「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

The system automatically generates a test program and an analogue section test pattern of a mixed-signal LSI to be tested by a digital section test program of the mixed-signal LSI to be tested, and an analogue core test program model file and an analogue core test pattern model file which are retrieved based on an analogue core information file which is retrieved from an analogue core test database.例文帳に追加

被試験ミックスドシグナルＬＳＩのデジタル部テストプログラムと、アナログコアテストデータベースから取り込まれるアナログコア情報ファイルに基づいて取り込まれるアナログコアテストプログラム雛型ファイル及びアナログコアテストパタン雛型ファイルと、によって被試験ミックスドシグナルＬＳＩのテストプログラム及びアナログ部テストパタンを自動生成するシステム及びそのシステムをプログラムとして記録した記録媒体。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which has the test waveform creating part 3 for creating the waveforms for the test to be fed to a semiconductor to be tested 1, is provided with a test log circuit 6 for extracting an internal signal created at a midpoint in a process in which the test waveform creating part 3 creates a final waveform for the test and outputting the internal signal to the outside of the test waveform creating part 3.例文帳に追加

被試験半導体１に送り込むための試験用波形を生成する試験用波形生成部３を有する半導体試験装置に、前記試験用波形生成部３が最終的な試験用波形を生成する過程の途中で生成する内部信号を取り出し、前記試験用波形生成部３の外部へ出力するテストログ回路６を設けた。 - 特許庁

As a result, a test program can be easily changed and an inspection circuit or the like is not required.例文帳に追加

これにより、テストプログラムの変更が容易になり、且つ、検査回路等が不要となる。 - 特許庁

The display marker 3 is thereby written clearly on a film in the radiographic test.例文帳に追加

これにより、透過試験においてフィルム上に表示マーカ３を明記することができる。 - 特許庁

A measurement cell 8, which has a capillary tube 9, is fitted in the upper part of the test chamber 3.例文帳に追加

毛管９を有する測定セル８が検査チャンバ３の上部に嵌め込んである。 - 特許庁

There is also a combination of the test piece for detecting the specimen in the liquid sample and a meter.例文帳に追加

液体サンプル中の検体の検出用の試験片とメーターとの組み合わせもある。 - 特許庁

To easily and accurately test running of a sports vehicle in which a driver's seat is a bucket seat.例文帳に追加

運転席がバケットシートのスポーツ車両の走行試験を容易にかつ正確に行う。 - 特許庁

In a test mode, whether or not a plurality of fixed keys 7 can be successively input is checked.例文帳に追加

テストモードにおいて、複数の固定キー７を順に入力可能か否かを確認する。 - 特許庁

To solve the problem that an inspection time required for scan test increases when a circuit scale of an LSI is increased.例文帳に追加

ＬＳＩの回路規模が増大すると、スキャンテストにかかる検査時間が増大する。 - 特許庁

A test data specification is updated based on a restriction condition of each extracted execution path.例文帳に追加

抽出された各実行経路の制約条件に基づいて、テストデータ仕様を更新する。 - 特許庁

A visual inspection apparatus 10 is primarily composed of a main unit 12 and a test unit 14.例文帳に追加

外観検査装置１０は、主にメインユニット１２と試験ユニット１４とから構成される。 - 特許庁

Next, the cut test piece 21 is immersed in measuring oil 23 until bubbles disappear.例文帳に追加

次に、切り出した供試体２１を計測用油２３に泡が出なくなるまで漬け込む。 - 特許庁

This visual inspection apparatus 10 is chiefly constituted of both a main unit 12 and a test unit 14.例文帳に追加

外観検査装置１０は、主にメインユニット１２と試験ユニット１４とから構成される。 - 特許庁

For other than a test mode, a defective word line is replaced by a spare word line contained in a spare block.例文帳に追加

テストモード以外では、欠陥ワード線はスペアブロックに含まれるスペアワード線で置換される。 - 特許庁

When a test signal falls, data writing is performed after inputting writing data.例文帳に追加

テスト信号が立ち下がると、書き込みデータを入力した後にデータ書き込み動作を行う。 - 特許庁

The physiologically active material in a test liquid is treated through the use of the capture beads.例文帳に追加

この捕捉ビーズを用いて試験液中の前記生理活性物質の処理を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which has durability for disturb refresh and of which a test time is short.例文帳に追加

ディスターブリフレッシュに強く、テスト時間が短くて済む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a small and high integrated semiconductor device in which package test is performed readily and surely.例文帳に追加

実装検査が容易・確実で小型かつ高集積度の半導体装置の提供。 - 特許庁

To accurately perform an operation test even when operation guarantee temperature is set to be high.例文帳に追加

動作保証温度が高く設定されている場合でも、動作試験を精度よく行う。 - 特許庁

In the same way, an output side of a gate circuit 30 is connected to a control test circuit 40.例文帳に追加

同様に、ゲート回路３０の出力側が制御試験回路４０に接続される。 - 特許庁

A test object 100 is mounted in such a way as to extend from a stay 50a to a stay 50b.例文帳に追加

試験対象物１００をステイ５０ａとステイ５０ｂに架け渡すように載置する。 - 特許庁

The temperature at an outer peripheral surface of a test vessel 5 is measured with a first temperature sensor 11.例文帳に追加

第１温度センサ１１により試験容器５の外周面の温度を測定する。 - 特許庁

After completion of the operation test, the wafer is diced to obtain individually separated integrated radio circuit devices 100.例文帳に追加

動作試験の完了後に複数の無線集積回路装置１００をダイシングする。 - 特許庁

To perform the operation confirmation test of an update program in an environment where actual transaction is simulated.例文帳に追加

実際の取引を模擬した環境で、更新プログラムの動作確認テストを行う。 - 特許庁

To provide a test jig for a metal-enclosed switch gear which is used for testing a current transformer.例文帳に追加

変流器試験などを試験する金属閉鎖型スイッチギヤ用試験治具を提供する。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To realize a semiconductor test system with high throughput, which is completely automated and free from an operator.例文帳に追加

オペレータフリーな完全自動化された高スループットな半導体検査システムを実現する。 - 特許庁

A conversion circuit part 24 is provided between the test mode circuit 23 and the common control part 28.例文帳に追加

テストモード回路部２３と共通制御部２８との間に変換回路部２４を設ける。 - 特許庁

This manipulator 102 is a manipulator for the test head 108 connected to one end part of a cable 104.例文帳に追加

ケーブル１０４の一端部に接続されたテストヘッド用１０８のマニピュレータ１０２である。 - 特許庁

A test section 102 detects a defective cell in which a signal is not stored adequately.例文帳に追加

検査部１０２では、信号を正常に記憶していない不良セルの検出を行う。 - 特許庁

For testing the measured pin Di, a test mode signal TST is inputted.例文帳に追加

被測定ピンＤｉのテストを実施する場合には、テストモード信号ＴＳＴを入力する。 - 特許庁

An EDS (Excel Data Sheet) file for text execution is prepared on the basis of content of test.例文帳に追加

テストの内容に基づき、テスト実行のための情報であるＥＤＳファイルを作成する。 - 特許庁

Its test result is transferred to an OS kernel part through a message transmitting/receiving part 43-1.例文帳に追加

試験の結果はメッセージ送受信部４３−１を介してＯＳのカーネル部へ渡される。 - 特許庁

The invention further is directed to a method of evaluating the transfer properties of such a test pattern 1.例文帳に追加

さらに，前述のテストパターン１の転移特性を評価する方法へ向けられる。 - 特許庁

Prior to this application, the coating material is applied on a trial stage 32 to perform test coating.例文帳に追加

この塗布に先立ち塗布剤が捨て打ちステージ３２に捨て打ちされテスト塗布が行われる。 - 特許庁

Correction value of feeding amount is determined by examining print results of the test pattern.例文帳に追加

このテストパターンの印刷結果を調べることによって、各送り量の補正値を決定する。 - 特許庁

Then at a step 406, the test pattern is printed on the printed pale-blue ground.例文帳に追加

そして、ステップ４０６で、印字した薄青色の下地の上にテストパターンを印字させる。 - 特許庁

In the test method, a tester (T) connectable of an integrated circuit (CI) to be tested is used.例文帳に追加

本方法は、試験されるべき集積回路(CI)に接続され得るテスタ(T)を使用する。 - 特許庁

It should be noted that even if the result of the pharmacological test is submitted afterward, the reasons for refusal are not overcome. 例文帳に追加

なお、薬理試験結果を後で提出しても、拒絶理由は解消しない。 - 特許庁

Since description of the STAB program is not required for the test target program, the program becomes simple.例文帳に追加

また、テスト対象プログラムにスタブプログラムの記述が不要になり、プログラムが見易くなる。 - 特許庁

The quenching test apparatus 10 is provided with a testing member 20 and a box body 30.例文帳に追加

本発明の焼入れ試験装置１０は、試験部材２０および筐体３０を有する。 - 特許庁

Further, this test piece is the one used for this method.例文帳に追加

また、本発明の試験片は、上記本発明方法を実施する際に用いる試験片である。 - 特許庁

The bottom of the box is provided with a slit so that a test paper extruding arm can be moved.例文帳に追加

またそのカセットの底には試験紙押出しアームが移動できるスリットが設けられている。 - 特許庁

Thus, it is possible to test the two communication systems by using one RF channel.例文帳に追加

これにより、一つのＲＦチャネルで２つの通信方式を試験することが可能となる。 - 特許庁

This system is mainly configured of a transmitting mechanism 200, a film attachment device 300 and a test device 400.例文帳に追加

主に伝送機構２００、貼膜装置３００および検査装置４００からなる。 - 特許庁