「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

Next, a position of ink reaching the printing surface by the test pattern printing is measured (S5).例文帳に追加

次に、テストパターン印刷によって印刷面に着弾したインクの位置を測定する（Ｓ５）。 - 特許庁

Voltage supplied to the first external pad during a test is different from second voltage.例文帳に追加

テスト時に第１の外部パッドに供給される電圧は、第２の電圧とは異なる。 - 特許庁

To provide an AD converter, using redundancy algorithm, that has simple constitution and is easy to test.例文帳に追加

簡単な構成で試験が容易な、冗長アルゴリズムを使用したＡＤ変換器の実現。 - 特許庁

In the condition, a prescribed test pattern is input to the device chip 4 to check operation.例文帳に追加

この状態で、デバイスチップ４に所定のテストパターンを入力して動作をチェックする。 - 特許庁

The PM test signal is input to the multiplier 16 through the delay adjustment part 12.例文帳に追加

ＰＭテスト信号は、遅延調整部１２を介して乗算器１６に入力される。 - 特許庁

The direction of the test tube is determined by detecting motion of respective motion members.例文帳に追加

それぞれの運動部材の運動を検出することにより、試験管の向きが判定される。 - 特許庁

A compound gas test of an object gas is performed to verify the absence of a mutual influence (S6).例文帳に追加

対象ガスの複合ガス試験を行い、相互影響がないことを確認する（Ｓ６）。 - 特許庁

A manipulator 100 is provided for positioning an interface unit of the automatic test system 104.例文帳に追加

自動試験システム（１０４）のインタフェースユニットを位置付けるマニピュレータ（１００）を開示する。 - 特許庁

A sub harness inspection device 1 is provided with a probe 13 and performs the conducting test of a sub harness 2.例文帳に追加

サブハーネス検査装置１はプローブ１３を備えサブハーネス２の導通検査を行う。 - 特許庁

To determine in real time whether a test condition of a semiconductor device is set correctly.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト条件が正しく設定されているかをリアルタイムに判断する。 - 特許庁

The assigned test pattern is subjected to simulation with delay in an interlocking simulator part 5.例文帳に追加

割り付けられたテストパターンは、連動シミュレータ部５でディレイ付きのシミュレーションが実行される。 - 特許庁

A semiconductor wafer (chip) is tested by bringing probes 11 into contact with the test pads 8.例文帳に追加

また、検査用パッド８にプローブ１１を接触して半導体ウェハ（チップ）をテストする。 - 特許庁

When the user tries to perform an access to content, a CAPTCHA test is presented to the user.例文帳に追加

ユーザがコンテンツにアクセスしようとするときに、ユーザにＣＡＰＴＣＨＡテストが提示される。 - 特許庁

The generated test pattern signal is supplied to a semiconductor device 500 to be tested.例文帳に追加

生成されたテストパターン信号は、被試験対象の半導体デバイス５００に供給される。 - 特許庁

An output of the shift register 7 is decoded by a decoder 8 and becomes a test mode output 11.例文帳に追加

シフトレジスタ７の出力はデコーダ８でデコードされテストモード出力１１となる。 - 特許庁

One of its applications is, for example, a test optical system used for a photoengraving exposure system.例文帳に追加

その応用は、例えば写真製版露光系に使用される試験光学系である。 - 特許庁

A pile loading test is carried out in less loading weight against the upper pile 1 likewise the usual way.例文帳に追加

上杭１対して、少ない荷重量で、通常と同様に杭の載荷試験を行う。 - 特許庁

Hydroxypropylated starch is added to an aqueous solvent for an immunoagglutination test so as to be used.例文帳に追加

ヒドロキシプロピル化デンプンを免疫凝集試験用水性溶媒に添加して用いる。 - 特許庁

This malfunction is caused by a voltage drop in power supply of the entire burn-in test board.例文帳に追加

この誤動作は、バーンインテストボード全体の電源における電圧降下が原因である。 - 特許庁

The test tool 20 is composed of a holding tool 30, a sub pallet 50, and a main pallet 70.例文帳に追加

検査治具２０は保持治具３０と子パレット５０と親パレット７０とから構成される。 - 特許庁

Each test control signal FTG is supplied to the input end of the other.例文帳に追加

また、他方の入力端には、それぞれテスト制御信号ＦＴＧが供給される。 - 特許庁

A sector for inhibiting the trial writing in the test track is stored in a storage circuit 14.例文帳に追加

記憶回路１４には、テストトラックでの試し書きを禁止するセクタが記憶されている。 - 特許庁

A structure for preventing re-collision of a dropping probe colliding with the test object is provided.例文帳に追加

試験対象物に衝突する落下プローブの再衝突を防止する構造を設ける。 - 特許庁

The trimming codes for testing are different from the adequate trimming code and used only when a test is conducted.例文帳に追加

テスト用トリミングコードは、適正トリミングコードと異なっており、テスト時にのみ用いられる。 - 特許庁

When removing work is finished (S5), the inspecting means 43 carries a test sheet (S6).例文帳に追加

除去作業が終了（Ｓ５）すると検査手段４３がテストシートを搬送する（Ｓ６）。 - 特許庁

The reference data is selected on the inspection result of "Good" by test welding.例文帳に追加

基準データは、テスト溶接によって「良」という検査結果が得られたデータを選定する。 - 特許庁

The web test module for operating the web printed in a printer is described.例文帳に追加

印刷機内で印刷済みウェブを操作するためのウェブ検査モジュールが記載されている。 - 特許庁

The performance of the test circuit element at various settings of a performance controlling parameter is determined.例文帳に追加

性能制御パラメータの様々な設定における検査回路素子の性能が決定される。 - 特許庁

The test line is used for generating a color reaction with a component to be inspected in the inspection liquid.例文帳に追加

テストラインは、検査液体の被検査成分と呈色反応を行うために用いられる。 - 特許庁

At this time, the common data block, contained in two or more arbitrary test patterns, is searched.例文帳に追加

このとき、任意の２つ以上のテストパターンに含まれる共通のデータブロックを検索する。 - 特許庁

An execution module is generated from the test object program and the source code of the pseudo program.例文帳に追加

この試験対象プログラムと擬似プログラムのソースコードとから、実行モジュールを生成する。 - 特許庁

A test piece 19 is sandwiched between the input rod 3 and the output rod 5.例文帳に追加

入力棒３と出力棒５との間には、試験片１９が挟持されている。 - 特許庁

The test state display program reads the tool personal computer number 207 when its execution is started.例文帳に追加

試験状況表示プログラムは、実行開始時に冶具パソコン番号２０７を読み込む。 - 特許庁

In the case of defective printing, a sheet for test printing and resetting is issued by a continuous forms paper.例文帳に追加

印字不良の場合はテスト印字と再設定用のシートを連続紙で発行する。 - 特許庁

After the test, the re-wiring layer 14 is removed by cutting by using a cutting tool 10.例文帳に追加

試験後には再配線層１４をバイト１０を用いた切削加工により除去する。 - 特許庁

Further, phosphor content [mg]/test powder weight [mg]=0.071 is used as the reference value.例文帳に追加

また前記基準値は、リン含有量［ｍｇ］／試験粉末の重量［ｍｇ］＝０．０７１とする。 - 特許庁

A loading actuator 53 is driven in this state, to thereby load a tensile force onto the test piece TP.例文帳に追加

この状態で、負荷アクチュエータ５３を駆動し、試験片ＴＰに引張力を負荷する。 - 特許庁

On the other hand, a test input signal SI is inputted to an AND/OR inverter circuit AOI2.例文帳に追加

一方、テスト入力信号ＳＩは、アンドオアインバータ回路ＡＯＩ２に入力される。 - 特許庁

Hereby, the degree of shrinkage of the rubber ring 22 is changed according to the diameter of the test tube 11.例文帳に追加

これにより、試験管１１の直径に応じてゴムリング２２の伸縮度が変化する。 - 特許庁

The constrain condition is released to perform an unconstrained vibration frequency test for the same moving blade 7.例文帳に追加

その拘束条件を解除して同じ動翼７の非拘束振動試験を行う。 - 特許庁

In a test mode, non-activation timing of a word line driving signal RXTM is made early.例文帳に追加

テストモードにおいて、ワード線駆動信号ＲＸＴＭの非活性タイミングを早くする。 - 特許庁

According to the derived testing position, the test of each electrode pattern part is executed.例文帳に追加

そして、この導出された検査位置に応じて各電極パターン部の検査が実施される。 - 特許庁

An operation of RF-ID medium is inspected based on an output from the test data reader.例文帳に追加

テストデータ用リーダーの出力に基づいてＲＦ−ＩＤメディアの動作を検査する。 - 特許庁

This facility is a noise-suppressed type facility for an engine ground test while parking an aircraft on the ground.例文帳に追加

航空機を駐機したままエンジン地上試験を行うための消音型設備である。 - 特許庁

Further, a testing mechanism is provided to test the redundant error detection (RED) capability itself.例文帳に追加

更に、冗長エラー検出(Redundant Error Detection, 「RED」)能力自体をテストするためのテストメカニズムが提供される。 - 特許庁