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「Test System」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test Systemの意味・解説 > Test Systemに関連した英語例文

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Test Systemの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3508



例文

To provide an image processing system in which unevenness correction processing can be performed with a predetermined color as an object without using a test pattern.例文帳に追加

テストパターンを使わずに、所定の色を対象としてむら補正処理を行うことができる画像処理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test system of a hydrazine-liquid thruster capable of visualizing and acquiring accurately a fluidization state on a catalyst layer of a propellant.例文帳に追加

推薬の触媒層での流動状態を可視化して正確に把握するヒドラジン一液スラスタの試験システムを提供する。 - 特許庁

A test system for testing objects to be tested, which process correlation dual sampling waveforms, is improved to acquire the present invention.例文帳に追加

本発明は、相関二重サンプリング波形を処理する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a client-server program simulator system and simulation method for efficiently performing load test for a server program.例文帳に追加

効率よくサーバプログラムの負荷試験を行うことのできるクライアント・サーバプログラムのシミュレータシステム及びシミュレーション方法を提供する。 - 特許庁

例文

Today's corporate trend of companies' mandating their employees to take the TOEIC test can be considered part of the total evaluation system in human resources.例文帳に追加

自社従業員にTOEIC受験を義務化する昨今の企業の動きは、トータル人事制度の一環であると考えられる。 - Weblio英語基本例文集


例文

Wayne Rogers, the chairman of an American company promoting the development of a maglev train system in the U.S., also went along on the test ride.例文帳に追加

米国でのリニア鉄道網の開発を促進する米国企業の会長であるウェイン・ロジャース氏も試乗に同行した。 - 浜島書店 Catch a Wave

But Tetravaal CEO Michelle Bradley (Sigourney Weaver) does not allow Deon to test his AI system with a police robot.例文帳に追加

しかし,テトラヴァール社のCEOであるミシェル・ブラッドリー(シガニー・ウィーヴァー)は,ディオンが警察官ロボットで彼のAIシステムを試すことを許可しない。 - 浜島書店 Catch a Wave

The system includes a first computer which is arranged in a software developing department for developing and testing softwares, to issue the test report, based on a test result performed in the software developing department; and a second computer which is arranged in a test report managing center, so as to acquire the test report issued by the first computer via a network, and to manage the acquired test report.例文帳に追加

ソフトウェアの開発及びテストを実行するソフトウェア開発部署に設置され、前記ソフトウェア開発部署で実行したテスト結果に基づいたテストレポートを発行する第1のコンピュータと、テストレポート管理センターに設置され、前記第1のコンピュータが発行したテストレポートをネットワークを介して取得し、取得したテストレポートを管理する第2のコンピュータとを有することを特徴とするテストレポート管理システムである。 - 特許庁

A system for performing the function test of the microcomputer by impressing a test signal by a tester to the microcomputer and detecting its expected value is provided with a test synchronizing signal generation circuit 1 generating the timing of detecting an input signal asynchronously inputted to the reference clock of the microcomputer as a test synchronizing signal, and the test synchronizing signal by the circuit 1 is supplied to the tester.例文帳に追加

マイクロコンピュータにテスタによるテスト信号を印加し、その期待値を検出することによりマイクロコンピュータのファンクションテストを行うものにおいて、マイクロコンピュータの基準クロックに対して非同期に入る入力信号を検出するタイミングをテスト同期信号として発生するテスト同期信号発生回路1を設け、テスト同期信号発生回路1によるテスト同期信号を前記テスタに供給する。 - 特許庁

例文

To provide a support system for generating test data which can easily generate the test data without any error in generating a test scenario that is essentially required for testing message transmissions within a programing structure, and for testing signal transmissions between personal computers with which a software test is executed.例文帳に追加

本発明は試験データ作成支援システムに関し、ソフトウェア試験をパソコン上で実施する際の装置間の信号疎通確認試験及び、プログラム構造内のメッセージ疎通確認試験時に必須となるシナリオ作成において、容易にかつ誤りなく作成することが可能な試験データ作成支援システムを提供することを目的としている。 - 特許庁

例文

To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.例文帳に追加

本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁

This semiconductor test system comprises a pattern memory storing the pattern data for generating a test pattern for a DUT(device under test) test, a DUT output signal evaluating means comparing an output signal with an expected signal and generating fail data when a noncoincidence occurs, the data fail memory storing the fail data caused by the noncoincidence, and a compressing means compressing the fail data.例文帳に追加

DUTテスト用のテストパターンを生成するためのパターンデータを格納するパターンメモリと、出力信号と期待信号を比較し、不一致があった場合にフェイルデータを発生するDUT出力信号の評価手段と、不一致に起因するフェイルデータを格納するデータフェイルメモリと、フェイルデータを圧縮する圧縮手段とにより構成される。 - 特許庁

When a tester easily operates the input-output device (CSL) 10 of the PC 1, the PC 1 executes the test instructed from the tester by transmitting and receiving test signals to and from the DUT 4 by controlling the operation of the TST 2 after decoding the subject matters of the test instructed to the testing system.例文帳に追加

試験者がPC1の入出力装置(CSL)10を簡易に操作し、本システムに指示する試験内容をPC1が解読処理した上で、TST2を動作制御してDUT4との間で試験信号を送受することにより、試験者が指示する内容の試験を実行する。 - 特許庁

Since the GPS satellite radio waves for test are generated on the basis of the GPS information, and the travel data is related to the GPS satellite radio waves for test and reproduced, it is possible to heighten accuracy in test results when overall communication performance and a navigation system are tested.例文帳に追加

GPS情報に基づいて試験用のGPS衛星電波が発生させられ、該試験用のGPS衛星電波に対応させて走行データが再生されるので、通信性能及びナビゲーションシステムの全体の試験を行ったときの試験結果の精度を高くすることができる。 - 特許庁

For eliminating bit errors in the LCU sensitivity test (known as a bit error rate(BER) test), the system detects a radio communication signal which possibly causes the bit error and interrupts the LCU sensitivity test during the period of detected radio interference.例文帳に追加

LCU感度性能試験(ビット誤り率(BER)試験としても知られている)中のビット誤りを抹消するために、本発明のシステムは、かかるビット誤りを引き起こす可能性のある混信信号を検出して、かかる検出された混信の期間中はLCU感度性能試験を中断する。 - 特許庁

The air-tight test system is equipped with a chamber 10, wherein a gas holder 1 is deployed as an object of airtight tests, dry ice 15 cooling inside of the chamber 10 concerned, and a piping 13 for test gases introducing a gas for airtight test into the gas holder 1 so as to serve its internal pressure becomes service pressure of the gas holder concerned.例文帳に追加

気密試験の対象であるガスタンク1が配置されるチャンバ10と、該チャンバ10内を冷却するドライアイス15と、ガスタンク1に、内圧が該ガスタンクの使用圧力となるように気密試験用のガスを導入する試験ガス用配管13とを備える。 - 特許庁

To increase the flexibility of test runs or test drives in a method of testing a vehicle or its partial system on a test bench or in a vehicle experiment, where interfaces to transmit force and torque are at least partially present in reality.例文帳に追加

テストベンチ上でまたは車両実験において、車両またはその部分システムをテストする方法であって、力伝達を行いかつトルク伝達を行うインターフェースが、少なくとも部分的に現実に存在する前記方法において、テスト走行またはテスト運転の柔軟性をさらに向上させる。 - 特許庁

To provide a triaxial linear motion stage and a test piece inspection device using it holding a predetermined test piece and comprising X-axis, Y-axis and Z-axis stages precisely moving the test piece in the X-axis, Y-axis and Y-axis linear directions of a rectangular coordinate system independently of one another.例文帳に追加

本発明は、所定の試片を支持し、その試片を直角座標系のX軸、Y軸、Z軸直線方向へ互いに独立的で、精密に移動させるX軸、Y軸、Z軸ステージなどを含む3軸直線運動ステージ及びそれを用いた試片検査装置に関する。 - 特許庁

The time Q is defined as the total time of the conveyance time Q_1 of a test pattern from the exposure position of the test pattern to a sensor and the time Q_2 since the test pattern is detected by the sensor until the color shift correction value calculated based on the detection results is set for the system and reflected to image formation.例文帳に追加

時間Qを、テストパターンの露光位置からセンサまでのテストパターンの搬送時間Q_1と、センサでテストパターンが検知されてから、検知結果に基づき算出される色ズレ補正値がシステムに対して設定され画像形成に反映されるまでの時間Q_2の合計時間とする。 - 特許庁

To provide a method and a system of making/grading test questions in which a test is effectively executed in a limited space, preventing a cheating, a server of making/grading the test questions, a portable respondent terminal device, a program, and a program to be mounted on the portable respondent terminal device.例文帳に追加

限られたスペースで、カンニングを防止しつつ、効率的に試験を実施することができる試験問題作成・採点方法およびそのシステム、試験問題作成・採点サーバ、携帯型解答者端末装置、プログラム、並びに携帯型解答者端末装置搭載用プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.例文帳に追加

ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁

This IC test system 10 carries out measurement tools 42A, 42B in a central control unit 20, and outputs measurement result files 44A, 44B being measurement results of devices under test by measurement conditions described in test programs 40A, 40B to a memory unit 22, together with the measurement conditions 48A, 48B.例文帳に追加

ICテストシステム10は、中央制御部20にて測定ツール42A、42Bを実行し、テストプログラム40A、40Bに記述された測定条件で被検査デバイスを測定した結果である測定結果ファイル44A、44Bを、測定条件48A、48Bとともに記憶部22に出力する。 - 特許庁

The component test system comprises a plurality of tray containing sections 12-15 (component containing sections) for containing a component while mounting on a tray Tr wherein the tray containing sections 12-15 are arranged to be used arbitrarily and properly as sections for containing the components before test and after test, respectively.例文帳に追加

部品をトレイTrに載置した状態で収納する複数のトレイ収納部12〜15(部品収納部)を有し、試験前後の部品をそれぞれ収納するための収納部として各トレイ収納部12〜15が任意に使い分け可能に構成されるように部品試験装置が構成されている。 - 特許庁

In a test planning system 1, a reading processing part 11 reads a test procedure sheet 21 from a file storage part F1 and reads plan basic information 22 and plan correcting information 23 from a file storage part F2 to generate ID information 24 of test procedure sheet in a file storage part F3.例文帳に追加

試験計画システム1では、読込み処理部11が、ファイル格納部F1から試験手順書21を、ファイル格納部F2から計画基本情報22および計画補正情報23を読み込んで、ファイル格納部F3に試験手順書ID情報24を生成する。 - 特許庁

The test module is configured to cause the clock input to be provided to the component at a first frequency, and the test module is configured to cause a first test to be performed on the component subsequent to the clock input being provided to the component at the first frequency and the operating system being booted.例文帳に追加

テストモジュールは、第1の周波数でクロック入力をコンポーネントに供給させるように構成され、またテストモジュールは、第1の周波数でクロック入力がコンポーネントに供給され、オペレーティングシステムが起動した後に、第1のテストをコンポーネントに対して実行させるように構成される。 - 特許庁

This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.例文帳に追加

表示操作部7の試験条件設定手段9で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部8の機器状態模擬手段11に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器2の状態が模擬される。 - 特許庁

In the hub, memory module, memory system and reading method and writing method, test writing and test reading can be carried out on all the memory modules, memory devices and memory units by bypassing identification information on the memory modules, memory devices and memory units in a test mode.例文帳に追加

ハブ、メモリモジュール、メモリシステム、及びこれについての読み込み方法及び書き込み方法は、テストモードである時には、メモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニット識別情報を無視することにより、全てのメモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニットにテスト書き込み又はテスト読み込みを行うことができる。 - 特許庁

To provide a test information management system reducing the burden of a visual check in a client side of a test by automatically performing a data input in a testing institution, a disclosure to the client side of the test, a logical check and data fixing.例文帳に追加

本発明の目的は、試験機関でのデータ入力から試験依頼者側への開示、ロジカルチェック、データ固定までを自動で行うことにより、試験依頼者側での目視等によるチェックの負担を減少させることができる試験情報管理システムを提供することにある。 - 特許庁

To provide an air-conditioning equipment monitoring system which dramatically reduces labor and time required for an operation test by performing control so that a communication relaying apparatus which is a target of the operation test outputs a failure signal and stops the output with respect to an air conditioner as a target of the test, and to provide the air conditioner suitable for the system.例文帳に追加

動作試験の対象である通信中継装置が試験の対象となる空気調和機に対して故障信号の出力及び出力停止を行わせるよう制御することによって、動作試験に掛かる手間を劇的に軽減させることのできる空調機器監視システムおよびこのようなシステムに好適な空気調和機を提供する。 - 特許庁

The system includes a test system 200 which comprises a first sensor 209 which measures the power drawn out from the chip, a control device 204 which calculates the test frequency by using the power drawn out from the measured chip, and a second sensor 209 which measures a chip velocity at the calculated test frequency.例文帳に追加

また、本発明は、チップによって引き出される電力を測定するための第1のセンサー209と、測定されたチップによって引き出される電力を用いて試験周波数を計算するための制御装置204と、計算された試験周波数でのチップの速度を測定するための第2のセンサー209とから成る試験システム200も含む。 - 特許庁

This remote operation system is provided with the radio station controllers 102 and 104 for controlling the radio channel of a first radio channel communication system, a mobile station 108 for a test for testing the radio channel controlled by the radio station controllers, and a remote operation device 110 for operating the radio station controllers, on the basis of test results outputted by the mobile station for a test.例文帳に追加

第1の無線回線通信システムの無線回線を制御する無線局制御装置102,104と、その無線局制御装置が制御する無線回線を試験する試験用移動局108と、試験用移動局が出力する試験結果に基づいて無線局制御装置を操作する遠隔操作装置110とを備える。 - 特許庁

The radio communication terminal 1 loads a radio communication system for test/a communication protocol stack for test of which the operations are not yet completely guaranteed and both of an operation confirmed radio communication system/the communication protocol stack for test of which the operations are already completely guaranteed and stores a log indicating detailed information of the operations of itself in a nonvolatile memory 11 for log collection.例文帳に追加

無線通信端末1は、未だ動作が完全に保証されない試験用無線通信方式・試験用通信プロトコルスタック、および、既に動作が完全に保証される動作確認済無線通信方式・試験用通信プロトコルスタックの両方を搭載し、自身の動作の詳細情報を示すログをログ採取用不揮発性メモリ11にストアする。 - 特許庁

This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture.例文帳に追加

この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ(PCシミュレータ)、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査(ECT)装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング(PWR系統の学習)、ループ試験装置(異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ)、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。 - 経済産業省

The module type test system includes a system controller 102 for controlling at least one site controller 104, and at least one site controller controls at least one test module 108 and a device (DUT 112) to be tested to which the module corresponds.例文帳に追加

モジュール式試験システムは少なくとも1つのサイトコントローラ104を制御するためのシステムコントローラ102を備え、少なくとも1つのサイトコントローラは少なくとも1つの試験モジュール108およびその対応する被試験デバイス(DUT112)を制御する。 - 特許庁

This new immunocyte control/differentiation factor gene search method utilizing the transduction of a gene into a Pax5-defected pro cell B is established to obtain a new cell T reconstruction test system, and the function of Rac1, ERK5 and the like are elucidated by the utilization of the test system.例文帳に追加

Pax5欠損プロB細胞への遺伝子導入を利用した新規免疫細胞制御・分化因子遺伝子探索法を確立し、新規T細胞再構築試験系を得ると共に、それを利用してRac1、ERK5等の機能解明を行なうことにより、課題を解決できた。 - 特許庁

This semiconductor storage 1000 is provided with a test mode setting circuit 6 which receives an external signal and can set plural test modes in serial, a voltage generating circuit 8, a column system control circuit 10, a row system control circuit 12, and a memory cell array 14.例文帳に追加

本発明に係る半導体記憶装置は、外部信号を受けて複数のテストモードをシリアルに設定することが可能なテストモード設定回路6、電圧発生回路8、コラム系制御回路10、ロウ系制御回路12、およびメモリセルアレイ14を備える。 - 特許庁

To provide a shaking system capable of compensation for influence of the reaction force of a test sample without requiring addition of an element leading to upsizing of the system and, further, capable of real-time compensation for the reaction force of the test sample in the direction of the rotation in the above compensation case.例文帳に追加

装置の大型化に結びつくような要素の付加を必要とせずに、供試体反力の影響を補償することを可能とし、またそのような補償において回転方向の供試体反力の実時間的な補償も可能とする加振装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing system which effectively tests a semiconductor integrated circuit by applying different test patterns to objects under test arranged in parallel without inviting large increase in cost of the system and a method.例文帳に追加

大幅な装置のコスト上昇を招かずに、並列に設けられた被試験対象に対して異なる試験パターンを印加することができ、効率的に半導体集積回路の試験を行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for reducing the start-up time of a system by making it possible to initialize the first region of an installed system memory during the test/initialization time of system firmware, and to start up an operating system (OS) by the system using the first region.例文帳に追加

システム・ファームウェアのテスト/初期化時間中に、インストールされたシステム・メモリの第1領域を初期化し且つシステムが第1領域を使用してオペレーティング・システム(OS)を起動することを可能にすることにより、システムの起動時間を短縮化するための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technique whereby a system for simulating an on-line system reproduces communication data similar to those in the on-line system, and a test and a training for remodeling are realized in the case of executing the training for the remodeling applied to the on-line system comprising nodes connected to a local area network.例文帳に追加

ローカルエリアネットワークに接続するノードにて構成されるオンラインシステムに対する改造や訓練を実施する場合、オンラインシステムを模擬したシステムにて、オンラインシステムと同様の通信データを再現し、改造に対する試験や訓練を実現する。 - 特許庁

The microscope apparatus 1 in a typical embodiment form is equipped with a microscope system 2 having a constituent element 5 to indicate at least one address, a control system 6 having two or more control modules 7, 8, 9 acting on two or more test atmosphere parameters in a test chamber 4 of the microscope system 2.例文帳に追加

典型的な実施形態による顕微鏡装置1は、少なくとも一つのアドレス指定可能な構成要素5を有する顕微鏡システム2と、顕微鏡システム2の試験室4における複数の試験環境パラメータに作用する複数の制御モジュール7、8、9を有する制御システム6とを備える。 - 特許庁

A job operation management control system 1 recognizes in which of normal and test operation modes a job is operated by referring to operation mode flag data 6 and when it is operated in the test mode, acquires time not from a system clock function 3 as a clock function of a computer system but a job operation management clock function 7 to generate unique time.例文帳に追加

ジョブ運用管理制御システム1は、動作モードフラグデータ6を参照し、通常およびテストのいずれの運用モードで動作するのかを認識し、テストモードの場合に、コンピュータシステムの時計機能であるシステム時計機能3からではなく、独自の時刻を生成するジョブ運用管理時計機能7から時刻を取得する。 - 特許庁

To provide a flicker noise test system that improves frequency response characteristics of measurement system components to ascertain characteristics of flicker noise of smaller devices, eliminates or controls electrical noise that may inversely affect the system and ensures the accuracy of DC measurements for the device under test.例文帳に追加

小型のデバイスのフリッカ雑音の特性を明らかにするために、測定システムの構成素子の周波数応答特性を良好にしたり、このシステムに悪影響を及ぼすおそれのある電気雑音を排除又は制御したり、試験状態にあるデバイスに対する直流測定を正確にしたフリッカ雑音試験システムを提供する。 - 特許庁

A reagent system is used for the so-called "intrinsic control of an analytical element", specially a test strip, containing organic N-oxide or a nitroso compound, the analytical element includes both a reagent system for detection reaction and a reagent system for inherent control.例文帳に追加

有機N-オキシドまたはニトロソ化合物を含有する分析素子、特に試験ストリップのいわゆる内在コントロール用試薬系であり、検出反応用試薬系と、内在コントロール用試薬系とを含む分析素子である。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING EFFECT OF DISTRACTION, COMPUTERIZED TEST SYSTEM, SYSTEM FOR MEASURING EFFECT OF DISTRACTION, METHOD FOR MEASURING ACTION OF HUMAN SUBJECT, AND SYSTEM FOR MEASURING EFFECT OF STIMULI例文帳に追加

ディストラクションの影響を測定するための方法、コンピュータ化された試験システム、ディストラクションの影響を測定するためのシステム、ヒトの被験者の行動を測定するための方法、および刺激の影響を測定するためのシステム - 特許庁

To easily and quickly realize system environment setting work apt to be complicated such as the registration of the large amount of data to a data base at the change of a schema and system introduction and the repetitive registration work of the same data at the test of the system.例文帳に追加

スキーマ変更、システム導入時のデータベースへの大量データの登録やシステムテスト時の同一データの反復登録作業等の煩雑になりがちなシステム環境設定作業を容易かつ迅速に実現する - 特許庁

In a system comprising a test system 20 and a manufacture system, the yield of the MEMS gyro usable per wafer can be heightened by production of a motor bias map and production of the MEMS gyro based on the motor bias map.例文帳に追加

テストシステム20と製造システムからなるシステムにおいて、モータバイアスマップの生成と該モータバイアスマップに基づいてMEMSジャイロを生成することにより、ウェハ当たりの使用可能なMEMSジャイロの歩留まりを高めることができる。 - 特許庁

To provide an updating method of a plant monitoring system with which a test time after updating can be remarkably shortened while maintaining a process data input function and a monitoring function even when updating the plant monitoring system, and an updating system.例文帳に追加

プラント監視システムの更新中でもプロセスデータ入力機能と監視機能を維持しつつ、更新後の試験時間を大幅に短縮することができるプラント監視システムの更新方法及び更新システムを提供する。 - 特許庁

This system changeover test system for the duplex system having an active-system and a standby-system information processor has: a testing communication adapter different from a communication adapter performing communication in time of normal changeover generation inside the single information processor; and a system changeover control means performing the active-system or the standby-system changeover communication processing in a pseudo manner through the testing communication adapter.例文帳に追加

運用系と待機系の情報処理装置を持つ二重化システムの系切替試験システムにおいて、1台の情報処理装置内に通常切替発生時に通信を行う通信アダプタとは別の試験用通信アダプタと、その試験用通信アダプタを介して、運用系または待機系の切替通信処理を擬似的に行う系切替制御手段を有する。 - 特許庁

例文

To provide an apparatus and a method for monitoring automatic test operation of a gas central heating system using a monitor, e.g. a failure diagnostic apparatus, in which the automatic test operation state and the results thereof can be grasped easily for each terminal apparatus.例文帳に追加

故障診断装置等のモニター装置を使用して、ガスセントラルヒーティングシステムの自動試運転状態及びその結果を、端末機器ごとに容易に把握可能とする自動試運転モニター装置及び方法を提供する。 - 特許庁




  
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