, and having a test cost equal to that of the other diagnosing apparatus.例文帳に追加
この発明は、踵骨を計測対象とする専用の核磁気共鳴診断装置を構築し、放射線被曝がなく、計測の信頼性が高く、楽な姿勢で検査が受けられ、しかも他の診断装置と同等程度の検査コストを有する骨粗鬆症診断装置を実現することを目的とする。 - 特許庁
The transistor having a gate insulating film treated by oxide doping treatment and the oxide semiconductor film treated by dehydration or dehydrogenation treatment by heat treatment, can reduce the amount of change of a threshold voltage of the transistor even before and after a bias-thermal stress test(BT test), and have high reliability.例文帳に追加
酸素ドープ処理されたゲート絶縁膜、熱処理による脱水化または脱水素化処理された酸化物半導体膜を有するトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験(BT試験)前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減できており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。 - 特許庁
To provide a dielectric ceramic in which a ceramic particle constituting a dielectric layer is made small-sized and even the thickness of grain boundary layer is controlled, a method for manufacturing the same, a multilayer electronic component having improved reliability in a high temperature load test and a humidity load test obtained by using the dielectric ceramic, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加
誘電体層を構成するセラミックス粒子の小径化とともに、粒界層の厚みまでも制御した誘電体セラミックスとその製法、並びにそれを用いて、高温負荷試験および湿中負荷試験での信頼性を高めることのできる積層型電子部品およびその製法を提供する - 特許庁
To provide a multilayer ceramics substrate that enhances reliability by preventing the occurrence of cracks, even if thermal stress is applied to a ceramic substrate according to the differences of thermal expansion coefficient among the mounted substrates, in heat cycle test and the like.例文帳に追加
温度サイクル試験等において、実装基板との熱膨張係数の差によりセラミックス基板に熱応力が加わっても、クラックの発生を防止し、信頼性を高めることができる積層セラミックス基板を提供する。 - 特許庁
A reliability test corresponding to thermal stress which the electronic appliance or the like encounters in the market is executed by using a new printed circuit board beforehand and a residual service life corresponding to the using period or the like of the printed circuit board is calculated.例文帳に追加
あらかじめ新品のプリント回路板を使用して、電子機器等が市場において遭遇する熱ストレスに応じた信頼性試験を行い、プリント回路板の使用期間等に応じた余寿命を算出する。 - 特許庁
To provide a test method of a fuel cell for guaranteeing the performance of the fuel cell by grasping beforehand a deterioration phenomenon of the polyelectrolyte at the time of operation of the fuel cell, and a fuel cell having high reliability.例文帳に追加
燃料電池運転時の高分子電解質の劣化現象を事前に把握して燃料電池の性能を保証するための燃料電池の試験方法とこれを用いた信頼性の高い燃料電池。 - 特許庁
To provide a photosensitive resin composition which has high image resolution, heat stability and chemical resistance, exhibits high sensitivity, prevents deterioration in adhesion to a substrate after a reliability test, and has excellent bonding performance and bonding strength.例文帳に追加
良好な画像解像度、熱安定性、耐薬品性を有し、高感度でかつ信頼性試験後の基板への密着性が低下せず、優れた接合性と接合強度を有する感光性樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁
To provide a compact integrated circuit in which a data storing function (or a latch function), a level shifting function, and a decoding function are integrated, and also to provide a source driver apparatus having a small-sized chip and reducing the time of a reliability test.例文帳に追加
データ保存機能(またはラッチ機能)、レベルシフト機能、およびデコード機能が統合されたコンパクトな集積回路を提供し、チップサイズが小さく信頼性テストの時間を減らすことができるソースドライバ装置を提供する。 - 特許庁
To provide a secondary battery system and a method of managing the same, wherein it is possible to easily determine the presence or absence of an anomaly in a battery pack or a discharge circuit and reliability is not impaired even in a case of service interruption immediately after the completion of a test.例文帳に追加
組電池や放電回路の異常の有無を簡易に判定することが可能で、しかも試験終了直後の停電に対する信頼性を損なわない二次電池システムおよび管理方法を提供する。 - 特許庁
As a result of integration of the bonding pad with the testing pad, for example, the introduction of propagation delay to passing test signals can be avoided, thereby improving the accuracy and reliability of wafer testing results.例文帳に追加
ボンディング・パッドおよび試験パッドを一体構築することにより、たとえば通過する試験信号に対する伝搬遅延の導入が回避され、それによりウェハ試験結果の精度および信頼性が改善される。 - 特許庁
To provide a semiconductor storage device in which generation of noise caused by current concentration is avoided by deviating activation start timing of a plurality of banks, reliability in a parallel test is improved and increase in the circuit area is prevented.例文帳に追加
複数バンクの活性化開始タイミングをずらすことで電流集中によるノイズの発生を回避し、パラレルテストの信頼性を向上し、回路面積の増大を回避する装置の半導体記憶提供。 - 特許庁
To provide a sampling apparatus by which a soil sample can be sampled surely in a so-called penetration test, in which the rotation of a penetration rod is performed without being transmitted to a sample sampling tube and by which the soil sample of high reliability is obtained.例文帳に追加
所謂貫入試験に伴う土質試料採取を確実に行うことができ、しかも、貫入用ロッドの回動が試料採取管に伝達されずに行われ、信頼性の高い土質試料を得られる。 - 特許庁
To provide a biological data processing apparatus enhancing the reliability, efficiency and safety of an ischemic heart disease by an exercise tolerance test, a biological data processing method and a biological data processing program.例文帳に追加
運動負荷試験による虚血性心疾患の信頼性や効率性、安全性を向上させることができる生体情報処理装置、生体情報処理方法及び生体情報処理プログラムを提供すること。 - 特許庁
To provide a layered ceramic capacitor which can easily control ESR(equivalent series resistance) without changing most of the regular manufacturing processes of the layered ceramic capacitor and which is remarkably stable in a reliability test.例文帳に追加
通常の積層セラミックコンデンサの製造工程をほとんど変えることなく、容易にESR(等価直列抵抗)を制御でき、かつ信頼性試験においても極めて安定した積層セラミックコンデンサを提供することである。 - 特許庁
To obtain an electric rotating machine in which reliability of insulation can be ensured at the coil end part by preventing insulation at the coil end part from being damaged by discharge occurring between the coil end parts of a stator coil at the time of withstand voltage test.例文帳に追加
耐電圧試験時に固定子コイルのコイル端部同士の間で放電が発生してコイル端部の絶縁が損傷を受けるのを防止でき、コイル端部の絶縁の信頼性を確保できる回転電機を得る。 - 特許庁
To provide an optical head in which misalignment of an optical axis and peeling of junction member are not caused even when expansion and contraction of the junction member are repeated due to a reliability test, elapsed time after mounting, and variation of ambient environment.例文帳に追加
信頼性試験や実装後の時間経過、周囲環境の変化により、接合部材が膨張及び収縮を繰り返した場合でも、光軸ずれや接合部材の剥離が生じない光ヘッドを提供する。 - 特許庁
To provide a test head for a semiconductor tester capable of heightening connection reliability of a connection part between a coaxial cable and the pin card side, and a connection part between the coaxial cable and the performance board side, and acquiring also a heat insulation effect.例文帳に追加
同軸ケーブルとピンカード側との接続部および同軸ケーブルとパフォーマンスボード側との接続部の接続信頼性を高めることができ、熱絶縁効果も得られる半導体テスタ用テストヘッドを実現すること。 - 特許庁
The strength evaluation can be fine throughout the truck frame to significantly improve the evaluation reliability as compared to a conventional static load test using strain gages actually attached to the truck frame.例文帳に追加
本発明によれば、強度評価を台車枠全体に渡って細かく行うことができ、従来のように実際に歪みゲージを台車枠に貼って行われる静荷重試験に比べて、評価信頼性が格段に向上する。 - 特許庁
To obtain an adhesive composition for connection in a circuit manifesting a high adhesive strength, excellent in storage stability at room temperature to 50°C, manifesting enough performance after a reliability test, and to provide a connected body and a semiconductor device.例文帳に追加
高い接着強度を示し、室温〜50℃での貯蔵安定性に優れ、かつ信頼性試験後も十分な性能を有する回路接続用接着剤組成物、接続体及び半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a terminal block structure and an electrical apparatus, a manufacturing method therefor, and a vehicle wherein the ingress of foreign matter into a housing and the outflow of oil from the housing are prevented and the reliability of a sealability test on the housing is enhanced.例文帳に追加
ハウジング内部への異物の進入防止、ハウジング内部からのオイルの流出防止、およびハウジングのシール性試験の信頼性向上が図られた端子台構造ならびに電気機器およびその製造方法、車両を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device that can reduce the size of a package, and at the same time can improve reliability in a test, and to provide a method for manufacturing the semiconductor device that can be tested without requiring any pins for external output.例文帳に追加
パッケージサイズを縮小化出来、または同時にテストの信頼性を向上できる半導体装置を提供すること、及び外部出力用のピンを必要とせずにテストできる半導体装置の製造方法を提供することにある。 - 特許庁
To provide a resin paste for a semiconductor excellent in reliability enough not to deteriorate bonding strength when heated and not to cause peeling of a resin paste layer for a semiconductor in a soldering crack resistance test after a moisture-absorbing treatment, and its manufacturing method.例文帳に追加
熱時接着強度を低下させず、吸湿処理後の耐半田クラック性試験において半導体用樹脂ペースト層の剥離が起こらない信頼性に優れた半導体用樹脂ペーストとその製造方法を提供する。 - 特許庁
To improve junction reliability for a bonding wire or a bump by shifting the bonding position from a probe mark, with test pads provided in a surplus gap between bonding pads formed by making the bonding pads in a staggered arrangement.例文帳に追加
ボンディング用パッドを千鳥状に配列することによって生じたボンディング用パッド間の余剰な間隙にテスト用パッドを設け、ボンディング位置とプローブ痕をずらすことにより、ボンディングワイヤまたはバンプの接合信頼性の向上を図ること。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a double-sided printed wiring board used for IC packages which is easily manufactured without needing the coating process of insulating resins, and avoids the occurrence of the migration in a long time reliability test.例文帳に追加
絶縁性樹脂のコーティング工程を要することなく容易に製造でき、長期信頼性試験においてマイグレーションの発生を防止することのできる、ICパッケージに使用される両面プリント配線板の製造方法を提供する。 - 特許庁
To obtain a low modulus resin paste for semiconductors which has excellent workability without reducing adhesive strength on heating and excellent reliability without causing the peeling of the semiconductor resin paste layer in the soldering crack-resistant test after moisture absorption treatment.例文帳に追加
作業性に優れ、熱時接着強度の低下がなく、吸湿処理後の耐半田クラック性試験において半導体用樹脂ペースト層の剥離が起こらない信頼性に優れた低弾性率の半導体用樹脂ペーストを得る。 - 特許庁
To provide a system and method improved for automated analysis of a sample, such as a urine, for the requirement of a more cost-effective process and purposes for improving the reliability and the precision of a test in the detection limitation of a specimen.例文帳に追加
より費用効率的な工程の要求と、検体の検出限界における試験の信頼性および精度を高める目的に照らして、尿などの試料の自動分析のための改善されたシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁
To provide an input termination control device in which analysis for initial defects, functions, and reliability of a semiconductor memory at a test can be easily performed by controlling ON/OFF of an input termination of a semiconductor memory, and its method.例文帳に追加
半導体メモリの入力ターミネーションをオン・オフ制御して、テストの際に半導体メモリの初期不良、機能分析、信頼性分析を容易にすることができる入力ターミネーション制御装置及びその方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for analyzing vibration of a vehicle in which an appropriate damping coefficient in a dynamic test bench for evaluating the operability of a vehicle with high reliability and high reproducibility can be obtained without performing all tests of an actual vehicle.例文帳に追加
実際の車両で全てのテストを実施することなく、車両運転性を高信頼性かつ高再現性で評価するための動的テストベンチにおける適切な減衰係数を得るための車両振動分析方法を提供する。 - 特許庁
To provide a polymer optical waveguide which can prevent moisture absorption through an upper clad layer, can suppress change in characteristics and deterioration of adhesion with the substrate due to moisture absorption of materials under severe environmental conditions, and has stable transmission characteristics capable of securing a sufficient reliability without degrading optical properties before and after a reliability test.例文帳に追加
上部クラッド層を介した吸湿を防止することができ、厳しい環境条件下でも材料の吸湿による特性変化や、基板との密着性低下を抑制することができ、しかも、信頼性試験の前後で光学特性が劣化せず、十分な信頼性を確保することのできる、安定した伝送特性を有するポリマー光導波路を提供する。 - 特許庁
To achieve improvement in reliability of an optical module (reliability on sealing at a sealing substrate recessed portion), having an optical element mounting substrate (second substrate) covered with a sealing substrate (first substrate) having a sealing function and a guide function of an optical fiber, and simplification of manufacturing steps (improvement in mass-productivity by a large-sized substrate and facilitation of a durability test after sealing).例文帳に追加
封止機能と光ファイバのガイド機能を備えた封止基板(第1基板)で光素子搭載基板(第2基板)が覆われた光モジュールの信頼性の向上(封止基板凹部での封止に対する信頼性)と製造工程の簡略化(大型基板での量産性向上、封止後の耐久試験が容易に行える)を実現する。 - 特許庁
Consequently, even when resin sealing is carried out by screen printing, causes for reducing reliability such as the occurrence of package cracks during a moisture absorption reflow test can be suppressed, resulting in providing the semiconductor device which is resin-sealed with high reliability so as not to damage a property of the semiconductor element.例文帳に追加
これにより、スクリーン印刷により樹脂封止する場合にも吸湿リフロー試験でパッケージクラックが生じてしまうなどの信頼性低下原因の発生を抑制することが可能となり、半導体素子の特性を損なうことのない高い信頼性で半導体素子を樹脂封止した半導体装置を提供することが可能となる。 - 特許庁
To provide conductive paste which can restrain an electronic part from deteriorating in capacity due to the oxidation of electrodes, be degreased enough, and can be improved in reliability in a thermal shock test or a wet loading test even if it uses copper powder of small average grain diameter when it is used for forming the outer electrodes of the electronic part.例文帳に追加
電子部品の外部電極を形成するために用いた場合に、平均粒径が小さい銅粉末を用いた場合も、電極の酸化により容量が低下することなく、脱脂を十分に行うことができ、熱衝撃試験や湿中負荷試験における信頼性を向上させることが可能な導電性ペーストを提供する。 - 特許庁
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