Test Isの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 12773件
The load test program includes a small-scale test program 8 having few hardware resources to be assigned, compared with a hardware configuration of large computer, and control information 8a is added to the small-scale test program 8.例文帳に追加
負荷試験プログラムは、大規模コンピュータのハードウェア構成と比較して、割り当てるべきハードウェア資源が少ない小規模試験プログラム8を備え、小規模試験プログラム8には、制御情報8aが付加されている。 - 特許庁
A positional deviation between the electrode pad of the semiconductor element and the probe pin 13 generated in a high temperature test and a low temperature test of the electric characteristic test is avoided by adjusting the temperature of the support members 12a, 12b.例文帳に追加
そして、電気的特性試験の高温試験、或いは低温試験で発生した、半導体素子の電極パッドとプローブピン13との位置ずれを支持部材12a、12bの温度を調節することにより回避する。 - 特許庁
(2) Among a plurality of through-holes, the front ends of a plurality of optionally selected through-holes are drilled to a specific depth to make a test hole 31, and the test hole 31 is used to execute a permeability test of a plurality of holes.例文帳に追加
(2)複数の前記貫通孔のうち、任意に選定された複数の貫通孔の先端部を所定深さまで削孔して試験孔31を設け、前記試験孔を使用して複数孔透水試験を実施する。 - 特許庁
This subject interior position detecting system is provided with a test capsule 2 incorporating a permanent magnet and a position detector 3 detecting the position of the test capsule 2 based on the strength of a constant magnetic field generated by the permanent magnet incorporated in the test capsule 2.例文帳に追加
永久磁石が内蔵されたテストカプセル2と、テストカプセル2に内蔵された永久磁石から生じる定磁場の強度に基づいてテストカプセル2の位置を検出する位置検出装置3とを備える。 - 特許庁
In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加
本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁
The printed-circuit board is attached to a test fixture which has a plurality of translator pins and translator plates coming into contact with the second surface of the printed-circuit board so as to send a test signal to an electronic test analyzer.例文帳に追加
プリント回路板は、テスト信号を電子テストアナライザに送るべくプリント回路板の第2の表面と接触するために複数のトランスレータピン及びトランスレータプレートをもつテスト固定具の上に取りつけられている。 - 特許庁
This testing device is equipped with a plurality of test modules for testing a plurality of devices to be tested, and the central processing unit for controlling test operation of the plurality of test modules based on a designated operation mode.例文帳に追加
複数の被試験デバイスの試験を行う複数の試験モジュールと、指定された動作モードに基づいて複数の試験モジュールの試験動作を制御する中央処理装置とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a system for extracting significant test items even when test time is limited in a method for creating a test item document necessary in confirming operation of a server after introducing general-purpose software.例文帳に追加
汎用ソフトウェア導入後のサーバーの動作確認の際に必要な試験項目書の作成方法について、試験時間が限られている場合であっても、重要な試験項目を抽出するシステムを提供する。 - 特許庁
A test timing information converting part 8 converts the test timing information of the external pin without signal variation which is detected by the setting part 2 into test timing information of the external pin of other function pattern.例文帳に追加
テストタイミング情報変換部8は、信号変化有無設定部2によって検出された信号変化のない外部ピンのテストタイミング情報を、別のファンクションパターンの当該外部ピンのテストタイミング情報に変換する。 - 特許庁
Since the self-test section has a plurality of test sequencers (31) corresponding to a plurality of test modes, the required area is reduced compared with the area normally required for a general purpose sequencer using a program system that requires memories for program storage.例文帳に追加
セルフテスト部は、複数のテストモードに対応する複数のテストシーケンサ(31)を有するから、プログラム格納用のメモリを必要とするプログラム方式による汎用シーケンサよりも小面積化を実現することが容易である。 - 特許庁
To provide a semiconductor device testing apparatus changing no state of a signal imparted to a semiconductor device to be tested even if the test condition is changed when performing a test 2 immediately after a test 1.例文帳に追加
試験1の後に直ちに試験2を実行する場合に、試験条件の変更を行なっても、被試験半導体デバイスに与えている信号の状態が変化しない半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁
When testing is carried out for these driving circuits by connecting a test device with a common driving circuit 20 and a segment driving circuit 30, switches 51-55 of a bias circuit 40 are made on by applying a test signal TEST.例文帳に追加
コモン駆動回路20及びセグメント駆動回路30に試験装置を接続してこれらの駆動回路の試験をするとき、試験信号TESTを印加してバイアス回路40のスイッチ51〜55をオンにする。 - 特許庁
In a link, including a plurality of media converters which connect a UTP (unshielded twisted pair cable) and an optical cable, when a test manager detects broken state of the link, test mode is started and the test manager transmits a prescribed trigger packet to a plurality of the media converters.例文帳に追加
UTPケーブルと光ケーブルを接続するメディアコンバータを複数個含むリンクにおいて、テストマネージャがリンク切断を検出すると、テストモードが起動され、複数のメディアコンバータへ所定のトリガパケットが送信される。 - 特許庁
To provide a sound interface mechanism which has a simple structure and has good sound shield characteristics, a coupler for speech test which is made small-sized and can be applied to a mass production line, and a speech test device applying the coupler for speech test.例文帳に追加
簡易な構造で音響シールド特性がよい音響インタフェース機構、小型で量産ライン内に適用可能な通話試験用カプラ及び該通話試験用カプラを適用する通話試験装置を提供する。 - 特許庁
Also, since the test areas 2 are secured for the first time when the test areas 1 are used up, the compatibility with capacity can be also maintained in between the reproduction exclusive optical disk, during the time the laser power is being adjusted by only the test areas 1.例文帳に追加
また、テストエリア1が使い尽くされたときに初めてテストエリア2が確保されるため、テストエリア1のみでレーザパワー調整を行える間は、再生専用光ディスクとの間で容量互換も維持することができる。 - 特許庁
To provide a test diagnostic method for a computer system for starting test diagnosis even in a status that the normal operation of an input/output port is not sufficiently secured without using any input/output port for the transfer of a test diagnostic program.例文帳に追加
試験診断プログラムの転送に入出力ポートを使わず、入出力ポートの正常動作が十分に保証されない状態でも試験診断を開始できるコンピュータシステムの試験診断方法を提供する。 - 特許庁
The gripper apparatus for gripping the test tube holder includes an elevating probe, which is provided with both an eccentric lower end part operable for holding the test tube holder and a stabilizer for stabilizing the test tube holder during elevation.例文帳に追加
試料管ホルダを把持するためのグリッパ装置は試料管ホルダを保持するための作動可能な偏心下端部および持ち上げ中試料管ホルダを安定させるための安定器を備えた持ち上げプローブを含んでいる。 - 特許庁
To provide a tire performance test-use rotating drum which is lightweight, has a small inertia moment, realizes a short maximum speed arrival time and can carry out a sudden acceleration test and a sudden braking test, and to provide a tire performance testing system using the same.例文帳に追加
軽量であり、慣性モーメントが小さく、最高速度到達時間が短く、急発進や急ブレーキの試験が可能であるタイヤ性能試験用回転ドラムとタイヤ性能試験装置を提供する。 - 特許庁
The modular test system including to provide a modular test systems is equipped with a system controller controlling at least one site controller while at least one site controller controls at least one test module.例文帳に追加
モジュール式試験システムを提供することを含み、モジュール式試験システムは、少なくとも1つのサイトコントローラを制御するシステムコントローラを備え、少なくとも1つのサイトコントローラは少なくとも1つの試験モジュールを制御する。 - 特許庁
This evaluation device of a test piece is provided with: one fluid supply source 2 for supplying a reaction gas to test pieces 5A-5C; and a changeover valve 10 for selectively connecting the fluid supply source 2 to the respective test pieces 5A-5C.例文帳に追加
供試体5A〜5Cに対して反応ガスを供給する一つの流体供給源2と、流体供給源2を各供試体5A〜5Cに対して選択的に接続する切替弁10とを備える。 - 特許庁
The circuit board 16 is placed on a test fixing device 18 with a large number of translator plates and translator pins which come into contact with the second surface of the circuit board 16 for transmitting a test signal to an electric test analyzer.例文帳に追加
該回路板は、試験信号を電気試験アナライザーに移すために、該回路板の第2の面に接触する多数のトランスレーター板78及びトランスレーターピン82を有する試験固定装置18に載せられる。 - 特許庁
The circuit is provided with a plurality of memories 10a to 10n which can store data, a built-in self-test circuit 20 performing tests of a plurality of memories, and an analyzing circuit 30 analyzing a test result of the built-in self-test circuit.例文帳に追加
データを記憶可能な複数のメモリ10a〜10nと、複数のメモリのテストを行う組込自己テスト回路20と、組込自己テスト回路のテスト結果を解析する解析回路30と、を備えている。 - 特許庁
The optical pickup device is tested by evaluating a reproduction signal using at least two or more types of test disks of a first test disk with one recording layer and a second test disk with two recording layers.例文帳に追加
記録層が1層である第1のテストディスクと、記録層が2層である第2のテストディスクとの少なくとも2種類以上のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査するようにする。 - 特許庁
The BIST circuit 11 has a function in which the prescribed marker signal Ms having the same phase as the test result signal Ts is generated instead of the test result signal Ts prior to generation of the test result signal Ts.例文帳に追加
BIST回路11は、テスト結果信号Tsの生成に先立って、テスト結果信号Tsの代わりにテスト結果信号Tsと同一の位相を有する所定のマーカ信号Msを生成する機能を有する。 - 特許庁
The testing device having a plurality of replaceable test modules that supply test signals to devices to be tested is emulated to verify a testing environment without use of the real items such as the devices to be tested and the test modules.例文帳に追加
試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する交換可能な複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートし、被試験デバイスや試験モジュール等の実物を用いることなく試験環境を検証する。 - 特許庁
A function definition 4 is a file which defines a test function of software 300 and includes test items to be executed predetermined for each item type and typical data effective for confirming execution results of the test items concerned.例文帳に追加
機能定義4は、ソフトウェア300のテストの機能を定義するファイルであって、項目タイプ毎に予め定められた実施すべきテスト項目及び当該テスト項目の実施結果の確認に有効な典型データを含む。 - 特許庁
The system is provided with: a test capsule 2 with a built-in permanent magnet; and a position detector 3 for detecting the position of the test capsule 2 based on the strength of a static magnetic field from the permanent magnet built in the test capsule 2.例文帳に追加
永久磁石が内蔵されたテストカプセル2と、テストカプセル2に内蔵された永久磁石から生じる静磁場の強度に基づいてテストカプセル2の位置を検出する位置検出装置3とを備える。 - 特許庁
Then, a test target data matching the additional correct answer data pattern differing from the correct answer data pattern because of slight difference in timing at the time of testing but supposed to be test OK under normal circumstances is to be test OK.例文帳に追加
従って、検証時に、タイミングの微妙なずれにより、正解データパターンと異なるものになってしまったが、本来検証OKとなるべき追加正解データパターンと一致する検証対象データは検証OKとなる。 - 特許庁
To obtain a wear-testing machine in a simple configuration that can arbitrarily set the relationship between the revolution and rotation on its own axis for a test piece that is supplied for a wear test by agitation and can be adapted to various kinds of test environments.例文帳に追加
攪拌による摩耗試験に供される試験片に対して公転と自転との関係を任意に設定することができ、種々の試験環境に適応可能な簡易な構成の摩耗試験機を提供する。 - 特許庁
A test frame output from a test frame supply part 110 is sent to an up communication processing part 130 through a test frame insertion part 120, processed in a data non-rewriting mode to be output.例文帳に追加
試験フレーム供給部110から出力された試験フレームは、試験フレーム挿入部120を介して上り通信処理部130に送られ、データ非書き換えモードでの処理を施された後で出力される。 - 特許庁
Furthermore, an air supply means 40, by which air for a test is supplied into a space in which the sub-insertion part 4 is sealed, is provided.例文帳に追加
さらに、サブ挿通部4を封緘している空間に検査用の空気を供給する空気供給手段40を設けた。 - 特許庁
When the mycelium is proliferated, the mycelium is inoculated into the culture medium of a test tube mainly composed of sawdust of a broad-leaved tree and the mycelium is cultured at about 20°C.例文帳に追加
菌糸が増殖すると広葉樹木屑を主とした試験管培地に菌糸を接種して約20℃で培養する。 - 特許庁
A selection signal sl2 is set in a test mode, and an output signal S22 is selected by the selector 24, and a characteristics extracting part 23 is by-passed.例文帳に追加
選択信号sl2はテストモードに設定され、セレクタ24で出力信号S22が選択され、特徴抽出部23がバイパスされる。 - 特許庁
A leg, which is smaller than the aircraft leg assumed by the existing apparatus, is fixed to the lower part of the leg support 20, and the drop test is performed.例文帳に追加
既存装置が想定する航空機脚より小型の脚を、脚支持体20の下方に固定して、落下試験を行う。 - 特許庁
After the PDP 10 is formed, the PDP 10 is temporarily fixed to the chassis 20 and the light-on test of the PDP is carried out in the temporarily fixed state.例文帳に追加
PDP10形成後に、シャーシ20とPDP10とを仮固定し、その仮固定状態でPDPの点灯試験を行なう構成とする。 - 特許庁
In the test, when the angle is around 0°, the correction is succeeded and it is determined and outputted to be 'highly correct' (step S604).例文帳に追加
この検定時、角度が0度付近であれば、補正は成功し、「正当性が高い」と判断し出力する(ステップS604)。 - 特許庁
Each time the test is run, the input is processed, and the current output is compared to the content of Output file. 例文帳に追加
テストが実行されるそれぞれのタイミングで、入力が行われ、その時点の出力結果を Output ファイルの内容と比較します。 - NetBeans
After completion, test run processing is performed (step S3) and when registration is applied for from the user computer, registering processing is performed (step S7).例文帳に追加
完成後、テストラン処理が行われ(ステップS3)、ユーザコンピュータから登録申し込みがあれば、登録処理を行う(ステップS7)。 - 特許庁
If the server is not in a stopping state, a transmission test is performed, and the effectiveness/ineffectiveness of transmission setting is judged (S72-84).例文帳に追加
サーバ停止中でなければ、送信テストを行ない、その結果に基づき送信設定の有効/無効を判断する(S72〜84)。 - 特許庁
If the substance is clearly concluded to include skin sensitization in Priority 1 with the test as the basis even though the ratio is unknown, the substance is determined as Category 1.例文帳に追加
Priority1 でその試験を根拠として皮膚感作性がある旨が明らかに結論づけられている場合は、区分 1 とする - 経済産業省
The self-diagnostic result and the test condition are collated each time the self-diagnostic result by a self-diagnostic function is obtained, and the lot information of the product performed with the test on the test condition affected by the self-diagnostic result is output.例文帳に追加
前記自己診断機能による自己診断結果が出る度に、前記自己診断結果と、前記試験条件とを照合し、前記自己診断結果による影響を受ける試験条件にて試験を行った製品のロット情報を出力する。 - 特許庁
A remote test repeater 18 is provided in the fire alarm receiver 2 for the house and when a test signal designated with the present address is received from the remote test indicator 5a, fire sensors 20-1 to 20-n are remotely tested to transmit the tested result as a response.例文帳に追加
遠隔試験中継器18は住戸用火災受信機2に設けられ、遠隔試験指示器5aから自己アドレスを指定した試験信号を受信した際に、火災感知器20−1〜20−nを遠隔試験して試験結果を応答送信する。 - 特許庁
After having passed through vapor deposition processes (c) to (f) to vapor-deposit the organic layer and electrode, a test process (g) to perform a predetermined test to the vapor-deposited organic layer and electrode is equipped, and a sealing process (h) is performed after the test process.例文帳に追加
基板に有機層及び電極を蒸着する蒸着工程(c)〜(f)を経た後に、この蒸着された有機層及び電極に対して所定の検査を行う検査工程(g)を備え、該検査工程の後に封止工程(h)を行う。 - 特許庁
When a test history exists at the time of conducting the test, a backup memory control part 4 selects a backup memory 3 storing pertinent switching information, switching information is transferred to a switching information storage memory 5 from the backup memory 3, and the test is conducted.例文帳に追加
試験実行時、試験履歴がある場合、該当するスイッチング情報を格納するバックアップメモリ3をバックアップメモリ制御部4により選択し、そのバックアップメモリ3よりスイッチング情報格納メモリ5にスイッチング情報を転送し、試験を実施する。 - 特許庁
As for the question, a user selects one piece of music from among a plurality of test listening pieces of music, and when a test listening piece button 104a on a screen is operated, the test listening piece corresponding to the operation is transmitted to the terminal unit from the server device.例文帳に追加
この質問は、複数の試聴曲の中から一つの曲をユーザが選択するものであり、画面上の試聴曲ボタン104aが操作されると、同操作に対応した試聴曲がサーバ装置から端末装置に送信される。 - 特許庁
Specification file information of every test item 11 which is described in the inspection specification 13, is extracted from a specification file 1 being extracted from the test program, whereby the inspection specification 13 of the test program can be created automatically, accurately and rapidly.例文帳に追加
テストプログラムから抽出したスペックファイル1から、検査仕様書13に記述する各テスト項目11毎のスペックファイル情報を抽出することにより、テストプログラムの検査仕様書13を自動的で正確かつ迅速に作成することができる。 - 特許庁
To provide an image recorder that can accurately calculate an amount of shifted angle of a recording head based on a mutual relationship of test patterns even when the test pattern is contaminated, dust is stuck to the test pattern, or a trouble such as a broken nozzle, position shift in deposition or the like occurs.例文帳に追加
本発明の目的は、テストパターン上の汚れやゴミ、また、ノズル抜けや着弾位置ずれ等の欠陥が生じても、正確に記録ヘッドの角度ずれ量を相互の関係をもとに算出できる画像記録装置を提供することである。 - 特許庁
A light receiving/emitting sensor 76 is disposed below a detection window 74, and receives light reflected from the test piece disposed opposite to the detection window after the light is projected to the test piece and measures the color tone of color development of the test piece on the basis of the intensity of the reflection light.例文帳に追加
また、検出窓74の下側には、その位置に対向して配置される試験片に光を入射し、反射した光を受光し、その反射強度から、試験片の発色の色調を計測する受発光型センサ76が配置される。 - 特許庁
Since the dolly 13 is only located in the rear of a test vehicle 14 in moving direction when testing the vehicle, if the dolly 13 is separated from the test vehicle 14 in consideration of a stopping distance of the dolly 13, the test vehicle 14 moves closer to a barrier 17.例文帳に追加
ドーリー13は試験用車両14の試験時の移動方向後方にのみ配置されるものであることから、ドーリー13の停止距離を考慮して試験用車両14から切り離しても、試験用車両14はバリア17に十分に近づいた状態となる。 - 特許庁
The inclination adjustment of the test surface 27a is performed at each movement based on the forming position of the alignment light figure of the test surface light, and each shape classified by the region on the test surface 27a is determined successively based on the interference fringes classified by the region acquired thereby.例文帳に追加
移動ごとに、被検面光のアライメント光像の形成位置に基づき被検面27aの傾き調整を行なうとともに、これにより得られた領域別干渉縞に基づき被検面27aの各領域別形状を順次求める。 - 特許庁
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