「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

The initialization function is responsible for allocating and populating test resources, such as photomaps and LUTs, and for creating a stored photoflo which will be executed by the test function.例文帳に追加

初期化関数は、フォトマップや LUT 等のテストのリソースを確保し、割り当てる責任や、テスト関数が実行する格納される photoflo を生成する責任を負う。 - XFree86

A test block 28 includes textures 25 which are contained in an original image and its corresponding test image, and FFT(fast-Fourier transformation) is applied to every pixel included in the block 28.例文帳に追加

オリジナル画像及び試験画像内のテキスチャー２５を含むように試験ブロック２８を設定し、この試験ブロック内の各ピクセルをＦＦＴする。 - 特許庁

If discrimination at S7 shows that it's on a high-limit test, S10 determines whether temperature of a thermostat is higher than a temperature set for the test directed by a fryer controller.例文帳に追加

Ｓ７の判別でハイリミットテスト中であれば、Ｓ１０で、サーミスタの温度がフライコンから指示されたテスト用の設定温度以上か否かが判別される。 - 特許庁

TEST METHOD FOR ELECTRICALLY REWRITABLE NON-VOLATILE MEMORY, AND INFORMATION RECORDING MEDIUM IN WHICH TEST PROGRAM OF ELECTRICALLY REWRITABLE NON-VOLATILE MEMORY IS RECORDED例文帳に追加

電気的書換可能な不揮発性メモリのテスト方法および電気的書換可能な不揮発性メモリのテストプログラムを記録した情報記録媒体 - 特許庁

To provide a memory test circuit having a BIST circuit, which is, for example, capable of reducing imbalances in application of DC stress to memory cells when used in burn-in test.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路を有するメモリテスト回路において、例えばバーンイン試験に利用する場合に、メモリセルへのＤＣストレス印加の偏りを抑制可能にする。 - 特許庁

In formation of the test piece made of the same material as a workpiece, the size of the test piece is set to allow its storage in an adsorption tube container mountable on a gas chromatograph mass spectrometer.例文帳に追加

被加工材料と同一材料の試験片をガスクロマト質量分析装置に装着できる吸着管容器に収容できるサイズに作製する。 - 特許庁

This IC tester is configured so as to carry out testing on test objects by mounting them on at least two or more test heads.例文帳に追加

本発明は、少なくとも２以上のテストヘッドに、被試験対象が取付けられ、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

When the constructor appropriately carries out the test items written in the test instruction, the number of achievements is accumulated and stored in an achievement storage part DB 2.例文帳に追加

施工者が検査指示書に記載された検査項目を適正に実施すると実績記憶部ＤＢ２に実績回数が累積して記憶される。 - 特許庁

A storage device section 40 stores a test result of a test performed for a memory device under first environment (e.g. environment in which temperature is set to 100°C).例文帳に追加

保存装置部４０は、第１環境（例えば、温度が１００℃に設定された環境）下においてメモリデバイスに対して行う試験の試験結果を保存する。 - 特許庁

Further, a plurality of the wafers W are continuously tested, whereby the external appearance test of the wafer W is performed in a standby time of the probing test of a next process.例文帳に追加

また、複数枚のウエハＷを連続的に検査することで、ウエハＷの外観検査を次工程であるプロービングテストの待機時間に行う。 - 特許庁

A test signal is propagated along the signal path, whereby the test signal couples to the molecular binding layer, and in response, exhibits a signal response.例文帳に追加

検査シグナルをこのシグナル経路伝いに伝搬し、これによりこの検査シグナルはこの分子結合層にカップリングし、そして応答してシグナル応答を示す。 - 特許庁

The construction of the 42.8-kilometer test line is three months ahead of schedule, so the company may be able to initiate a test run as early as September.例文帳に追加

42.8キロの実験線の建設が予定より３か月前倒しになっているので，同社は早ければ９月にも走行試験を開始できるかもしれない。 - 浜島書店 Catch a Wave

To enable a user to easily register test data which is transmitted to a process control computer, and to enable a user to perform a test even if the operation condition is not the same as that of an existing computer or no existing computer is present.例文帳に追加

プロセス制御用計算機に送信するテストデータを簡単に登録でき、しかも既設計算機とは運転状況が異なる場合や既設計算機がない場合でもテストを行えるようにする。 - 特許庁

Also, the test device main body 1 is so configured that a waveform of a pattern signal is multiplied in the socket substrate and is connected to terminals of the ICs as test objects through a scramble part which can selectively change over the signal accelerated by the multiplication.例文帳に追加

ソケット基板においてパターン信号の波形を逓倍し，逓倍により高速化した信号を選択切替えられるスクランブル部を介して試験対象のＩＣの端子と接続するよう構成する。 - 特許庁

A test operation sequence in which a complicated operation is divided into every movement is executed sometimes, and the presence or absence of any abnormality is judged based on an acoustic signal or a vibration signal at the time of the test operation.例文帳に追加

複雑な動きを１つ１つの動きに分離したテスト動作シーケンスを時々実行し、そのテスト動作時の音響信号あるいは振動信号に基づいて異常の有無を判定する。 - 特許庁

A crack is produced in the test piece 2 by an increase in the load and the thin film pattern is cut but the cutting of the thin film pattern is detected by the material testing machine 1 and the displacement and the test load at this point of time are measured.例文帳に追加

荷重の増加によって試験片２にクラックが入り薄膜パターンが切断されるが、前記材料試験装置１により切断が検知され、この時点の変位、試験荷重が測定される。 - 特許庁

The device is equipped with a pressure vessel (test chamber) 2, which stores humidifying water 4 and also is capable of having a test sample 8 to be installed therein, and the inside of the pressure vessel 2 is constituted to have an additive gas to be introduced.例文帳に追加

加湿水４を貯溜するとともに内部に試料８を設置可能な圧力容器（試験槽）２を備え、この圧力容器２の内部には添加ガスを導入可能に構成されている。 - 特許庁

When a burn-in test is set, a test control signal SW is input to a booster switch control circuit 15, a Hi signal is output from an inverter 22 and nodes B, D are fixed to the Hi level.例文帳に追加

バーンインテストが設定されると、テスト制御信号ＳＷがブースト切り替え制御部１５に入力されてインバータ２２からＨｉ信号が出力され、ノードＢ，ＤがＨｉレベル固定される。 - 特許庁

A volume value is set at an initial value (S101), a pure tone signal of a predetermined frequency is output as a test signal from a speaker (S102), and an output test signal is picked up by a microphone (S103).例文帳に追加

ボリューム値を初期値に設定して（Ｓ１０１）、所定周波数の純音信号をテスト信号としてスピーカから出力し（Ｓ１０２）、出力されたテスト信号をマイクロホンで収音する（Ｓ１０３）。 - 特許庁

Since the test against whole memory spaces which a microcomputer has is realized without being affected by the actual address of RAM 3, test ROM is not required and inspection with a small pin is realized.例文帳に追加

この構成により、ＲＡＭ３の実際のアドレスに左右されることなく、マイクロコンピュータの持つ全メモリ空間に対するテストが可能となるため、テストＲＯＭを必要とせず、小ピンでの検査が可能となる。 - 特許庁

After that, a magnetic disk device 10 determines whether the state of the head is abnormal from a test write result stored in a test write result table 12a, and finishes processing as it is when the state is not abnormal.例文帳に追加

その後、磁気ディスク装置１０は、試験ライト結果テーブル１２ａに記憶された試験ライト結果から、ヘッドの状態が異常であるか判断し、異常でない場合には、そのまま処理を終了する。 - 特許庁

To solve a problem in a magnetic particle flaw detection test wherein the magnetic particle pattern that is applied to an inspection surface and adsorbs to and accumulates on a flaw is hidden in the magnetic powder precipitated from the test liquid and the detection of the magnetic particle pattern is difficult.例文帳に追加

磁粉探傷試験において、検査面に適用されキズに吸着して集積した磁粉模様が、検査液から沈殿した磁粉の中に隠れて、磁粉模様の検知が困難となっている。 - 特許庁

The connection to this protective relay 2 is switched from a main circuit side to a test power source 7 side by a switch 8 when the relay 2 is inspected, and a test current is supplied to the protective relay 2 to be operated.例文帳に追加

保護継電器２の点検時に、スイッチ８によって主回路側から試験電源７側に保護継電器２への接続を切り換え、保護継電器２に試験電流を与えて動作させる。 - 特許庁

The terminal pin 13 is used as a test pin being interposed with a clip 25 when a terminal board is fixed to the printed board 23 and a conducting/ insulating test is conducted on the printed board 23.例文帳に追加

この端子ピン１３は、端子台をプリント基板２３に固定してプリント基板２３上での導電性／絶縁性試験を行うとき、鰐口クリップ２５を挟むためのテストピンとして用いられる。 - 特許庁

In consequence of this determination, when it is normal, it is determined whether this product is a good product for changing functions after performing defect relieving for changing DRAM functions, assembly, a defect acceleration test, a selection test (step S10-S14).例文帳に追加

この判定の結果、正常の場合は、ＤＲＡＭ機能変更欠陥救済、組立、不良加速試験、選別試験を行った後に、機能変更良品か否かを判定する（ステップＳ１０〜Ｓ１４）。 - 特許庁

Immediately after a continuity test of the connector 3 is performed by the continuity test jig 7, an urethane sheet is passed through the groove 12a of the urethane sheet detecting jig 11, and the urethane sheet is wound around the connector 3.例文帳に追加

導通検査治具７によるコネクタ３の導通検査を行なった直後に、ウレタンシートをウレタンシート検出治具１１の溝１２ａに通してから、そのウレタンシートをコネクタ３に巻き付ける。 - 特許庁

When saliva or the like is supplied for the treating part in the test kit, the specimen is passed through the treating part and comes into contact with the test part after the viscosity of the specimen is reduced and bubbles are removed at the treating part.例文帳に追加

この検査具１１では、唾液等を処理部に供給すると、この検体が処理部を通り、処理部で検体の粘性の低減および気泡の除去がなされた後に検査部に接触する。 - 特許庁

In the formula (I), W0 is the test piece width of the steel panel, TS is the tensile strength of the steel panel and A is 0.00287×t0+0.0702 (wherein a unit of t0, t1 and W0 is mm and a unit TS is MPa and a unit of Pmax is N).例文帳に追加

Pmax／（t_1×W_0×TS) ≦Ａ×Ｒ （Ｉ） W_0：鋼板の試験片幅 TS：鋼板の引張強度 Ａ＝0.00287 × to ＋0.0702(t_0、t_1、W_0の単位はｍｍ、TSの単位はＭＰａ、Pmaxの単位はＮ） - 特許庁

A verification trace log when the fiber channels witch is in normal operation is prepared, the verification trace log is given to a fiber channel switch under a test, where the log is interpreted and executed, outputs a trace log at test and the operation of the fiber channel switch is verified by comparing the verification trace log with the test trace log.例文帳に追加

このファイバチャネルスイッチが正常に動作している場合の検証用トレースログを用意して、検証用トレースログを、テストをおこなうファイバチャネルスイッチに入力し、解釈・実行させて、テスト時トレースログを出力し、検証用トレースログと、このテスト時トレースログとを比較することにより、ファイバチャネルスイッチの動作を検証する。 - 特許庁

In the ground test method, after the ground test machine 1 is vertically downward rotated and interpenetrated in the state that the load plate 3 is directed downward from the ground 15 and the load plate 3 is positioned at prescribed depth in the ground 16, a quantity of settlement of the ground test machine 1 is measured in the state that a weight 13 is mounted on the load mounting plate 4.例文帳に追加

地盤試験機１を地上１５から荷重板３を下方に向けた状態で鉛直下方へ回転貫入してこの荷重板３を地盤１６中の所定深度に位置させた後、載荷板４上に重り１３を載置した状態の地盤試験機１の沈下量を測定する地盤試験方法。 - 特許庁

In a state in which a fuse judging signal S1 is high, first judgement is performed by making a test mode signal TEST1 'high', after that, in a state in which the fuse judging signal is 'high', a test mode signal TEST2 is made to be 'low', while second judgement is performed by making the test mode signal TEST2 'low'.例文帳に追加

ヒューズ判定信号Ｓ１がハイとなっている状態で、テストモード信号ＴＥＳＴ１をハイとして第１の判定を行い、その後、ヒューズ判定信号Ｓ１がハイとなっている状態で、テストモード信号ＴＥＳＴ２をロウとすると共に、テストモード信号ＴＥＳＴ２をロウとして第２の判定を行う。 - 特許庁

When the fine grain part content 3 is not more than 30%, according to the procedure shown in ranges A, B, a bleeding test of the improved soil 4 which is not hardened yet is performed on the improved soil 4 obtained by determining test mixing, to select a suitable solidifying material 19, and whether corrective mixing is required or not is determined using a strength test result.例文帳に追加

細粒分含有率３が３０％未満の場合、範囲Ａ、範囲Ｂに示す手順で、テスト配合を決定して得た改良土４に対してまだ固まらない改良土４のブリーディング試験を行って適切な固化材１９を選定し、強度試験結果を用いて修正配合の要不要を判断する。 - 特許庁

Considering response for a failure test that data 0, 1 during a test response are replaced by using logical variables indicating the presence of failures, the final state of the means for processing a test response TRA1 is indicated by using the logical variables.例文帳に追加

故障の有無を表す論理変数を用いてテスト応答中のデータ０、１を置換した故障テスト応答を考え、テスト応答処理手段ＴＲＡ１の最終状態をその論理変数を用いて表す。 - 特許庁

To determine the quality of an object under test, by initially performing a comparison of the object under test, by using an image as a template image which is obtained by photographing the state of the object under test, before being attached to its right place.例文帳に追加

本発明の目的は、被検物が正しい箇所に取り付けられる前の状態を撮像した画像をテンプレート画像とし、最初に被検物との比較を実施することで、被検物の良否を判定することにある。 - 特許庁

As an alternative, the test substance is detected by forming a complex (2nd complex) of a collected labeled test substance-nucleic acid ligand with a 2nd probe fixed to a solid phase and detecting the test substance based on the label in the 2nd complex.例文帳に追加

採取した標識被検物質−核酸リガンドと、固相に固定された第２プローブとの複合体（第２複合体）を形成させ、第２複合体中の標識に基づいて被検物質を検出してもよい。 - 特許庁

Basic test pattern data Db, e.g. a basic dot pattern or a basic lattice pattern, is stored in a memory 402 and a CPU 320 generates a variety of developed test patterns from the basic test pattern data Db.例文帳に追加

メモリ４０２に基本網点パターン、基本格子パターン等の基本テストパターンデータＤｂを記憶しておき、ＣＰＵ３２０によりこの基本テストパターンデータＤｂから多種多様な展開済みのテストパターンを生成する。 - 特許庁

Then a test signal inputting circuit 22 for inputting a test signal V TEST for testing the AD converter 7 into the AD converter 7 through the lines 18-1 to 18-n is provided.例文帳に追加

そして、ＡＤ変換器７をテストするためのテスト信号ＶTESTを、垂直信号線１８-1〜１８-nを通してＡＤ変換器７に入力するテスト信号入力回路２２を具備することを特徴としている。 - 特許庁

A test mode for performing data compression of test output data from a memory core part and transferring the test output data to a data input-output node 50 includes a normal mode and a fine mode, the degree of data compression of which is lower than that of the normal mode.例文帳に追加

メモリコア部からのテスト出力データをデータ圧縮した上でデータ入出力ノード５０へ伝達するテストモードは、通常モードと、通常モードよりもデータ圧縮度が低いファインモードとを含む。 - 特許庁

To test step-out or the like in a short time, by generating a test pattern, which is specified in verification of faults such as the step-out in a high-speed serial transfer device, and by successively transferring the test pattern in a target device.例文帳に追加

高速シリアル転送デバイスでの同期外れ等障害の検証に特化した試験パターンを作成して対象装置内で連続的に転送することで、同期外れ等を短時間に検証可能とする。 - 特許庁

To rapidly regulate a temperature in a test tank to a predetermined tolerance temperature by an extremely simple constitution in fire retardancy testing equipment equipped with the test tank where a substance to be tested of a fire retardancy test is burnt.例文帳に追加

難燃性試験の被試験物が内部で燃やされる試験槽を備える難燃性試験装置において、ごく簡易な構成により、前記試験槽内の温度を速やかに所定の許容温度に調節できること。 - 特許庁

To make fitness to a specification coincide with the acceptance result of a test, even when the sequence among communication data or there is a change in timing, in the range of the specification in a test to a test object device accompanied by transmission/reception of data.例文帳に追加

データの送受信を伴う試験対象装置への試験において、通信データ間の順序やタイミングが仕様の範囲内で変化した場合でも、仕様への適合性と試験の合否結果を一致させる。 - 特許庁

To improve the efficiency of IDDQ test, and to shorten the test time, even when the IDDQ (current at a stationary time) test having different conditions is repeatedly carried out many times for analysis or verification.例文帳に追加

解析や検証のために、条件を異ならせた多数回のＩＤＤＱ（静止時電流）テストを繰り返し実施するような場合においても、ＩＤＤＱテストの効率を向上させ、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

When a calibration signal SC is valid, a test signal generation part 1 outputs a test signal ST, and a selection part 3 applies the test signal ST to a CDS circuit 4 instead of the pixel output signal of an image sensor 2.例文帳に追加

キャリブレーション信号ＳＣが有効のとき、テスト信号発生部１はテスト信号ＳＴを出力し、選択部３はイメージセンサ２の画素出力信号に代えてテスト信号ＳＴをＣＤＳ回路４に与える。 - 特許庁

The imaging apparatus has a test operation mode for checking a connection state, and is configured to output a result obtained by processing the digital signal generated by the test signal generation circuit from a digital image output interface in a test mode state.例文帳に追加

撮像装置に接続状態をチェックするテスト動作モードを設け、テストモード状態では該テスト信号発生回路が発生するデジタル信号を処理した結果をデジタルの画像出力インターフェースから出力する。 - 特許庁

One test in tests being related by second relation information is selected for tests related by the second relation information as a test used for the regression test to be made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験に用いる試験として、第２関係情報によって関係付けられた試験に関しては、第２関係情報によって関係付けられた試験のうち、１つの試験を選択する。 - 特許庁