「Test System」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

To realize a test system capable of testing a tested object for decoding encode data with an IC testing device.例文帳に追加

エンコードデータをデコードする被試験対象を、ＩＣ試験装置で試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide an image processing system in which unevenness correction processing can be performed in a predetermined region without using a test pattern.例文帳に追加

テストパターンを使わずに、所定の領域においてむら補正処理を行うことができる画像処理システムを提供する。 - 特許庁

Each test panel is inoculated with reagents, that is, broth-suspended organisms, and placed into the instrument system.例文帳に追加

各試験パネルに試薬、すなわち、ブイヨン中に懸濁された有機体を接種し、試験パネルを計器システム内に配置する。 - 特許庁

COMPOUND ALARM BOARD FOR APARTMENT COMPLEX, ALARM SYSTEM FOR APARTMENT COMPLEX, AND TEST PROGRAM FOR THIS COMPOUND ALARM BOARD例文帳に追加

共同住宅警報複合盤、共同住宅警報システム及び共同住宅警報複合盤の試験プログラム - 特許庁

SWITCHING TEST METHOD FOR DUPLEX COMPUTER SYSTEM, MONITORING DEVICE FOR IT, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

二重化コンピュ−タシステムの切替試験方法ならびにそのための監視装置およびコンピュ−タ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide an optical time-domain reflectometry (OTDR) system capable of performing a precision OTDR test by suppressing the fading noise.例文帳に追加

Fading Noiseを十分に抑えて、精度の高いＯＴＤＲ試験を行うことのできるＯＴＤＲ装置を提供する。 - 特許庁

A test card 30 is provided with a development language API module to be called from the development language of an IC card system.例文帳に追加

テストカード３０にはＩＣカードシステムの開発言語から呼び出される開発言語ＡＰＩモジュールが備えられている。 - 特許庁

To provide a device for generating dynamic stream for network analysis which transmits data stream in order to test and analyze a communication network, a communication system and traffic analysis.例文帳に追加

通信ネットワーク、通信システム、およびトラフィック解析を試験及び解析するためにデータストリームを送信すること。 - 特許庁

To reduce an overhead time of an LSI tester to effectively utilize an expensive test system resource.例文帳に追加

ＬＳＩテスタのオーバーへッド時間を削減することができ、それにより高価なテスト系リソースの有効活用を図ること。 - 特許庁

(b) Methods of handling, maintenance, and test of airframe accessory (including towing line and attach/remove system for a glider) 例文帳に追加

ロ　機体装備品（滑空機にあつては、曳航索及び着脱装置を含む。）の取扱い、整備方法及び検査方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a system including a non-invasive structure for injecting a test jitter into a data bit stream, and a method thereof.例文帳に追加

データビットストリーム中にテストジッタを注入するための非侵襲的な構造を有するシステムおよび方法の提供。 - 特許庁

To provide a system used for a stress corrosion cracking test capable of obtaining an accurate crack numeral value, and useful for evaluating and measuring tube inner wall crack.例文帳に追加

亀裂数値が正確で、管内壁亀裂の評価と計測に役立つ応力腐食割れ試験に用いるシステム。 - 特許庁

To provide a communication system and a communication method for preventing an illegal act when applied to a test.例文帳に追加

例えば試験に適用した場合に、不正行為を防止することが可能な通信システム及び通信方法を提供する。 - 特許庁

To provide a socket board circulating structure of a semiconductor device testing system capable of conveying a socket board to each test unit.例文帳に追加

各試験ユニットへソケットボードを搬送することができる半導体デバイステストシステムのソケットボード循環構造を提供する。 - 特許庁

To make it possible to automatically inspect also a test object system including a dynamic driving device.例文帳に追加

動的駆動装置を含むテスト対象システムでも自動的に検査を行うことができる自動検査装置を提供する。 - 特許庁

To perform the schedule implementation test of a job with the minimum work labor without changing the schedule definition or system time of day of a job.例文帳に追加

ジョブのスケジュール定義やシステム時刻を変更せず、最小の作業労力でジョブのスケジュール運用テストを行う。 - 特許庁

The test writing data consists of a plurality of logical blocks of a file system and is in a data size for one GOP of an MPEG2.例文帳に追加

試し書きデータは、ファイルシステムの複数論理ブロックからなり、且つ、ＭＰＥＧ２の１ＧＯＰ分のデータサイズとされる。 - 特許庁

This defibrillator 30 includes a test signal generator and a defibrillator state indicator and is provided with an automatic self-testing system 42.例文帳に追加

試験信号発生器と除細動器状態インジケータとを含む、自動自己試験システム(42)を備えた除細動器(30)。 - 特許庁

To reduce manhours by automatically easily verifying equipment data before performing a simulation test of a system.例文帳に追加

システムのシミュレーションテスト等を実施する前に設備データを自動的に容易に検証できるようにし、工数の低減を図る。 - 特許庁

The system controller 20 determines the optimum recording light power from the recorded state of the test data when recording data.例文帳に追加

システムコントローラ２０は、試し書きの書込み状況から、記録データを記録する際の最適記録光パワーを決める。 - 特許庁

The output impedance of the semiconductor device at the terminal for test is matched to the impedance of a transmission system at testing time.例文帳に追加

試験用端子における半導体デバイスの出力インピーダンスを、試験時の伝送系のインピーダンスにマッチングさせる。 - 特許庁

To provide an event type test system having a method for accurately and simply controlling the calibration data of all pin cards.例文帳に追加

全てのピンカードの校正データを正確かつ簡単に管理する方法を有するイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

A system is further provided with a signal generator to transmit test signals to the far-end distal tip and reference electrodes.例文帳に追加

システムは更にテスト信号を遠位の先端の及び基準の電極へ伝送するために信号発生器を具備している。 - 特許庁

CONTROL MODULE AND CONTROL SYSTEM ACTING ON TEST ATMOSPHERE PARAMETER, METHOD FOR CONTROLLING MICROSCOPE APPARATUS AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

試験環境パラメータに作用する制御モジュールおよび制御システム、顕微鏡装置を制御する方法、および、コンピュータ・プログラム - 特許庁

RFID TAG, CONCRETE TEST SPECIMEN EQUIPPED WITH TAG AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND CONCRETE QUALITY CONTROL RFID SYSTEM例文帳に追加

ＲＦＩＤタグ及び該タグを備えるコンクリート試験片とその製造方法並びにコンクリート品質管理用ＲＦＩＤシステム - 特許庁

To provide a monitoring control system capable of performing monitoring control processing by an existing terminal, even during test processing.例文帳に追加

試験処理中でも、既設の端末による監視制御処理を実行できる監視制御システムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a test system and heater structure capable of testing respective integrated circuits at respective different temperatures.例文帳に追加

それぞれの集積回路をそれぞれ異なるテスト温度によって、テスト可能に処置するテストシステムとヒータ構造を提供する。 - 特許庁

The system then loops through the tests, measurements and test points, thereby generating a data structure on the fly.例文帳に追加

その後テスト、測定及びデータポイントをループし、データ構造をオンザフライで生成することにより上記課題を解決する。 - 特許庁

A monitoring according to the frequency includes the execution of a test cycle for a system to be monitored when predetermined requirements are satisfied.例文帳に追加

頻度ベースの監視は、所定条件が満足されたとき、被監視システムに対してテストサイクルを実行することを含む。 - 特許庁

To provide an image processing system capable of performing correction processing in a prescribed region without using any test patterns.例文帳に追加

テストパターンを使わずに、所定の領域において補正処理を行うことができる画像処理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system which stabilizes a contact condition of contact points between the device under test and a performance board.例文帳に追加

被試験デバイスとパフォーマンスボードとの接点の接触状態を安定させる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

LSSD is a kind of scan design which uses separate system and scan clocks to distinguish between normal and test mode. 例文帳に追加

LSSDはスキャン設計の一種であり、正常モードとテストモードとを区別するのにシステムクロックとスキャンクロックを別々に使う。 - コンピューター用語辞典

To provide a DUTIF connection system capable of connecting a DUTIF to a test head easily and automatically in a short time.例文帳に追加

ＤＵＴＩＦをテストヘッドに、短時間で、自動的に容易に接続できるＤＵＴＩＦ接続システムを実現する。 - 特許庁

At the reproduction, the impulse response h(t) of the recording/reproducing system (including disk) is derived by reproducing the test data at first.例文帳に追加

再生時、まずテストデータを再生して当該記録再生系（ディスクを含む）のインパルス応答ｈ（ｔ）を導出する。 - 特許庁

Plural individual verification test descriptions corresponding to plural peripheral circuits included in an integrated circuit, system verification test description for performing logic verification by simultaneously driving plural peripheral circuits, individual verification utilities for describing the contents of execution when individually verifying a command described in each individual verification test description, and a system verification utilities for describing the contents of execution at the system verification of a command described in each individual verification test description are prepared.例文帳に追加

集積回路に含まれる複数の周辺回路に対応した複数の個別検証テスト記述、該複数の周辺回路を同時に動作させて論理検証するためのシステム検証テスト記述、個別検証テスト記述に記述されたコマンドの個別検証時の実行内容を記述する個別検証用ユーティリティ、該個別検証テスト記述に記述されたコマンドのシステム検証時の実行内容を記述するシステム検証用ユーティリティを用意する。 - 特許庁

A value of an internal row address signal bit is set from an address buffer 2 according to the test control signal, and operations of a row selecting circuit 3 and a bit line peripheral circuit 4 are controlled by a row system control circuit 10 with a test controlling function according to the test control signal.例文帳に追加

このテスト制御信号に従ってアドレスバッファ（２）からの内部ロウアドレス信号ビットの値を設定し、かつテスト制御信号に従ってテスト制御機能付行系制御回路（１０）が行選択回路（３）およびビット線周辺回路（４）の動作を制御する。 - 特許庁

To provide a noise visualization system which improves the visual recognizability of noise visualization images that display the process of how noises are generated in the image of a test object by combining noise data obtained from the test object and designing date of the test object.例文帳に追加

本発明は、試験対象物から得られたノイズデータと該試験対象物の設計データとを合成し、ノイズ発生経路状況を試験対象物の画像中に表示したノイズ可視化画像の視認性を向上させるノイズ可視化システムを提供する。 - 特許庁

To provide a system-in-package test inspection device and a test inspection method capable of securing reliability by performing a high-speed/high-frequency test inspection by inputting an inspection signal from a signal wire between LSI chips, and by performing a non-defective inspection highly accurately.例文帳に追加

ＬＳＩチップ間の信号線から検査信号を入力することにより高速・高周波試験検査を行い、良品検査を高精度に行うことにより信頼性を確保することのできるシステムインパッケージ試験検査装置及び試験検査方法を提供する。 - 特許庁

This system detects the existence of the hindrance of the path that the above optical signal for a test has passed, by receiving this looped-back optical signal for a test with the network node device 10a at the root of transmission and determining the quality of the optical signal for a test with a determining device 11a.例文帳に追加

このループバックされた試験用光信号を送信元のネットワークノード装置１０ａが受信し、判定装置１１ａで試験用光信号の信号品質を測定することにより、試験用光信号が通過した経路の障害の有無を検出する。 - 特許庁

In this bar-code generation system, a test chart is printed by a printer 200 based on a test chart image 706 for printing a black bar and a white bar for the bar-code respectively with width of the different number of a plurality of dots, and the outputted test chart 704 is read by an image scanner 110.例文帳に追加

バーコード用の黒バーおよび白バーを、それぞれ複数の異なるドット数の幅で印刷するためのテストチャート画像７０６に基づいて、印刷装置２００でテストチャートを印刷し、出力されたテストチャート７０４をイメージスキャナ１１０で読み取る。 - 特許庁

A semiconductor testing system 1 includes: a test board 2 on which a semiconductor device 4 of an object to be tested is mounted; and a semiconductor testing device 3 which outputs test signals of the semiconductor device 4 to the test board 2.例文帳に追加

本発明の一形態に係る半導体試験システム１は、試験対象の半導体装置４が搭載される試験ボード２と、試験ボード２に半導体装置４の試験信号を出力する半導体試験装置３と、を備える半導体試験システムである。 - 特許庁

To realize an IC test system capable of correcting flexibly and simply the starting point of a test cycle between a master and a slave when operating a plurality of IC test devices cooperatively, and realize a timing adjusting method using it.例文帳に追加

複数の集積回路試験装置を協調動作させる場合において、マスタとスレイブとの間の試験周期開始点の補正を柔軟にかつ簡便に実現することの可能な集積回路試験システム及びそれを用いたタイミング調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a piping pulsating pressure test system which can inexpensively and securely perform a piping test by a water hammer phenomenon, by repeatedly simulating the pressure variations generated in the actual water hammer phenomenon, in performing the piping pulsating pressure test.例文帳に追加

本発明の課題は、配管脈動圧試験の際に、実際の水撃現象において発生する圧力変動を繰り返し模擬することにより、水撃現象による配管試験を安価で確実に実施することができる配管脈動圧試験システムを提供することにある。 - 特許庁

This system provides a personal computer programmed to be operated in a test period to a consumer who wants to use with a time limit, and this system is provided with a means for discounting by returning some rate of the shopping sum to the consumer when the consumer does the shopping through the Internet during the test period.例文帳に追加

試用期間のみ動作するようプログラムされたＰＣを希望消費者に期限付で提供し、その試用期間の間、インターネットショッピングをすると、そのショッピング額の何割かを消費者に還元してディスカウントする手段を設ける。 - 特許庁

To acquire detailed optical performance information held by a test optical system transmitted light wave without using a large-scale device, and to measure/evaluate the optical characteristic such as a light quantity distribution or wavefront aberration, when evaluating the test optical system.例文帳に追加

被検光学系の評価にあたり、大がかりな装置を用いることなく被検光学系通過光波が持つ詳細な光学的性能情報を取得することを可能とし、光量分布や波面収差等の光学的特性を測定・評価する。 - 特許庁