「Reliability Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor integrated circuit and its test method for preventing the deterioration of reliability due to any pad crack, by changing a test method for testing a wafer and the layers of pads to be connected at the time of test and the layers of pads to be used at the time of completing all processes in the middle of a metal diffusion process.例文帳に追加

メタル拡散工程の途中段階で、ウェハを試験するテスト手法及びテスト時に接続するパッドと全ての工程完了時に使用するパッドの層を変更し、パッドクラックによる信頼性劣化を防ぐ半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To improve the evaluation reliability of disturbance test by properly imitating a voltage generated by a bit line in the nonvolatile storage device of a constant current writing type.例文帳に追加

定電流書き込み型の不揮発性記憶装置において、ビット線で発生する電圧を適切に模擬し、ディスターブテストの評価の信頼性を向上する。 - 特許庁

To provide a high-reliability printed circuit board for a semiconductor package, by reducing the curvature, and suppressing the generation of cracks in temperature cycle test or the like.例文帳に追加

反りが少なく、かつ温度サイクル試験等におけるクラックの発生を抑制した信頼性の高い半導体パッケージ用のプリント配線板の提供 - 特許庁

To quickly perform a recovery process in the occurrence of a failure by performing the margin test of a device connected to a fiber channel loop to improve the reliability of the whole loop.例文帳に追加

ファイバチャネルループに接続されたデバイスのマージンテストを行い、ループ全体の信頼性の向上を図り、障害発生の際の回復処理を迅速に行う。 - 特許庁

To provide a package structure equipped with a protective film which protects a silicon chip from damages and improves the packaging performance and life-cycle in a reliability test.例文帳に追加

ダメージからシリコンチップを保護し、信頼性テストにおけるパッケージング性能およびライフサイクルを向上させる保護膜を備えたパッケージ構造体を提供する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric device which can pass a reliability test, improves adhesion strength with a mount substrate and further can be mass-produced, and a method of manufacturing the piezoelectric device.例文帳に追加

信頼性試験に耐え、実装基板との密着強度も向上し、且つ量産できる圧電デバイスおよび圧電デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an insulation test method capable of easily and mass productively testing insulation of a battery structure body with high reliability, and to provide a device therefor.例文帳に追加

電池構造体について信頼性の高い絶縁検査を容易、かつ量産的に実施できる絶縁検査方法、および絶縁検査装置の提供。 - 特許庁

RELIABILITY TEST METHOD OF PROTECTION CIRCUIT OF ELECTRONIC BALLAST FOR FLUORESCENT LAMP, AND PROTECTIVE OPERATION CONFIRMATION METHOD IN OUTGOING INSPECTION OF ELECTRONIC BALLAST FOR FLUORESCENT LAMP例文帳に追加

蛍光灯用電子安定器の保護回路の信頼性試験方法及び蛍光灯用電子安定器の出荷検査時の保護動作確認方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device which has improved characteristics evaluated by a bias test or the like under high temperature and high humidity, has a long life, and has excellent moisture-resistant reliability.例文帳に追加

高温高湿下でのバイアステスト等で評価される特性が向上して長寿命になり、耐湿信頼性に優れた半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To improve the working efficiency in a flow test, reduce a work, correctly obtain the quantity of water supplied to piping, and improve the reliability of a facility construction.例文帳に追加

通水試験の作業効率を高め、労力の軽減を図り、配管への給水量を正確に把握し、設備工事の信頼性を高める。 - 特許庁

To execute a highly accurate and economical test, when executing an experiment for evaluating the strength/reliability of a long and large structure against, for example, an earthquake.例文帳に追加

長大な構造物の、例えば地震に対する強度・信頼性を評価する実験にあたって、高精度かつ経済的な試験を実施すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated-circuit wafer which enriches a test function without increasing a chip area and which is low-cost and of high reliability.例文帳に追加

チップ面積を増加させずにテスト機能を充実させ、低コストで高信頼性の半導体集積回路ウェハを提供しようとするものである。 - 特許庁

To test or recognize with high reliability the mounting condition and/or the type and the wear condition of a tool for using in a processing machine for a blank.例文帳に追加

ブランクのための加工機械で使用される工具の装着および／またはタイプおよび磨耗状態の、信頼性の高い検査または認識を可能にする。 - 特許庁

To provide a multilayer wiring board in which a resistance change of a via hole conductor is small and dimensional accuracy is high in a reliability test, and to provide a method for manufacturing the multilayer wiring board.例文帳に追加

信頼性試験においてビアホール導体の抵抗変化が小さくかつ寸法精度の高い多層配線基板とその製造方法を提供する。 - 特許庁

Because the photosensitive composition is excellent in TCT (thermal cycle test) resistance and insulation reliability, it is effectively utilized as a package board.例文帳に追加

本発明の感光性組成物は、ＴＣＴ（サーマルサイクルテスト）耐性及び絶縁信頼性に優れているので、パッケージ基板としての利用が有効である。 - 特許庁

To provide a semiconductor evaluation device capable of ensuring improved electric contact over a long time in a wafer level reliability test.例文帳に追加

ウェーハレベル信頼性試験において、長期にわたって良好な電気的接触を確保することが可能となる半導体評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor measuring apparatus with a marking function of marking the results of a wafer probe test with high reliability and in a short time and a semiconductor device.例文帳に追加

短時間で高信頼性を伴うウェハプローブ試験結果のマーキングを施すマーキング機能付き半導体測定装置及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a ferroelectric memory, in which the control by an external testing device is easily performed, and in which a redundancy relief test can be performed with high reliability.例文帳に追加

外部試験装置による制御が簡単で信頼性の高い冗長救済試験を行うことができる強誘電体メモリを提供する。 - 特許庁

A resultant insulated package enables a strip test and singulation of high reliability without cutting metal further.例文帳に追加

結果として得られる絶縁されたパッケージによって、さらなる金属を切断する必要もなく、ストリップテストおよび高い信頼性の個片切断が可能である。 - 特許庁

Consequently, the chip cracks can be remarkably reduced, resulting in having an advantage in achieving a superiority in a reliability evaluation test even under the conventional assembling conditions.例文帳に追加

これによりチップクラックが大幅に減少するので、従来の組み立て条件であっても信頼性評価試験で優位性が認められる利点を有する。 - 特許庁

To provide a solid electrolytic capacitor and a method of manufacture thereof which reduce leakage current and increase reliability in a high temperature load test.例文帳に追加

漏れ電流を低減することができ、高温負荷試験における信頼性を高めることができる固体電解コンデンサ及びその製造方法を得る。 - 特許庁

To provide a method of evaluation and test which is high in reproducibility of conditions and high in reliability in evaluating the difficulty in flawing of a spectacle lens and an apparatus for the same.例文帳に追加

眼鏡レンズの傷つき難さを評価する際、条件の再現性が高く、信頼性の高い評価試験方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an anisotropic conductive adhesive which includes a high initial insulation and maintains a sufficiently high insulation even after the reliability test.例文帳に追加

初期の高い絶縁性を有するとともに、信頼性試験後にも高い絶縁性を十分に維持する異方性導電接着剤を与えること。 - 特許庁

To provide an ozone exposure test method capable of obtaining good reproducibility and reliability even in a material having water or moisture absorbability.例文帳に追加

吸水性または吸湿性を有する材料であっても良好な再現性及び信頼性が得られるオゾン暴露試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for a vehicle which is capable of improving reliability of test results and ensuring safety by confirming fixed state of a test vehicle set on a chassis dynamometer, detecting it when the preparation of test is incomplete or insufficient, and disturbing the continuation of the improper test due to carelessness of workers.例文帳に追加

シャシダイナモメータ上にセットする試験車両の固定状態を確認して、試験の準備が未完または不十分である場合にはこれを検知して、作業者の不注意による不適切な試験の続行を阻止することにより、試験結果の信頼性を向上させると共に安全性を確保できる車両の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a software reliability growth model selection method which makes it possible to select the software reliability growth model out of a plurality of software reliability growth models which fits most to actually measured data at a stage immediately after a test is started, a computer readable recording medium to record the software reliability growth model selection program and the model selection program, and a selection device for the software reliability growth model.例文帳に追加

試験開始間もない時点において、複数のソフトウェア信頼度成長モデルの中から、実測データに最も適合したソフトウェア信頼度成長モデルを選択することを可能にするソフトウェア信頼度成長モデル選択方法、ソフトウェア信頼度成長モデル選択プログラム及び当該モデル選択プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びにソフトウェア信頼度成長モデル選択装置を提供する。 - 特許庁

A bit node operating means 11, when the reliability α is updated, calculates and updates the reliability β of each bit node corresponding to all non-zero elements belonging to the same row as that of elements of the test row of the updated α.例文帳に追加

ビットノード演算手段１１は、信頼度αが更新された場合、αの更新された検査行列の要素と同じ列に属するすべての非零要素に対応する各ビットノードについて信頼度βを算出し更新する。 - 特許庁

To provide a photosetting/thermosetting resin composition for printed wiring substrate, with which crack resistance in a long-term reliability test is improved, and a printed wiring substrate with which long-term reliability is improved, constituted by forming solder resist coating from that composition.例文帳に追加

長期信頼性試験におけるクラック耐性に優れたプリント配線板用の光硬化性・熱硬化性樹脂組成物及びそれによりソルダーレジスト皮膜が形成されてなる長期信頼性の高いプリント配線板を提供する。 - 特許庁

To provide an adhesive film usable by being transferred from a support, not only exhibiting excellent adhesive strength but also holding a stable adhesive strength after a reliability test (high temperature and high moisture test).例文帳に追加

支持体から転写して使用される接着フィルムであって、優れた接着強度を発揮するのみならず、信頼性試験（高温高湿試験）後においても安定した接着強度を維持することができる接着フィルムを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory and its test method in which a CBR refresh-test by an input of a CBR command having the same number as that of redundant word lines can be performed being same as a normal memory cell and reliability of the redundant word lines can be secured.例文帳に追加

通常のメモリセルと同様に、冗長ワード線の本数分のCBRコマンドの入力によるCBRリフレッシュテストが行え、冗長ワード線の信頼性を確保できる半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device includes probe area marks 41a-41d each showing an area to contact the test probe to the electrode pad 4, limits the abutting area of the test probe in the electrode pad with a prob area mark, and elevates the reliability of bonding.例文帳に追加

電極パッド４にテストプローブを接触させるエリア示すプローブエリアマーク４１ａ〜４１ｄを備え、プローブエリアマークにより電極パッドにおけるテストプローブの当接領域を限定し、電極パッドに対するボンディング信頼性を高める。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which the reliability of a wafer burn-in test can be improved by detecting whether stress voltage is securely applied to all word lines including redundant word lines at the time of a wafer burn-in test.例文帳に追加

ウェハーバーイン試験時に、冗長ワード線を含むすべてのワード線にストレス電圧が確実に印加されたか否かを検出可能とすることにより、ウェハーバーイン試験の信頼性を向上させ得る半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Probe area marks XPM and YPM where the test probe are brought into contact with the electrode pad 1 are provided, a test probe area TPA in the electrode pad 1 is limited by the probe area marks, and the electrode pad can be improved in bonding reliability.例文帳に追加

電極パッド１にテストプローブを接触させるエリア示すプローブエリアマークＸＰＭ，ＹＰＭを備え、プローブエリアマークにより電極パッドにおけるテストプローブエリアＴＰＡを限定し、電極パッドに対するボンディング信頼性を高める。 - 特許庁

To increase efficiency and reliability of a test system of a communication network with a main signal relay network stored with a number of communication equipment and a maintenance network, without increasing test traffic loads in an IP communication network.例文帳に追加

通信装置を多数収容した主信号中継網と保守網とを備えた通信網の試験方式に関し，ＩＰ通信網に試験トラヒック負荷を増やすことなく，効率性と信頼性を高めることを目的とする。 - 特許庁

The test voltage 32 for testing the reliability of defect recognition at a predetermined level, duration, and frequency is applied to a fixed spark gap, and the pulse driving test voltages are generated by the high voltage generator 30 of the discharge tester.例文帳に追加

所定のレベルと持続時間と周波数での欠陥認識の信頼性を試験する試験電圧３２を固定スパークギャップに印加し、これらのパルス駆動試験電圧を放電試験器の高電圧発生器３０により生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which reliability is improved by adapting a test method of a semiconductor memory being more accurate than conventional accuracy and being efficient, and a test device for realizing its method.例文帳に追加

従来より精度が良くかつ効率的な半導体記憶装置の試験方法及びその方法を実現するための試験装置を提供し、該試験が適用されることによリ信頼性が向上された半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polyimide film which improves a pass rate in an accelerated aging test and to provide a metallized polyimide film which can provide a flexible wiring board which can pass the accelerated aging test and is high in insulation reliability.例文帳に追加

加速寿命試験における合格率を向上させるポリイミドフィルムを提供するとともに、加速寿命試験に合格可能で絶縁信頼性の高いフレキシブル配線基板を提供できる金属化ポリイミドフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide an IC testing device with improved IC test reliability and productivity, its control method, and a storage medium by combining a plurality of ICs under an optional judgement criterion for performing the test.例文帳に追加

本発明の課題は、任意の判定基準下で複数のＩＣを組み合わせて試験を行うことにより、ＩＣ試験の信頼性と生産性を向上したＩＣ試験装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To provide a software automatic test system that can enhance the reliability to determine whether an image collation test is good or not even in the case of presence of an inspection exempt area and can reduce time and labor of an examiner.例文帳に追加

画像照合によるテストにおいて検査対象外の領域が存在しても良否判断の信頼性を高め、テスト者の時間と労力の低減を図ることのできるソフトウェア自動テストシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a wafer burn-in method, wherein wafer burn-in test having reliability can be executed with alignment precision to some degree, in the case that the number of terminals which make contact in batch in the state of wafer is increased, and the cost for test is low.例文帳に追加

ウェハ状態で一括して接触する端子数が多くなっても、ある程度の位置合わせ精度で信頼性のあるウェハバーンイン試験が実施でき、安価なテストコストで済む半導体装置及びウェハバーンイン方法を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of making testing conditions even, by restraining dispersion of temperatures in a plurality of tested objects generating heat by an operation, and capable of enhancing thereby reliability for a burn-in test and an aging test.例文帳に追加

動作することによって発熱する複数の被試験体の温度のばらつきを抑制することによって試験条件を揃え、バーンイン試験およびエージング試験の信頼性を向上させることができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

In this semiconductor device, desired stress can be applied to each capacitor of a constituted pump circuit in stress test, efficiency of a stress test and reliability of a semiconductor integrated circuit can be improved.例文帳に追加

本発明による半導体記憶装置によれば、ストレステスト時に構成するポンプ回路の各キャパシタに対して所望のストレスを掛けることができ、ストレステストの効率向上および半導体集積回路の信頼性向上が図れる。 - 特許庁

To provide method and program for predicting software reliability, a computer readable recording medium recording the predicting program, and a software reliability predicting device allowing accurate planning of a test process by estimating an upper limit of an estimated value of the number of potential bugs existing in software just after starting the test and thus estimating the test period somewhat long.例文帳に追加

試験開始後間もない時点で、ソフトウェア内に存在する潜在バグ数の推定値の上限を見積もり、それに伴い試験期間を多少長めに見積もることで、試験工程の正確な計画を立てることを可能にするソフトウェア信頼性予測方法、ソフトウェア信頼性予測プログラム及び当該予測プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びにソフトウェア信頼性予測装置を提供する。 - 特許庁

The complex environmental test method for evaluating reliability to cracks on a soldering part of an electronic component mounting substrate includes step S1 for performing a temperature cycle test to the electronic component mounting substrate until an initial crack is generated on the soldering part, and step S2 for performing a vibration test to the electronic component mounting substrate subjected to the temperature cycle test.例文帳に追加

電子部品実装基板のはんだ接合部の亀裂に対する信頼性評価を行う複合環境試験方法において、はんだ接合部に初期亀裂が発生するまで、上記電子部品実装基板に対して温度サイクル試験を実施するステップＳ１と、上記温度サイクル試験を行った電子部品実装基板に対して振動試験を実施するステップＳ２とを含む。 - 特許庁

To provide a connecting member for a circuit which is used for connection of an electronic component to a circuit board, is capable of relaxing a stress on a circuit connection boundary surface, and shows remarkably enhanced reliability without causing increase of connection resistance and separation of an adhesive agent in the connection part even after a reliability test, and to provide a circuit board showing excellent reliability.例文帳に追加

電子部品と回路基板の接続に用いられ、回路接続界面でのストレスを緩和でき、信頼性試験後においても接続部での接続抵抗の増大や接着剤の剥離がなく、接続信頼性が大幅に向上する回路用接続部材及び接続信頼性に優れる回路板を提供する。 - 特許庁