「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(51ページ目) - Weblio英語例文検索

This image forming device, is let to perform test printing by respective printer part 1000, 1003 and 1005, and then to put test print being output from respective printer part on a reader part 1001.例文帳に追加

各プリンタ部１０００，１００３，１００５においてテストプリントを行い、次に、各プリンタ部から出力されたテストプリントを並べて、リーダ部１００１に置く。 - 特許庁

In this case, the hardness of the plating layer 3 similar to that of the metal test piece 2 is selected for preventing the end parts of the metal test piece 2 from coming off.例文帳に追加

この場合、金属試験片２の端部の弛れを防止するために、メッキ層３の硬度は金属試験片３の硬度と近しいものを選択する。 - 特許庁

The test monitoring device 20 sends out a test termination signal to the control parameter adjustment device 10 when a predetermined termination condition is met.例文帳に追加

テスト監視装置２０は、予め定められた終了条件を満たす場合、制御パラメータ調整装置１０にテスト終了信号を送出する。 - 特許庁

The start time of the alignment test signal is adjusted until the frequency content of the return alignment test signal corresponds to the alternating pattern of frequencies.例文帳に追加

位置調整検査信号の開始時間は、戻り位置調整検査信号の周波数コンテンツが周波数の交互パターンに対応するまで調整される。 - 特許庁

In this address converting circuit 23, a memory array is divided into a test program region 32 and a memory region 31 to be tested in accordance with the control signal for test.例文帳に追加

このアドレス変換回路２３は、テスト用制御信号に応じて、メモリアレイがテストプログラム領域３２とテスト対象メモリ領域３１とに分割される。 - 特許庁

Moreover, when the test piece is inclined, it has become clear that the combination of the test piece voltage value, at which an electron beam will not curve and the acceleration voltage values of the electron gun existed.例文帳に追加

また、試料を傾斜したときに、電子ビームが曲がらない試料電圧値と電子銃の加速電圧値の組合せが存在することが判明した。 - 特許庁

In this method of manufacturing the high-purity gas-filled vessel, the high-purity gas-filled vessel is pressured in a test by hydraulic pressure in a pressure test process.例文帳に追加

高純度ガス充填容器の製造方法において、耐圧試験工程では、高純度ガス充填容器に対して水圧による耐圧試験を行う。 - 特許庁

The test result verification part 106 verifies the result of the determination whether the screen transition is successful, and generates test result data indicating the incompleteness of the application.例文帳に追加

テスト結果検証部１０６は、画面遷移の成否の判定結果を検証して、アプリケーションの未完成度を示すテスト結果データを生成する。 - 特許庁

A plurality of transient currents is measured by an instrument connected electrically to an electrochemical test piece, using the test piece, in one embodiment in this method of the present invention.例文帳に追加

一態様において、本方法は、試験片を用いて、電気化学的試験片と電気的に接続した計器により複数の過渡電流を測定する。 - 特許庁

To provide a substrate which is used for an air bag, has an excellent lightweight property, and can maintain a good air blocking property and fire retardancy before and after a heat resistance test and a moisture resistance test.例文帳に追加

軽量性に優れ、耐熱試験および耐湿試験前後で、空気遮断性、更には難燃性を保持しうるエアバッグ用基布を提供する。 - 特許庁

To provide a storage device and its self-test method in which circuit correction can be prevented and a manufacturing cost can be reduced even when a test process is changed.例文帳に追加

テスト工程の変更があった場合でも、回路修正を防止でき、製造コストを低減できる記憶装置およびその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for evaluating an insulation film in which TDDB test accuracy is enhanced in a thin film region while shortening the test time.例文帳に追加

薄膜領域でのＴＤＤＢ試験精度の向上と時間短縮とを実現するための絶縁膜の評価方法及び評価装置を提供する。 - 特許庁

A workstation is provided with a regression test program 62 for testing an application program developed by a workstation by using a stored test script 66.例文帳に追加

ワークステーションが、格納された試験スクリプト（６６）を利用して、ワークステーションで開発されたアプリケーション・プログラムを試験する回帰試験プログラム（６２）を備える。 - 特許庁

A data holding circuit 605 sets a determination output of the determination circuit 604 and holds a test mode display signal 403 for displaying that the state is in the test mode.例文帳に追加

データ保持回路６０５は、判定回路６０４の判定出力をセットし、テストモードになったことを示すテストモード表示信号４０３を保持する。 - 特許庁

To obtain a system for managing test report for providing an environment where the functions of registering, managing and analyzing a software test report is given for outsourcing.例文帳に追加

ソフトウェアのテストレポートの登録と管理、その解析を行うための機能をアウトソーシングできる環境を提供するテストレポート管理システムを実現する。 - 特許庁

The formed test signal STV is output to the connector 26 to supply the test signal STV to the module board 10 connected to the connector 26.例文帳に追加

この形成されたテスト信号ＳTVをコネクタ２６に出力してこのコネクタ２６に接続されたモジュール基板１０にテスト信号ＳTVを供給する。 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor memory device by which real ability of tRCD can be evaluated accurately even in the case of a test in which an address is shrunk.例文帳に追加

アドレスを縮退した試験の際にも、ｔＲＣＤの実力を正確に評価することが可能な、半導体記憶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

When a G2 test part 9 and a G3 test part 10 are verified simultaneously, the device is altered to prioritize execution of the request from an interruption processing part 7.例文帳に追加

Ｇ２テスト部９、Ｇ３テスト部１０を同時に検証する場合、割り込み処理部７からの要求を優先的に実行するように変更する。 - 特許庁

A modulation frequency of the test light 11 is set on the outside of a signal band of communication light 10, and a frequency of a communication signal and that of a test signal are multiplexed.例文帳に追加

また、試験光１１の変調周波数を通信光１０の信号帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重する。 - 特許庁

On the test paper 4, at least student information identifying the student who takes the test and grading information specifying the grading result is expressed in marks.例文帳に追加

テスト用紙４は、少なくともテストを行った学生を特定する学生情報と、採点結果を特定する採点情報とがマークで表示される。 - 特許庁

This method for examining the drug sensitivity is provided by dividing a test medium 1 surrounding a filter paper 2 into a multiple number of test areas 3a to 3f having stepwise different distances from the filter paper 2.例文帳に追加

濾紙２の周囲の試験培地１を、濾紙２からの距離が段階的に異なる複数の試験領域３ａ乃至３ｆに分割する。 - 特許庁

A storage part for storing the program code to be inserted into the test program is provided to store a combination of a pattern matched with the test program and the program code to be inserted thereinto.例文帳に追加

テストプログラムに対して挿入したいプログラムコードの記憶部を設け、テストプログラムにマッチするパターンと挿入したいプログラムコードとの組を格納する。 - 特許庁

out.println("scalarMultiplication");int[] a = null;int[] b = null;int expResult = 0;int result = Vectors.scalarMultiplication(a, b);assertEquals(expResult, result);// TODO review the generated test code and remove the default call to fail.fail("The test case is a prototype.");}} 例文帳に追加

生成された各テストのメソッド本体は、ガイドとしてのみ用意されており、実際のテストケースにするには変更する必要があります。 - NetBeans

To provide an image forming apparatus in which correction values for many test positions can be obtained while the number of test images to be formed is reduced.例文帳に追加

形成するテスト像の数を少なくすると共に、多数のテスト位置についての補正値を得ることが可能な画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

Thereafter, the sealed package is arranged in an environment wherein the test gas does not exist substantially, so that the test gas can be dispersed from the internal space to the outside.例文帳に追加

その後に、試験ガスが実質的に存在しない環境内に該密封パッケージを配置し、該試験ガスが該内部空間から外部に拡散できるようにする。 - 特許庁

When the test mode signal TM1 is in an H-level, a selector 11 selects the output signal of a test resistor 12 and supplies it to an internal pad P1a.例文帳に追加

テストモード信号ＴＭ１がＨレベルになると，セレクタ１１はテスト用レジスタ１２の出力信号を選択し内部パッドＰ１ａに供給する。 - 特許庁

The average particle size, which agrees with the relation of the density at each test piece operated from the test result is obtained by supposing that the average particle size with water droplet impingement ratio.例文帳に追加

その結果から平均粒子径を仮定して演算した各供試体毎の濃度と水滴衝突率との関係が一致する平均粒子径を求める。 - 特許庁

A test program for specifying the operation of a semiconductor testing device 2 for testing a semiconductor device DUT is generated in language for generating a test program.例文帳に追加

半導体デバイスＤＵＴを試験する半導体試験装置２の動作を規定するテスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語で作成されている。 - 特許庁

To obtain a test result superior in stability and reproducibility even if the change of a test condition accompanying the change of an excited current of a focusing lens is carried out.例文帳に追加

集束レンズ励磁電流の変化を伴う検査条件の変更を行っても安定性および再現性が良い検査結果が得られるようにする。 - 特許庁

In using this test specimen, the liquid sample is applied to the test specimen to generate a signal usable for quantifying the level of the glycated protein in the sample.例文帳に追加

この試験片の使用において、液体サンプルを試験片に適用し、サンプル中の糖化タンパク質レベルを定量するのに使用できる信号を生成する。 - 特許庁

The respective pitons are respectively individually driven to the respective test pieces by lever manipulation, by which the experiencing of the strength comparison of the respective test pieces is made possible.例文帳に追加

そして、レバー操作により各ハーケンを各試験片に対し個々に打ち付けて各試験片の強度比較を体験するようになされたものとする。 - 特許庁

Furthermore, each test pad 1 is connected with respective switch circuits 3A-3D of semiconductor chips 10 contiguous to each other while holding each test pad 1 in-between.例文帳に追加

さらに、各テストパッド１に、各テストパッド１を挟んで互いに隣接する半導体チップ１０のそれぞれのスイッチ回路３Ａ〜３Ｄを接続している。 - 特許庁

An original test pattern created by an automatic test pattern generating means (ATPG) is separated into a pattern for a scan chain and patterns except for the scan chain.例文帳に追加

自動テストパターン生成手段（ＡＴＰＧ）で生成されたオリジナルのテストパターンを、スキャンチェーン用のパターンとスキャンチェーン用以外のパターンとに分離する。 - 特許庁

A test method for an electronic component for realizing the optimization of a testing period is composed of selecting earliest measurement day (Dm) by a first test day (D0).例文帳に追加

テスト期間の最適化を実現する電子部品のテスト方法は、最初のテスト日（Ｄ０）から最先の測定日（Ｄｍ）を選択することから成る。 - 特許庁

By placing the burn-in board 22 in this state in the burn-in test apparatus, it is possible to collectively test the plurality of semiconductors 10.例文帳に追加

この状態のバーンインボード２２をバーンイン試験装置に入れることにより、複数の前記半導体１０を一括して試験することができるようになる。 - 特許庁

After the test, marking is performed in the test execution section 34 by decrypting the encrypted correct answer data and comparing it with learner's answers.例文帳に追加

テスト実行部３４では、テストの実施後、採点を行なうが、暗号化された正答データを復号し、学習者の解答と比較することにより行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device and its test method in which patterns for test can be reduced when data is supplied in serial to a RAM.例文帳に追加

ＲＡＭにシリアルでデータを供給する際、試験用パターンの削減を実施できる半導体集積回路装置及び、その試験方法を提供する。 - 特許庁

By the branch multiplexer 41, the test signal is branched into a plurality of branch test signals and the branched signals are parallelly outputted to a plurality of connected integrated circuits 6.例文帳に追加

分岐マルチプレクサ４１は、テスト信号を複数の分岐テスト信号に分岐し、接続されている複数の集積回路６に対して並列に出力する。 - 特許庁

In a first data compression test mode for invalidating the error correction function, first test data TWD1 is written in a first regular memory block MB1.例文帳に追加

誤り訂正機能を無効にする第１データ圧縮試験モード中に、第１試験データＴＷＤ１は、第１レギュラーメモリブロックＭＢ１に書き込まれる。 - 特許庁

To automatically register test data suitable for a test purpose in a database, in such an environment where data is registered in a database using a registration application.例文帳に追加

登録アプリケーションを用いてデータベースにデータを登録するような環境においてテストの目的に適合したテストデータを自動的にデータベースに登録する。 - 特許庁

A first step is executed during production of a camera unit and preferably includes photographing and analyzing an image of a test chart that of a gray test chart.例文帳に追加

第１の段階はカメラユニットの生産中に行われ、好ましくは灰色試験チャートである試験チャートの画像を撮影し、解析することを含む。 - 特許庁

And the simulation test bench to be inputted in the corresponding input signal line is generated by reading the test pattern file and performing bit distribution (a step 12).例文帳に追加

そして、そのテストパターンファイルを読み込み、ビット分配して対応する入力信号線へ入力するシミュレーションテストベンチを生成する（ステップ１２）。 - 特許庁

A test pattern photographing apparatus 10 is provided with a plurality of lenses 12-1 to 12-4, and an imaging element 11 to photograph the test pattern image 31 on the screen 30.例文帳に追加

テストパターン撮影装置１０は複数レンズ１２−１、〜、１２−４と撮像素子１１とを備え、スクリーン３０上のテストパターン画像３１を撮影する。 - 特許庁

To improve the accuracy of evaluation of the reproduced quality of test pattern data for deciding optimum laser power at the time of recording data even if high speed test writing is performed.例文帳に追加

高速試し書きの場合でも、データ記録時の最適なレーザパワーを決めるためのテストパターンデータの再生品質の評価を精度良くできるようにする。 - 特許庁

In order to multiplex the different test structures TC1 and TC2 to the pads PP1 and PP2 adjacent to each other depending upon a probe voltage, the test selector is used.例文帳に追加

異なるテスト構造ＴＣ１、ＴＣ２を、プローブ電圧に依存して、隣接するプローブパッドＰＰ１、ＰＰ２に対し多重化するために、テストセレクタが用いられる。 - 特許庁