「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

The etching of a DBC substrate formed by etching a copper plate which is bonded to a ceramic substrate is tested.例文帳に追加

本発明は、セラミック基板の上に接合された銅板をエッチングすることにより形成されるDBC基板のエッチングを試験する。 - 特許庁

To enable the verification of whether a test of software to be tested is executed under a right environment or not after the test.例文帳に追加

テスト対象のソフトウェアのテストが正しい環境下で実施されたのかをテスト後に検証する可能にすること。 - 特許庁

The conduction of a wiring network of the wire harness including the harness elementary wires is tested every time when the harness elementary wire is connected.例文帳に追加

ハーネス要素電線が接続されるたびに該ハーネス要素電線を含むワイヤーハーネスの回路網の導通を検査する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of testing the device to be tested such as a semiconductor memory with low cost and at high speed.例文帳に追加

低コスト、且つ高速度で半導体メモリ等の被試験デバイスを試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize a test system capable of testing a tested object for decoding encode data with an IC testing device.例文帳に追加

エンコードデータをデコードする被試験対象を、ＩＣ試験装置で試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

A plurality of logic comparators is provided in this instrument for testing the semiconductor circuit for receiving the output data from the tested semiconductor circuit.例文帳に追加

被試験半導体回路からの出力データを受ける半導体回路試験装置に複数の論理比較器を設ける。 - 特許庁

METHOD FOR RESTORING THE STATE OF THE ALGORITHM CONTROL WHEN ERROR OCCURS DURING TESTING DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加

被試験デバイスの試験中にエラーが生じた場合にテストプログラムのアルゴリズム制御のその時点の状態を回復する方法 - 特許庁

When the roller device 13 is moved according to the wheel base of a tested vehicle, the movable support is moved interlocking therewith.例文帳に追加

ローラ装置１３を被試験車両のホイールベースに合わせて移動させると可動支柱がこれに連動して移動する。 - 特許庁

The condition of the brake test of the brake 4 to be tested is determined on the basis of information recorded in the type determination part 25.例文帳に追加

そして、機種判別部２５に記録された情報を基に被試験ブレーキ４のブレーキ試験の条件が決定される。 - 特許庁

For example, the internal circuit 300 can be operated and tested while using an inexpensive LSI tester of low clock frequency.例文帳に追加

例えば、クロック周波数が低い低コストのＬＳＩテスタを用いて、内部回路３００を高速で動作させ試験できる。 - 特許庁

The IC tester for testing an object to be tested for outputting a multi-stage voltage is added with improvements.例文帳に追加

本発明は、多段階電圧を出力する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To test a device to be tested with accuracy, at high speed, while simplifying a circuit configuration and a circuit amount.例文帳に追加

回路構成および回路量を簡略化しつつ、高速且つ正確に被試験デバイスの試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing device capable of highly accurately and easily specifying a failure portion of an apparatus to be tested in a short time.例文帳に追加

被試験器の故障部位の特定を、短時間で精度高く容易に行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a balance-testing machine capable of easily removing a roller presser and securely pressing a rotor to be tested.例文帳に追加

ロータ押さえの取り外しを容易に行え、かつ、確実に被試験回転体を押さえる釣合い試験機を提供する。 - 特許庁

A test signal is generated according to a test program 10 and transmitted 11 to a terminal 2 to be tested and a reference terminal 3.例文帳に追加

試験プログラム１０に従って試験信号を作成して被試験端末２及び基準端末３に送信１１する。 - 特許庁

The probe 6 of the contact probe 4 is brought into contact with an LSI chip 5 to be tested for performing an electric test.例文帳に追加

コンタクトプローブ４の接触子６を試験対象のＬＳＩチップ５に接触させて電気的な試験が行われる。 - 特許庁

In test of the device, first of all, only a single tested pair chip 6 is mounted for testing whether it is good or defective.例文帳に追加

装置の試験を行う場合、先ず、被試験ベアチップ６を一つだけ実装して、良品か否かの試験を行う。 - 特許庁

After the electronic equipment assembly is formed and tested, it is fitted into the outer housing of the sensor dispensing device.例文帳に追加

電気機器アセンブリが、形成され、試験されたのち、電子機器アセンブリはセンサ分与装置の外ハウジングに組み入れられる。 - 特許庁

Then, the test instruction device 10 displays the test result of the test target software tested by the test execution device 20.例文帳に追加

そして、試験指示装置１０が、試験実行装置２０における試験対象ソフトウェアの試験結果を表示する。 - 特許庁

In an LSI 100, the I/O section 110, which is an object to be diagnosed/tested, is provided outside a local clock section 101.例文帳に追加

ＬＳＩ１００において、ローカルクロック部１０１の外部に、診断・テスト対象となるＩ/Ｏ部１１０を有する。 - 特許庁

This is an improvement over a tester simulation apparatus used for simulating a test for a tested object by using a tester.例文帳に追加

本発明は、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a testing device capable of preventing the test of a tested device using a false output data signal.例文帳に追加

誤った出力データ信号を用いて被試験デバイスを試験することを防ぐことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method, an apparatus, and a manufactured product concerning a safety relay having relay contact points that can be independently tested.例文帳に追加

個々独立してテスト可能なリレー接点を有する安全リレーに関する方法、機器および製造品を提供する。 - 特許庁

The acquired identification data is tested, and output of rendering operation of the document is controlled according to the test result.例文帳に追加

取得された識別データはテストされ、このテスト結果にしたがってドキュメントのレンダリング動作の出力が制御される。 - 特許庁

During the navigation, the ordered collection of the correlation values produced while the second filter is in use is tested.例文帳に追加

該ナビゲートの間に、第２のフィルタを使用中の間に生成された相関値の順序付けされたコレクションが調べられる。 - 特許庁

To transmit data to a computer to be tested in the same order as the order of the data transmitted between existing computers.例文帳に追加

既存のコンピュータ間で送信されるデータの順番と同じ順番で試験対象コンピュータにデータを送信する。 - 特許庁

When the model to be tested is selected, data for the tag corresponding to the model are set in the emulator body 12.例文帳に追加

そして、検査対象の機種を選択すると、その機種に応じたタグのデータをエミュレータ本体１２に設定する。 - 特許庁

In one aspect, the sample substrate may be filled with one or more samples to be tested in a testing device.例文帳に追加

１つの局面において、サンプル基板は、試験デバイス中で試験されるべき１つ以上のサンプルで充填され得る。 - 特許庁

To provide a remote automatic test device capable of testing the functions of a facility to be tested by remote control.例文帳に追加

試験対象設備の機能試験を遠隔操作にて行うことが可能な遠隔自動試験装置を提供する。 - 特許庁

In general, the information processor includes a speech recognition device, and when testing, the existence of a keyword is tested.例文帳に追加

一般的に、情報処理周辺装置は音声認識装置を含み、テストに際しては、キーワードの存在をテストする。 - 特許庁

It receives only well-tested bug fixes and other small incremental enhancements. FreeBSD-CURRENT , on the other hand, has been one unbroken line since 2.0 was released, leading towards 7.0-RELEASE and beyond. 例文帳に追加

もう一方のブランチは -CURRENT で、2.0がリリースされて以来 5.0-RELEASE (そしてその後も) へ向けて脈々と続いているものです。 - FreeBSD

The IDE is no longer runs on v. 1.3.1 of the JavaTM2 SDK, Standard Edition and is no longer tested on v. 1.4.0 and 1.4.1.The recommended JDK version is 1.4.2. 例文帳に追加

Java[tm] 2 SDK, Standard Edition v.1.3.1 での IDE の実行が不可能になり、v.1.4.0 および 1.4.1 でのテストも中止されました。 JDK の推奨バージョンは 1.4.2 です。 - NetBeans

NetBeans C/C++ Development Pack 5.5.1 update 1 runs on operating systems that support the Java VM.NetBeans C/C++ Development Pack 5.5.1 update 1 has been tested on the followingoperating systems:例文帳に追加

NetBeans C/C++ Development Pack 5.5.1 update 1 は、Java VM をサポートしているオペレーティングシステムで動作します。 NetBeans C/C++ Development Pack 5.5.1 update 1 は、次のオペレーティングシステムでテスト済みです。 - NetBeans

To provide a printed wiring board for transmitting and receiving a device to be tested, and ideal waveform via a through hole.例文帳に追加

スルーホールを介して、被試験デバイスと理想的な波形を送受することのできるプリント配線基板を提供する。 - 特許庁

The system is provided with plural kinds of test modules for improving a test system that tests an object to be tested.例文帳に追加

本発明は、複数種類の試験モジュールにより、被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

The second end 32 includes a platform 44 configured to position the fixing jig 14 for the body to be tested.例文帳に追加

第２の端部３２は、固定治具１４を被検体に対して位置決めするように構成されたプラットフォーム４４を含む。 - 特許庁

In a pulsar with delays, the signals are fed through a multiplexer into a water wedge that is attached to a valve being tested.例文帳に追加

遅れをもつパルサーにおいて、この信号がマルチプレクサーを介して被試験弁に装着されたウォーターウエッジに送られる。 - 特許庁

A latch circuit 14 latches the signal S2 to be tested at an edge timing of an output signal MSTRB from the oscillator 12.例文帳に追加

ラッチ回路１４は、被試験信号Ｓ２を、発振器１２の出力信号ＭＳＴＲＢのエッジのタイミングでラッチする。 - 特許庁

A digital word comparison unit 220 compares a digital word expressing the reference value with a digital word fetched from the circuit to be tested.例文帳に追加

デジタル・ワード比較ユニット２２０は、基準値を表すデジタル・ワードと被試験回路から取り込んだデジタル・ワードとを比較する。 - 特許庁

A semiconductor testing device 1 tests a semiconductor device 3, which is an object to be tested, for predetermined electric characteristics.例文帳に追加

半導体試験装置１は、試験対象物の半導体装置３について所定の電気的特性のテストを行う。 - 特許庁

To flexibly cope with various tested lenses, and to allow measurement under various conditions.例文帳に追加

様々な被検レンズにフレキシブルに対応でき、なおかつ、様々な条件での測定を可能とするレンズ測定装置を提供する。 - 特許庁

A test pattern storage part 32 stores the test pattern to be supplied to a semiconductor integrated circuit as an object to be tested.例文帳に追加

試験パターン記憶部３２は、被試験対象としての半導体集積回路に供給する試験パターンを記憶する。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SPECIMEN TO BE TESTED FOR PCR EXAMINATION, COLLOIDAL GOLD ANTIBODY METHOD EXAMINATION, AND SURVIVAL CONFIRMATION EXAMINATION FROM EGG AND MAYONNAISE例文帳に追加

卵、マヨネーズからのＰＣＲ検査、コロイド金抗体法検査、生存確認検査対応の検体試料調製方法 - 特許庁

A digital data signal and a clock signal relevant to this digital signal are transmitted from the tested device to a testing device.例文帳に追加

デジタルデータ信号及びこのデジタル信号に関連するクロック信号を被試験デバイスから試験デバイスに送信する。 - 特許庁

For this metal electrode group 2, an electrode contact part 8 between the two metal electrode 6, 7 is exposed to the environment to be tested.例文帳に追加

この金属電極組２は、両金属電極６，７間の電極接触部８が被検出環境下に晒される。 - 特許庁