「Scan.」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

A scanner 10 is provided with a scan data storage region 26 for storing a scan data file.例文帳に追加

スキャナ１０は、スキャンデータファイルを記憶するスキャンデータ記憶領域２６を有する。 - 特許庁

SCAN DRIVER WITH LOW-VOLTAGE INPUT, SCAN DRIVE SYSTEM, AND VOLTAGE LEVEL SHIFT CIRCUIT THEREOF例文帳に追加

低電圧入力のスキャンドライバ、走査駆動システム及びその電圧レベルシフト回路 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, SCAN DATA SPLIT TRANSMISSION METHOD, AND SCAN DATA SPLIT TRANSMISSION PROGRAM例文帳に追加

画像処理装置、スキャンデータ分割送信方法及びスキャンデータ分割送信プログラム - 特許庁

METHOD FOR RECOVERING FROM GROUNDING BOUNCE DURING BOUNDARY SCAN TEST AND BOUNDARY SCAN APPARATUS例文帳に追加

バウンダリ・スキャン・テスト中に接地バウンスから回復する方法及びバウンダリ・スキャン装置 - 特許庁

To perform automatic scan using a suitable scan parameter in accordance with the kind of a document.例文帳に追加

原稿の種類に応じ適切なスキャンパラメータを用いて自動スキャン可能にする。 - 特許庁

The analog scan circuits 950, 960 are connected by a scan chain 959, and they form an integrated scan path.例文帳に追加

アナログスキャン回路９５０および９６０はスキャンチェーン９５９により接続され、両者は一体化されたスキャンパスを形成する。 - 特許庁

A control unit for controlling scan execution means to scan the original includes determination means and scan control means.例文帳に追加

原稿のスキャンを実行するスキャン実行手段を制御するための制御装置は、判断手段と、スキャン制御手段とを備える。 - 特許庁

To provide a scan design circuit and a scan design method capable of suppressing increase of an area of a scan design circuit to a required minimum.例文帳に追加

スキャン設計回路面積増加を必要最小限に抑えることの可能なスキャン設計回路及び方法を提供する。 - 特許庁

In the sequential scan mode, the scan chains 201-20N at each stage are connected in series to constitute N pieces of scan chains.例文帳に追加

逐次スキャンモードでは、各段のスキャンチェイン２０１乃至２０Ｎがそれぞれ直列に接続され、Ｎ本のスキャンチェインを構成する。 - 特許庁

According to the multi-level data, a scan duty setting unit 107 calculates a scan duty for each of the nozzles for each scan of the recording head.例文帳に追加

該多階調データに応じて、走査Ｄuty設定部１０７で記録ヘッドの走査ごとに、ノズルごとの走査Ｄutyを算出する。 - 特許庁

The system is connected to the scan chain for operation so that a single scan data from the utility buffer is injected into the scan chain.例文帳に追加

システムは、ユーティリティバッファからの単一のスキャンデータをスキャンチェーンに注入するために、スキャンチェーンに動作可能に接続される。 - 特許庁

Scan drivers 31 to 34 are connected to the scan electrodes 12 of the corresponding blocks through scan driver ICs 3a.例文帳に追加

複数のスキャンドライバ３１〜３４は複数のスキャンドライバＩＣ３ａを介して対応するブロックのスキャン電極１２に接続される。 - 特許庁

In this system, a scan plan including the slice thickness is inputted (S701), and a scan is executed on the basis of the inputted scan plan (S752).例文帳に追加

スライス厚を含むスキャン計画を入力し（Ｓ７０１）、入力したスキャン計画に基づいてスキャンを行う（Ｓ７５２）。 - 特許庁

Normal scan sound (step S12) is set as the scan sound in the registration mode, and training scan sound (step S13) in an output mode different from that of the normal scan sound is set as the scan sound in the training mode.例文帳に追加

「登録モード」では通常スキャン音（ステップＳ１２）がスキャン音として設定され、「練習モード」では通常スキャン音とは出力態様が異なる練習スキャン音（ステップＳ１３）がスキャン音として設定される。 - 特許庁

The programmable sequence controls a supply timing of the scan line reference coordinate and a scan position of each in-line pixel on the basis of line scan procedure information and the scan period trigger supplied from the scan scheduling means.例文帳に追加

プログラマブルシーケンサは、ライン走査手順情報及び走査スケジューリング手段から与えられる走査周期トリガに基づいて、走査ライン基準座標の供給のタイミング及びライン内画素単位での走査位置を制御する。 - 特許庁

When a scan test interruption request is received from the processor control unit during the execution of the scan test by the scan test control unit, the scan test is interrupted and, after the execution of the application, the scan test is resumed.例文帳に追加

そして、スキャンテスト制御部がスキャンテストを実行している際に、プロセッサ制御部からのスキャンテスト中断要求があった場合、スキャンテストを中断し、アプリケーションの実行後に、スキャンテストを再開させるものである。 - 特許庁

To prevent the generation of excessive IR drop in a scan test circuit performing a functional test of a flip-flop connected to a scan chain in parallel to a plurality of scan chains by a scan shift operation and a scan capture operation.例文帳に追加

スキャンシフト動作とスキャンキャプチャ動作によって、スキャンチェインに接続されたフリップフロップの機能テストを、複数のスキャンチェインに対して並行に行なうスキャンテスト回路において、過度のＩＲドロップの発生を防ぐ。 - 特許庁

Respective boundary scan cells each has a storage layer which is constituted to be used in the scan-in chain of the integrated circuit to facilitate a boundary scan test between a scan input port SI and a scan output port SO.例文帳に追加

それぞれのバウンダリスキャンセルは、スキャン入力ポートＳＩとスキャン出力ポートＳＯの間に、バウンダリスキャンテスト容易化のために集積回路のスキャンチェイン内で使用されるように構成されたストレージ層を有する。 - 特許庁

With respect to the scan lines, pairs of scan lines are connected respectively so as to turn back in end parts in the row direction through scan junction lines Kt1 to Kt4, and a scan signal is selectively given to pairs of scan lines by a scan driver 3.例文帳に追加

前記走査線は２本の走査線を組としてそれぞれ行方向の端部で走査中継線Ｋｔ１〜Ｋｔ４を介して折り返すようにして接続され、走査ドライバ３より組ごとの走査線に対して選択的に走査信号が与えられる。 - 特許庁

FLIP-FLOP FOR SCANNING AND SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン用フリップフロップおよびスキャンテスト回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WITH BUILT-IN CIRCUIT CONTAINING SCAN PATHS例文帳に追加

スキャンパス内蔵の半導体集積回路 - 特許庁

SET UP METHOD OF X-RAY CT SCAN PARAMETER, X-RAY CT APPARATUS AND HELICAL SCAN METHOD例文帳に追加

Ｘ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法、Ｘ線ＣＴ装置およびヘリカルスキャン方法 - 特許庁

The trick play modes may include pause, scan forward, scan backward, jump, still frame display, and the like.例文帳に追加

トリックプレイモードは、一時停止、前方スキャン、後方スキャン、ジャンプ、静止フレーム表示等を含む。 - 特許庁

OBJECT POSITION DETECTION METHOD OF SCAN-TYPE RADAR例文帳に追加

スキャン式レーダの物体位置検出方法 - 特許庁

SCAN EXPOSURE METHOD AND SCANNING ALIGNER例文帳に追加

走査露光方法及び走査型露光装置 - 特許庁

To solve the hold timing error of the scan line of an LSI in the reconnection of the scan line.例文帳に追加

ＬＳＩのスキャンラインの再接続においてスキャンラインのホールドタイミングエラーを解消する。 - 特許庁

INFRARED TEMPERATURE MEASURING APPARATUS USING TWO- DIMENSIONAL SCAN例文帳に追加

二次元走査赤外線温度測定装置 - 特許庁

The compound image 10 is formed by an electronic linear scan or by an electronic sector scan.例文帳に追加

複合画像１０は電子リニア走査や電子セクタ走査などによって形成される。 - 特許庁

DIGITAL SCAN CONVERTER OF ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS例文帳に追加

超音波診断装置のデジタルスキャン・コンバータ - 特許庁

ROTARY SWITCH AND ROTARY SWITCH SCAN INTERFACE例文帳に追加

ロータリースイッチ及びロータリースイッチスキャンインターフェース - 特許庁

To provide a scan flip flop which never mis-latches in both scan and capture modes.例文帳に追加

スキャンモードとキャプチャモードとの双方でミスラッチを生じないスキャンフリップフロップを提供する。 - 特許庁

COMPOSITE PRINTER AND SCAN IMAGE COPYING METHOD例文帳に追加

複合プリンタおよびスキャンイメージ複写方法 - 特許庁

To reduce a test cost by curtailing time required for a scan test with respect to a scan test circuit.例文帳に追加

スキャンテスト回路において、スキャンテストに要する時間を縮小しテストコストを削減する。 - 特許庁

To allow a high-image-quality scan by shortening waiting time for the scan of a user as much as possible.例文帳に追加

ユーザのスキャン待ち時間を可及的に短くして、高い画質のスキャンを可能にする。 - 特許庁

SEQUENTIAL SCAN CONVERSION METHOD AND ITS APPARATUS例文帳に追加

順次走査変換方法及びその装置 - 特許庁

SCAN PATH TEST CIRCUIT AND DESIGNING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スキャンパステスト回路及びその設計方法 - 特許庁

A transition time calculating section 21 calculates a transition time in a scan out signal of a scan FF.例文帳に追加

遷移時間計算部２１は、スキャンＦＦのスキャンアウト信号の遷移時間を計算する。 - 特許庁

BROADCAST RECEIVER AND CHANNEL SCAN METHOD例文帳に追加

放送受信装置およびチャンネルスキャン方法 - 特許庁

Sequence repeating time TR for one scan is set to be twice that of the other scan.例文帳に追加

１つのスキャンのシーケンス繰り返し時間ＴＲは他のスキャンのそれの２倍とされる。 - 特許庁

BROADCAST RECEIVING DEVICE AND CHANNEL SCAN METHOD例文帳に追加

放送受信装置及びチャネルスキャン方法 - 特許庁

The scan driver supplies the first scan electrode with a first scan signal, supplies the first scan electrode and the second electrode with a first signal for emitting light, and then supplies the second scan electrode with a second scan signal that falls down from a scan reference voltage, and supplies the first scan electrode with a voltage that is different from the scan reference voltage while the second scan signal is supplied.例文帳に追加

スキャン駆動部は、前記１スキャン電極に第１スキャン信号を供給して前記第１スキャン電極及び前記第２スキャン電極に光を放出するための第１信号を供給した後、前記第２スキャン電極にスキャン基準電圧から立ち下がる第２スキャン信号を供給して前記第２スキャン信号が供給される間に前記スキャン基準電圧と異なる電圧を前記第１スキャン電極に供給する。 - 特許庁

DEVICE FOR BOUNDARY-SCAN INSPECTION ON SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のバウンダリスキャン検査装置 - 特許庁

MOVING TARGET ADAPTIVE TYPE SCAN CORRELATION METHOD例文帳に追加

移動目標対応型スキャン相関方法 - 特許庁

SCAN EXPOSURE METHOD, SCAN EXPOSURE APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD EMPLOYING THE METHOD例文帳に追加

走査露光方法、走査型露光装置、及び前記方法を用いるデバイス製造方法 - 特許庁

HELICAL SCAN TYPE MAGNETIC TAPE RECORDING AND REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

ヘリカルスキャン型磁気テープ記録再生装置 - 特許庁